NL187546C - Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid. - Google Patents

Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid.

Info

Publication number
NL187546C
NL187546C NLAANVRAGE7811001,A NL7811001A NL187546C NL 187546 C NL187546 C NL 187546C NL 7811001 A NL7811001 A NL 7811001A NL 187546 C NL187546 C NL 187546C
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
field
effect transistor
measuring
duct
channel
Prior art date
Application number
NLAANVRAGE7811001,A
Other languages
English (en)
Other versions
NL7811001A (nl
Original Assignee
Philips Nv
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Nv filed Critical Philips Nv
Priority to NLAANVRAGE7811001,A priority Critical patent/NL187546C/nl
Priority to FR7924170A priority patent/FR2440599A1/fr
Priority to US06/086,922 priority patent/US4267504A/en
Priority to CA338,932A priority patent/CA1123968A/en
Priority to GB7938089A priority patent/GB2035577B/en
Priority to DE2944364A priority patent/DE2944364C2/de
Priority to AU52438/79A priority patent/AU531917B2/en
Priority to CH988279A priority patent/CH644448A5/de
Priority to SE7909093A priority patent/SE435553B/sv
Priority to JP54141395A priority patent/JPS59780B2/ja
Publication of NL7811001A publication Critical patent/NL7811001A/nl
Application granted granted Critical
Publication of NL187546C publication Critical patent/NL187546C/nl

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R17/00—Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403—Cells and electrode assemblies
    • G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
    • G01N27/4148—Integrated circuits therefor, e.g. fabricated by CMOS processing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0023—Measuring currents or voltages from sources with high internal resistance by means of measuring circuits with high input impedance, e.g. OP-amplifiers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/32—Compensating for temperature change
NLAANVRAGE7811001,A 1978-11-06 1978-11-06 Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid. NL187546C (nl)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NLAANVRAGE7811001,A NL187546C (nl) 1978-11-06 1978-11-06 Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid.
FR7924170A FR2440599A1 (fr) 1978-11-06 1979-09-28 Dispositif pour mesurer un parametre qui influence un transistor a effet de champ, comportant des moyens pour la compensation de temperature
US06/086,922 US4267504A (en) 1978-11-06 1979-10-22 Device for measuring a quantity which influences a field-effect transistor
CA338,932A CA1123968A (en) 1978-11-06 1979-11-01 Device for measuring a quantity which influences a field-effect transistor
GB7938089A GB2035577B (en) 1978-11-06 1979-11-02 Device for measuring a quantity which influences a field-effect transistor
DE2944364A DE2944364C2 (de) 1978-11-06 1979-11-02 Anordnung zur Messung einer Größe, die einen Feldeffekttransistor beeinflußt
AU52438/79A AU531917B2 (en) 1978-11-06 1979-11-02 Measuring f.e.t. properties
CH988279A CH644448A5 (de) 1978-11-06 1979-11-02 Anordnung zur messung einer physikalischen groesse, die einen feldeffekttransistor beeinflusst.
SE7909093A SE435553B (sv) 1978-11-06 1979-11-02 Anordning for metning av en storhet som paverkar en felteffekttransistor
JP54141395A JPS59780B2 (ja) 1978-11-06 1979-11-02 測定装置

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NLAANVRAGE7811001,A NL187546C (nl) 1978-11-06 1978-11-06 Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid.
NL7811001 1978-11-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
NL7811001A NL7811001A (nl) 1980-05-08
NL187546C true NL187546C (nl) 1991-11-01

Family

ID=19831846

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NLAANVRAGE7811001,A NL187546C (nl) 1978-11-06 1978-11-06 Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid.

Country Status (10)

Country Link
US (1) US4267504A (nl)
JP (1) JPS59780B2 (nl)
AU (1) AU531917B2 (nl)
CA (1) CA1123968A (nl)
CH (1) CH644448A5 (nl)
DE (1) DE2944364C2 (nl)
FR (1) FR2440599A1 (nl)
GB (1) GB2035577B (nl)
NL (1) NL187546C (nl)
SE (1) SE435553B (nl)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5639454A (en) * 1979-09-10 1981-04-15 Olympus Optical Co Ltd Chemical suybstance detector by using chemical sensitive element with structure of insulated-gate field-effect transistor
US4641249A (en) * 1983-06-22 1987-02-03 Kuraray Co., Ltd. Method and device for compensating temperature-dependent characteristic changes in ion-sensitive FET transducer
NL8302964A (nl) * 1983-08-24 1985-03-18 Cordis Europ Inrichting voor het bepalen van de aktiviteit van een ion (pion) in een vloeistof.
JPS60170174U (ja) * 1984-04-23 1985-11-11 吉田　公麿 切り絵おもちやに利用しうるコツプ
US4974592A (en) * 1988-11-14 1990-12-04 American Sensor Systems Corporation Continuous on-line blood monitoring system
DE3921537A1 (de) * 1989-06-30 1991-05-23 Maria D Gyulai Messverfahren zur verbesserung der stabilitaet
US5911873A (en) * 1997-05-02 1999-06-15 Rosemount Analytical Inc. Apparatus and method for operating an ISFET at multiple drain currents and gate-source voltages allowing for diagnostics and control of isopotential points

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3328685A (en) * 1964-04-07 1967-06-27 Hewlett Packard Co Ohmmeter utilizing field-effect transistor as a constant current source
US3490039A (en) * 1967-02-23 1970-01-13 Canadian Patents Dev Method and apparatus for measuring high resistances in relation to resistance ratio,capacitance,and a time interval
US4103227A (en) * 1977-03-25 1978-07-25 University Of Pennsylvania Ion-controlled diode

Also Published As

Publication number Publication date
GB2035577A (en) 1980-06-18
DE2944364A1 (de) 1980-06-12
JPS59780B2 (ja) 1984-01-09
NL7811001A (nl) 1980-05-08
DE2944364C2 (de) 1983-01-20
GB2035577B (en) 1982-09-15
CH644448A5 (de) 1984-07-31
AU531917B2 (en) 1983-09-08
SE7909093L (sv) 1980-05-07
SE435553B (sv) 1984-10-01
US4267504A (en) 1981-05-12
FR2440599B1 (nl) 1981-10-02
JPS5566750A (en) 1980-05-20
FR2440599A1 (fr) 1980-05-30
AU5243879A (en) 1980-05-15
CA1123968A (en) 1982-05-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7704638A (nl) Inrichting voor het meten van tenminste een dimensie van een objekt.
NL7609128A (nl) Werkwijze en inrichting voor het niet-contacte- rend meten van de electrische geleidbaarheid van een lamelvormig voorwerp.
NL7709039A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen.
NL181755C (nl) Inrichting voor het meten van het uitbreiden van een scheur.
NL7608446A (nl) Inrichting voor het meten van belastingen.
NL193015B (nl) Inrichting voor het meten van stofwisselingsgrootheden.
NL7703298A (nl) Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen.
NL7903577A (nl) Inrichting voor het meten van het oliegehalte van water.
NL7610858A (nl) Apparaat voor het meten van lokale absorptie- verschillen.
NL186405C (nl) Meetinrichting voor het meten van een afmeting van de dwarsdoorsnede van een langwerpig voorwerp.
NL7704206A (nl) Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.
NL185955C (nl) Inrichting voor het nauwkeurig meten van cilindrische voorwerpen.
NL7609350A (nl) Inrichting voor het meten van stroming volgens de ultrasonore-doppler-methode.
NL7707166A (nl) Inrichting voor het meten van ultrageluid.
NL7607955A (nl) Inrichting voor het meten van het stortgoed- niveau in een silo.
NL7807189A (nl) Inrichting voor het meten en toevoeren van draad.
NL7902327A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een oppervlaktespanning.
NL7700340A (nl) Werkwijze voor het meten van de ethanolconcentra- tie in een lichaamsvloeistof alsmede onderzoeks- uitrusting voor het uitvoeren van de werkwijze.
NL187546C (nl) Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid.
NL7702480A (nl) Inrichting voor het meten van de hardheid van een rubbermonster.
NL7713452A (nl) Inrichting voor het meten van de viscositeit of consistentie van een fluidum.
NL7602837A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van zwaveldioxyde.
NL176101C (nl) Inrichting voor het meten van trillingen.
NL7608384A (nl) Inrichting voor het met onderbrekingen in een analyseertoestel brengen van een gelijkblij- vende hoeveelheid vloeistof.
NL7512811A (nl) Inrichting voor het meten van de geleidbaarheid.

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
A85 Still pending on 85-01-01
BC A request for examination has been filed
V1 Lapsed because of non-payment of the annual fee