SE433782B - Forfarande och anordning for testning av elektriska ledarelement - Google Patents

Forfarande och anordning for testning av elektriska ledarelement

Info

Publication number
SE433782B
SE433782B SE7811012A SE7811012A SE433782B SE 433782 B SE433782 B SE 433782B SE 7811012 A SE7811012 A SE 7811012A SE 7811012 A SE7811012 A SE 7811012A SE 433782 B SE433782 B SE 433782B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
current
voltage
generator
average value
conductor element
Prior art date
Application number
SE7811012A
Other languages
English (en)
Other versions
SE7811012L (sv
Inventor
A T English
G L Miller
Original Assignee
Western Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US05/949,578 external-priority patent/US4213087A/en
Application filed by Western Electric Co filed Critical Western Electric Co
Publication of SE7811012L publication Critical patent/SE7811012L/sv
Publication of SE433782B publication Critical patent/SE433782B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2853Electrical testing of internal connections or -isolation, e.g. latch-up or chip-to-lead connections

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

7811012-9 10 15 20 25 30 35 40 senare ge upphov till ett i förtid uppträdande fel under anord- ningens drift. För att man skall kunna identifiera dylika poten- tiellt kortlivade ledarelement, har för testning av ledarremsor en metod föreslagits, somvanligen gär under namnet “tredje över- tons-metoden" ("third harmonic method"). Denna metod baseras p den observationen, att ledarremsor som är benägna till fel, exem- pelvis beroende på olikformig bredd, tjocklek eller sammansättning eller beroende på adhesion vid substratet, vanligen uppvisar en olinjäritet med avseende på resistansen som funktion av strömmen.
I enlighet med nyssnämnda metod pâtrycker man en sinusformad grundtonssignal på en linjär, växelströmskopplad krets, över vars utgângsklämmor man ansluter det element som skall testas. Genom mätning av amplituden av utsignalens tredje överton erhålles ett mått på olinjäriteten hos kretselementets resistans. Framgångrik tillämpning av denna metod beskrivas i Electronic Engineering, november 1965, sid. 722-726 (P.L. Kirby: "The Non-linearity of Fixed Resístors") och i Electronics, 11 juli 1966, sid. 93-100 (Vilhelm Peterson, Per-Olof Harris: “Harmonic Testing Pinpoints Passive Component Plaws"). Behovet av en signalgenerator som läm- nar en signal med extremt låg övertonshalt medför emellertid att § testutrustning för tredje övertons-metoden tenderar att bli kom- plicerad, varför den är föga lämpad för användning vid masstest- ning av integrerade kretsar.
I enlighet med föreliggande uppfinning kan resistansen hos 3 ett nominellt linjärt ledarelement fastställas genom att man pla- É cerar detta element över utgângsklämmorna hos ett växelströms- kopplat linjärt nät, vilket påtryckes ett pulståg. Genom att mäta medelströmmen genom eller medelspänningen över elementet, erhål- les ett mått på olinjäriteten hos ledarelementets resistans.
Detta nya sätt att testa olinjäriteten kan utnyttjas samtidigt för ett flertal ledarelement, exempelvis remsledare av tunnfilm- typ hos en integrerad krets och möjliggör således en uppskattning av dylika remsledares tillförlitlighet.. _ Uppfinningen beskrives närmare nedan i form av några i rit- ningen visade utföringsexempel. Pig. 1 visar kopplingsschemat för ett exempel på en krets som kan användas för att fastställa en resistans linjäritet med metoden enligt föreliggande uppfin- ning. Fig. 2 visar kopplingsschemat för en alternativ krets av nyssnämnt slag. Pig. 3 visar testresultaten i grafisk form. §ig¿L visar en testutrustning för att testa en mikrokrets. Pig. 5 är 10 15 20 25 30 35 HD ett kopplingsschema för en annan utföringsform av en krets för fastställande av en resistans olinjäritet medelst metoden enligt föreliggande uppfinning.
I fig. 1 visas en strömgenerator 11 och en växelströmskopp- lad krets 15, som består av en likströmsspärrande kondensator 12.
En medelvärdesmätande voltmeter 13 visar medelvärdet av spänning- en över ett ledarelement 14, som medelst metoden enligt förelig- gande uppfinning testas med avseende på olinjäritet i resistan- sen. Generatorn 11, kretsen 15 och voltmetern 13 visas inuti inneslutningen 16.
Pig. 2 visar en strömgenerator 21 och en växelströmskopplad krets 25 bestående av en transformator 22. En medelvärdesmätande voltmeter 23 visar medelvärdet av spänningen över ett ledarele- ment 24, som medelst metoden enligt föreliggande uppfinning tes- tas med avseende på resistansens olinjäritet. Generatorn 21, kretsen 25 och voltmetern 23 är belägna i inneslutníngen 26.
Pig. 3 visar utefter ordinaten strömmen i nA som funktion av tiden i timmar (utefter abskissan) under en i steg utförd högströmstest på ett antal aluminiumledare. De markerade och siffermärkta punkterna indikerar fel hos kretselementet, varvid sifferbeteckningens numeriska värde utgör den av voltmetern 13 (fig. 1) uppmätta spänningen. Det framgår tydligt, att en hög uppmätt spänning står i direkt relation till ett tidigt inträf- fat fel hos kretselementet. .
Pig. 4 visar ett elektriskt isolerande, ringformat organ 41 hos en testanläggning för mikrokretsar. Sonder 42 är mekaniskt fästa vid organet #1 och elektriskt anslutna till en icke visad testkrets. Sondernas ändar är inriktade med avseende på och pressade mot kontaktytor belägna utefter kanterna pà den anord- ning 43 som testas.
I fig. 5 visas en spänningsgenerator 51 och en av en trans- formator 52 bestående växelströmskopplad, linjär krets 55. Le- dande element SH, som testas med avseende på resistansens olin- järitet medelst föreliggande metod, är anslutna till en krets bestående av kondensatorer 56 och 57, en operationsförstärkare 58 och ett variabelt âterkopplingsmotstånd 59. Den av voltmetern 53 uppmätta spänningen är proportionell mot medelvärdet av den genom elementet 5% flytande strömmen. Detta medelvärde utgör, såsom nämnts, ett direkt mätt på olinjäriteten hos elementets 5H resistans. 7811012-9 “7s11o12-9 Q 10 15 20 25 30 35 Metoden enligt föreliggande uppfinning syftar till att fast- ställa tillförlitligheten hos ledarelement genom att man bestäm- mer resistansens olinjäritet, dvs avvikelsen från det linjära förhållande som enligt Ohms lag skall råda mellan påtryckt spän- ning och den gemmnelementet flytande strömmen. En dylik avvikelse har vanligen sin grund i en resistansförändring som resultat av en ökning av spänningen eller strömmen och kan kvantitativt ut- tryckas medelst parametern Äx i formeln RI = Rom + 1:2) som approximativt representerar relationen mellan strömmen I, den nominella resistansen Ro och den faktiska resistansen RI hos ett ledarelement. Det kan visas att denna funktion överensstäm- mer med den fysikaliska förklaring enligt vilken resistansens - Ä olinjäritet beror på resistans- eller Jmflesk uppvärmning av le- i darelementet. _ Metodens genomförande kan lätt förklaras med hänvisning till fig. 1. Det kan visas, att om generatorn 11 alstrar en ström av rektangelvågstyp med amplituden I och pulskvoten P, så kan den av Å medelvärdesvoltmetern 13 visade spänningen uttryckas medelst , formeln v = Å Roïartl-*rvu-zf) av vilken framgår det direkta förhållandet mellan spänningen V och olinjäriteten Ä\. Likaså är det uppenbart att om en pulskvot F = 0,5 användes, så gäller V = 0 oberoende av parameterns )\ värde. En kurvform med pulskvoten 0,5 är således inte användbar för testning av olinjäriteten. Å andra sidan har det fastställts, att pulskvoterna Fl = 0,21 och P2 = 0,79 ger ett maximalt värde Vm på spänningen V. Pulskvoter pâ approximativt 20 % (0,2) och 80 % (0,8) är således speciellt gynnsamma för att fullt utnyttja förmågan hos voltmetrar med begränsad känslighet. Mer generellt gäller, att pulskvoter mellan 10 och H0 % eller mellan 60 och' 90 %.är lämpliga för att man skall uppnå tillräcklig noggrannhet vid fastställandet av olinjäriteten.
Relationer liknande de ovanstående mellan spänningens medel- värde V och olinjäriteten Å gäller även för andra kurvformer än rektangelvâg. Vidare kan med fördel även andra kretsar än den i fig. 1 visade kretsen 15 användas vid genomförande av förfarandet 10 15 20 25 30 5 7811012-9 enligt uppfinningen. Speciellt kan, såsom visas i fig. 2, en transformator 22 användas i stället för spärrkondensatorn 12 i fig. 1. Det som erfordras är - generellt sett - att kretsen 15 är linjär och växelströmskopplad.
Förutom att såsom beskrivits ovan, mäta spänningens medel- värde över ett ledarelement som gensvar på en ström med tids- medelvärdet noll, ligger det även inom uppfinningens ram att använda en metod och motsvarande apparatur, som bayflfis på ström- -spänningsdualiteten. En metod av detta slag grundar sig närmare bestämt på det faktum att om en spänningssignal med tidsmedel- värdet noll matas till ett ledarelement, kommer medelvärdet av den genom elementet flytande strömmen att utgöra ett mått på re- sistansens olinjäritet. En anordning för genomförande av detta förfarande visas i fig. 5, av vilken det framgår att strömmedel- värdet mäts med hjälp av en operationsförstärkare.
Slutligen skall ett praktiskt exempel ges på genomförandet av förfarandet enligt uppfinningen. 45 aluminiumledare utfällda på en anordning av magnetbubbel- typ testades med hjälp av föreliggande metod. Ledarnas tjocklek var 0,5 pm och hade varierande bredd, dock minst 3 pm. Som gene- rator användes Hewlett-Packards pulsgenerator HP8007, som kan alstra rektangelvågspulser med upp till 10 V amplitud vid en utimpedans på 50 ohm. Pulsupprepningsfrekvensen valdes till 20 kHz och den över testledarna uppträdande spänningen filtrerades i en RC-krets med tidskonstanten 10 ms och uppmättes med en digi- talvoltmeter med känsligheten 10 FV. De H5 ledarna gav värden pà spänningen Vm i området 0,1-1,0 mV med majoriteten av värdena mellan 0,1 och 0,2 mV. De tillstånd vid vilka fel uppträdde i ledarna är markerade i fig. 3 och visar hur ledarnas livslängd är korrelerad till den uppmätta spänningen.

Claims (9)

,7s11o12-9 b \. Patentkrav
1. l. Förfarande för testning av ett elektriskt ledarelement (1U; 24; Sü) genom fastställande av olinjäriteten hos elementets elektriska resistans som funktion av den genom elementet flytan- de strömmen, vilket förfarande speciellt är tillämpbart vid till- verkning av integrerade kretsar, k ä n n e t e c k n a t av att ledarelementet (lä, 24, SH) via en växelströmskopplad linjär krets (15, 25, 55) påtryckes en vågformad signal av sådant slag att tids- medelvärdet av antingen strömmen genom ledarelementet eller spän- ningen över detsamma är noíl, varvid en spänning över respektive en ström genom elementet alstras, och att tidsmedelvärdet av den- na spänning respektive ström mätes.
2. Anordning för testning av åtminstone ett elektriskt le- darelement (143 2H; 5#) för utförande av förfarandet enligt kra- vet 1, vilken anordning innefattar dels en testenhet (16; 26) för fastställande av olinjäriteten hos ledarelementets elektriska resistans som funktion av den genom elementet flytande strömmen, och dels anslutningsorgan (H2) för elektrisk anslutning av ledar- elementet till testenheten, k ä n n e t e c k n a d därav,-att testenheten innefattar en generator (11; 21; 51) för alstring av en vågformad signal, och en växelströmskopplad linjär krets (15; : 25; 55), vars ingângsklämmor är anslutna till generatorn och vars i utgångsklämmor är anslutna till en medelvärdesmätande ampere- eller voltmeter (135 23; 53, 58), och av att anslutningsorganen (H2) är inrättade att elektriskt förbinda ledarelementet med nämnda linjära krets.
3. Anordning enligt kravet 2, k ä n n e t e c k n a d av att generatorn (11; 21; 51) är en rektangelvågsgenerator för _ alstring av ett pulståg bestående av rektangelpulser.
4. Anordning enligt kravet 3, k ä n n e t e o k n a d av att det av generatorn alstrade pulståget har en pulskvot mellan 10 och H0 % eller mellan 60 och 90 %. '
5. Anordning enligt något av kraven 2-4, k ä n n e t e c k- n a d av att den växelströmskopplade linjära kretsen (15; 25; 55) innefattar en likströmsspärrande kondensator (12) eller en transformator (22; 52).
6. Anordning enligt något av kraven 2-4, k ä n n e t e c k- n a d av att, vid mätning av spänningsmedelvärdet, den växel- strömskopplade linjära kretsen (15) innefattar en likströmsspär- rande kondensator (12). 1 7811012-9
7. Anordning enligt något av kraven 2-6, k ä n n e t e c k- n a d av att den medelvärdesmätande voltmetern (135 23) är en digital voltmeter.
8. Anordning enligt något av kraven 2-Q, k ä n n e t e c k- n a d av att, vid mätning av strömmens medelvärde, den växel- strömskopplade linjära kretsen (55) innefattar en transforma- tor' (52).
9. Anordning enligt något av kraven 2-5 och 8, k ä n n e- t e c k n a d av att en operationsförstärkare (58) är inrättad för mätning av strömmens medelvärde.
SE7811012A 1977-10-31 1978-10-23 Forfarande och anordning for testning av elektriska ledarelement SE433782B (sv)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US84721377A 1977-10-31 1977-10-31
US05/949,578 US4213087A (en) 1978-10-10 1978-10-10 Method and device for testing electrical conductor elements

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE7811012L SE7811012L (sv) 1979-05-01
SE433782B true SE433782B (sv) 1984-06-12

Family

ID=27126694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE7811012A SE433782B (sv) 1977-10-31 1978-10-23 Forfarande och anordning for testning av elektriska ledarelement

Country Status (12)

Country Link
JP (1) JPS5488777A (sv)
CA (1) CA1120545A (sv)
CH (1) CH635686A5 (sv)
DE (1) DE2847074A1 (sv)
DK (1) DK483278A (sv)
FR (1) FR2407483A1 (sv)
GB (1) GB2007850B (sv)
HK (1) HK25584A (sv)
IT (1) IT1099851B (sv)
NL (1) NL7810608A (sv)
SE (1) SE433782B (sv)
SG (1) SG56382G (sv)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4547724A (en) * 1983-02-07 1985-10-15 Tektronix, Inc. Method and apparatus for detection of non-linear electrical devices
JPH0630444B2 (ja) * 1985-05-02 1994-04-20 株式会社日立製作所 A/d変換器試験方式

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3500188A (en) * 1966-06-02 1970-03-10 Amp Inc Method and means for measuring constriction resistance based on nonlinearity
GB1221704A (en) * 1968-09-16 1971-02-10 Dale Electronics Method for testing the resistance characteristics of self-heated electric resistors
US3692987A (en) * 1970-07-06 1972-09-19 Western Electric Co Methods and apparatus for allocating the measured noise and resistance of a thin-film resistor between the resistor proper and the contact pads therefor
US3746973A (en) * 1972-05-05 1973-07-17 Ibm Testing of metallization networks on insulative substrates supporting semiconductor chips
US3803483A (en) * 1972-05-05 1974-04-09 Ibm Semiconductor structure for testing of metallization networks on insulative substrates supporting semiconductor chips
US3974443A (en) * 1975-01-02 1976-08-10 International Business Machines Corporation Conductive line width and resistivity measuring system

Also Published As

Publication number Publication date
GB2007850A (en) 1979-05-23
DE2847074A1 (de) 1979-05-03
CH635686A5 (de) 1983-04-15
IT1099851B (it) 1985-09-28
SE7811012L (sv) 1979-05-01
SG56382G (en) 1983-09-02
IT7829239A0 (it) 1978-10-30
JPS5488777A (en) 1979-07-14
GB2007850B (en) 1982-05-12
CA1120545A (en) 1982-03-23
HK25584A (en) 1984-03-30
FR2407483A1 (fr) 1979-05-25
NL7810608A (nl) 1979-05-02
FR2407483B1 (sv) 1983-09-16
DK483278A (da) 1979-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5325068A (en) Test system for measurements of insulation resistance
Bassi et al. Early prediction of surge arrester failures by dielectric characterization
US6198290B1 (en) Method to detect defective capacitors in circuit and meters for that
US1593024A (en) Electrical measuring instrument
Kaczmarek The effect of distorted input voltage harmonics rms values on the frequency characteristics of ratio error and phase displacement of a wideband voltage divider
US3287636A (en) Method and apparatus including condenser means for measuring the insulation from earth of electrical networks
JPS6027076B2 (ja) 静電容量形送信器
EP0203350B1 (de) Temperaturmessvorrichtung zur Erfassung grosser Temperaturschwankungen
SE433782B (sv) Forfarande och anordning for testning av elektriska ledarelement
US4213087A (en) Method and device for testing electrical conductor elements
US1811319A (en) Alternating-current direct-current meter
US4080571A (en) Apparatus for measuring the current-voltage characteristics of a TRAPATT diode
JPH01502391A (ja) ケーブルの故障検出装置
JP4126895B2 (ja) コンデンサのスクリーニング方法
US2290559A (en) Electrical measuring instrument
US3350641A (en) Transistor testing apparatus for measuring the beta, leakage and cutoff current parameters
RU2240571C1 (ru) Устройство контроля технического состояния обмоток трансформатора
US4142142A (en) High voltage A.C. test set for measuring true leakage current
RU2372625C1 (ru) Способ определения значений теплоэлектрофизических параметров тестовых образцов проводящих или резистивных структур
JP3964654B2 (ja) 電気回路診断装置
Cherbaucich et al. Evaluation of the dynamic behaviour of heavy current shunts
US3334297A (en) Apparatus for measuring welding power utilizing a weld simulating resistor sensor
RU2211456C1 (ru) Устройство для испытания изоляции силового кабеля и твердого диэлектрика
US3538432A (en) Direct reading electrolytic conductivity analyzer
KR930005367Y1 (ko) 3선식 저항 측정회로