RU2006147225A - Масс-анализатор с ионной ловушкой - Google Patents

Масс-анализатор с ионной ловушкой Download PDF

Info

Publication number
RU2006147225A
RU2006147225A RU2006147225/28A RU2006147225A RU2006147225A RU 2006147225 A RU2006147225 A RU 2006147225A RU 2006147225/28 A RU2006147225/28 A RU 2006147225/28A RU 2006147225 A RU2006147225 A RU 2006147225A RU 2006147225 A RU2006147225 A RU 2006147225A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
mass analyzer
ion trap
voltage
capture
analysis
Prior art date
Application number
RU2006147225/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2372687C2 (ru
Inventor
Чуань-Фань ДИН (CA)
Чуань-Фань ДИН
Original Assignee
Фудан Юниверсити (Cn)
Фудан Юниверсити
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Фудан Юниверсити (Cn), Фудан Юниверсити filed Critical Фудан Юниверсити (Cn)
Publication of RU2006147225A publication Critical patent/RU2006147225A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2372687C2 publication Critical patent/RU2372687C2/ru

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34—Dynamic spectrometers
    • H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
    • H01J49/4205—Device types
    • H01J49/422—Two-dimensional RF ion traps
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/04—Assemblies of printed circuits
    • H05K2201/047—Box-like arrangements of PCBs
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T156/00—Adhesive bonding and miscellaneous chemical manufacture
    • Y10T156/10—Methods of surface bonding and/or assembly therefor

Abstract

1. Масс-анализатор с ионной ловушкой, содержащийудлиненный туннель, имеющий по существу прямоугольное поперечное сечение, стенку, продольную ось и внутреннее пространство, стенка содержит множество подложек, имеющих рисунки проводящих дорожек, обращенные к внутреннему пространству, туннель определяет область передачи и область захвата и анализа; исредство обеспечения изменяемого электрического напряжения для обеспечения электрических напряжений, средство обеспечения изменяемого электрического напряжения соединено с рисунками проводящих дорожек, рисунки проводящих дорожек и средство обеспечения изменяемого электрического напряжения обеспечивают изменяемое электрическое поле в пределах внутреннего пространства туннеля для передачи и захвата ионов и для выборочного вывода ионов из области захвата и анализа.2. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором подложка содержит жесткие печатные платы.3. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.2, в котором печатные платы содержат стекловолоконный материал.4. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения содержит источник изменяемого электрического напряжения и сеть распределения напряжения.5. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения содержит источник напряжения постоянного тока, источник напряжения переменного тока и сеть распределения напряжения.6. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.4, в котором сеть распределения напряжения содержит резистивно-емкостную цепочку.7. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.6, в кото�

Claims (37)

1. Масс-анализатор с ионной ловушкой, содержащий
удлиненный туннель, имеющий по существу прямоугольное поперечное сечение, стенку, продольную ось и внутреннее пространство, стенка содержит множество подложек, имеющих рисунки проводящих дорожек, обращенные к внутреннему пространству, туннель определяет область передачи и область захвата и анализа; и
средство обеспечения изменяемого электрического напряжения для обеспечения электрических напряжений, средство обеспечения изменяемого электрического напряжения соединено с рисунками проводящих дорожек, рисунки проводящих дорожек и средство обеспечения изменяемого электрического напряжения обеспечивают изменяемое электрическое поле в пределах внутреннего пространства туннеля для передачи и захвата ионов и для выборочного вывода ионов из области захвата и анализа.
2. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором подложка содержит жесткие печатные платы.
3. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.2, в котором печатные платы содержат стекловолоконный материал.
4. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения содержит источник изменяемого электрического напряжения и сеть распределения напряжения.
5. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения содержит источник напряжения постоянного тока, источник напряжения переменного тока и сеть распределения напряжения.
6. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.4, в котором сеть распределения напряжения содержит резистивно-емкостную цепочку.
7. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.6, в котором сеть распределения напряжения также включает в себя регулируемый резистор, регулируемый резистор выполнен с возможностью регулировки полного сопротивления резистивно-емкостной цепочки.
8. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, причем масс-анализатор с ионной ловушкой включает в себя секцию передачи ионов и секцию захвата и анализа ионов, ионы вводятся в секцию захвата и анализа ионов из секции передачи ионов.
9. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором подложками являются печатные платы, каждая из упомянутых печатных плат проходит вдоль продольной оси.
10. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.9, в котором каждая из упомянутых печатных плат является смежной с соответствующими печатными платами, множество печатных плат образует туннель.
11. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.10, в котором печатные платы включают в себя первую пару противоположных печатных плат и вторую пару противоположных печатных плат.
12. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.11, в котором рисунки дорожек на первой паре противоположных печатных плат образуют концентрическую эллиптическую форму и рисунки проводящих дорожек на второй паре противоположных печатных плат образуют гиперболическую форму.
13. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.11, причем масс-анализатор с ионной ловушкой также включает в себя пластину, имеющую отверстие, пластина является по существу перпендикулярной продольной оси и соединяет вместе упомянутые печатные платы.
14. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором рисунки проводящих дорожек и средство обеспечения изменяемого электрического напряжения обеспечивают изменяемое электрическое поле, над которым преобладает квадрупольное электрическое поле в направлении, перпендикулярном продольной оси.
15. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором рисунки проводящих дорожек содержат множество параллельных проводящих полос, указанные проводящие полосы являются по существу параллельными продольной оси.
16. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.15, в котором рисунки проводящих дорожек содержат множество областей рисунков проводящих дорожек вдоль продольной оси, каждая из упомянутых областей рисунков проводящих дорожек является смежной и электрически изолирована от соответствующих областей рисунков проводящих дорожек и содержит параллельные проводящие полосы.
17. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.16, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения обеспечивает электрические напряжения постоянного тока, параллельные проводящие полосы в каждой упомянутой области рисунков проводящих дорожек имеют одно из упомянутых электрических напряжений постоянного тока.
18. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.15, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения обеспечивает электрические напряжения переменного тока, каждая из упомянутых параллельных полос проводника имеет одно из электрических напряжений переменного тока, приложенное к ней.
19. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором стенка также содержит отверстие, через которое ионы могут быть выведены из масс-анализатора с ионной ловушкой.
20. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.19, причем масс-анализатор с ионной ловушкой также включает в себя детектор ионов, смежный с масс-анализатором с ионной ловушкой и смежный с отверстием.
21. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.19, причем масс-анализатор с ионной ловушкой также включает в себя металлическую сетку, покрывающую отверстие.
22. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором средство обеспечения изменяемого электрического напряжения содержит средство обеспечения дипольного переменного электрического поля, упомянутое средство обеспечения дипольного переменного электрического поля обеспечивает дипольное переменное электрическое поле, перпендикулярное продольной оси туннеля.
23. Масс-анализатор с ионной ловушкой, содержащий
множество секций захвата и анализа ионов, каждая секция захвата и анализа ионов содержит удлиненный туннель, имеющий стенку, продольную ось и внутреннее пространство, стенка содержит подложку и рисунки проводящих дорожек, каждая секция захвата и анализа ионов является смежной с соответствующими секциями захвата и анализа ионов и проходит рядом с ними; и
средство обеспечения изменяемого электрического напряжения для обеспечения электрических напряжений, соединенное с рисунками проводящих дорожек каждой секции захвата и анализа ионов.
24. Способ тандемного анализа масс с использованием масс-анализатора с ионной ловушкой, имеющего множество секций захвата и анализа ионов, каждая секция захвата и анализа ионов содержит удлиненный туннель, имеющий стенку, продольную ось и внутреннее пространство, стенка содержит подложку и рисунки проводящих дорожек, каждая секция захвата и анализа ионов проходит вдоль соответствующих смежных секций захвата и анализа ионов, способ содержит этапы, на которых
прикладывают высокочастотное напряжение к рисункам проводящих дорожек для создания квадрупольного электрического поля захвата в каждой секции захвата и анализа ионов;
обеспечивают ионы в первой секции захвата и анализа ионов;
охлаждают ионы в первой секции захвата и анализа ионов с использованием буферного газа;
прикладывают напряжение возбуждения к рисункам проводящих дорожек в первой секции захвата и анализа ионов для вывода выбранных ионов-предшественников посредством резонансного вывода во вторую секцию захвата и анализа ионов, вторая секция захвата и анализа ионов является смежной с первой секцией захвата и анализа ионов;
фрагментируют ионы-предшественники во второй секции захвата и анализа ионов; и
собирают и выводят фрагментированные ионы из второй секции захвата и анализа ионов.
25. Способ тандемного анализа масс по п.24, в котором этап вывода фрагментированных ионов также включает в себя этапы, на которых
прикладывают дополнительное напряжение переменного тока к рисункам проводящих дорожек во второй секции захвата и анализа ионов для создания дипольного переменного поля;
сканируют дополнительное напряжения переменного тока во второй секции захвата и анализа ионов для вывода фрагментированных ионов; и
регистрируют выведенные фрагментированные ионы в порядке отношения их массы к заряду.
26. Способ тандемного анализа масс по п.24, в котором этап вывода фрагментированных ионов также включает в себя этапы, на которых
прикладывают дополнительное напряжение переменного тока к рисункам проводящих дорожек во второй секции захвата и анализа ионов для создания дипольного переменного поля;
сканируют высокочастотное напряжение во второй секции захвата и анализа ионов для вывода фрагментированных ионов; и
регистрируют выведенные фрагментированные ионы в порядке отношения их массы к заряду.
27. Способ изготовления масс-анализатора с ионной ловушкой, содержащий этапы, на которых
подготавливают многослойные печатные платы, имеющие рисунки дорожек;
формируют многоугольный туннель с использованием упомянутых печатных плат; и
скрепляют печатные платы с помощью металлических пластин внутри многоугольного туннеля;
причем рисунки дорожек печатных плат со стороны туннеля разработаны для создания требуемого электрического поля в пределах многоугольного туннеля для передачи, сохранения и анализа ионов при приложении к дорожкам соответствующих напряжений.
28. Способ изготовления по п.27, причем способ также включает в себя этапы, на которых
монтируют компоненты распределения напряжения на печатных платах;
соединяют компоненты распределения напряжения с рисунками проводящих дорожек; и
соединяют контакты электропитания с рисунками дорожек.
29. Способ изготовления по п.27, причем способ также включает в себя этапы, на которых
выполняют щели в печатных платах, упомянутые щели проходят от первой поверхности печатной платы насквозь ко второй поверхности печатной платы;
покрывают щели проводящим материалом; и
соединяют рисунки проводящих дорожек на первой поверхности печатных плат с рисунками дорожек на второй поверхности печатной платы с использованием части проводящего материала.
30. Способ изготовления по п.27, причем способ также включает в себя этап нанесения полупроводникового материала на поверхность печатных плат.
31. Способ изготовления по п.30, в котором упомянутая поверхность находится на стороне печатной платы, обращенной к туннелю.
32. Способ изготовления по п.28, причем способ также включает в себя этап, на котором выбирают параметры компонентов распределения напряжения, с тем чтобы электрическое напряжение было распределено по рисункам дорожек с таким соотношением, чтобы установилось квадрупольное электрическое поле.
33. Способ изготовления по п.28, в котором компоненты распределения напряжения содержат резисторы и конденсаторы.
34. Способ изготовления по п.28, в котором компоненты распределения напряжения являются компонентами с монтажом на поверхность.
35. Способ изготовления по п.32, причем способ также включает в себя этап, на котором обеспечивают внешнее регулируемое устройство, упомянутое внешнее регулируемое устройство позволяет выборочно накладывать малое количество мультипольного электрического поля старших порядков к квадрупольному полю.
36. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором подложка содержит изолятор.
37. Масс-анализатор с ионной ловушкой по п.1, в котором подложка содержит полупроводник.
RU2006147225/28A 2004-06-04 2005-06-03 Масс-анализатор с ионной ловушкой RU2372687C2 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNB2004100249468A CN1326191C (zh) 2004-06-04 2004-06-04 用印刷电路板构建的离子阱质量分析仪
CN20410024946.8 2004-06-04

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2006147225A true RU2006147225A (ru) 2008-07-20
RU2372687C2 RU2372687C2 (ru) 2009-11-10

Family

ID=34601067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006147225/28A RU2372687C2 (ru) 2004-06-04 2005-06-03 Масс-анализатор с ионной ловушкой

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7498569B2 (ru)
EP (1) EP1751787A4 (ru)
JP (2) JP5557424B2 (ru)
CN (1) CN1326191C (ru)
CA (1) CA2568628C (ru)
RU (1) RU2372687C2 (ru)
WO (1) WO2005119737A1 (ru)

Families Citing this family (67)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1326191C (zh) 2004-06-04 2007-07-11 复旦大学 用印刷电路板构建的离子阱质量分析仪
GB0511333D0 (en) * 2005-06-03 2005-07-13 Micromass Ltd Mass spectrometer
EP1956370A4 (en) * 2005-11-22 2011-08-31 Shimadzu Corp SPECTROSCOPE OF MASS
GB0526245D0 (en) * 2005-12-22 2006-02-01 Shimadzu Res Lab Europe Ltd A mass spectrometer using a dynamic pressure ion source
CN101038852B (zh) * 2006-03-17 2011-03-30 方向 多用途大容量线性离子阱及其一体化电极加工方法
US7842917B2 (en) * 2006-12-01 2010-11-30 Purdue Research Foundation Method and apparatus for transmission mode ion/ion dissociation
US7829851B2 (en) * 2006-12-01 2010-11-09 Purdue Research Foundation Method and apparatus for collisional activation of polypeptide ions
GB0624679D0 (en) * 2006-12-11 2007-01-17 Shimadzu Corp A time-of-flight mass spectrometer and a method of analysing ions in a time-of-flight mass spectrometer
US20080210860A1 (en) * 2007-03-02 2008-09-04 Kovtoun Viatcheslav V Segmented ion trap mass spectrometry
EP1968100B1 (en) * 2007-03-08 2014-04-30 Tofwerk AG Ion guide chamber
JP4996962B2 (ja) * 2007-04-04 2012-08-08 株式会社日立ハイテクノロジーズ 質量分析装置
WO2008142801A1 (en) * 2007-05-21 2008-11-27 Shimadzu Corporation Charged-particle condensing device
GB0718468D0 (en) * 2007-09-21 2007-10-31 Micromass Ltd Mass spectrometer
CN101126737B (zh) * 2007-09-29 2011-03-16 宁波大学 一种研究离子反应的串级质谱仪
US8598517B2 (en) * 2007-12-20 2013-12-03 Purdue Research Foundation Method and apparatus for activation of cation transmission mode ion/ion reactions
US7847248B2 (en) * 2007-12-28 2010-12-07 Mds Analytical Technologies, A Business Unit Of Mds Inc. Method and apparatus for reducing space charge in an ion trap
CN101320016A (zh) * 2008-01-29 2008-12-10 复旦大学 一种用多个离子阱进行串级质谱分析的方法
GB0817433D0 (en) * 2008-09-23 2008-10-29 Thermo Fisher Scient Bremen Ion trap for cooling ions
CN101399148B (zh) * 2008-09-27 2012-01-18 复旦大学 环形离子阱阵列
CN101419190B (zh) * 2008-11-19 2012-05-09 闻路红 基于外离子源的离子进样方法及质谱分析方法
DE202009002192U1 (de) * 2009-02-16 2009-04-23 Thermo Fisher Scientific (Bremen) Gmbh Elektrode zur Beeinflussung der Ionenbewegung in Massenspektrometern
CN102231356B (zh) * 2009-12-01 2015-03-11 株式会社岛津制作所 线形离子阱分析器
DE102010001349B9 (de) * 2010-01-28 2014-08-28 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Vorrichtung zum Fokussieren sowie zum Speichern von Ionen
DE102010001347A1 (de) * 2010-01-28 2011-08-18 Carl Zeiss NTS GmbH, 73447 Vorrichtung zur Übertragung von Energie und/oder zum Transport eines Ions sowie Teilchenstrahlgerät mit einer solchen Vorrichtung
RU2466475C2 (ru) * 2010-02-11 2012-11-10 Симадзу Корпорейшн Система электродов линейной ионной ловушки
GB2479191B (en) * 2010-04-01 2014-03-19 Microsaic Systems Plc Microengineered multipole ion guide
EP2676286B1 (en) 2011-02-14 2018-08-29 Massachusetts Institute of Technology System for mass spectrometry
US8759759B2 (en) 2011-04-04 2014-06-24 Shimadzu Corporation Linear ion trap analyzer
RU2474916C2 (ru) * 2011-05-16 2013-02-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики Российской академии наук (ИНЭПХФ РАН) Способ разделения ионов органических и биоорганических соединений в сверхзвуковом газовом потоке, предварительной регистрации и транспортировки этих ионов в последующий масс-анализатор
CN102810441B (zh) 2011-06-01 2016-07-06 岛津分析技术研发（上海）有限公司 离子光学器件的制备方法
EP2715776A4 (en) * 2011-06-03 2015-06-03 Bruker Daltonics Inc SIMPLIFIED MULTIPOLASE STRUCTURE FOR TRANSPORTING, SELECTING, TRAPPING AND ANALYZING IONS IN A VACUUM SYSTEM
EP2715775B1 (en) * 2011-06-03 2017-08-09 Bruker Daltonics, Inc. Abridged multipole structure for the transport, selection and trapping of ions in a vacuum system
US8785847B2 (en) * 2012-02-15 2014-07-22 Thermo Finnigan Llc Mass spectrometer having an ion guide with an axial field
GB2506362B (en) * 2012-09-26 2015-09-23 Thermo Fisher Scient Bremen Improved ion guide
RU2686319C2 (ru) 2013-03-18 2019-04-25 Смитс Детекшен Монреаль Инк. Спектрометр на основе анализа подвижности ионов (IMS) с камерой переноса заряженных материалов
GB2588856B (en) * 2013-04-23 2021-08-04 Leco Corp Multi-reflecting mass spectrometer with high throughput
CN206210749U (zh) * 2013-06-03 2017-05-31 珀金埃尔默健康科学股份有限公司 包括多级组件的装置和包括该装置的质谱仪或套件，以及基于质荷比传输离子的装置
CN103606509A (zh) * 2013-10-30 2014-02-26 中国科学院化学研究所 一种平面离子阱质量分析器
WO2015104573A1 (en) * 2014-01-07 2015-07-16 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Multiplexed electrostatic linear ion trap
GB2528152B (en) 2014-04-11 2016-09-21 Micromass Ltd Ion entry/exit device
WO2015189539A1 (en) * 2014-06-10 2015-12-17 Micromass Uk Limited Ion guide
JP6624482B2 (ja) * 2014-07-29 2019-12-25 俊 保坂 超小型加速器および超小型質量分析装置
CN104184334B (zh) * 2014-08-29 2017-12-08 江苏天瑞仪器股份有限公司 可控高压交流电源
CN105470094B (zh) * 2014-09-04 2018-03-09 株式会社岛津制作所 离子光学装置及质谱仪
GB2548834A (en) * 2016-03-29 2017-10-04 Shimadzu Corp Ion manipulation device for guiding or confining ions in an ion processing apparatus
GB201613988D0 (en) 2016-08-16 2016-09-28 Micromass Uk Ltd And Leco Corp Mass analyser having extended flight path
GB2567794B (en) 2017-05-05 2023-03-08 Micromass Ltd Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
GB2563571B (en) 2017-05-26 2023-05-24 Micromass Ltd Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
WO2019030475A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
WO2019030471A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov ION GUIDE INSIDE PULSED CONVERTERS
WO2019030476A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS
US11133167B2 (en) * 2018-03-02 2021-09-28 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Integrated low cost curtain plate, orifice PCB and ion lens assembly
GB201806507D0 (en) 2018-04-20 2018-06-06 Verenchikov Anatoly Gridless ion mirrors with smooth fields
GB201807605D0 (en) 2018-05-10 2018-06-27 Micromass Ltd Multi-reflecting time of flight mass analyser
GB201807626D0 (en) 2018-05-10 2018-06-27 Micromass Ltd Multi-reflecting time of flight mass analyser
GB201808530D0 (en) 2018-05-24 2018-07-11 Verenchikov Anatoly TOF MS detection system with improved dynamic range
GB201810573D0 (en) 2018-06-28 2018-08-15 Verenchikov Anatoly Multi-pass mass spectrometer with improved duty cycle
GB201901411D0 (en) 2019-02-01 2019-03-20 Micromass Ltd Electrode assembly for mass spectrometer
GB201907787D0 (en) * 2019-05-31 2019-07-17 Micromass Ltd Ion guide
RU2726186C1 (ru) * 2019-07-05 2020-07-10 федеральное государственное бюджетное учреждение "Институт прикладной геофизики имени академика Е.К. Федорова" Масс-спектрометр космический
WO2021056397A1 (zh) * 2019-09-27 2021-04-01 瑞湾科技（珠海）有限公司 一种离子控制和质量分析装置
WO2021056394A1 (zh) * 2019-09-27 2021-04-01 瑞湾科技（珠海）有限公司 一种离子控制装置
EP3933883A1 (en) 2020-07-01 2022-01-05 Tofwerk AG Method for generating a layout of electrodes for an ion guide

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4390784A (en) * 1979-10-01 1983-06-28 The Bendix Corporation One piece ion accelerator for ion mobility detector cells
CN1010108B (zh) 1985-04-01 1990-10-24 天津大学 电沉积抗电侵蚀复合银层的方法
CN1014850B (zh) * 1986-11-26 1991-11-20 株式会社岛津制作所 四级式质量分析仪
EP0344513A3 (de) * 1988-05-31 1991-01-16 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren zur Herstellung einer Steuerplatte für ein Lithographiegerät
GB8816332D0 (en) * 1988-07-08 1988-08-10 Oxford Positron Systems Ltd Method & apparatus for quantitative autoradiography analysis
US4985626A (en) 1990-01-09 1991-01-15 The Perkin-Elmer Corporation Quadrupole mass filter for charged particles
US5420425A (en) * 1994-05-27 1995-05-30 Finnigan Corporation Ion trap mass spectrometer system and method
KR0156602B1 (ko) 1994-07-08 1998-12-01 황해웅 이온이동도 분석기
US5451781A (en) * 1994-10-28 1995-09-19 Regents Of The University Of California Mini ion trap mass spectrometer
WO1997007530A1 (en) * 1995-08-11 1997-02-27 Mds Health Group Limited Spectrometer with axial field
US6316768B1 (en) 1997-03-14 2001-11-13 Leco Corporation Printed circuit boards as insulated components for a time of flight mass spectrometer
US5905258A (en) * 1997-06-02 1999-05-18 Advanced Research & Techology Institute Hybrid ion mobility and mass spectrometer
US6157031A (en) * 1997-09-17 2000-12-05 California Institute Of Technology Quadropole mass analyzer with linear ion trap
US6040573A (en) * 1997-09-25 2000-03-21 Indiana University Advanced Research & Technology Institute Inc. Electric field generation for charged particle analyzers
GB9802111D0 (en) * 1998-01-30 1998-04-01 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Time-of-flight mass spectrometer
GB9924722D0 (en) 1999-10-19 1999-12-22 Shimadzu Res Lab Europe Ltd Methods and apparatus for driving a quadrupole device
JP2002015699A (ja) * 2000-06-28 2002-01-18 Shimadzu Corp イオンガイドおよびこれを用いた質量分析装置
US6700120B2 (en) * 2000-11-30 2004-03-02 Mds Inc. Method for improving signal-to-noise ratios for atmospheric pressure ionization mass spectrometry
US6797950B2 (en) 2002-02-04 2004-09-28 Thermo Finnegan Llc Two-dimensional quadrupole ion trap operated as a mass spectrometer
JP3922054B2 (ja) * 2002-03-13 2007-05-30 ウシオ電機株式会社 放電ランプ用保護カバー、放電ランプ点灯装置、および放電ランプ用保護カバーの取り忘れ検知方法
US7049580B2 (en) * 2002-04-05 2006-05-23 Mds Inc. Fragmentation of ions by resonant excitation in a high order multipole field, low pressure ion trap
US6897438B2 (en) * 2002-08-05 2005-05-24 University Of British Columbia Geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field
US7045797B2 (en) * 2002-08-05 2006-05-16 The University Of British Columbia Axial ejection with improved geometry for generating a two-dimensional substantially quadrupole field
GB0219872D0 (en) * 2002-08-27 2002-10-02 Univ Belfast Charged particle manipulation
EP1668665A4 (en) * 2003-09-25 2008-03-19 Mds Inc Dba Mds Sciex METHOD AND DEVICE FOR PROVIDING TWO-DIMENSIONAL FIELDS ESSENTIALLY OF THE QUADRUPOL TYPE WITH SELECTED HEXAPOL COMPONENTS
CN1326191C (zh) 2004-06-04 2007-07-11 复旦大学 用印刷电路板构建的离子阱质量分析仪

Also Published As

Publication number Publication date
CA2568628C (en) 2012-10-09
EP1751787A4 (en) 2010-06-23
JP5557424B2 (ja) 2014-07-23
WO2005119737A1 (en) 2005-12-15
CN1585081A (zh) 2005-02-23
US20080067342A1 (en) 2008-03-20
EP1751787A1 (en) 2007-02-14
JP5706548B2 (ja) 2015-04-22
JP2008502097A (ja) 2008-01-24
JP2014089980A (ja) 2014-05-15
US7498569B2 (en) 2009-03-03
CA2568628A1 (en) 2005-12-15
RU2372687C2 (ru) 2009-11-10
CN1326191C (zh) 2007-07-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2006147225A (ru) Масс-анализатор с ионной ловушкой
US6747216B2 (en) Power-ground plane partitioning and via connection to utilize channel/trenches for power delivery
CA1127253A (en) Layer-built laminated bus embedding condensers
JP6443465B2 (ja) イオン処理装置においてイオンを案内する又は閉じ込めるためのイオン操作装置
WO2007124667A1 (fr) Réseau de capture d'ions
CN208158974U (zh) 电源
US6857898B2 (en) Apparatus and method for low-profile mounting of a multi-conductor coaxial cable launch to an electronic circuit board
FR2801680B3 (fr) Methode de test electrique de la conformite de l'interconnexion de conducteurs electriques disposes sur un substrat, sans contact et sans outillage
RU2673059C2 (ru) Система и способы конструирования подвешенной полоской структуры возбуждения антенны
US9258882B2 (en) Electronic devices comprising printed circuit boards
CN1155037C (zh) 具有受控阻抗环境的机电开关装置组件
US20120224333A1 (en) Multi-plate board embedded capacitor and methods for fabricating the same
US2907924A (en) Electrical assembly
KR20200124178A (ko) 리지드 절연 버스바 제조 공정
RU2536771C1 (ru) Способ изготовления мощной гибридной интегральной схемы свч-диапазона
Hardin et al. Z-directed component (zdc) technology for power integrity applications
CN206098344U (zh) 一种离子漏斗和质谱分析系统
RU2064890C1 (ru) Способ получения озона и его генератор
CN105931941B (zh) 一种离子漏斗和质谱分析系统
Lertsirimit et al. EMC coupling to a circuit board from a wire penetrating a cavity aperture
JP2004087589A (ja) Ｅｍｉ低減プリント基板
JPS5846565Y2 (ja) マイクロ波用半導体装置
Horng An efficient current expansion technique in full-wave modeling of microstrip discontinuities of arbitrary shape
WO2008114066A1 (en) Prototype modules for construction of electronic devices incorporating electronic tubes
Trinkle et al. Transmission Line Model for the Gapped Power Bus Structure

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20190604