PL223633B1 - Sposób i urządzenie do detekcji obróconych segmentów w wielosegmentowym wałku przemieszczanym w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym - Google Patents

Description

Opis wynalazku

Przedmiotem wynalazku jest sposób i urządzenie do detekcji obróconych segmentów w wielosegmentowym wałku przemieszczanym w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym.

W przemyśle tytoniowym wytwarza się papierosy wyposażone w filtry, przy czym filtry mogą być wykonane z jednego rodzaju materiału lub mogą być złożone z wielu materiałów o różnych własnościach fizycznych. W produkowanych współcześnie papierosach coraz częściej stosowane są filtry, które posiadają kilka segmentów o różnych właściwościach filtracyjnych. Ze stanu techniki znane są maszyny do wytwarzania filtrowych sztabek wielosegm entowych z bezkońcowych filtrowych wałków wielosegmentowych. Maszyny te zestawiają wiele różnych segmentów podawanych z wielu urządzeń zasilających, przy czym segmenty powstają przez cięcie sztabek filtrowych przemieszczanych prz ykładowo na transporterze bębnowym przy użyciu głowicy tnącej wyposażonej w noże krążkowe. Poszczególne segmenty są ustawiane zależnie od urządzenia obok siebie lub jeden za drugim, aby ost atecznie utworzyć bezkońcowy wałek wielosegmentowy cięty na pojedyncze sztabki wielosegmentowe. W dalszych etapach procesu produkcji papierosów sztabki wielosegmentowe są cięte na pojedyncze wielosegmentowe filtry aplikowane do pojedynczych papierosów.

Bardzo istotnym aspektem produkcji sztabek wielosegmentowych jest ich jakość. O jakości decyduje zarówno zachowanie wymiarów sztabki, przykładowo średnicy i długości ale również zachowanie kolejności segmentów jak i odstępów między segmentami. Ponadto istotne jest to, żeby segmenty były poprawnie usytuowane swoimi osiami względem osi wytwarzanego wałk a lub kierunku jego wytwarzania. Obecnie producenci papierosów stosują coraz krótsze segmenty, przykładowo takie, których długość (wymiar w kierunku osiowym) jest zbliżona do ich średnicy. Znane są również filtry, w których zastosowane segmenty mają długość mniejszą od średnicy, przykładowo 5 mm lub mniejszą. Dla takich proporcji segmentu istnieje ryzyko obrócenia się segmentu w taki sposób, że jego oś będzie usytuowana nierównolegle, przykładowo prostopadle do osi wałka, w którym został umieszczony. Jest to możliwe, jako że wymiary przestrzeni przewidzianej dla takiego segmentu pozwolą na umieszczenie go, przy pewnej deformacji segmentu, zarówno osią równolegle do osi całego wałka jak również zasadniczo prostopadle do osi wałka. Przy nieco większej deformacji segmentu możliwe jest również kątowe usytuowanie takiego segmentu względem osi wałka. Przy tym kierunek obrotu względem wałka jak i kąt obrotu są całkowicie przypadkowe. Ponadto deformacji ulega sam segment, który uległ obróceniu, jak i sama bibułka owijająca wałek wielosegmentowy przyjmująca lokalnie obrys zbliżony do obrysu segmentu. Innymi słowy obrócenie segmentu powoduje, że wytwarzany wałek w pewnym stopniu ulega deformacji, to znaczy w obszarze niepoprawnie umieszczonego segmentu wałek nie jest uformowany cylindrycznie. Zgodnie z oczekiwaniem producentów sztabki wielosegmentowe zawierające obrócone segmenty powinny zostać odrzucone z produkcji.

Ze stanu techniki znane są układy do kontroli jakości wielosegmentowych wałków. Takie układy są opisane w US 4,001,579, US 4,212,541, GB 2043962 i US 2011/162665A1. Odnoszą się one do sprawdzania rodzajów segmentów, do wzajemnego usytuowania kolejnych segmentów w wałku i do regulacji długości cięcia sztabki wielosegmentowej. Nie ujawniają one jednak sposobu detekcji obróconych segmentów.

Zadaniem stojącym przed niniejszym wynalazkiem jest opracowanie sposobu i urządzenia do niezawodnej i szybkiej detekcji obróconych segmentów w taki sposób, by detekcja nastąpiła niezależnie od kierunku obrócenia segmentów.

Według wynalazku opracowano sposób detekcji obróconych segmentów w wielosegmentowym wałku przemieszczanym w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym poprzez wytworzenie s ygnału błędu kształtu wspomnianego wałka, zawierającego wiele rozmieszczonych jeden za drugim segmentów we wspólnej osłonie, w którym przemieszczający się liniowo w kierunku wzdłuż swojej osi wałek skanuje się jednocześnie za pomocą co najmniej dwóch czujników optycznych, których kierunki skanowania są usytuowane względem siebie pod kątem różnym od 90°.

Sposób według wynalazku charakteryzuje się tym, że przez wielokrotnie skanowanie z taką częstotliwością, że najkrótszy segment znajdujący się w wałku jest skanowany co najmniej jeden raz, mierzy się średnicę wałka, przy czym wyniki kolejnych skanowań porównuje się z określonym wynikiem odniesienia, zaś każdą różnicę między którymkolwiek wynikiem skanowania a wynikiem odniesienia przetwarza się na sygnał błędu kształtu.

Wałek można skanować za pomocą dwóch czujników optycznych o kierunkach skanowania skierowanych wzajemnie pod kątem w zakresie od 40° do 60°, korzystnie 45°.

PL 223 633 B1

Według wynalazku opracowano również urządzenie do detekcji obróconych segmentów w wielosegmentowym wałku przemieszczanym w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym poprzez wytworzenie sygnału błędu kształtu wspomnianego wałka, zawierającego wiele rozmieszczonych jeden za drugim segmentów we wspólnej osłonie, zawierające co najmniej dwa czujniki optyczne do skanowania przemieszczanego wałka, których kierunki skanowania są usytuowane względem siebie pod kątem różnym od 90°.

Urządzenie według wynalazku charakteryzuje się tym, że czujniki optyczne są przystosowane do pomiaru średnicy wałka przez wielokrotnie skanowanie go z taką częstotliwością, że najkrótszy segment znajdujący się w wałku jest skanowany co najmniej jeden raz, przy czym urządzenie zaopatrzone jest ponadto w sterownik umożliwiający porównywanie wyników kolejnych skanowań z określonym wynikiem odniesienia, który każdą wykrytą różnicę między którymkolwiek wynikiem sk anowania a wynikiem odniesienia przetwarza na sygnał błędu kształtu.

Urządzenie może zawierać dwa czujniki optyczne o kierunkach skanowania skierowanych wzajemnie pod kątem w zakresie od 40° do 60°, korzystnie 45°.

Korzystnie, każdy czujnik zawiera źródło promieniowania, korzystnie w zakresie widzialnym, oraz element światłoczuły, przy czym źródło promieniowania i element światłoczuły są rozmieszczone wzajemnie po dwóch stronach przemieszczającego się wałka.

Korzystnie, czujniki są czujnikami liniowymi.

Korzystnie, płaszczyzny skanowania czujników liniowych zasadniczo pokrywają się.

Ewentualnie, czujniki są czujnikami powierzchniowymi.

Korzystnie, powierzchnie skanowania czujników liniowych zasadniczo pokrywają się.

Zaletą sposobu i urządzenia według wynalazku jest skuteczne działanie przy niskonakładowym i prostym sposobie realizacji rozwiązania według wynalazku.

Przedmiot wynalazku został bliżej przedstawiony w korzystnym przykładzie wykonania na rysunku, na którym: fig. 1 przedstawia przykładowy filtrowy wałek wielosegmentowy; fig. 2 przedstawia inny przykładowy filtrowy wałek wielosegmentowy; fig. 3a przedstawia fragment maszyny do wytwarzania sztabek wielosegmentowych; fig. 3b przedstawia przykładowe sztabki, z których jedna zawiera błąd kształtu; fig. 4 przedstawia wałek z fig. 1 z obróconym segmentem; fig. 5 przedstawia wałek z fig. 1 z inaczej obróconym segmentem; fig. 6 przedstawia przekrój płaszczyzną A-A obróconego segmentu w wałku z fig. 5; fig. 7 przedstawia przekrój płaszczyzną B-B obróconego segmentu w wałku z fig. 5; fig. 8 przedstawia zestaw dwóch czujników optycznych; fig. 9a i 9b przedstawiają działanie poszczególnych liniowych czujników optycznych w przypadku segmentu nieobróconego; fig. 10a i 10b przedstawiają działanie poszczególnych liniowych czujników w przypadku segmentu obróconego; fig. 11a i 11b przedstawiają działanie poszczególnych powierzchniowych czujników optycznych w przypadku segmentu nieobróconego; fig. 12a i 12b przedstawiają działanie poszczególnych powierzchniowych czujników optycznych w przypadku segmentu obróconego; fig. 13 przedstawia punkty skanowania na wałku z fig. 2; fig. 14 przedstawia wyniki skanowania wałka z fig. 1 przy użyciu czujników liniowych.

Na fig. 1 i 2 przedstawiono schematycznie fragmenty przykładowych filtrowych wałków wielosegmentowych CR1, CR1' zawierających naprzemiennie rozmieszczone segmenty 2 i 3 na fig. 1 oraz segmenty 2, 3 i 4 na fig. 2, przy czym zazwyczaj są to segmenty cylindryczne - pełne lub rurkowe z różnych materiałów filtracyjnych. Segmenty mogą być ustawione w ciąg bezpośrednio jeden za drugim lub z odstępami i są zamknięte we wspólnej osłonie, w szczególności są owinięte w bibułkę. Na rysunku wałki wielosegmentowe są pokazane tak jakby bibułka była przezroczysta. Jak widać na fig. 3a, przedstawiającej fragment maszyny do wytwarzania sztabek wielosegmentowych S z wałków CR1, CR1', zespół zasilający 101 podaje przygotowane wcześniej w znany sposób segmenty filtrowe na przenośnik 102, przy czym na jego powierzchni umieszczona zostaje bibułka 103. W czasie przemieszczania segmentów na przenośniku 102 bibułka 103 jest owijana w znany sposób wokół segmentów i zaklejana. Tak powstały wałek wielosegmentowy CR przemieszcza się przez strefę działania zespołu kontrolnego 104, a następnie zostaje pocięty na segmenty S za pomocą głowicy tnącej 105 wyposażonej w noże 106. Na rysunku pominięto typowe elementy do podpierania i prowadzenia wałka CR.

Na fig. 3b pokazano trzy przykładowe sztabki S, S' i S, przy czym sztabka S' zawiera defekt, który zostanie wykryty za pomocą urządzenia według wynalazku i w efekcie sztabka S' zostanie odrzucona z procesu produkcyjnego.

PL 223 633 B1

Segment 2 jest najkrótszym z segmentów w obydwu przykładach przedstawionych na fig. 1 i 2, jego długość jest zbliżona do średnicy wałka filtrowego. W czasie wytwarzania filtrowego wałka wielosegmentowego może się zdarzyć, że takie krótkie segmenty mogą zostać przypadkowo obrócone. Na fig. 4 i 5 takie obrócone segmenty oznaczono jako 2A i 2B. Osiowy kierunek przemieszczania wałka w czasie wytwarzania oznaczono strzałką 10. Oś Y wałka wielosegmentowego CR1 na fig. 4 leży w płaszczyźnie rysunku, natomiast oś XA obróconego segmentu 2A jest usytuowana prostopadle do płaszczyzny rysunku. Na fig. 5 oś XB segmentu 2B jest usytuowana skośnie do płaszczyzny rysunku i prostopadle do osi Z, przy czym możliwe jest ustawienie osi XB pod kątem do osi Z. Fig. 6 i 7 pok azują przekroje A-A i B-B przez segmenty 2B i 3 oznaczone na fig. 5. Oznacznik 11 odnosi się do bibułki, którą owinięte są segmenty wałka CR1. Bibułka 11, która na długości całego wałka jest ukształtowana cylindrycznie, w strefie obróconego segmentu jest zdeformowana tak, aby opasać obrócony segment. Innymi słowy bibułka 11 przechodzi z ukształtowania cylindrycznego do ukształtowania zbliżonego do przekroju obróconego segmentu 2B i ponownie przechodzi do ukształtowania cylindrycznego. Na fig. 7 bibułka 11 ma przekrój kołowy odpowiadający kołowemu przekrojowi segmentu 3, wokół którego bibułka jest ukształtowana cylindrycznie.

W czasie wytwarzania filtrowego wałka wielosegmentowego CR wałek przechodzi przez obszar działania co najmniej dwóch czujników optycznych 5, które stanowią razem czujnik kształtu 12, przystosowany do pomiaru średnicy wałka, pokazany na fig. 8, które mogą należeć do zespołu k ontrolnego 104 pokazany na fig. 3a. Czujniki 5 działają w płaszczyźnie rysunku, natomiast wałek wielosegmentowy porusza się w kierunku prostopadłym do płaszczyzny rysunku. Każdy czujnik optyczny 5 obejmuje źródło promieniowania 6, przykładowo w zakresie widzialnym, oraz element światłoczuły 7, przy czym oba czujniki są połączone ze sterownikiem 8. Źródło promieniowania 6 może być ukształtowane jako liniowe lub powierzchniowe, podobnie element światłoczuły 7 może być ukształtowany jako liniowy lub powierzchniowy. Oznacznik 9 pokazuje kierunek skanowania czujnika optycznego 5. Fig. 8 przedstawia czujnik kształtu 12 zawierający dwa czujniki optyczne 5 skanujące w kierunkach skanowania 13 i 14, przy czym czujniki optyczne są podłączone do sterownika 8 sterującego działaniem czujników 5. Kierunki skanowania czujników optycznych są usytuowane kątowo, przy czym kąt α jest różny od 90°. Korzystnie kąt między kierunkami skanowania 13 i 14 wynosi 45°. Dla takiego kąta skuteczność detektowania obróconych segmentów jest największa. Jest to uwarunkowane tym, że obrócony segment wałka wielosegmentowego jest w przekroju poprzecznym prostokątem i zależnie od rzeczywistego kąta obrotu segmentu w stosunku do kierunków oświetlania wałka czujniki mogą dawać różne wartości sygnału, przy czym najczęściej jest to sygnał analogowy. Czujniki 5 są przyst osowane do mierzenia średnicy wałka, a konkretnie średnic jego poszczególnych segmentów przez wielokrotne skanowanie. Wyniki tych pomiarów, czyli wartości średnic kolejnych segmentów przekazywane są do sterownika 8, który w przypadku wykrycia różnicy między danym wynikiem, a pewnym, wprowadzonym do sterownika wstępnie, wynikiem odniesienia, generuje sygnał błędu kształtu. W rezultacie więc sygnał błędu powstaje za każdym razem, gdy średnica któregoś segmentu jest inna niż średnica odniesienia. Jako średnicę wałka w kontekście niniejszego opisu należy rozumieć również wymiar, który może nie być faktycznie średnicą (jeżeli dany segment jest obrócony i wskutek tego wałek na tym odcinku nie jest cylindryczny), lecz jest odcinkiem między odcinkami A1 i B1 lub A2 i B2 (por. fig. 9-a, 9-b). Jak wykazały testy przeprowadzone dla różnych kątów między kierunkami skanowania czujników największą pewność poprawnej detekcji obróconych segmentów osiągnięto dla kąta 45°. Co istotne, porównywanie otrzymanych wyników i wytwarzanie odpowiednich sygnałów błędu kształtu (innymi słowy błędu średnicy) odbywa się w sterowniku 8, co jest szybsze niż przykładowo porównywanie zeskanowanych obrazów będących zobrazowaniem deformacji wałka, gdyż wymaga analizy dużo mniejszej ilości informacji.

Fig. 9a przedstawia przykład realizacji urządzenia według wynalazku, w którym element światłoczuły wykonano jako element liniowy 7'. W czasie wytwarzania filtrowego wałka wielosegmentowego CR1 liniowe źródło promieniowania 6' (fig. 9a) oświetla wałek CR1 i częściowo element światłoczuły 7' (fig. 9a i 9b). W przypadku, kiedy w filtrowym wałku wielosegmentowym nie ma obróconych segmentów i nie występuje stąd wynikający błąd kształtu, oświetlone są dwa fragmenty (odcinki) A₁ i B₁ elementu światłoczułego 7' należącego do liniowego czujnika 5'. Fig. 10a przedstawia liniowy element światłoczuły 7' taki jak na fig. 9a, przy czym ze względu na obrócenie segmentu 2B jest on oświetlony na dwóch fragmentach A₂ i B₂, co pokazano również na fig. 10b w widoku w kierunku osiowym filtrowego wałka wielosegmentowego CR1. Zależnie od ustawienia czujnika optycznego 5' względem segmentu 2B, możliwa jest sytuacja kiedy A₂<A₁ i B₂<B₁. Możliwa jest również sytuacja kiedy A₂=A₁

PL 223 633 B1 i B₂<Bi lub B₂=Bi i A₂<Ai oraz sytuacja kiedy A₂=Ai i B₂=Bi (tzn. odkształcenie wałka jest „niewidoczne” dla czujnika), przy czym wartości A! i B-ι zaznaczone na fig. 10a są traktowane jako wyniki odniesienia zapamiętane w sterowniku 8. W praktyce, do sterownika 8, do którego podłączony jest czujnik optyczny, należy wprowadzić pewne wartości graniczne A_g i B_g odpowiadające średnicy większej od nominalnej średnicy wałka, to znaczy należy pozostawić pole tolerancji dla średnicy wałka, która w pewnym stopniu może się zmieniać w trakcie produkcji. Sterownik będzie generował sygnał błędu kształtu, gdy jeden z oświetlonych odcinków Ai, A₂, Bi, B₂ elementu światłoczułego 7' będzie mniejszy odpowiednio od A_g lub B_g. W czujniku kształtu (fig. 8), w którym zastosowane są przykładowo dwa liniowe czujniki optyczne ustawione pod odpowiednim kątem, w przypadku kiedy dla jednego czujnika zachodzi sytuacja taka, że A₂=A₁ i B₂=B₁ a dla drugiego czujnika zachodzi sytuacja taka, że A₂<A₁ i B₂<B₁, sygnał błędu kształtu tylko z jednego czujnika optycznego będzie stanowił potwierdzenie, że w filtrowym wałku wielosegmentowym znajduje się obrócony segment. Niezależnie od usytuowania obróconego segmentu czujnik kształtu zawsze rozpozna błąd kształtu wałka tzn. zdetektuje obrócony element.

Fig. 11 a przedstawia przykład realizacji urządzenia według wynalazku, w którym element światłoczuły wykonano jako element powierzchniowy 7'', przykładowo jako matryca światłoczuła. W czasie wytwarzania filtrowego wałka wielosegmentowego CR1 płaskie źródło promieniowania 6'' oświetla wałek CR1 i częściowo element światłoczuły 7'' (fig. 11a i 11b). W przypadku, kiedy w filtrowym wałku wielosegmentowym nie ma obróconych segmentów i nie występuje stąd wynikający błąd kształtu wałka, oświetlone są dwa fragmenty elementu - pola P₁ i R₁ elementu światłoczułego 7''. Fig. 12a przedstawia powierzchniowy element światłoczuły 7'' taki jak na fig. 11 a, przy czym ze względu na obrócony segment 2B jest on oświetlony na dwóch fragmentach - polach P₂ i R₂, przy czym pole P₂<P₁ a R₂<R₁. Zależnie od ustawienia czujnika optycznego 5'' względem segmentu 2, możliwa jest sytuacja kiedy P₂<P₁ i R₂<R₁. Możliwa jest również sytuacja kiedy P₂=P₁, a R₂<R₁ lub R₂=R₁, a P₂<P₁ oraz sytuacja kiedy P₂=P₁ i R₂=R₁ (tzn. odkształcenie wałka jest „niewidoczne” dla czujnika), przy czym wartości P₁ i R₁ zaznaczone na fig. 11 a są traktowane jako wyniki odniesienia. W praktyce, do sterownika, do którego podłączony jest czujnik optyczny, należy wprowadzić pewne wyniki odniesienia Pg i Rg odpowiadające średnicy większej od nominalnej średnicy wałka, to znaczy należy pozostawić pole tolerancji dla średnicy wałka, która w pewnym stopniu może się zmieniać w trakcie produkcji. Sterownik będzie generował sygnał błędu kształtu, gdy jedna z oświetlonych powierzchni elementu światłoczułego 7'' będzie mniejsza od P_g lub R_g. W czujniku kształtu (fig. 8), w którym zastosowane są przykładowo dwa powierzchniowe czujniki optyczne ustawione pod odpowiednim kątem, w przypadku kiedy dla jednego czujnika zachodzi sytuacja P₂=P₁ i R₂=R₁ dla drugiego czujnika zachodzi sytuacja lub P₂<P₁ i R₂<R₁, sygnał błędu kształtu tylko z jednego czujnika optycznego stanowi potwierdzenie, że w filtrowym wałku wielosegmentowym znajduje się obrócony segment. Niezależnie od usytuowania obróconego segmentu czujnik kształtu zawsze rozpozna błąd kształtu wałka tzn. zdetektuje obrócony element. W czujniku kształtu można zastosować dowolną ilość czujników optycznych. Przy tym s ygnał błędu z każdego czujnika może być wykorzystany do potwierdzenia zdetektowania obróconego segmentu.

Fig. 13 przedstawia przykładowy filtrowy wałek wielosegmentowy CR1', przy którym pionowymi krótkimi liniami M zaznaczono miejsca, dla których następuje skanowanie w czasie przemieszczania wałka w kierunku 10. Skanowanie czujnikiem kształtu 12 realizowane jest cyklicznie z odpowiednią częstością w taki sposób, że najkrótszy element jest skanowany co najmniej jeden raz na swojej długości. Czas między kolejnymi skanowaniami wałka jest dobrany tak, że jest krótszy od wartości równej długości najkrótszego segmentu podzielonej przez prędkość poruszania się filtrowego wałka wielosegmentowego. Pokazane przykładowe rozstawienie kolejnych punktów skanowania na poruszającym się wałku służy jedynie zilustrowaniu jak kolejne punkty skanowania rozkładają się na długości wałka. W rzeczywistości liczba takich punktów będzie większa i będzie wynikała z częstotliwości skanowania przykładowo 10 kHz, 20 kHz, 50 kHz lub 100 kHz zależnie od zastosowanego sterownika lub komputera oraz prędkości przesuwu wałka w zakresie przykładowo od 50 m/min do 600 m/min. Przy czym częstotliwość skanowania można dobrać do prędkości przesuwu wałka. Na fig. 13 oznacznikiem „w” oznaczono odległości między kolejnymi punktami na długości wałka, w których będzie skanowana powierzchnia wałka. Przykładowo dla częstotliwości skanowania 20 kHz i prędkości przesuwu wałka 500 m/min powierzchnia wałka będzie każdorazowo skanowana w obszarze działania czujnika kształtu po przemieszczeniu wzdłużnym wałka o wartość 0,416 mm, tzn. segment o długości 5 mm zostanie zeskanowany 12 razy na swojej długości. Możliwe jest rozwiązanie, że wałek wielosegmentowy nie

PL 223 633 B1 jest skanowany na całej swojej długości, a jedynie na odcinkach, na których znajdują się krótkie segmenty. Na fig. 14 krótkimi pionowymi liniami ML przedstawiono przykładowe wyniki skanowania przy użyciu liniowych czujników optycznych. Dla segmentów ustawionych poprawnie zarejestrowano wartości A1 i B1, natomiast dla obróconego segmentu 2B zarejestrowano wartości A2 i B2. Na podstawie uzyskanych wartości pomiarowych można odrzucić sztabki filtrowe S', w obrębie których znajdą się obrócone segmenty.

Claims (8)

1. Zastrzeżenia patentowe

   1. Sposób detekcji obróconych segmentów w wielosegmentowym wałku przemieszczanym w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym poprzez wytworzenie sygnału błędu kształtu wsp omnianego wałka (CR1, CR1'), zawierającego wiele rozmieszczonych jeden za drugim segmentów (2, 3, 4) we wspólnej osłonie, w którym przemieszczający się liniowo w kierunku wzdłuż swojej osi wałek (CR1, CR1') skanuje się jednocześnie za pomocą co najmniej dwóch czujników optycznych (5), których kierunki skanowania są usytuowane względem siebie pod kątem różnym od 90°, znamienny tym, że mierzy się średnicę wałka (CR1, CR1') przez wielokrotne skanowanie z taką częstotliwością, że najkrótszy segment znajdujący się w wałku (CR1, CR1') jest skanowany co najmniej jednokrotnie, a następnie porównuje się wyniki kolejnych skanowań z określonym wynikiem odniesienia, po czym przetwarza się na sygnał błędu kształtu każdą różnicę między którymkolwiek wynikiem skanowania a wynikiem odniesienia.
2. 2. Sposób według zastrz. 1, znamienny tym, że wałek (CR1, CR1') skanuje się za pomocą dwóch czujników optycznych (5) o kierunkach skanowania skierowanych wzajemnie pod kątem w zakresie od 40° do 60°, korzystnie 45°.
3. 3. Urządzenie do detekcji obróconych segmentów w wielosegmentowym wałku przemieszczanym w maszynie stosowanej w przemyśle tytoniowym poprzez wytworzenie sygnału błędu kształtu wspomnianego wałka (CR1, CR1'), zawierającego wiele rozmieszczonych jeden za drugim segmentów filtrowych (2, 3, 4) we wspólnej osłonie, zawierające co najmniej dwa czujniki optyczne (5) do sk anowania przemieszczanego wałka (CR1, CR1'), których kierunki skanowania są usytuowane względem siebie pod kątem różnym od 90°, znamienne tym, że każdy czujnik optyczny (5) zawiera źródło promieniowania (6), korzystnie w zakresie widzialnym, oraz element światłoczuły (7), przy czym źródło promieniowania (6) i element światłoczuły (7) są rozmieszczone wzajemnie po dwóch stronach przemieszczającego się wałka (CR1, CR1'), dla pomiaru średnicy wałka (CR1, CR1') przez wielokrotne skanowanie go z taką częstotliwością, że najkrótszy segment znajdujący się w wałku (CR1, CR1') jest skanowany co najmniej jednokrotnie, a ponadto to urządzenie zaopatrzone jest w sterownik (8) mający elementy do porównywania wyników kolejnych skanowań z określonym wynikiem odniesienia,, które przetwarzają na sygnał błędu kształtu każdą wykrytą różnicę między którymkolwiek wynikiem skanowania a wynikiem odniesienia.
4. 4. Urządzenie według zastrz. 3, znamienne tym, że zawiera dwa czujniki optyczne (5) o kierunkach skanowania skierowanych wzajemnie pod kątem w zakresie od 40° do 60°, korzystnie 45°.
5. 5. Urządzenie według zastrz. 3, znamienne tym, że czujniki są czujnikami liniowymi (5').
6. 6. Urządzenie według zastrz. 5, znamienne tym, że płaszczyzny skanowania czujników liniowych (5') zasadniczo pokrywają się.
7. 7. Urządzenie według zastrz. 3, znamienne tym, że czujniki są czujnikami powierzchniowymi (5).
8. 8. Urządzenie według zastrz. 7, znamienne tym, że obszary skanowania czujników powierzchniowych (5'') zasadniczo pokrywają się.