RU2009129784A - Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме - Google Patents

Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме Download PDF

Info

Publication number
RU2009129784A
RU2009129784A RU2009129784/05A RU2009129784A RU2009129784A RU 2009129784 A RU2009129784 A RU 2009129784A RU 2009129784/05 A RU2009129784/05 A RU 2009129784/05A RU 2009129784 A RU2009129784 A RU 2009129784A RU 2009129784 A RU2009129784 A RU 2009129784A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
single crystal
growing
weight
heater
voltage
Prior art date
Application number
RU2009129784/05A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2423559C2 (ru
Inventor
Борис Михайлович Синельников (RU)
Борис Михайлович Синельников
Евгений Иванович Мотренко (RU)
Евгений Иванович Мотренко
Виталий Иванович Буков (RU)
Виталий Иванович Буков
Original Assignee
Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ЭКСИТОН" (RU)
Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ЭКСИТОН"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ЭКСИТОН" (RU), Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ЭКСИТОН" filed Critical Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ЭКСИТОН" (RU)
Priority to RU2009129784/05A priority Critical patent/RU2423559C2/ru
Publication of RU2009129784A publication Critical patent/RU2009129784A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2423559C2 publication Critical patent/RU2423559C2/ru

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающимся в расплаве, в автоматическом режиме, включающий вакуумирование, затравление и выращивание монокристалла при одновременном снижении температуры расплава, вычисление значений скорости вытягивания и измерение веса растущего монокристалла, а также определение и компенсацию отклонений между измеренными и заданными значениями геометрической формы монокристалла путем регулирования температуры расплава и скорости вытягивания в соответствующих каналах автоматических систем, отличающийся тем, что предварительно в блок констант вводят значения следующих технологических параметров: ! ΔТ - максимальный допустимый градиент температуры гарнисажа, определяемый эмпирически, °С, ! tu - постоянная времени инерции гарнисажа, определяемая эмпирически, с, ! k1 - постоянная температуры нагревателя, В/°С, рассчитываемая по формуле ! ! где Uплавления - напряжение на нагревателе, соответствующее температуре плавления шихты, В, ! Tплавления - температура плавления шихты, °С, ! Von - скорость вертикального перемещения вниз затравочного кристалла, м/с, ! h1 - расстояние от нижнего торца затравочного кристалла до верхней кромки тигля, м, ! Hm - глубина тигля, м, ! ρp - плотность расплава, кг/м3, ! Dm - внутренний диаметра тигля, м, ! hкр - длина затравочного кристалла, м, ! Vкр - заданная скорости кристаллизации, м/с, выбираемая эмпирически согласно требованиям, предъявляемым к качеству монокристалла из условия 6·10-6≤Vкр≤30·10-6, ! d - заданный диаметр шейки монокристалла, м, выбор величины которого не влияет на качество монокристалла, а зависит от веса монокристалла, ! ρк

Claims (1)

  1. Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающимся в расплаве, в автоматическом режиме, включающий вакуумирование, затравление и выращивание монокристалла при одновременном снижении температуры расплава, вычисление значений скорости вытягивания и измерение веса растущего монокристалла, а также определение и компенсацию отклонений между измеренными и заданными значениями геометрической формы монокристалла путем регулирования температуры расплава и скорости вытягивания в соответствующих каналах автоматических систем, отличающийся тем, что предварительно в блок констант вводят значения следующих технологических параметров:
    ΔТ - максимальный допустимый градиент температуры гарнисажа, определяемый эмпирически, °С,
    tu - постоянная времени инерции гарнисажа, определяемая эмпирически, с,
    k1 - постоянная температуры нагревателя, В/°С, рассчитываемая по формуле
    Figure 00000001
    где Uплавления - напряжение на нагревателе, соответствующее температуре плавления шихты, В,
    Tплавления - температура плавления шихты, °С,
    Von - скорость вертикального перемещения вниз затравочного кристалла, м/с,
    h1 - расстояние от нижнего торца затравочного кристалла до верхней кромки тигля, м,
    Hm - глубина тигля, м,
    ρp - плотность расплава, кг/м3,
    Dm - внутренний диаметра тигля, м,
    hкр - длина затравочного кристалла, м,
    Vкр - заданная скорости кристаллизации, м/с, выбираемая эмпирически согласно требованиям, предъявляемым к качеству монокристалла из условия 6·10-6≤Vкр≤30·10-6,
    d - заданный диаметр шейки монокристалла, м, выбор величины которого не влияет на качество монокристалла, а зависит от веса монокристалла,
    ρк - плотность монокристалла, кг/м3,
    l1 - заданная длина шейки носовой зоны монокристалла, м, выбираемая эмпирически согласно требованиям, предъявляемым к качеству монокристалла из условия: 2·d≤l1≤8·d,
    ρp - плотность расплава, кг/м3,
    α - заданный угол разращивания монокристалла, град, выбранный из диапазона 100-140°,
    β - угол при вершине конуса фронта кристаллизации, образующейся при выращивании носовой зоны, определяемый эмпирически, град,
    D - заданный диаметр средней зоны монокристалла, м, обусловленный конструкцией тигля,
    k2 - постоянная скорости снижения напряжения на нагревателе, В/кг, рассчитываемая по формуле
    Figure 00000002
    ,
    где ΔVU1 - изменение скорости снижения напряжения на нагревателе, В/с,
    ΔVm - изменение скорости прироста веса, кг/с,
    r1 - заданное допустимое отклонение от конической формы растущего монокристалла при разращивании шейки носовой зоны, отн. ед.,
    mш - вес шихты, кг,
    k3 - постоянная формы фронта кристаллизации при выращивании средней зоны, град/с, рассчитываемая по формуле:
    Figure 00000003
    ,
    где γ - угол при вершине конуса фронта кристаллизации, образующийся при выращивании хвостовой зоны, определяемый эмпирически, град,
    tср - время роста средней зоны, с,
    r2 - допустимое отклонения от цилиндрической формы средней и хвостовой зон растущего монокристалла, отн. ед.,
    Vвыт3 - скорость вертикального перемещения монокристалла вверх, м/с,
    а при вакуумировании подключают автоматическую систему управления вакуумным постом, вводят величину минимального предельного значения давления в камере, равную 5·10-2 тор, и контролируют вакуумирование камеры, в первый канал вычислительного блока вводят следующие математические формулы, определяющие
    скорость подъема напряжения на нагревателе
    Figure 00000004
    ,
    где VU1 - скорость подъема напряжения на нагревателе, В/с,
    напряжение на нагревателе, соответствующее температуре обезгаживания гарнисажа
    U=UизмΔр-VU1·tu,
    где U - напряжение на нагревателе, соответствующее температуре обезгаживания гарнисажа, В,
    UизмΔр - напряжение на нагревателе при падении давления до 1·10-2 тор, В,
    VU1 - скорость изменения напряжения на нагревателе в момент изменения давления, В/ч,
    после чего в первый канал блока сравнения вводят величину максимального предельного значения давления в камере, равную 1·10-2 тор, определяющую начало изотермической выдержки, а во второй канал блока сравнения вводят величину минимального предельного значения давления в камере, равную 5·10-2 тор, определяющую окончание изотермической выдержки, подключают автоматическую систему управления нагревом с введенным расчетным значением скорости подъема напряжения на нагревателе в канале регулирования температуры и контролируют дегазацию шихты и гарнисажа, далее в автоматическую систему управления вакуумным постом вводят величину минимального предельного значения давления в камере, равную 5·10-4 тор, и контролируют вакуумирование камеры, далее в третий канал блока сравнения вводят расчетную величину значения напряжения на нагревателе, соответствующую температуре плавления шихты, при ранее введенной скорости подъема напряжения на нагревателе и контролируют плавление шихты, а затравление и выращивание осуществляют с помощью автоматических систем управления нагревом и вакуумным постом, подключая автоматические системы управления вытягиванием и вращением, при этом в автоматическую систему управления вытягиванием вводят величину скорости вертикального перемещения вниз затравочного кристалла, определяемую из условия
    Von=25·10-5,
    а во второй канал вычислительного блока вводят следующие математические формулы, определяющие
    величину перемещения затравочного кристалла
    Figure 00000005
    ,
    где l - величина перемещения затравочного кристалла, м,
    паузу между поворотами
    Figure 00000006
    ,
    где τвр - пауза между поворотами, с,
    после чего подключают автоматическую систему управления вытягиванием и контролируют перемещение затравочного кристалла вниз, далее в автоматическую систему управления вращением вводят значение угла правого вращательного движения, равное 180 град, значение угла левого вращательного движения, составляющее 60-90 град, значение скорости вращения, составляющее 0,01-0,3 c-1, и контролируют разнонаправленные повороты затравочного кристалла с рассчитанной паузой между ними на протяжении процесса выращивания монокристалла, после чего вводят в автоматическую систему управления вытягиванием величину скорости вертикального перемещения вверх затравочного кристалла, равную скорости кристаллизации, далее в первый канал вычислительного блока системы контроля веса вводят математическую формулу расчета максимальной предельной величины веса шейки носовой зоны монокристалла
    Figure 00000007
    ,
    где m1 - максимальный предельный вес шейки растущего монокристалла, кг, подключают систему контроля веса и контролируют выращивание шейки носовой зоны, после чего во второй канал вычислительного блока системы контроля веса вводят математическую формулу расчета максимального предельного веса носовой зоны монокристалла
    Figure 00000008
    где m2 - максимальный предельный вес носовой зоны монокристалла, кг,
    а в третий канал вычислительного блока вводят следующие математические формулы, определяющие
    отклонение веса растущего монокристалла при разращивании шейки носовой зоны от теоретически рассчитанного
    Figure 00000009
    где Δm1 - отклонение веса растущего монокристалла при разращивании шейки носовой зоны от теоретически рассчитанного, кг,
    mизм - измеренный вес растущего монокристалла в момент расчета, кг,
    t1 - время от начала разращивания шейки носовой зоны, с,
    изменение скорости снижения напряжения на нагревателе
    VU2=VU0'+k2·Δm1,
    где VU2 - скорость снижения напряжения на нагревателе при разращивании шейки носовой зоны, В/с,
    VU0' - скорость снижения напряжения на нагревателе при разращивании шейки носовой зоны до расчета VU2, В/с, при этом начальная скорость снижения напряжения равна 0,
    изменение скорости вытягивания растущего монокристалла при разращивании шейки носовой зоны
    Figure 00000010
    ,
    где Vвыт1 - скорость вытягивания при разращивании шейки растущего монокристалла, м/с,
    а в четвертый канал блока сравнения вводят математическую формулу расчета максимального предельного отклонения веса растущего монокристалла при разращивании шейки носовой зоны
    Figure 00000011
    ,
    где Δ1 - максимальное предельное отклонение веса растущего монокристалла при разращивании шейки носовой зоны, кг,
    и контролируют разращивание шейки носовой зоны, после чего вводят в третий канал вычислительно блока системы контроля веса математическую формулу расчета максимального предельного веса средней и носовой зон
    Figure 00000012
    ,
    где m3 - максимальный предельный вес средней и носовой зон монокристалла, кг,
    а в четвертый канал вычислительного блока вводят следующие математические формулы, определяющие
    отклонение веса средней зоны растущего монокристалла от теоретически рассчитанного
    Figure 00000013
    ,
    где Δm2 - отклонение веса средней зоны растущего монокристалла от теоретически рассчитанного, кг,
    t2 - время от начала выращивания средней зоны монокристалла, с, изменение скорости снижения напряжения на нагревателе:
    VU3=VU0”-k2·Δm2,
    где VU3 - скорость снижения напряжения на нагревателе при выращивании средней зоны, В/с,
    VU0” - скорость снижения напряжения на нагревателе при выращивании средней зоны до расчета VU3, В/с,
    скорость вытягивания растущего монокристалла
    Figure 00000014
    ,
    где Vвыт2 - скорость вытягивания средней и хвостовой зон растущего монокристалла, м/с,
    а в пятый канал блока сравнения вводят математическую формулу расчета максимального предельного отклонения веса растущего монокристалла при выращивании средней и хвостовой зон
    Figure 00000015
    ,
    где Δ2 - максимальное предельное отклонение веса растущего монокристалла при выращивании средней и хвостовой зон, кг,
    и контролируют выращивание средней зоны монокристалла, после чего вводят в четвертый канал вычислительно блока системы контроля веса математическую формулу расчета максимальной предельной величины веса монокристалла
    m4=0.98·mш,
    где m4 - максимальный предельный вес монокристалла, кг,
    а в пятый канал вычислительного блока вводят следующие математические формулы, определяющие
    отклонение веса хвостовой зоны растущего монокристалла от теоретически рассчитанного:
    Figure 00000016
    где Δm3 - отклонение веса хвостовой зоны растущего монокристалла от теоретически рассчитанного, кг,
    t4 - время от начала выращивания хвостовой зоны монокристалла, с,
    скорость снижения напряжения на нагревателе при выращивании хвостовой зоны
    VU4=VU0'''-k2·Δm3,
    где VU4 - скорость снижения напряжения на нагревателе при выращивании хвостовой зоны, В/с,
    VU0''' - скорость снижения напряжения на нагревателе до расчета VU4 при выращивании хвостовой зоны, В/с,
    скорость вытягивания растущего монокристалла
    Figure 00000017
    ,
    и контролируют выращивание хвостовой зоны монокристалла, после чего отключают автоматическую систему управления вращением, и в автоматическую систему управления вытягиванием вводят величину скорости вертикального перемещения вверх, определяемую из условия Vвыт3≤0,4, м/с,
    и величину перемещения монокристалла, определяемую по формуле
    Figure 00000018
    ,
    где L - величина вертикального перемещения монокристалла вверх, м,
    и контролируют процесс движения монокристалла, после чего отключают автоматическую систему управления вытягиванием, а в автоматическую систему управления нагревом вводят величину скорости снижения напряжении на нагревателе, определяемую по формуле
    Figure 00000019
    ,
    где VU5 - скорость снижения напряжения на нагревателе, В/с,
    и контролируют охлаждение монокристалла.
RU2009129784/05A 2009-08-03 2009-08-03 Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме RU2423559C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2009129784/05A RU2423559C2 (ru) 2009-08-03 2009-08-03 Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2009129784/05A RU2423559C2 (ru) 2009-08-03 2009-08-03 Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2009129784A true RU2009129784A (ru) 2011-02-10
RU2423559C2 RU2423559C2 (ru) 2011-07-10

Family

ID=44740502

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2009129784/05A RU2423559C2 (ru) 2009-08-03 2009-08-03 Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2423559C2 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016082361A1 (zh) * 2014-11-26 2016-06-02 元亮科技有限公司 蓝宝石单晶生长plc闭环控制方法
CN117418313A (zh) * 2023-12-19 2024-01-19 天通控股股份有限公司 一种基于自动填料的大尺寸蓝宝石晶体生长方法

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2531514C1 (ru) * 2013-06-28 2014-10-20 Открытое акционерное общество "Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности "Гиредмет" Нагреватель устройства для выращивания монокристаллов из расплава методом чохральского
RU2560395C1 (ru) * 2014-02-14 2015-08-20 Федеральное государственное унитарное предприятие Экспериментальный завод научного приборостроения со Специальным конструкторским бюро Российской академии наук Способ автоматического управления с обратной связью процессом выращивания монокристаллов методом киропулоса
CN104988577A (zh) * 2015-07-14 2015-10-21 福建汇晶光电科技有限公司 一种蓝宝石自动控制系统和控制方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016082361A1 (zh) * 2014-11-26 2016-06-02 元亮科技有限公司 蓝宝石单晶生长plc闭环控制方法
CN117418313A (zh) * 2023-12-19 2024-01-19 天通控股股份有限公司 一种基于自动填料的大尺寸蓝宝石晶体生长方法
CN117418313B (zh) * 2023-12-19 2024-02-27 天通控股股份有限公司 一种基于自动填料的大尺寸蓝宝石晶体生长方法

Also Published As

Publication number Publication date
RU2423559C2 (ru) 2011-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2009129784A (ru) Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве, в автоматическом режиме
CN101724891B (zh) 直拉硅单晶直径自动补偿方法
US9885122B2 (en) Method of manufacturing silicon single crystal
TW202018132A (zh) 一種晶體生長控制方法、裝置、系統及電腦儲存媒體
DK2890834T3 (da) Modelprædiktiv styring af zone-smelteprocessen
CN110528068B (zh) 直拉硅单晶的引晶方法及其制造方法
WO2008050524A1 (fr) Dispositif de production d'un cristal unique et procédé de production d'un cristal unique
KR20120030028A (ko) 단결정 인상 장치 및 단결정 인상 방법
CN106319621A (zh) 一种大尺寸直拉硅单晶生长方法
US9903044B2 (en) Silicon single crystal producing method
DE112015000435T5 (de) Vorrichtung zum Herstellen eines Silizium-Einkristalls
JP6729470B2 (ja) 単結晶の製造方法及び装置
CN104911697B (zh) 提拉单晶炉晶体恒组分生长控制系统和方法
JP3598642B2 (ja) 連続チャージ法によるシリコン単結晶の製造方法
JP2009227509A (ja) 単結晶の引上げ方法
CN216304033U (zh) 监控单晶炉中硅熔液的液面的状态及坩埚的状态的系统
JP2002137988A (ja) 単結晶引上げ方法
CN112857297A (zh) 单晶棒直径测量装置、单晶棒生长系统及方法
RU2009129789A (ru) Способ выращивания монокристалла сапфира на затравочном кристалле, остающемся в расплаве в процессе выращивания
WO2020220766A1 (zh) 一种半导体晶体生长方法和装置
CN105603506B (zh) 动态温梯法生长大尺寸单晶的装置及方法
CN216712310U (zh) 一种晶体生长设备
JP2002338389A (ja) シリコン単結晶酸素濃度の制御方法
TW202426715A (zh) 晶體生長的控制方法、裝置、系統及電腦存儲媒體
CN118127643A (zh) 一种利用坩埚旋转强制驱动粘附气泡的方法

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20120804