NL8400387A - Werkwijze en inrichting voor het detecteren van niet-lineaire elektrische komponenten. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het detecteren van niet-lineaire elektrische komponenten. Download PDF

Info

Publication number
NL8400387A
NL8400387A NL8400387A NL8400387A NL8400387A NL 8400387 A NL8400387 A NL 8400387A NL 8400387 A NL8400387 A NL 8400387A NL 8400387 A NL8400387 A NL 8400387A NL 8400387 A NL8400387 A NL 8400387A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
component
voltage
tested
value
signal
Prior art date
Application number
NL8400387A
Other languages
English (en)
Other versions
NL188481C (nl
NL188481B (nl
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of NL8400387A publication Critical patent/NL8400387A/nl
Publication of NL188481B publication Critical patent/NL188481B/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL188481C publication Critical patent/NL188481C/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/14Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

t ^ 4 J*- ""
Korte aanduiding: Werkwijze en inrichting voor het detecteren van niet-lineaire elektrische komponenten.
De uitvinding heeft betrekking op impedantiemeting en meer in het bijzonder op het automatisch meten van lineaire impedanties en het detecteren van niet-lineaire elektrische komponenten.
Elektrische ohmmeters worden veelvuldig gebruikt voor het 5 uitvoeren van metingen in de keten zelf waarin verschillende kombi-naties van passieve en halfgeleider komponenten onderling zijn verbonden. Tele ohmmeters zijn in staat om halfgeleiderovergangen in geleidende richting in te stellen zodat het meten van de weerstand over een dergelijke overgang omslachtig wordt. Er moeten tenminste 10 twee metingen worden verricht alleen reeds om te bepalen dat een overgang in voorwaartse richting is ingesteld en dan moet worden uitgemaakt welke de gewenste aflezing is. Het andere woorden: de conventionele ohmmeters vergen een aktieve medewerking van de gebruiker om te bepalen of al dan niet een niet-lineaire komponent 15 aanwezig is, met ruimte voor fouten. Het evalueren van een dergelijke komponent vergt dikwijls het omschakelen op een andere werk-mode of een ander bereik.
Tolgens de uitvinding wordt de te testen komponent automatisch gekontroleerd op niet-lineairiteit en wanneer een lineaire 20 weerstandsmeting onmogelijk is wordt een geschikt bericht opgewekt en wordt de voorwaartsspanning over de komponent aangegeven. Wanneer de te testen komponent lineair is 'zal de meest waardige meting worden afgebeeld. Zoals in het nu volgende zal blijken worden volgens de uitvinding de metingen automatisch uitgevoerd waardoor zo-25 wel het bedieningspaneel als de meting zelf aanzienlijk eenvoudiger zijn zonder dat de noodzaak bestaat dat de gebruiker de werkmode verandert of bepaalt of de komponent al dan niet lineair is.
De uitvinding verschaft een werkwijze en inrichting voor het bepalen of een te testen komponent lineair of niet-lineair is en 30 voor het berekenen van de impedantie van de komponent wanneer deze lineair is. De komponent wordt in serie verbonden met een lineaire komponent met bekende waarde ter vorming van een spanningdeler. Een vaste gelijkspanning en een positief gaande kanteelspanning met een gemiddelde waarde welke in hoofdzaak gelijk is aan die van de ge-35 lijkspanning worden afwisselend aan de spanningdeler aangelegd.
3400387
J
- 2 - ϊ β
Foor elk van deze aangelegde signalen wordt de gemiddelde waarde van de spanning over de komponent gemeten en deze waarden worden vergeleken. Wanneer er een verschil bestaat tussen de vergeleken waarden wordt de te testen komponent geïdentificeerd als een niet-5 lineaire komponent. Wanneer de vergeleken waarden in hoofdzaak gelijk zijn is de komponent lineair en kan de impedantie ervan worden berekend uitgaande van de standaardspanningdelerformule omdat de waarde van de lineaire komponent in de spanningdeler bekend is evenals de nominale waarde van het aangelegde signaal en de ge-10 middelde waarde van de spanning over de komponent is gemeten.
De uitvinding wordt toegelicht aan de hand van de tekening.
Fig. 1 is een vereenvoudigd blokschema van een uitvoeringsvorm volgens de uitvinding;
Fig. 2 is een grafische voorstelling van het 7^^ signaal met 15 het besturingssignaal in de eerste toestand (laag);
Fig. 5 is -een grafische voorstelling van het V-g^jp signaal met het besturingssignaal in een tweede toestand (hoog);
Fig. 4 toont de verbinding van een diode met de testdraden;
Fig. 5 is een blokschema van een uitvoeringsvorm volgens de 20 uitvinding waarin in de blokken specifieke ketens zijn aangegeven;
Fig. 6 is een grafische representatie van en voor een weerstand DUT met SI in fig. 5 open of gesloten;
Fig. 7 is een grafische afbeelding van 7. en V. / \ voor m ave ) een diode DUT met SI in fig. 5 open respektievelijk gesloten; 25 Fig. 8 is het stroomschema van een weerstandsmetingwerkwijze waarmee is verzekerd dat een weerstand niet foutief als een diode wordt geïdentificeerd;
Fig. 9 is een stroomschema waarin de verschillende stappen van het kontroleren van een diode worden geïdentificeerd.
50 Fig. 1 toont het vereenvoudigd blokschema van de impedantie- meetketen volgens de uitvinding. Deze keten omvat een gelijkspan-ningsmeter 10 voorafgegaan door een laagdoorlaatfilter 12, een referentieweerstand Rp^, een bekrachtigingsgenerator 14 voor het öpwekken van de in fig. 3 en 2 af geheelde golfvormen en een bestu-35 ringseenheid 16 die de spanningmeting kan interpreteren, de bekrachtigingsgenerator kan besturen en berekeningen kan uitvoeren voor het aangeven van de weerstand.
8400387 * - 3 -
Deze drie blokken meten gemeenschappelijk de weerstand van de te testen komponemt (DUT) verbonden met de testdraden 24« Dit geschiedt doordat de besturingseenheid 16 het besturingssignaal in de lage toestand brengt en aanlegt aan de besturingsgenerator 14 via 5 de lijn 18 waardoor de gelijkstroombekrachtiging aan Rp^ gelijk wordt aan Υ^0Μ (fig. 2). Bggj. vormt een spanningdeler met het weer-standsgedeelte van DTJT en 7^ zal dan ook een fraktie van 7^^ zijn. ^TS vor^ v*a ket laagcloorlaatfilter 12 door de gelijkstroomvolt-meter 10 afgelezen en de uitgang van de voltmeter 10 wordt toege-10 voerd aan de besturingseenheid 16. Doordat de waarden van Bgjjji»
Yjjj en bekend zijn kan de besturingseenheid 16 de waarde van DUT berekenen.
Vanneer het stuursignaal van de besturingseenheid 16 in de hoge toestand wordt gebracht en toegevoerd aan de bekrachtigings-15 generator 14 via de lijn 18 zal dit tot gevolg hebben dat een kanteelspanning zoals afgebeeld in fig. 5 verschijnt op de lijn 22 voor Yypyp. Vanneer DUT lineair is (en dus een lineaire spanning-verandering over de aansluitingen vertoont bij veranderingen in de stroom, dus een weerstand is) zal dit signaal geen effekt hebben 20 op de weerstand berekend door de besturingseenheid 16. Dit omdat de kanteelspanning volgen» fig. 3 een gemiddelde waarde heeft gelijk aan Y^^. Daar DUT lineair is zal de gemiddelde waarde van 7^ met bekrachtiging met een kanteelspanning gelijk zijn aan die berekend in het voorgaande geval met een konstante spanning. Het laagdoor-25 laatfilter 12 zal de wisselspanningkomponenten uit de kanteelspanning Yjjj. verwijderen waardoor alleen de gemiddelde waarde van de gelijkspanning door de gelijkstroomvoltmeter 10 worden gelezen. Vanneer DUT lineair is zal een verandering van het stuursignaal van hoog naar laag (verandering van van een vaste waarde naar een 30 kanteelspanning) geen invloed hebben op de gemeten weerstand.
De inrichting volgens de uitvinding kan ook een niet-lineaire DUT detecteren. Dit als gevolg van de momentane spanningsvariaties van Yggp wanneer het stuursignaal in de hoge toestand is (zie fig.
5)* Vanneer bijvoorbeeld een siliciumdiode is verbonden met de 35 testdraden 24 zoals aangegeven in fig. 4 zal, wanneer de momentane waarde van 7^^ hoog is, de diode in geleidende richting zijn ingesteld waardoor 7^ ongeveer 0,65 volt is. Vanneer Yp-^ laag is 8400387 r ï - 4 - (bijna nul volt) zal de diode niet geleiden en zal nul zijn.
Yjjj zal dus een kanteel spanning zijn met een positieve piek van ongeveer 0,65 volt en een negatieve piek van ongeveer nul volt en met een gemiddelde waarde die daartussen ligt (afhankelijk van de 5 werk-rustverhouding van het signaal). Wanneer het stuursignaal laag is, is Yjy-,ρ gelijk aan Y^M en wanneer VK0M groter dan 1 volt wordt gekozen zal YIN opnieuw worden vastgelegd op 0,65 volt, de spanning in voorwaartse richting over de diode. Daar de kondities nu statisch zijn zal de gemiddelde waarde van Y^ ook 0,65 volt zijn. Bij 10 een diode resulteert dus een laag sturingssignaal in een verschillende gemiddelde waarde voor Y^ (zoals gezien door voltmeter 10) dan een hoog stuursignaal. Deze veranderende uitlezing wordt waargenomen door de besturingseenheid 16 en een geschikt bericht wordt weergegeven waarmee de gebruiker wordt gewaarschuwd dat DUT niet 15 lineair is,
De grondgedachte van de uitvinding ligt in het gebruik van een spanningdeler met en BUT voor een weerstandsmeting in kom- binatie met te kiezen bekrachtigingsgolfvormen voor het detecteren van de aanwezigheid van niet-lineaire komponenten.
20 Fig. 5 toont een meer gedetailleerd schema van een uitvoe ringsvorm volgens de uitvinding; elk element dat ook voorkomt in fig. 1. is aangegeven met hetzelfde verwijzingscijfer* In deze figuur omvat de gelijkspanningvoltmeter 10 de schakelaar S2 en een spanning-frekwentie-omzetter 28. Details van de bekrachtigings-25 generator 14 zijn aangegeven en het interface tussen besturingseenheid 16 en schakelaars SI en S2 is aangegeven met de streeplijnen 18 respektievelijk 26.
Het belangrijkste verschil tussen de ketens volgens de figuren 5 en 1 is de aanwezigheid van een spanning-frekwentie-omzetter 28 50 in de voltmeter 10. Daar er een offset kan zijn van de uitgangs-frekwentle van de gemeten spanning is het noodzakelijk dat de omzetter 28 behalve Y. Y en Y . meet via het laagdoorlaatfilter m nom gnd 12.
Aangenomen wordt dat DUT een weerstand is, aan te duiden met 35 RUT. Wanneer de schakelaar S2 open is is de nominale gelijkspanning ^nom en*Se spanning die wordt aangelegd aan de spanningoptel-keten 30· en HTTP (DUT) vormen een spanningdeler waarin Y^ een 8400387 * i - 5 - fraktie is van Vnom· Wanneer de ‘besturingseenheid 16 SI in de open stand houdt schakelt S2 achtereenvolgens tussen de drie standen voor het achtereenvolgens toevoeren van 7 , 7. f Λ en 7 . aan nom in^ave; gnd omzetter 28. Deze zet elke spanning om in een korresponderende 5 frekwentie die dan weer wordt doorgegeven aan de "besturingseenheid 16. De besturingseenheid 16 slaat elk van deze signalen op voor het berekenen van de waarde van RUT.
De overdrachtfunktie van de omzetter 28 blijkt uit de betrekking (1) 10 = Po “ (V®*) (1)
Fx is de uitgangsfrekwentie, 7χ is de ingangsspanning, en
Fq en K zijn konstanten.
ïïit vergelijking (l) volgt voor 7
Ju 15 T - (»0->x) (2)
E
De standaard spanningde1erformule opgelost voor RUT is: "-«BBiTfia(3) 20 7ergelijking (2) invullen in vergelijking (3) geeft ra - Λν* - »!,) / (»1» - W-7 (4)
Teneinde te kontroleren of DUT een diode is sluit de bestu-23 ringseenheid 16 de schakelaar SI waardoor de uitgangsspanning van de kanteelgenerator 34 wordt toegevoerd aan de tweede ingang van de spanningsommeerketen 50 via het R-G filter 56· Het kanteelsignaal wordt gesuperponeerd op de T^-p gelijkspanning (zie fig. 3). Het gekombineerde signaal wordt dan toegevoerd aan DUT via Rre^.
30 Daar de kanteelspanning wordt doorgegeven via de kondensator C van filter 36 zal er geen verschuiving zijn van het gemiddelde gelijkspanningsniveau aangelegd aan Href vergeleken met dat in de kontinue toestand. De tijdkonstante van het filter 56 wordt voldoende groot gekozen om te voorkomen dat de kanteelspanning niet 35 wordt gedifferentieerd. De kanteelspanningamplitude is zodanig dat het uitgangssignaal van de sommeerketen 3° aardpotentiaal bereikt.
Zoals beschreven aan de hand van de figuren 1 tot 4 zal, 8400337 i* v - 6 - wanneer DUT een weerstand is vin£gemid(aeldj van het laagdoorlaat- filter 12 dezelfde waarde hefrben met de schakelaar SI gesloten als met de schakelaar SI open. Vanneer echter DUT een diode is met de anode verbonden met R zal Y. , \ ©en verschillende waarde rei ml ave; 5 hebben voor elke stand van de schakelaar SI zoals bovenomschreven aan de hand van de figuren 1 tot 4· De figuren 6 en 7 tonen de relatie tussen Y^n en V£n(ave) met schakelaar SI open respektieve- lijk gesloten wanneer DUT een weerstand respektievelijk een diode is. Yolgens fig. 7 is DUT een siliciumdiode, 7. en Y. / \ met m ml ave ) 10 SI open zijn dan 0,65 volt, en net SI gesloten is 0,32 volt met Y groter dan 1 volt. Een typische waarde voor Y is nom nom 2.5 volt.
Bij het optimaliseren van de keten volgens fig. 5 moet worden bedacht dat de tijdkonstante van het R-C netwerk van het filter 36 15 zodanig moet zijn dat het kanteel signaal van de bron 36 niet wordt gedifferentieerd zodat de uitslingertijd nadat SI wordt gesloten niet overmatig is. Dit is in het bijzonder van belang in automatische stelsels. Vanneer echter de R-C tijdkonstante tekort is zal het kanteelsignaal worden vervormd. Bij een dergelijke situatie is 20 een klemketen noodzakelijk zodat het uitgangssignaalniveau van de sommeerketen 30 aardpotentiaal heeft gedurende de ene helft van de cyclus en is verzekerd dat wanneer DUT een diode is deze gedurende deze perioden zal zijn geblokkeerd.
De frekwentie van het kanteelsignaal van de bron 34 kan ook 25 een faktor zijn waardoor niet kan worden gedetecteerd of DUT een diode dan wel een weerstand is. Sommige in een keten opgenomen dioden hebben betrekkelijk grote parallelcapaciteiten; wanneer de frekwentie van de kanteel spanning voldoende hoog is zal deze capaciteit het minimumniveau en het maximumniveau verzwakken van de 30 kanteel spanning over DUT en voorkomen dat de diode wordt geblokkeerd (V^n zal nooit de waarde nul bereiken). Hiertoe moet de frekwentie van de kanteelspanning zo laag mogelijk zijn.
Er is een andere praktische overweging bij het realiseren van de uitvinding. In een praktisch meetstelsel zal DUT (al dan niet een 35 diode) willekeurig worden verbonden en verbroken met de meetketen. Het is dan ook mogelijk dat het systeem denkt een diode te hebben gedetecteerd door het verbinden en verbreken van de verbinding met 8 4 ü o 3 8 7 ί' * - 7 - een weerstand wanneer het systeem 7.^ wil meten. Vanneer DUT, een weerstand, wordt aangesloten terwijl het systeem Y1r) meet met SI open dan zal, wanneer DUT wordt verbroken terwijl het systeem Tln meet met SI gesloten het systeem een verschuiving van de gemiddelde 5 7^a waarde detecteren en foutief aangeven dat DUT een diode is.
Om dit bezwaar te ondervangen moet de besturingseenheid 16 eerst bepalen dat 7^· (met SI open) gestabiliseerd is door het vergelijken van successievelijke metingen van 7^ (g.^) - zie fig. 8.
Zolang nog niet is gestabiliseerd zal het stelsel de schijnbare 10 weerstand van DUT berekenen en aangeven. Vanneer het systeem detecteert dat twee successievelijke metingen van F.^ voldoende dicht bij elkaar liggen zal het de diode check 62 uitvoeren.
De figuren 8 en 9 tonen de verschillende reken- en beslis-singsfuhkties uitgevoerd door de besturingseenheid 16 bij het meten 15 van DUT. Yoorafgaand aan de beschrijving ervan wordt opgemerkt dat ^drempel 1 ingevoerd om de gevoeligheid van het stelsel te bepalen voor variaties van ^n(ave) met SI open. Vanneer de waarde van ^rempej 2 wor^ verlaagd moet ^n(ave) °°^ s^^ieler worden voordat het systeem gaat kontroleren of DUT een diode is.
20 Dienovereenkomstig bepaalt 5,^Γβιηρβ2 2 9) de gevoeligheid voor variaties in 7. / > door de niet-lineairiteit van DUT. Vanneer inl ave ) ^drempel 2 ^e^ner wordt gemaakt kan DUT meer lineair zijn en toch worden gedetecteerd als diode. De grenswaarde voor de kleinste waarde van ^rempe2 2 ^angt af van de eigen ruis en niet-lineairi- 25 teit in het meetstelsel. Yoor optimale resultaten moet ^rempe2 1 iets kleiner sijn dan I'drenpel 2·
In fig. 8 zijn de besturings, berekenings en beslissings- funkties van de besturingseenheid 16 voor wat betreft de weerstands- meting aangegeven door middel van een stroomdiagram. In de stap 40 30 wordt een interne besturingswaarde van P.M jjUffer ingesteld op een waarde vrijwel nul. Daarna ontvangt de besturingseenheid 16 waarden van F_j (blok 42), F,, (blok 44) en F. (blok 46) en wel achter- gna nom xn eenvolgens van de spannihg-frekwentie-omzetter 28 door de schakelaar S2 om ingangsspanningen 7 , 7. / % en 7_, toe te voeren nom' xn^ave/ gna 35 aan de omzetter 28. Gebruikmakend van deze waarden in het beslis-singsblok 48 berekent de besturingseenheid 16 de grootheid Fgnd “ F.y, waarvan de grootheid F^n ^u££er wordt afgetrokken en 8 4 0 0 3' 7 ? * - 8 - vervolgens wordt de absolute waarde van de uiteindelijke grootheid bepaald. Deze absolute waarde wordt dan getest om na te gaan of deze minder is dan de vooraf gekozen waarde van ^reinpe]_ ]_·
Wanneer deze voorwaarde niet waar is wordt de inwendige besturings-5 variabele stabiel ingesteld op vals (blok 50). Wanneer de konditie in blok 48 waar is wordt de inwendige besturingsvariabele stabiel ingesteld op waar (blok 52). De stroom gaat dan verder vanuit een der blokken 50 of 52 met het instellen van de inwendige besturingsvariabele F. , gelijk aan F . - F. (blok 54). Daarna wordt m buifer gnd m 10 de weerstand van DUT berekend volgens vergelijking 4 in blok 56. Daarna maakt de besturingseenheid 16 een beslissing in blok 58 of al dan niet een diode check moet worden uitgevoerd. Om deze besturing uit te voeren wordt de inwendige besturingsvariabele stabiel getest om na te gaan of deze waar is. Is dit niet het geval dan 15 wordt de weerstandswaarde berekend in blok 56 weergegeven (blok 60). Wanneer stabiel waar is dan is blok 58 waar en zal de diode check van blok 62 worden uitgevoerd, Yolgend op het aangeven van de weerstandswaarde in blok 60 of de diode check in blok 62 worden de berekeningen opnieuw uitgevoerd door het meten van de volgende waar- 20 den van V , Y. t \ en Y , voor het opwekken van de waarden nom ιη(, ave ) gnd F_,, F en F. van de b okken 42» 44 en 46 waarmee de cyclus gnd nom m opnieuw wordt gestart. Wanneer de interne besturingsvariabele stabiel de eerste keer vals was en de gebruiker DIJT inmiddels niet heeft afgeschakeld zal de eerstkomende keer waarin de test wordt 25 uitgevoerd in blok 48 het resultaat waar zijn en daarom kan de interne besturingsvariabele stabiel worden ingesteld op waar. Dan zal de diode check worden uitgevoerd naarmate de test voortgang vindt (blok 62).
Details van de diode check in blok 62 worden gegeven in fig.
30 9. De besturingseenheid 16 sluit eerst de schakelaar SI (fig. 5) en wacht voor het tot rust komen van deze keten (blok 70). Vervolgens worden de waarden van F^^ en F^ in respektievelijk de blokken 72 en 74 gemeten doordat de besturingseenheid 16 de schakelaar 2 bestuurt en Y_, en V. / \ meet en deze spanningen omzet in gnd m^ave; 35. korresponderende frekwenties via de omztter 28. Daarop volgt het beslissingsblok 76 waarin is aangegeven dat de besturingseenheid 16 eerst F. aftrekt van F_, en dan door dit resultaat F. , in gnd m buffer 8 4 0 O 3 8 7 - 9 - ® ifr aftrekt. Uit blok 54 In fig· 8 blijkt dat de waarde ran buffer een in het voorgaande gemeten verschil tussen F^^ en F^ representeert. Vanneer dus de absolute waarde van het verschil van deze twee grootheden in het beslissingsblok 76 minder is dan ^arempel 2 5 kan DTJT geen diode zijn. Be besturing gaat dan terug via lijn 64 naar blok 42 van fig. 8. Wanneer aan deze voorwaarde niet is voldaan is het mogelijk dat DUT een diode is. Yoor de uiteindelijke bepaling is een andere meetcheck nodig. Yanuit het beslissingsblok 76 opent, wanneer aan de voorwaarde niet is voldaan, de besturingseenheid 16 10 schakelaar SI, geeft de keten voldoende tijd om zich in te stellen (blok 78) en meet dan opnieuw de grootheden *nom en ^in (blokken 80-84) zoals bovenomschreven. De waarde van F^n wordt opnieuw afgetrokken van de waarde van 3? ^ en van dit resultaat wordt de vorige waarde van F^ buffer a^Setrokken. De absolute waarde van 15 het resultaat wordt dan genomen en nagegaan wordt of deze kleiner is dan F. , ,. Wanneer aan deze konditie niet wordt voldaan is drempel l DUT geen diode en gaat de besturing terug via lijn 64 naar blok 42 in fig. 8. Wordt wel aan de voorwaarden voldaan dan geeft de besturingseenheid 16 aan de gebruiker een indikatie dat een diode is 20 gedetecteerd (blok 88). Yolgend op deze indikatie gaat de besturing terug via lijn 90 naar blok 70 van fig. 9 en gaat de test verder.
Hoewel het voorkeursalgorithme voor het detecteren van niet-lineaire komponenten afhangt van verschuivingen in de uitgangsfre-kwentie van de spanning-frekwentie-omzetter kunnen ook andere para-25 meters (bijvoorbeeld verschuiving van ingangsspanning of verschuiving in berekende weerstand) worden gebruikt. Ook omzettingen anders dan spanning-frekwentie-omzettingen kunnen worden toegepast.
De bekrachtigingsgolfvorm en de toegepaste ketens kunnen variëren waarbij toch een goede detectie van dioden wordt verkregen.
S40c337

Claims (4)

1. Werkwijze voor het bepalen of een elektrische komponent niet-lineaire elektrische karakteristieken vertoont, gekenmerkt door de stappen van het: a. in serie verbinden van de te testen komponent met een 5 niet-lineaire komponent met bekende impedantie tot een spanning-deler; b. aanleggen van een in hoofdzaak konstante gelijkspanning aan deze spanningdeler; c. meten van de gemiddelde waarde van het signaal over de te 10 testen komponent in responsie op het aangelegde signaal; d. aanleggen van een positief gaand in hoofdzaak kanteelvormig signaal met een gemiddelde waarde welke in hoofdzaak gelijk is aan de waarde van de gelijkspanning aangelegd in stap b. over de spanningdeler; 15 e. meten van de gemiddelde waarde van het signaal over de te testen komponent in responsie op het in stap d. aangelegde signaal; f. vergelijken van de in de stappen e. en e. gemeten gemiddelde waarden; en g. identificeren van de te testen komponent als een komponent 20 met niet-lineaire elektrische karakteristieken wanneer de in stap f. vergeleken waarden in hoofdzaak onderling verschillen.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, gekenmerkt door de stap van: h. berekenen van de impedantiewaarde van de te testen kompo-25 nent wanneer de in stap f. vergeleken waarden in hoofdzaak gelijk zijn.
3. Inrichting voor het identificeren van een elektrische komponent met niet-lineaire elektrische karakteristieken, gekenmerkt door: 50 middelen voor het in serie verbinden van de te testen kompo nent met een lineaire komponent met bekende impedantie tot een spanningdeler; middelen voor het aanleggen van een in hoofdzaak vaste gelijkspanning over deze spanningdeler; 35 middelen voor het meten van de gemiddelde waarde van het pA a n ïo 7 r· > v 0 u g - 11 - signaal over de te testen komponent in responsie op de over de spanningdeler aangelegde gelijkspanning; middelen voor het aanleggen van een positief gaand in hoofdzaak kaateelvormig signaal met een gemiddelde waarde die in hoofd-5 zaak gelijk is aan die van de gelijkspanning; middelen voor het meten van de gemiddelde waarde van het signaal over de te testen komponent in responsie op dit kanteelsignaal; middelen voor het vergelijken van de gemiddelde waarden van de signalen optredend over de te testen komponent, en 10 middelen voor het identificeren van de komponent als een komponent met niet-lineaire elektrische karakteristieken wanneer de vergeleken waarden in hoofdzaak verschillen.
4. Inrichting volgens conclusie 5» gekenmerkt door middelen voor het berekenen van de impedantie waarde van de te 15 testen komponent wanneer de vergeleken waarden in hoofdzaak gelijk zijn. 340)337
NLAANVRAGE8400387,A 1983-02-07 1984-02-07 Inrichting voor het identificeren van een niet-lineaire elektrische component. NL188481C (nl)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US46479683 1983-02-07
US06/464,796 US4547724A (en) 1983-02-07 1983-02-07 Method and apparatus for detection of non-linear electrical devices

Publications (3)

Publication Number Publication Date
NL8400387A true NL8400387A (nl) 1984-09-03
NL188481B NL188481B (nl) 1992-02-03
NL188481C NL188481C (nl) 1992-07-01

Family

ID=23845257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE8400387,A NL188481C (nl) 1983-02-07 1984-02-07 Inrichting voor het identificeren van een niet-lineaire elektrische component.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4547724A (nl)
JP (1) JPS59171869A (nl)
DE (1) DE3404192A1 (nl)
FR (1) FR2540634B1 (nl)
GB (1) GB2135066B (nl)
NL (1) NL188481C (nl)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0785096B2 (ja) * 1986-10-08 1995-09-13 横河・ヒユ−レツト・パツカ−ド株式会社 セトリング特性測定方法
GB9002811D0 (en) * 1990-02-08 1990-04-04 Du Pont Uk Inductance and resistance measuring circuit
JPH0716838U (ja) * 1993-08-31 1995-03-20 株式会社長谷川工業所 雨樋吊り固定具
JP2715927B2 (ja) * 1994-09-02 1998-02-18 日本電気株式会社 プリスケーラicテスト方法及びプリスケーラicテスト装置
JP4752264B2 (ja) * 2004-12-21 2011-08-17 Jfeスチール株式会社 溶鉱炉内の溶融物レベル計測方法及び装置
US7808226B1 (en) 2005-10-26 2010-10-05 Research Electronics International Line tracing method and apparatus utilizing non-linear junction detecting locator probe
US7212008B1 (en) 2005-11-03 2007-05-01 Barsumian Bruce R Surveillance device detection utilizing non linear junction detection and reflectometry

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1201477B (de) * 1963-06-10 1965-09-23 Intermetall Schaltung zum Ermitteln des Spannungsabfalles an einem Pruefling mit nichtlinearer Stromspannungskennlinie bei einem vorgegebenen konstanten Strom
US3443215A (en) * 1965-09-15 1969-05-06 Frank R Bradley Impedance measuring bridge with voltage divider providing constant source impedance to bridge
CA997481A (en) * 1972-12-29 1976-09-21 International Business Machines Corporation Dc testing of integrated circuits and a novel integrated circuit structure to facilitate such testing
SE433782B (sv) * 1977-10-31 1984-06-12 Western Electric Co Forfarande och anordning for testning av elektriska ledarelement
JPS55130222A (en) * 1979-03-30 1980-10-08 Takayoshi Hirata Generator of composite pulse for distortion measurement
DE2915491A1 (de) * 1979-04-17 1980-10-23 Siemens Ag Schaltungsanordnung zum messen von widerstaenden oder leitwerten

Also Published As

Publication number Publication date
FR2540634B1 (fr) 1987-08-28
GB8402220D0 (en) 1984-02-29
GB2135066A (en) 1984-08-22
NL188481C (nl) 1992-07-01
NL188481B (nl) 1992-02-03
DE3404192A1 (de) 1984-08-30
FR2540634A1 (fr) 1984-08-10
JPH0452901B2 (nl) 1992-08-25
DE3404192C2 (nl) 1987-11-19
GB2135066B (en) 1986-09-24
US4547724A (en) 1985-10-15
JPS59171869A (ja) 1984-09-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1586910B1 (en) Method of and device for insulation monitoring
KR960006867B1 (ko) 실제 교류전압 소스의 임피던스 분석방법 및 그 전기 측정장치
US5627447A (en) Method and apparatus for detecting current delay angle from motor terminal voltage
KR19980086710A (ko) 회로내의 저항 및 전류측정용 회로
NL8400387A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren van niet-lineaire elektrische komponenten.
EP1306682B1 (en) Circuit tester
GB2354829A (en) Insulation resistance measuring apparatus for capacitive electronic parts
CA2536083C (en) Method and apparatus for measuring impedance of electrical component under high interference conditions
EP0627084A1 (en) Method and apparatus for measuring voltage
US5655840A (en) Temperature detecting methods and systems
US5504422A (en) Polarity testing process and device for electrolytic capacitors
US4486706A (en) Power flow direction detector
US5644617A (en) Method and apparatus for testing cables
US3940693A (en) Phase sensitive detector
US4022990A (en) Technique and apparatus for measuring the value of a capacitance in an electrical circuit such as a telephone communication line
US6172507B1 (en) Circuit configuration for measuring resistance and leakage
JP3150914B2 (ja) 電子式無効電力計測装置
GB2337337A (en) Method and means for determining the polarity of a capacitor
US4034161A (en) Telephone receiver-off-hook detector
SU1137418A1 (ru) Устройство дл поверки измерителей группового времени запаздывани
JP3564493B2 (ja) 加入者線試験装置
SU1153305A1 (ru) Высокочувствительное устройство дл контрол шумовых характеристик двухполюсников
JP2691549B2 (ja) 部分放電検出装置
SU1053080A1 (ru) Стабилизатор переменного напр жени
SU1122983A1 (ru) Устройство дл измерени коэффициента усилени по току транзисторов

Legal Events

Date Code Title Description
A85 Still pending on 85-01-01
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee

Effective date: 19970901