Przedmiotem wynalazkujest urzadzenie do kontroli wymiarów geometrycznych przedmiotów plaskich o róznej przepuszczalnosci promieni swietlnych w zakresie widma widzialnego, zwlaszcza do kontroli krazków zaopatrzonych w otwory usytuowane na wiekszych plaszczyznach tych krazków.Znane urzadzenie sklada sie z ukladu optycznego oraz ukladu elektrycznego, który steruje mechaniz¬ mem przemieszczania i selekcji kontrolowanych przedmiotów. Bieznia korpusu mechanizmu przemieszcza¬ nia i rozdzielania przedmiotów zaopatrzona jest w otwór, w którym osadzona jest przesuwnie plytka stanowiaca zapadnie polaczona z silownikiem. Bieznia korpusu zaopatrzonajest ponadto we wziernik oraz dwie przyslony. Przyslona usytuowana nad wziernikiem zaopatrzona jest w otwór, którego wielkosc i ksztalt stanowi odwzorowanie rzutu prostokatnego kontrolowanego przedmiotu na plaszczyzne równolegla do najwiekszej powierzchni plaskiej tego przedmiotu. Druga przyslona usytuowana pod wzornikiem zaopa¬ trzona jest w szczeline, której zewnetrzna krawedz stanowi równiez odwzorowanie rzutu prostokatengo kontrolowanego przedmiotu na plaszczyzne równolegla do najwiekszej powierzchni plaskiej tego przed¬ miotu. Na zewnatrz przyslon osadzone sa symetrycznie soczewki plasko-wypukte, przy czym nad jedna z soczewek znajduje sie zródlo swiatla usytuowane w jej ognisku a pod druga soczewka usytuowane sa trzy fotoelementy. Usytuowany na krwedzi zarysu otworu przeslon fotoelement polaczony jest z wejsciem ukladu formujacego przebieg prostokatny, którego wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc wzmacniacza mocy.Drugi fotoelement usytuowany w ognisku soczewki oraz trzeci fotoelement usytuowany poza krawedzia zarysu otworu przyslony, polaczone sa z wejsciami komparatora napiecia, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem przerzutnika bistabilnego, którego wyjscie polaczone jest z drugim wejsciem wzmacniacza mocy.Wyjscie wzmacniacza mocy polaczone jest z silownikiem sterujacym zapadnia.Znane urzadzenie przeznaczone jest do kontroli tylko jednego wymiaru przedmiotu.Istota wynalazku zawierajacego uklad optyczny oraz uklad elektryczny sterujacy mechanizmem prze¬ mieszczania i rozdzielania kontrolowanych przedmiotów polega na tym, ze osadzone pod wziernikiem wyposazonym w przyslone fototranzystory usytuowane sa w miejscach najwiekszych zmian strumienia swietlnego przechodzacego przez krawedzie kontrolowanych wymiarów, najkorzystniej w osiach kontrolo¬ wanych otworów przy czym przyslona zaopatrzona jest w otwór i szczeline, których wielkosc i ksztalty sa odwzorowaniem rzutu prostokatnego kontrolowanego przedmiotu na plaszczyzne równolegla do najwiek¬ sza powierzchni plaskiej tego przedmiotu z uwzglednieniem okreslonej tolerancji wymiarów przedmiotu, z tym, ze powierzchnie kontrolowanego przedmiotu nie przepuszczajace promieni swietlnych odpowiadaja otworom lub szczelinom w przyslonie. Jeden z wymienionych fototranzystorów polaczony jest z wejsciem/ 2 118295 odwracajacym faze komparatora, którego wejscie nieodwracajace fazy polaczone jest poprzez regulowany dzielnik napiecia z punktem zerowym ukladu elektrycznego, a wyjscie komparatora polaczone jest z wejsciem przerzutnika Schmitta, którego wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc przerzutnika bistabilnego.Regulowany dzielnik napiecia umozliwia uzyskanie okreslonego potencjalu odniesienia. Drugi fototranzy¬ stor polaczony jest z wejsciem wzmacniacza asymetrycznego, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem drugiego przerzutnika Schmitta, a jego wyjscie polaczone jest z drugim wejsciem przerzutnika bistabilnego.Wyjscie przerzutnika bistabilnego polaczone jest z wejsciem przerzutnika monostabilnego, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem wzmacniacza mocy, którego wyjscie polaczone jest z silownikiem steruja¬ cym zapadnia. Przemieszczajacy sie kontrolowany przedmiot zaslania stopniowo otwór i szczeline przyslony przerywajac strumien swiatla padajacego na fototranzystory co powoduje powstanie okreslonego stanu przerzutnika bistabilnego. W przypadku przemieszczania sie przedmiotu odpowiadajacego zadanym wymia¬ rom, nastepuje pelne zasloniecie otworów oraz szczelin przyslony bedacej wzorcem i calkowite przerwanie strumienia swietlnego padajacego na fototranzystory w wyniku czego nastepuje zmiana stanu przerzutnika bistabilnego, co spowoduje uruchomienie silownika i zapadni a kontrolowany przedmiot przemiesci sie do pojemnika z przedmiotami odpowiadajacymi okreslonym wymogom.W przypadku przemieszczenia sie przedmiotu o ksztaltach lub rozstawieniu otworów odbiegajacych od zadanych, nie nastepuje calkowite przerwanie strumienia swietlnego, dzieki czemu stan przerzutnika bistabil¬ nego pozostanie bez zmian, co spowoduje unieruchomienie silownika wraz z zapadnia aprzemieszczajacy sie dalej kontrolowany przedmiot zostanie skierowany przez zapadnie do innego pojemnika.Urzadzenie wedlug wynalazku umozliwia kontrole dowolnych dwóch parametrów danego przedmiotu, przykladowo wymiarów zewnetrznych oraz rozstawienia otworów na powierzchni plaskiej kontrolowanego przedmiotu.Przedmiot wynalazku uwidoczniony jest w przykladzie wykonania na rysunku przedstawiajacym sche¬ mat ukladu optycznego, blokowy schemat ukladu elektrycznego oraz schemat mechanizmu przemieszczania i rozdzielania kontrolowanych przedmiotów.Urzadzenie do kontroli wymiarów geometrycznych przedmiotów plaskich zaopatrzonych w otwory, przykladowo guzików, sklada sie z korpusu, którego górna powierzchnia ma postac prostokata i stanowi bieznie 1 kontrolowanych przedmiotów wyposazona w zapadnie 2polaczona z silownikiem. Wzdluz biezni 1 pod katem prostym osadzonajest listwa 3, przy czym bieznia 1 usytuowana jest w stosunku do poziomu pod katem wiekszym od kata tarcia miedzy materialem kontrolowanych guzików 4 a materialem listwy 3. Listwa 3 wyposazona jest we wziernik, w którym osadzona jest przyslona 5 zaopatrzona w otwór oraz szczeline, których wielkosc i ksztalt sa odwzorowaniem rzutu prostokatnego kontrolowanego guzika 4 na plaszczyzne równolegla do najwiekszej powierzchni plaskiej guzika 4. Z jednej strony przyslony 5 znajduje sie soczewka plasko-wypukla 6, w ognisku której osadzona jest na zewnatrz zarówka 7 a z drugiej strony przyslony 5 osadzone sa fototranzystory 8, 9.Fototranzystor 8 kontrolujacy wymiar zewnetrzny guzika 4, usytuowany na krawedzi zewnetrznej szczeliny przyslony 5 polaczony jest z wejsciem odwracajacym faze komparatora 10, którego wejscie nieodwracajace fazy polaczone jest poprzez regulowany dzielnik napiecia U z punktem zerowym ukladu elektrycznego. Wyjscie komparatora 10 polaczone jest z wejsciem przerzutnika Schmitta 12, którego wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc przerzutnika bistabilnego 13.Drugi fototranzystor 9, kontrolujacy rozstaw otworów guzika 4, usytuowany w osi otworu przyslony 5 polaczony jest z wejsciem wzmacniacza asymetrycznego 14, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem drugiego przerzutnika Schmitta 15, którego wyjscie polaczone jest z drugim wejsciem przerzutnika bistabil¬ nego 13. Wyjscie przerzutnika bistabilnego 13 polaczone jest z wejsciem przerzutnika monostabilnego 16, którego wejscie polaczone jest z wejsciem wzmacniacza mocy 17, ajego wyjscie polaczone jest z silownikiem sterujacym zapadnia 2. Caly uklad elektryczny polaczony jest z zasilaczem 18 napiecia.Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do kontroli wymiarów geomtrycznych przedmiotów plaskich zaopatrzonych w otwory, skladajace sie z ukladu optycznego oraz ukladu elektrycznego sterujacego mechanizmem przemieszczania i rozdzielania kontrolowanych przedmiotów, zawierajace korpus, którego górna powierzchnia ma postac prostokata i stanowi bieznie kontrolowanych przedmiotów, wyposazona w zapadnie polaczona z silowni¬ kiem a ponadto wzdluz biezni osadzona jest listwa wyposazona we wziernik, w którym osadzona jest przyslona zaopatrzona w otwór oraz szczeline, których wielkosci i ksztalty sa odwzorowaniem rzutu prostokatnego kontrolowanego przedmiotu na plaszczyzne równolegla do najwiekszej powierzchni plaskiej tego przdmiotu, przy czym zjednej strony przyslony znajduje sie soczewka plasko-wypukla w ognisku której118295 3 osadzonejest na zewnatrz zródlo swiatlaa z drugiej strony przyslony osadzone sa fototranzystory, zaamiemie tym, ze fototranzystory (8,9) usytuowane sa w miejscach najwiekszych zmian strumienia swietlnego przecho¬ dzacego przez krawedzie kontrolowanych wymiarów, najkorzystniej w osiach kontrolowanych otworów przy czym jeden z fototranzystorów (8) polaczony jest z wejsciem odwracajacym faze komparatora (10), którego wejscie nieodwracajace fazy polaczone jest poprzez regulowany dzielnik napiecia (11) z punktem zerowym ukladu elektrycznego a wyjscie komparatora (10) polaczone jest z wejsciem przerzutnika Schmitta (12), którego wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc przerzutnika bistabilnego (13), natomiast drugi fototranzystor (9) polaczony jest z wejsciem wzmacniacza asymetrycznego (14), którego wyjscie polaczone jest z wejsciem drugiego przerzutnika Schmitta (15), którego wyjscie polaczone jest z drugim wejsciem przerzutnika bistabilnego (13), którego wyjscie polaczone jest z wejsciem przerzutnika monostabilnego (li) a jego wyjscie polaczone jest z wejsciem wzmacniacza mocy (17), którego wyjscie polaczone jest z silownikiem sterujacym zapadnia (2). 2 PL