NL7704206A - Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze. - Google Patents

Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.

Info

Publication number
NL7704206A
NL7704206A NL7704206A NL7704206A NL7704206A NL 7704206 A NL7704206 A NL 7704206A NL 7704206 A NL7704206 A NL 7704206A NL 7704206 A NL7704206 A NL 7704206A NL 7704206 A NL7704206 A NL 7704206A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
procedure
article
measuring
applying
size
Prior art date
Application number
NL7704206A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Kaye Morton
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kaye Morton filed Critical Kaye Morton
Publication of NL7704206A publication Critical patent/NL7704206A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/022Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of tv-camera scanning
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0608Height gauges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/22Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring depth
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2518Projection by scanning of the object
    • G01B11/2522Projection by scanning of the object the position of the object changing and being recorded
NL7704206A 1976-04-19 1977-04-18 Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze. NL7704206A (nl)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/678,059 US4113389A (en) 1976-04-19 1976-04-19 Optical measurement system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL7704206A true NL7704206A (nl) 1977-10-21

Family

ID=24721209

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL7704206A NL7704206A (nl) 1976-04-19 1977-04-18 Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.

Country Status (10)

Country Link
US (1) US4113389A (nl)
JP (1) JPS52128170A (nl)
AU (1) AU2425477A (nl)
CA (1) CA1088302A (nl)
CH (1) CH615748A5 (nl)
DE (1) DE2716869A1 (nl)
DK (1) DK171677A (nl)
FR (1) FR2349126A1 (nl)
GB (1) GB1581948A (nl)
NL (1) NL7704206A (nl)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4165178A (en) * 1978-06-29 1979-08-21 International Business Machines Corporation Gap measurement tool
US4463600A (en) * 1980-09-23 1984-08-07 University Of Birmingham Automatic measurement of areas
GB2089044B (en) * 1980-11-19 1985-05-01 Cosciani Roberto Carlo Improvements in or relating to measuring apparatus
US4502785A (en) * 1981-08-31 1985-03-05 At&T Technologies, Inc. Surface profiling technique
JPS6063030A (ja) * 1983-09-19 1985-04-11 株式会社肌粧品科学開放研究所 皮溝又はしわの深さの測定方法及び装置
SE456976B (sv) * 1985-06-14 1988-11-21 Asea Ab Foerfarande och anordning vid en robotutrustning foer bestaemning av laeget av ett foeremaal
GB2179155B (en) * 1985-08-13 1989-08-16 English Electric Valve Co Ltd Spatial characteristic determination
EP0342251A1 (en) * 1988-05-17 1989-11-23 Contour Dynamics Apparatus and method for acquisition of 3D images
US4983043A (en) * 1987-04-17 1991-01-08 Industrial Technology Institute High accuracy structured light profiler
GB8725705D0 (en) * 1987-11-03 1987-12-09 Cosciani R C Optical probe
US4979815A (en) * 1989-02-17 1990-12-25 Tsikos Constantine J Laser range imaging system based on projective geometry
US4965665A (en) * 1989-10-25 1990-10-23 At&T Bell Laboratories 3D imaging of a substrate using perpendicular scanning directions
US5101442A (en) * 1989-11-24 1992-03-31 At&T Bell Laboratories Three-dimensional imaging technique using sharp gradient of illumination
US5097516A (en) * 1991-02-28 1992-03-17 At&T Bell Laboratories Technique for illuminating a surface with a gradient intensity line of light to achieve enhanced two-dimensional imaging
DE19642293C2 (de) * 1996-10-14 1998-07-16 Zeiss Carl Jena Gmbh Koordinatenmeßgerät
GB9701177D0 (en) * 1997-01-21 1997-03-12 Hamilton Neil C Thickness measuring apparatus
JP3272998B2 (ja) * 1997-09-30 2002-04-08 イビデン株式会社 バンプ高さ良否判定装置
IES20010218A2 (en) * 2000-03-09 2001-09-19 Athlone Extrusions Dev Ltd A method of testing co-extruded panels
US6830334B2 (en) * 2001-07-30 2004-12-14 Bausch & Lomb Incorporated Anterior chamber diameter measurement system from limbal ring measurement
DE10328537B4 (de) * 2003-06-24 2015-03-26 Pixargus Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen der Dimension eines Körpers
JP6079664B2 (ja) * 2014-02-25 2017-02-15 トヨタ自動車株式会社 被測定物の表面測定装置およびその表面測定方法
EP4268757A3 (en) * 2017-10-06 2023-12-06 Advanced Scanners, Inc. Generation of one or more edges of luminosity to form three-dimensional models of objects

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2976762A (en) * 1957-06-11 1961-03-28 Arnold L Imshaug Depth measuring apparatus for printing plates and like articles
US3022578A (en) * 1958-02-26 1962-02-27 Boeing Co Discontinuity depth gauge
US3187185A (en) * 1960-12-22 1965-06-01 United States Steel Corp Apparatus for determining surface contour
JPS5418145B1 (nl) * 1971-06-08 1979-07-05
GB1449044A (en) * 1972-11-14 1976-09-08 Kongsberg Vapenfab As Procedures and apparatuses for determining the shapes of surfaces

Also Published As

Publication number Publication date
CH615748A5 (nl) 1980-02-15
AU2425477A (en) 1978-10-19
GB1581948A (en) 1980-12-31
DK171677A (da) 1977-10-20
JPS52128170A (en) 1977-10-27
US4113389A (en) 1978-09-12
FR2349126A1 (fr) 1977-11-18
CA1088302A (en) 1980-10-28
DE2716869A1 (de) 1977-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
NL7704206A (nl) Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.
NL7709039A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen.
NL7704638A (nl) Inrichting voor het meten van tenminste een dimensie van een objekt.
NL7703298A (nl) Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen.
NL7600644A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de dichtheid van een geologische formatie.
NL7609128A (nl) Werkwijze en inrichting voor het niet-contacte- rend meten van de electrische geleidbaarheid van een lamelvormig voorwerp.
NL184384C (nl) Inrichting en werkwijze voor het waarnemen en meten van een object binnen een ontoegankelijke behuizing.
NL180959C (nl) Lengtemeetinrichting voor het meten van de relatieve stand van twee objecten.
NL185956C (nl) Inrichting en werkwijze voor het meten van de optische eigenschappen van een klein voorwerp.
NL7608446A (nl) Inrichting voor het meten van belastingen.
NL7706343A (nl) Inrichting voor het afnemen en wegvoeren van snoepgoed.
NL7610894A (nl) Werkwijze en inrichting voor het uitvoeren van ofthalmische metingen.
NL7610858A (nl) Apparaat voor het meten van lokale absorptie- verschillen.
NL7901815A (nl) Werkwijze en inrichting voor het detecteren of meten van een afmeting van een langwerpig voorwerp.
NL7707166A (nl) Inrichting voor het meten van ultrageluid.
NL186538C (nl) Inrichting voor het verrichten van geodetische metingen en een gyrokompas voor een dergelijke inrichting.
NL7903364A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een afwerklaag.
NL7612438A (nl) Werkwijze voor het vervaardigen van een houder alsmede inrichting voor het toepassen van deze werkwijze.
NL7807189A (nl) Inrichting voor het meten en toevoeren van draad.
NL7606566A (nl) Inrichting voor het meten van massa en kracht.
NL7902327A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van een oppervlaktespanning.
NL7706147A (nl) Werkwijze voor het magnetisch onderzoeken van een materiaal op defecten en inrichting voor het toe- passen van deze werkwijze.
NL7712816A (nl) Werkwijze en inrichting voor het kalibreren van de tijdbasis van een weergeefinrichting.
NL165293C (nl) Inrichting voor het meten van massa en kracht.
NL7714166A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van een fluidum.

Legal Events

Date Code Title Description
BT A notification was added to the application dossier and made available to the public
BV The patent application has lapsed