RU1431391C - Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия - Google Patents

Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия Download PDF

Info

Publication number
RU1431391C
RU1431391C SU4076629A RU1431391C RU 1431391 C RU1431391 C RU 1431391C SU 4076629 A SU4076629 A SU 4076629A RU 1431391 C RU1431391 C RU 1431391C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
cadmium
melt
cooling
temperature
charge
Prior art date
Application number
Other languages
English (en)
Inventor
О.А. Матвеев
Д.В. Нахабцев
Original Assignee
Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе filed Critical Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority to SU4076629 priority Critical patent/RU1431391C/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU1431391C publication Critical patent/RU1431391C/ru

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Изобретение относится к способам получения полупроводникового материала, может быть использовано в электронной технике, обеспечивает уменьшение плотности дислокаций, исключение двойников и упрощение способа. Способ включает нагрев поликристаллической загрузки и кадмия, расположенных в разных секциях герметичного контейнера. Загрузку расплавляют, выдерживают расплав, после чего охлаждают. При охлаждении секцию с расплавом поддерживают в безградиентном температурном поле, а температуру в секции с кадмием - равной 755 - 765 С. Охлаждение ведут со скоростью, меньшей или равной 3С/ч. Получены монокристаллы площадью 15-20 см2, ориентированные по плоскости (III) с плотностью дислокаций 1·102-1·103 см+2. 1 табл.

Description

Изобретение относится к способам получения полупроводникового материала, конкретнее к выращиванию монокристаллов теллурида кадмия, и может быть использовано в электронной технике.
Цель изобретения - уменьшение плотности дислокаций, исключение двойников в кристаллах и упрощение процесса.
П р и м е р. Кварцевую ампулу, графитизированную в потоке ацетона, полуцилиндрической формы диаметром 40 мм и длиной 150 мм загружают поликристаллическим теллуридом кадмия (≈320 г). Далее ампулу помещают в кварцевый контейнер, состоящий из широкой части (длина 400 мм) и узкой части (длина 370 мм). В широкой части расположена графитизированная ампула с теллуридом кадмия, в узкой части - избыточный кадмий ( ≈2,4 г). Контейнер после откачки до 10-5 мм рт. ст. герметично запаивают и помещают в установку направленной кристаллизации, состоящей из двух трехзонных печей. Далее поликристаллическую загрузку расплавляют, доводя температуру печи до ≈1100оС. Температуру другой печи, в которой помещается отросток контейнера с избыточным кадмием, устанавливают равной 760оС, причем эта температура выбирается такой, чтобы согласно диаграмме состояния состав жидкой и твердой фаз отличался минимально. В печи с контейнером создается безградиентное температурное поле, аксиальное и радиальное распределение температуры которого измерено с точностью ±0,05оС. Расплав выдерживают в печи при температуре плавления в течение 2 ч, после чего производят охлаждение контейнера с расплавом. Указанные температуры в обеих печах поддерживаются с точностью ±0,25оС и измеряются посредством Pt-Pt/Rh 13% термопары. В данном конкретном примере скорость охлаждения расплава составляет 0,5оС/ч и устанавливается задатчиком ЗТА-1.
Другие примеры осуществляли аналогично примеру 1, при этом они отличались лишь скоростью охлаждения. Зависимость качества структуры и ориентации выращенных кристаллов от изменения скорости охлаждения расплава приведена в таблице.
Как видно из данных, приведенных в таблице, отсутствие двойников и задания ориентации обеспечиваются при скоростях охлаждения, меньших или равных 10оС/ч. При скорости охлаждения, равной или меньшей 3оС/ч, уменьшается плотность дислокации до уровня 1 ˙102-1 ˙ 103 см-2.
Таким образом, при предлагаемом режиме достигается высокое структурное качество кристаллов. Кроме того, предложенный способ позволяет существенно сократить потери материала за один технологический цикл в связи с тем, что поверхность расплава при кристаллизации образует кристаллографическую плоскость (III).
Предложенный способ позволяет получить монокристаллы теллурида кадмия площадью 15-20 см2, ориентированные в направлении (III), толщина которых определяется высотой контейнера (в примере 15-20 мм). Процесс прост и не требует сложной аппаратуры и регулировки. (56) Авторское свидетельство СССР N 1150994, кл. С 30 В 11/02, 29/48, 1983.

Claims (1)

  1. СПОСОБ ВЫРАЩИВАНИЯ МОНОКРИСТАЛЛОВ ТЕЛЛУРИДА КАДМИЯ, включающий нагрев поликристаллической загрузки и кадмия, расположенных в разных секциях герметичного контейнера, плавление загрузки, выдержку расплава и его последующее охлаждение с заданной скоростью, отличающийся тем, что, с целью уменьшения плотности дислокаций, исключения двойников в кристаллах и упрощения процесса, при охлаждении в секции с расплавом поддерживают безградиентное температурное поле, а температуру в секции с кадмием 755 - 765oС и охлаждение ведут со скоростью, равной или меньшей 3 град/ч.
SU4076629 1986-06-20 1986-06-20 Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия RU1431391C (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4076629 RU1431391C (ru) 1986-06-20 1986-06-20 Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU4076629 RU1431391C (ru) 1986-06-20 1986-06-20 Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1431391C true RU1431391C (ru) 1994-03-15

Family

ID=30440446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU4076629 RU1431391C (ru) 1986-06-20 1986-06-20 Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU1431391C (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7972439B2 (en) Method of growing single crystals from melt
US3173765A (en) Method of making crystalline silicon semiconductor material
JP4120016B2 (ja) 半絶縁性GaAs単結晶の製造方法
JP2007106669A (ja) 半絶縁性GaAs単結晶の製造方法
RU1431391C (ru) Способ выращивания монокристаллов теллурида кадмия
US3261722A (en) Process for preparing semiconductor ingots within a depression
US4764350A (en) Method and apparatus for synthesizing a single crystal of indium phosphide
JP2010059052A (ja) 半絶縁性GaAs単結晶の製造方法および装置
JP2001192289A (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
US6045767A (en) Charge for vertical boat growth process and use thereof
JP2004203721A (ja) 単結晶成長装置および成長方法
SU1059029A1 (ru) Способ получени монокристаллов @ из раствора-расплава
JP2531875B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JPH04187585A (ja) 結晶成長装置
JP3806793B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JP2922038B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
JP2726887B2 (ja) 化合物半導体単結晶の製造方法
KR970007336B1 (ko) 압전소자용 및 레이저 발진자용 소재물질의 단결정 제조법
JP2000327496A (ja) InP単結晶の製造方法
JPS60215597A (ja) 結晶製造用ルツボ
JP2000327475A (ja) 化合物半導体単桔晶の製造装置及びその製造方法
JP2000154096A (ja) SiC結晶の液相エピタキシャル成長方法
JPH01208389A (ja) 化合物半導体単結晶の成長方法
JPH04164889A (ja) 単結晶の製造方法
JPS6221787A (ja) 半導体結晶成長法