NL8302964A - Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof. - Google Patents
Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof. Download PDFInfo
- Publication number
- NL8302964A NL8302964A NL8302964A NL8302964A NL8302964A NL 8302964 A NL8302964 A NL 8302964A NL 8302964 A NL8302964 A NL 8302964A NL 8302964 A NL8302964 A NL 8302964A NL 8302964 A NL8302964 A NL 8302964A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- page
- line
- change
- temperature
- pawn
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
- G01N27/4148—Integrated circuits therefor, e.g. fabricated by CMOS processing
Description
' * \ \ . . .
J yq cqQ2 j Uitvinders: -Hendrik Harmen van den Vlekkert j J -Uicolaas Frans de Rooij
Titel: Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion ? (pion) in. een vloeistof.
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof, welke inrichting een meetcircuit omvat waarin een voor het ion gevoelige veld-effecttransistor (ISFET), een referentieëlektrode en een versterker met behulp waarvan twee van de drie de werking van de ISFET regerende 5 grootheden Vgg (gate-source potentiaal), V^g (drain-source potentiaal) en Id (drain-source stroom) op een constante waarde handhaafbaar zijn en de derde grootheid voor de bepaling van de ionaktiviteit pion bruikbaar is, alsmede een op het meetcircuit aangesloten geheugen-component en een rekencomponent.
10
Een dergelijke inrichting is bekend. In de Britse octrooiaanvrage 2.077.439 wordt vermeld dat naast de voordelen die de toepassing van een ISFET voor de meting van ionactiviteiten in een vloeistof heeft, ' een nauwkeurige meting van de ionak- 15 tiviteit in de weg wordt gestaan door de beïnvloeding van de gate-po- tentiaal en de potentiaal van de referentieëlektrode door de tempera tuur terwijl de mate van beïnvloeding door de temperatuur bovendien van ISFET tot ISFET wisselt. Om aan dit bezwaar tegemoet te komen, gaat men, uitgaande van de vergelijking 20 V = f(c) + 3Eg / + 3Es / - 3E / 1 2 3 4 5 6 30 83 0 2 9 6 4 waarin V de gemeten spanning is, f(c) de te bepalen grootheid die een 2 functie is van de ionaktiviteit, en de overige termen de verandering 3 van respectivelijk de gate-potentiaal, de potentiaal van de source ten 4 opzichte van de gate potentiaal en de potentiaal van de referentie- 5 elektrode met de temperatuur voorstellen, aldus te werk, dat de drain- 6 source stroom wordt ingesteld op een zodanige vooraf bepaalde waarde daarvan, dat de temperatuurseffecten, verband houdende met de in de beovenstaande vergelijking weergegeven termen elkaar opheffen. Instelling van de drain-source-stroom op de gekozen waarde 4 -2- kan worden bereikt met behulp van een of meer in serie geschakelde vaste en variabele weerstanden.
Doel van de uitvinding is een inrichting van de in da aanhef vermelde soort waarbij de uitschakeling van de temperatuursinvloed op het meetresultaat geschiedt op een andere, flexibelere, dat wil zeggen 5 meersoortige en betere regelmogelijkheden biedende wijze.
Volgens de uitvinding wordt hiertoe een inrichting verschaft die daardoor is gekenmerkt, dat in de inrichting bovendien een tempera- tuursensor toegepast is waarmede de plon-gevoelighed van de inrichting als functie van de temperatuur en de verandering van de drain-source 10 stroom als functie van de temperatuur corrigeerbaar zijn door regeling van V en de pion te berekenen is uit de in de geheugencomponent gs opgeslagen formule Δν +Τ.α.ΔΤ 15 pion 3 pion . + .........
Cal* S+(ds/dT)4T
waarin: pl°acaj_ 3 pion cai£5rat-£e a de plon-waarde van de vloeistof bij een gegeven temperatuur T > T.C. 3 de verandering van V
c gs 20 met de temperatuur bij plon^^ ; S 3 de plon-gevoeligheid bij de temperatuur T ; dS/dT 3 de verandering van de plon-gevoeligheid met de
W
temperatuur, en T 3 het verschil tussen de werkelijke temperatuur en de gegeven temperatuur T .
c
In de eerdervermelde Britse octrooiaanvrage 2.077.439 wordt 25 ter correctie van temperatuursinvloeden volgens een voorkeursuitvoe-rings-vorm de inrichting voorzien van twee onderling elektrisch gekoppeld ISFET's. Een correctie van de plon-gevoeligheid met de temperatuur is echter met een dergelijke oplossing niet mogelijk.
Zo wordt voorts in Amerikaans octrooivoorschrift 4.267.504 in 50 het algemeen bij meting van een grootheid met behulp van een veldef-fecttransistor gewezen op het feit dat neutralisatie van de tempera-tuursinvloed op het meetresultaat kan worden nagestreefd met behulp van een tweede, temperatuurgevoelig element, aangebracht nabij de veldef-fecttransistor voor het verkrijgen van een afzonderlijke temperatuurs-J indicatie. Tegelijkertijd wordt echter van deze maatregel gezegd, dat nauwkeurige en betrouwbare meting op deze wijze niet te O ? i"i O Λ » Q v» \J £ «· . ·?
Λ -C
-3- bereiken is omdat nooit zeker is of de beide temperatuurgevoelige elementen zich steeds op dezelfde temperatuur bevinden en of zij wel op dezelfde wijze op temperatuursveranderingen reageren. De oplossing van het door de temperatuur veroorzaakte probleem bij het verkrijgen van betrouwbare en nauwkeurige metingen wordt volgens het genoemde 5 Amerikaanse octrooischrift 4.267.504 dan ook langs een geheel andere weg gezocht.
De uitvinding berust op het inzicht dat de temperatuurafhankelijkheid van de werking van een ISFET mede zal worden beïnvloed, zo niet beheerst, door de verschijnselen aan het grensvlak van het pion 10 gevoelige materiaal en de vloeistof.
De belangrijkste parameter voor het beschrijven van de ionge-voeligheid van een inrichting waarvan de werking is gebaseerd op het veldeffect, te weten de vlakke-bandpotentiaal, kan voor een ISFET worden geschreven als (P. Bergveld en N.F. de Rooy, "The History of ^ Chemically Sensitive Semi-conductors" Sensors and Actuators, 1^ (1981) 5-15):
. Q +Q
TT _ττ , r*. , N , ox el . , ^SS oX
VFB Er + * x * *Si ' ~C- 20 ox waarin:
Er = potentiaal van de referentieëlektrode Φ jj - a potentiaalverschil tussen de bulk van de vloei- 25 stof en het grensvlak van het pion gevoelige materiaal, ox èl » X * potentiaalverschil als gevolg van dipooloriëntatie aan het grensvlak.van de vloeistof en het pion gevoelige materiaal.
“ Silicium-werkfunctie.
^ $gs * Vaste lading per oppervlakteëenheid Q “ Lading binnen het oxyde per oppervlakteëenheid.
Qqx = Oxydecapaciteit per oppervlakteëenheid.
Er kan nu verder worden berekend dat, toegespitst op een pH-gevoelige ISFET waar het pion gevoelige materiaal bestaat bijvoorbeeld uit
O C
ΑΙ^Ο^ (pion is hierbij dus pH), de term RT ώr *b - *4 = 2'303 F * (£ï> * (pHpzc‘pH> β « ^ Λ Λ .-V t r O %J i - * . ii V V ^ -4- waarin: R. » gasconatante T a absolute temperatuur F * Faraday-constante B' =* gevoeligheids-parameter, dit is de parameter die de pH-gevoe-
5 ligheid rond de pH -waarde karaketeriseert: pH „ * de pH
pzc pzc r in de toestand van geen lading (voor Al^O^ bij voorbeeld is 3' = 4.8).
De bovengenoemde betrekkingen gecombineerd met die voor de drain-source stroom Ij (zie het eerder vermelde artikel in Sensor and 10 Actuators _1 (1981) 5-15) levert Λ RT tj * h * b*cvvV2-3037 * W * <‘,VpHMV * vdS ω 15 waarin B s yxW/LxC (μ =* beweeglijkheid van de ladingen in de inver-ox sielaag en W/L = breedte/lengte-verhouding van de inversielaag) en 20 7t . Vc - Er ♦ 2,303 γ x (^) * (ρΗ,^-ρΒ) ep V * drempelspanning.
25
Met behulp van de versterker kan nu de drain-source stroom 1^ door aanpassing van de potentiaal Vgg bij verandering van de pH en de temperatuur in de vloeistof constant worden gehouden, of: 30 31 31 dl, a (dl) x dPïï + (-5^) X dT = 0 (2)
d SPH Ί 3T pH
fi Λ Λ 7 ΟύνΙ ;v 0 4 35 * ^ -5-
Uit de vergelijkingen (1) en (2) kan de pH-afhankelijkheid van de potentiaal V^g bij een constante temperatuur T * T worden afgeleid: 5 dV Rï 2>303 v * &i> - si ö) t r
c L
waarin S de pH-gevoeligheid van de inrichting bij de temperatuur T voorstelt.
10 v
Aangetoond kan worden dat vergelijking (3) geldig is in een gebied van twee pH-eenheden rond pH . Is het isolatormateriaal bij pzc voorbeeld AljO^ waarvan pHp2c 8, dan is vergelijking (3) dus geldig binnen een pH-gebied van 6 tot 10.
Integreren van (3) geeft iVgs /_ ST * ("H - *Uo> <«
C
20 waarbij de betekenis van pH. later zal worden verklaard.
3>SQ
Wat betreft de temperatuurafhankelijkheid van de potentiaal Vgg kan tenslotte uit de combinatie van de vergelijkingen (1) en (2) worden afgeleid: 25 AV / = (dS 7dT) x (pH-pH ) x T (5) e / pH iC 1S0
waarbij deze vergelijking opgaat in het temperatuursgebied rond T JQ S
en waarbij pS. wordt gedefinieerd als de pH in het pE-gebied van 6-10 en bij een temperatuur rond Tc waarbij (dV /dT)^ = 0 bij een bepaalde drain-source stroom I,.
CL
^ -> r ν' J. ï ^
v V
-6-
Praktisch kan men nu met de temperatuursensor de verandering van de pH-gevoeligheid met de temperatuur corrigeren indien de ISFET in het isothermische punt daarvan werkzaam is hetgeen betekent dat voor een bepaalde pH = pH^sQ en een bepaalde referentie-elektrode de drain-source stroom kan worden ingesteld op een waarde die onafhan-5 kelijk is van de temperatuur: (d^/dT) pfi. =0 m Id> ds’ gs r iso iso 10
Bij het constant houden van de drain-source stroom I, .
J d.iso door regeling van de V^g-potentiaal bij een vaste V^-potentiaal kan de pH van de onderzochte vloeistof worden gevonden uit
15 AV
pH - pHiso * Sn-üdS/dDxI
Indien de ISFET bij meting niet in het isothermische punt werkzaam is, 20 zal met de temperatuursensor zowel de verandring van de pH-gevoeligheid met de temperatuur (dS/dT) als de verandering van de drain-source stroom met de temperatuur (dl^/dT) moeten worden gecorrigeerd. Wanneer met de versterker de drain-source stroom op een vaste waarde wordt gehouden, kan de pH van de onderzochte vloeistof worden gevonden uit 25
Δνσ +T.C.xT pH = PHcal> + s+(dS/dT)xT
30 Op analoge wijze als voor de pH kunnen ter berekening van de aktiviteit van andere ionen, bij voorbeeld van metaalionen zoals de berekening van pK, overeenkomstige vergelijkingen worden afgeleid. Zo kunnen voor pK de betrekkingen worden afgeleid: 1 ΔΥαδ
pK = pKiso + S+(dS/dT)xT
Q ? Γ; V 3 L
W ij 'V ^ *
Claims (3)
- 83 G 2 9 3 4 -8- van de drain-source stroom als functie van de temperatuur corrigeerbaar zijn door regeling van V en de pion te berekenen gs is uit de in de geheugencomponent opgeslagen formule AV +T.C.xT 5 pion -pIoncai_ - jfei waarin: pIonca^ » P^oncalibratie * P*on ~ waar^e van vloeistof 10 bij een gegeven temperatuur T ; T.C. * de verandering van V C gs met de temperatuur bij pIonca^ , S =* de plon-gevoeligheid bij de temperatuur T_ , (dS/dT) e de ver- Cu andering van de plon-gevoeligheid met de temperatuur, en ΔΤ * het verschil tussen de werkelijke temperatuur en de gegeven temperatuur 15. is. C
- 2. Inrichting volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de drain-source I, instelbaar is op een waarde Ij . α d.iso waarbij ((dI,/dT))v v „ »0 en de plon-gevoeligheid α Vds,vgs’ .iso 20 van de inrichting als functie van de temperatuur corrigeerbaar is door regeling van V terwijl de pion te berekenen is uit de in de gs geheugencomponent opgeslagen formule AV
- 23 P10" * *l0nUo + S—dSMTWl waarin: pIon^so=!die waarde van pIon}binnen een reeks met van het in de ISFET 30 toegepaste pion gevoelige materiaal, afhankelijke plon-waarden en bij een temperatuur rond de gegeven temperatuur T is waarbij C ((dV )/(dT)) T„ * 0 voor de waarde van de drain-source stromen gs pion I . is. d. iso £ ” Λ * Z ' J I» ij ~ξ VEREENIGDE OCTROOIBUREAUX O.a. 83.02964 Ned. kl. s-gravénhage(hollano) —— Behoort bij schrijνθη d.cJ. 7.11.1983 Vm/ig d I £ i : -&NOV1983 I «ΜΜΗΗ.'Ί’*' ----- ’*· »·*-- --¾ Verbeteringen van errata in de beschrijving, behorende bij octrooiaanvrage No. 83.02964, voorgesteld door aanvraagster d.d. 7 november 1983. "ds " "dS " blz. 2, regel 15: in de noemer */dT wijzigen in /dT ; blz. 3, regels 8- 9: "zo niet beheerst" schrappen; blz. 3, regel 13: "vlakke-bandpotatiaal" wijzigen in "vlakke banden spanning"; blz. 3, regel 20: in de formule de vierde term "+|g." wijzigen in "-fg-j"; blz. 3, regel 26: "materiaal." wijzigen in "materiaal en de vloeistof"; blz, 3, regel 29: "silicium-werkfunctie" wijzigen in "silicium- uittreepotentiaal"; blz. 3, regel 30: fss wijzigen in "Qss"; blz. 3, regel 30: "oppervlakteëenheid." wijzigen in "oppervlakteëenheid in de oppervlakte toestanden."; blz, 3, regel 31: "oppervlakteëenheid." wijzigen in "oppervlakteëenheid gedacht aan het Si/SiOg grensvlak"; blz, 3, regel 32: "Qox = Oxydecapaciteit" wijzigen in "CQX= Oxydecapaciteit"; blz, 5, regel 18: "^qs/ " wijzigen in "AVgs "; TC |TC blz. 5, regel 27: "Δν . = -dST rdT)" wijzigen in "aV0S 3= (dSTp/dTÏ"; gs/pH ‘C gs pHJ L blz. 6, regel 8: "I. " wijzigen in "I. . "; iso blz. 6, regel 27: na de formule inlassen "waarbij pHca-j de pH waarde is waarbij T.C wordt bepaald"; blz. 7, regel 18: "I. " wijzigen in "IH · "; iso * a blz. 8, reqel 29: "=" schrappen; blz·. 8, regel 32: "stromen" wijzigen in "stroom"; blz. 8, regel 33: "is" schrappen. Γ! *7 λ λ λ η ι. 545
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8302964A NL8302964A (nl) | 1983-08-24 | 1983-08-24 | Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof. |
US06/642,126 US4691167A (en) | 1983-08-24 | 1984-08-17 | Apparatus for determining the activity of an ion (pIon) in a liquid |
CA000461658A CA1228398A (en) | 1983-08-24 | 1984-08-23 | Apparatus for determining the activity of an ion (pion) in a liquid |
EP84201219A EP0146977A1 (en) | 1983-08-24 | 1984-08-23 | Apparatus for determining the activity of an ion (pion) in a liquid |
JP59175289A JPH0765983B2 (ja) | 1983-08-24 | 1984-08-24 | 液体中のイオンの活性度を測定する装置および方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL8302964A NL8302964A (nl) | 1983-08-24 | 1983-08-24 | Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof. |
NL8302964 | 1983-08-24 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL8302964A true NL8302964A (nl) | 1985-03-18 |
Family
ID=19842301
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL8302964A NL8302964A (nl) | 1983-08-24 | 1983-08-24 | Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4691167A (nl) |
EP (1) | EP0146977A1 (nl) |
JP (1) | JPH0765983B2 (nl) |
CA (1) | CA1228398A (nl) |
NL (1) | NL8302964A (nl) |
Families Citing this family (54)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4791374A (en) * | 1986-12-12 | 1988-12-13 | The Lubrizol Corporation | Acid sensor |
US5023133A (en) * | 1986-12-12 | 1991-06-11 | The Lubrizol Corporation | Acid sensor |
US4879517A (en) * | 1988-07-25 | 1989-11-07 | General Signal Corporation | Temperature compensation for potentiometrically operated ISFETS |
US5103179A (en) * | 1990-03-05 | 1992-04-07 | Industrial Chemical Measurement, Inc. | Water analyzer with multiple electrodes |
US5250168A (en) * | 1990-07-03 | 1993-10-05 | Hitachi, Ltd. | Integrated ion sensor |
US5223783A (en) * | 1992-05-01 | 1993-06-29 | Willis Technologies International, Inc. | Method and device for detecting reducing gas using semiconductor gas sensor |
US5911873A (en) * | 1997-05-02 | 1999-06-15 | Rosemount Analytical Inc. | Apparatus and method for operating an ISFET at multiple drain currents and gate-source voltages allowing for diagnostics and control of isopotential points |
TW465055B (en) | 2000-07-20 | 2001-11-21 | Univ Nat Yunlin Sci & Tech | Method and apparatus for measurement of temperature parameter of ISFET using amorphous silicon hydride as sensor membrane |
TW544752B (en) | 2002-05-20 | 2003-08-01 | Univ Nat Yunlin Sci & Tech | Method for producing SnO2 gate ion sensitive field effect transistor (ISFET), and method and device for measuring the temperature parameters, drift and hysteresis values thereof |
TWI241020B (en) * | 2004-03-31 | 2005-10-01 | Univ Nat Yunlin Sci & Tech | Method of manufacturing TiO2 sensing film, ISFET having TiO2 sensing film, and methods and apparatus for measuring the temperature parameter, drift, and hysteresis thereof |
US20050241959A1 (en) * | 2004-04-30 | 2005-11-03 | Kenneth Ward | Chemical-sensing devices |
US7313966B2 (en) * | 2004-12-14 | 2008-01-01 | Brooks Automation, Inc. | Method and apparatus for storing vacuum gauge calibration parameters and measurement data on a vacuum gauge structure |
TWI244702B (en) * | 2005-04-04 | 2005-12-01 | Univ Nat Yunlin Sci & Tech | Titanium oxide thin film for extended gate field effect transistor using reactive sputtering |
TW200815750A (en) * | 2006-09-19 | 2008-04-01 | Univ Nat Yunlin Sci & Tech | System of measuring pH values of solutions and method for reducing time-drift effects of sensors thereof |
US20080108164A1 (en) * | 2006-11-06 | 2008-05-08 | Oleynik Vladislav A | Sensor System and Method |
US11339430B2 (en) | 2007-07-10 | 2022-05-24 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays |
US8349167B2 (en) | 2006-12-14 | 2013-01-08 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for detecting molecular interactions using FET arrays |
EP4134667A1 (en) | 2006-12-14 | 2023-02-15 | Life Technologies Corporation | Apparatus for measuring analytes using fet arrays |
US8262900B2 (en) | 2006-12-14 | 2012-09-11 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays |
GB2453674A (en) * | 2007-05-18 | 2009-04-15 | Vernacare Ltd | A macerator having a multi-phase motor to drive blade means |
WO2009070003A2 (en) * | 2007-11-30 | 2009-06-04 | Mimos Berhad | An analog read out interface circuit for ion sensor |
US8470164B2 (en) | 2008-06-25 | 2013-06-25 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes using large scale FET arrays |
US20100137143A1 (en) | 2008-10-22 | 2010-06-03 | Ion Torrent Systems Incorporated | Methods and apparatus for measuring analytes |
US20100301398A1 (en) | 2009-05-29 | 2010-12-02 | Ion Torrent Systems Incorporated | Methods and apparatus for measuring analytes |
US20120261274A1 (en) | 2009-05-29 | 2012-10-18 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes |
US8776573B2 (en) | 2009-05-29 | 2014-07-15 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes |
JP5952813B2 (ja) | 2010-06-30 | 2016-07-13 | ライフ テクノロジーズ コーポレーション | Isfetアレイをテストする方法及び装置 |
EP2588851B1 (en) | 2010-06-30 | 2016-12-21 | Life Technologies Corporation | Ion-sensing charge-accumulation circuit and method |
CN109449171A (zh) | 2010-06-30 | 2019-03-08 | 生命科技公司 | 用于检测和测量化学反应和化合物的晶体管电路 |
US11307166B2 (en) | 2010-07-01 | 2022-04-19 | Life Technologies Corporation | Column ADC |
WO2012006222A1 (en) | 2010-07-03 | 2012-01-12 | Life Technologies Corporation | Chemically sensitive sensor with lightly doped drains |
EP2617061B1 (en) | 2010-09-15 | 2021-06-30 | Life Technologies Corporation | Methods and apparatus for measuring analytes |
EP2619564B1 (en) | 2010-09-24 | 2016-03-16 | Life Technologies Corporation | Matched pair transistor circuits |
US9970984B2 (en) | 2011-12-01 | 2018-05-15 | Life Technologies Corporation | Method and apparatus for identifying defects in a chemical sensor array |
US8821798B2 (en) | 2012-01-19 | 2014-09-02 | Life Technologies Corporation | Titanium nitride as sensing layer for microwell structure |
US8786331B2 (en) | 2012-05-29 | 2014-07-22 | Life Technologies Corporation | System for reducing noise in a chemical sensor array |
TWI485400B (zh) * | 2012-11-19 | 2015-05-21 | Univ Nat Yunlin Sci & Tech | 氯離子感測系統 |
US9080968B2 (en) | 2013-01-04 | 2015-07-14 | Life Technologies Corporation | Methods and systems for point of use removal of sacrificial material |
US9841398B2 (en) | 2013-01-08 | 2017-12-12 | Life Technologies Corporation | Methods for manufacturing well structures for low-noise chemical sensors |
US8962366B2 (en) | 2013-01-28 | 2015-02-24 | Life Technologies Corporation | Self-aligned well structures for low-noise chemical sensors |
US8841217B1 (en) | 2013-03-13 | 2014-09-23 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with protruded sensor surface |
US8963216B2 (en) | 2013-03-13 | 2015-02-24 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with sidewall spacer sensor surface |
US9116117B2 (en) | 2013-03-15 | 2015-08-25 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with sidewall sensor surface |
WO2014149778A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Life Technologies Corporation | Chemical sensors with consistent sensor surface areas |
US9835585B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-12-05 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with protruded sensor surface |
US20140264472A1 (en) | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor with consistent sensor surface areas |
CN105051525B (zh) | 2013-03-15 | 2019-07-26 | 生命科技公司 | 具有薄导电元件的化学设备 |
US20140336063A1 (en) | 2013-05-09 | 2014-11-13 | Life Technologies Corporation | Windowed Sequencing |
US10458942B2 (en) | 2013-06-10 | 2019-10-29 | Life Technologies Corporation | Chemical sensor array having multiple sensors per well |
US10077472B2 (en) | 2014-12-18 | 2018-09-18 | Life Technologies Corporation | High data rate integrated circuit with power management |
TWI794007B (zh) | 2014-12-18 | 2023-02-21 | 美商生命技術公司 | 積體電路裝置、感測器裝置及積體電路 |
KR20170097712A (ko) | 2014-12-18 | 2017-08-28 | 라이프 테크놀로지스 코포레이션 | 대형 fet 어레이를 사용한 분석물 측정을 위한 방법과 장치 |
CN106501136B (zh) * | 2016-11-23 | 2023-10-03 | 西南大学 | 一种复合离子电极电动势的采集电路系统和采集方法 |
DE102021133958A1 (de) | 2021-12-21 | 2023-06-22 | Endress+Hauser Conducta Gmbh+Co. Kg | Verfahren zum Kalibrieren einer Messschaltung, Messschaltung für einen elektrochemischen Sensor |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5489687A (en) * | 1977-12-27 | 1979-07-16 | Mitsubishi Chem Ind | Titration controlling method |
NL187546C (nl) * | 1978-11-06 | 1991-11-01 | Philips Nv | Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid. |
GB2077439B (en) * | 1980-04-28 | 1984-03-28 | Kuraray Co | Compensating temperature-dependent characteristic changes in ion-sensitive fet transducers |
JPS57113361A (en) * | 1980-12-30 | 1982-07-14 | Horiba Ltd | Composite electrode equipped with field-effect transistor as ion responder |
US4641249A (en) * | 1983-06-22 | 1987-02-03 | Kuraray Co., Ltd. | Method and device for compensating temperature-dependent characteristic changes in ion-sensitive FET transducer |
-
1983
- 1983-08-24 NL NL8302964A patent/NL8302964A/nl not_active Application Discontinuation
-
1984
- 1984-08-17 US US06/642,126 patent/US4691167A/en not_active Expired - Fee Related
- 1984-08-23 CA CA000461658A patent/CA1228398A/en not_active Expired
- 1984-08-23 EP EP84201219A patent/EP0146977A1/en not_active Withdrawn
- 1984-08-24 JP JP59175289A patent/JPH0765983B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6089745A (ja) | 1985-05-20 |
EP0146977A1 (en) | 1985-07-03 |
CA1228398A (en) | 1987-10-20 |
US4691167A (en) | 1987-09-01 |
JPH0765983B2 (ja) | 1995-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL8302964A (nl) | Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof. | |
US5911873A (en) | Apparatus and method for operating an ISFET at multiple drain currents and gate-source voltages allowing for diagnostics and control of isopotential points | |
Bergveld | The operation of an ISFET as an electronic device | |
US5481199A (en) | System for improving measurement accuracy of transducer by measuring transducer temperature and resistance change using thermoelectric voltages | |
US7145350B2 (en) | Process and a circuit arrangement for evaluating a measuring capacitance | |
US5493100A (en) | Thermistor flow sensor and related method | |
JPS59660A (ja) | センサ信号の温度補償方法 | |
JPS5824851A (ja) | イオン濃度を測定する方法および装置 | |
JPH04505211A (ja) | 流速計 | |
WO2008109339A2 (en) | Method and apparatus for measuring the temperature of a gas in a mass flow controller | |
CN103080739A (zh) | 用于测试isfet阵列的方法和装置 | |
US7368917B2 (en) | Electronic circuit for ion sensor with body effect reduction | |
US4879517A (en) | Temperature compensation for potentiometrically operated ISFETS | |
EP3035044A1 (en) | A drift compensated ion sensor | |
JPH11511849A (ja) | 圧力センサにおける温度補償方法 | |
US20160161446A1 (en) | Low slope ph electrode with charge transfer component | |
Chou et al. | The hysteresis and drift effect of hydrogenated amorphous silicon for ISFET | |
US3201990A (en) | Electric measuring device for mixed fluid temperature and velocity | |
Chung et al. | An implementation of an electronic tongue system based on a multi-sensor potentiometric readout circuit with embedded calibration and temperature compensation | |
US8668822B2 (en) | Method for operating an ISFET sensor | |
US6566849B1 (en) | Non-linear temperature compensation circuit | |
Savage et al. | Statistical assessment of some errors in thermocouple hygrometric water potential measurement | |
Casans et al. | Novel voltage-controlled conditioning circuit applied to the ISFETs temporary drift and thermal dependency | |
KR910006276B1 (ko) | 감이온 전계효과 트랜지스터를 이용한 이온농도 측정 회로 | |
Das et al. | New ISFET interface circuits with noise reduction capability |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A1B | A search report has been drawn up | ||
BC | A request for examination has been filed | ||
BV | The patent application has lapsed |