PL99340B1 - Automatyczny tester miernikow cyfrowych - Google Patents

Automatyczny tester miernikow cyfrowych Download PDF

Info

Publication number
PL99340B1
PL99340B1 PL18811276A PL18811276A PL99340B1 PL 99340 B1 PL99340 B1 PL 99340B1 PL 18811276 A PL18811276 A PL 18811276A PL 18811276 A PL18811276 A PL 18811276A PL 99340 B1 PL99340 B1 PL 99340B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
output
digital
memory
input
block
Prior art date
Application number
PL18811276A
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to PL18811276A priority Critical patent/PL99340B1/pl
Publication of PL99340B1 publication Critical patent/PL99340B1/pl

Links

Landscapes

  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest automatyczny tester mierników cyfrowych, przeznaczony do kontroli jakosci metrologicznej elektronicznych cyfrowych przyrzadów pomiarowych, glównie zas do kontroli cyfrowych woltomierzy napiecia stalego z zastosowaniem testów statystycznych o zmiennej ilosci prób.Stan techniki. Znane sa elektroniczne kalkulatory programowane, przeznaczone do automatycznego przetwarzania danych i do zestawiania informacyjnydi systemów pomiarowych.W omawianych kalkulatorach uklad pamieci poprzez deszyfrator rozkazów jest polaczony z blokiem procedur wewnetrznych, a wyjscie tego bloku jest polaczone z wejsciem ukladu wybierania pamieci i z wejsciem ukladu taktujacego, polaczonego z ukladem sterujacym urzadzeniami peryferyjnymi np. drukarki, pamieci magnetycznej oraz z blokiem arytmetycznym i zewnetrznym cyfrowym woltomierzem napiecia stalego.Wymienione bloki i uklady wspólpracuja ze soba w ten sposób, ze program umieszczony w ukladzie pamieci jest realizowany automatycznie przez blok procedur wewnetrznych oraz blok arytmetyczny wykonujacy obliczanie. Natomiast uklady sterujace urzadzeniami peryferyjnymi umozliwiaja uzyskanie wyników lub oddzialywuja na urzadzenia tworzace wraz z kalkulatorem programowanym system do okreslonego celu np. system pomiarowy.Znane sa równiez z publikacji Hewlett Packard „Computing -Counter Measurement Systems", december, 1970, przeliczajace cyfrowe systemy pomiarowe zbudowane z bloku miernika czestotliwosci, zaopatrzonego w blok arytmetyczny, który polaczony z programerem tworzy informacyjny system pomiarowy.Z programerem sa polaczone przyrzady oraz urzadzenia peryferyjne.Wspomniany blok miernika czestotliwosci jest dodatkowo polaczony z przetwornikiem mierzonej wielkosci na czestotliwosc.Istota wynalazku. W automatycznym testerze mierników cyfrowych, uklad wybierania pamieci jest jednoczesnie polaczony z ukladem pamieci diodowej i z ukladem wprowadzania danych cyfrowych z przyrzadów pomiarowych do bloku arytmetycznego, przy czym uklad wprowadzania danych cyfrowych2 99 340 wejsciem jest polaczony z wyjsciem zespolu rejestrów przelacznikowych, z wyjsciem zespolu rejestrów liczników, z wyjsciem programowanego generatora wartosci cyfrowych oraz z wyjsciem zewnetrznego cyfrowego woltomierza napieciowego, z kolei jednym informacyjnym wyjsciem, generator jest polaczony z wejsciem zewnetrznego cyfrowego programowanego zródla napiec wzorcowych, zas drugim wyjsciem wspomniany generator jest polaczony z wyjsciem taktujacego ukladu.W odniesieniu do znanego stanu techniki zastosowanie w automatycznym testerze ukladu wprowadzania danych cyfrowych, sterowanego przez uklad wybierania pamieci i rozszerzenie zakresu tej pamieci na zespoly rejestrów przelacznikowych i liczników oraz na programowany generator wartosci cyfrowych, ma ten korzystny skutek, ze przedmiot wynalazku mozna zastosowac zamiast minikomputerów do automatycznego przetwarzania danych i sterowania procesem pomiarowym.Dodatkowa zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest mozliwosc uzyskania informacyjnego systemu pomiarowego o znacznie korzystniejszych gabarytach, przy wydatnym zmniejszeniu kosztów w stosunku do rozwiazania z zastosowanym minikomputerem.Objasnienie rysunku. Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przykladzie wykonania na ry&unku przedstawiajacym schemat blokowy ukladu automatycznego testera mierników cyfrowych.Przyklad realizacji wynalazku. Automatyczny tester mierników cyfrowych jest zaopatrzony w blok arytmetyczny, który jednym wejsciem jest polaczony poprzez przelacznik 1 z ukladem diodowej pamieci 2 i ukladem 3 wprowadzania danych cyfrowych. Drugim wejsciem blok arytmetyczny jest polaczony poprzez drugi przelacznik 4 z taktujacym ukladem 5 polaczonym z ukladem wybierania pamieci 6, który steruje ukladem diodowej pamieci 2 i ukladem 3 wprowadzania danych cyfrowych. Z kolei uklad diodowej pamieci 2 steruje przelacznikiem 4 i jednoczesnie jest polaczony z deszyfratorem rozkazów 7, którego wyjscia sa polaczone z blokiem procedur wewnetrznych 8 sterujacym przelacznikiem 1, ukladem wybierania pamieci 6 i taktujacym ukladem 5. Do wejscia ukladu 3 sa podlaczone wyjscia zespolu 9 rejestrów przelacznikowych, zespolu 10 rejestrów liczników, programowanego generatora 11 wartosci cyfrowych i kontrolowanego cyfrowego woltomierza napiecia stalego, przy czym programowany generator 11 jest dodatkowo polaczony zwejsdem zewnetrznego cyfrowego programowanego zródla napiec wzorcowych oraz z taktujacym ukladem 5. Jedno z wyjsc bloku arytmetycznego jest polaczone z ukladem 12 sterujacym drukarka. Natomiast drugie wyjscie synchronizacyjne bloku arytmetycznego oraz synchronizacyjne wyjscie ukladu 12, generatora 11 oraz zewnetrznego kontrolowanego cyfrowego woltomierza sa polaczone z wejsciem synchronizacyjnym taktujacego ukladu 5. Wyjscia inicjujace deszyfratora rozkazów 7 sa polaczone z wejsciami inicjujacymi zewnetrznego kontrolowanego cyfrowego woltomierza, wejsciem inicjujacym generatora 11 i ukladu 12 sterujacego drukarka.Dzialanie ukladu testera. Taktujacy uklad 5 impulsami T steruje uklad wybierania pamieci 6, który wyznacza jednoczesnie sekwencje wybierania rozkazów zakodowanych w pamieci diodowej i sekwencje zmiany cyfrowej informaqi równoleglej na równolegla uszeregowana zgodna z wymaganiami ukladu arytmetycznego.Sygnaly II generowane przez pamiec diodowa sa dostarczane do deszyfratora rozkazów 7 i przelacznika 1, którego wyjscie jest polaczone z gniazdem bloku arytmetycznego. Rozdzial rozkazów przeznaczonych dla bloku arytmetycznego lub deszyfratora rozkazów 7 umozliwia przelacznik 4 sterowany bezposrednio jednym bitem slowa pamieci diodowej, który przylacza impulsy strobujace S do deszyfratora rozkazów 7 lub gniazda bloku arytmetycznego. Deszyfrator rozkazów 7 sterowany slowem z pamieci kieruje impulsy strobujace S w formie impulsów inicjujacych B..n do bloków realizujacych odpowiednie procedury pomiarowe, obliczeniowe lub wewnetrzne. Procedury wewnetrzne takie jak skok, skok warunkowy, wprowadzanie danych cyfrowych z ukladu 3 do bloku arytmetycznego, stop dynamiczny, sa realizowane przez blok procedur wewnetrznych 8 za pomoca impulsów P..n.Pamiec uzupelniaja zespoly: rejestrów przelacznikowych 9, rejestrów liczników 10 zliczajacych impulsy z odpowiednich wyjsc deszyfratora rozkazów 7 oraz programowany generator 11 wartosci cyfrowych sterujacy zródlo napiec wzorcowych. wymienione zespoly sa podlaczone do ukladu 3 wprowadzania danych cyfrowych.Gniazdo bloku arytmetycznego jest polaczone z ukladem 12 sterujacym drukarka. Blok arytmetyczny, uklad 12 i generator 11 oddzialywuja na taktujacy uklad 5 impulsami blokady M.ji w celu synchronizacji pracy tych zespolów z praca ukladu wybierania pamieci 6. Wyjscie informacyjne 13 generatora 11 jest polaczone z gniazdem programowanego zródla napiec wzorcowych, zas gniazdo kontrolowanego woltomierza napiecia stalego wyjsciem 16 jest polaczone z ukladem 3 wprowadzenia danych cyfrowych oraz wyjsciem M6 blokujacym taktujacy uklad 5 i wyjsciem B6 z deszyfratorem rozkazów 7, co umozliwia sterowanie tymi przyrzadami. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Automatyczny tester mierników cyfrowych, zaopatrzony w blok arytmetyczny, polaczony poprzezjeden z przelaczników z ukladem pamieci i ukladem wprowadzania danych cyfrowych, przy czym uklad pamieci99 340 3 poprzez deszyfrator rozkazów jest polaczony z blokiem procedur wewnetrznych, a wyjscie tego bloku jest polaczone z wejsciem ukladu taktujacego i z wejsciem ukladu wybierania pamieci, znamienny tym, ze uklad (6) wybierania pamieci jest jednoczesnie polaczony z ukladem (2) pamieci diodowej i z ukladem (3) wprowadzania danych cyfrowych z przyrzadów pomiarowych do bloku arytmetycznego, przy czym uklad wprowadzania danych cyfrowych (3) wejsciem (I) jest polaczony z wyjsciem zespolu (9) rejestrów . przelacznikowych, z wyjsciem (14) zespolu (10) rejestrów liczników, z wyjsciem (13) programowanego generatora (11) wartosci cyfrowych oraz z wyjsciem (16) zewnetrznego cyfrowego woltomierza napiecia stalego, z kolei jednym informacyjnym wyjsciem (13) generator (11) jest polaczony z wejsciem zewnetrznego cyfrowego programowanego zródla napiec wzorcowych, zas drugim wyjsciem (M3) generator (11) jest polaczony z wyjsciem (M) taktujacego ukladu (5). Blok arytmet. B6M6J6 J3 PL
PL18811276A 1976-03-19 1976-03-19 Automatyczny tester miernikow cyfrowych PL99340B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18811276A PL99340B1 (pl) 1976-03-19 1976-03-19 Automatyczny tester miernikow cyfrowych

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL18811276A PL99340B1 (pl) 1976-03-19 1976-03-19 Automatyczny tester miernikow cyfrowych

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL99340B1 true PL99340B1 (pl) 1978-07-31

Family

ID=19976063

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL18811276A PL99340B1 (pl) 1976-03-19 1976-03-19 Automatyczny tester miernikow cyfrowych

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL99340B1 (pl)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0255118A2 (en) Pattern generator
PL99340B1 (pl) Automatyczny tester miernikow cyfrowych
JPS61278766A (ja) カウンタ装置
US6892338B2 (en) Analog/digital characteristics testing device and IC testing apparatus
SU786009A2 (ru) Управл емый делитель частоты
SU960822A1 (ru) Устройство дл контрол схем сравнени
SU694822A1 (ru) Устройство параметрического контрол интегральных схем
JPH05107307A (ja) Lsiテスタ
SU1001183A1 (ru) Устройство дл контрол и измерени параметров блоков пам ти
JPS6256539B2 (pl)
SU1233156A2 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
SU868763A1 (ru) Устройство дл контрол логических блоков
SU745960A2 (ru) Устройство дл испытани командоаппаратов автооператорных линий
KR0116954Y1 (ko) Ic 칩 테스터기
SU920628A1 (ru) Устройство дл измерени временных интервалов
SU940082A1 (ru) Цифровой частотомер
SU961034A1 (ru) Устройство дл контрол последовательно соединенных тиристоров высоковольтного вентильного блока
SU1562864A1 (ru) Устройство дл функционально-параметрического контрол логических элементов
SU985755A1 (ru) Устройство дл параметрического контрол интегральных схем
SU1005061A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых узлов
SU660061A1 (ru) Система дл контрол электрических параметров цифровых узлов
SU970281A1 (ru) Логический пробник
SU1467750A1 (ru) Многоканальный анализатор
SU920697A1 (ru) Устройство опроса информационных каналов
SU1385105A1 (ru) Устройство сигнатурного контрол проводных соединений