JPS59780B2 - 測定装置 - Google Patents

測定装置

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JPS59780B2
JPS59780B2 JP54141395A JP14139579A JPS59780B2 JP S59780 B2 JPS59780 B2 JP S59780B2 JP 54141395 A JP54141395 A JP 54141395A JP 14139579 A JP14139579 A JP 14139579A JP S59780 B2 JPS59780 B2 JP S59780B2
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JP
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voltage
auxiliary signal
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JP54141395A
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JPS5566750A (en
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ピート・ベルグフエルド
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Koninklijke Philips NV
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Koninklijke Philips Electronics NV
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R17/00Measuring arrangements involving comparison with a reference value, e.g. bridge
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/26Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
    • G01N27/403Cells and electrode assemblies
    • G01N27/414Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
    • G01N27/4148Integrated circuits therefor, e.g. fabricated by CMOS processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/0023Measuring currents or voltages from sources with high internal resistance by means of measuring circuits with high input impedance, e.g. OP-amplifiers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電界効果トランジスタのソースおよびドレイン
電極を測定回路の端子に接続して、前記両電極間の抵抗
値の変化が測定回路の出力電圧に影響を及ぼすようにし
て電界効果トランジスタに影響する量を測定する装置に
関するものである。
斯種の装置は例えは定期刊行物である「IEEETra
nsaclionsonBiomedicalEngi
neering」(Vol、BME−19、No、5、
1972年9月第342〜351頁)に記載されている
。これに記載されている例では、電界効果トランジスタ
をイオン感応電界効果トランジスタとし、また測定すべ
き量を溶液中の所定のイオンの濃度としている。電界効
果トランジスタには、これらのトランジスタが測定すべ
き量に感応するだけでなく、周囲の温度にも感応すると
云う欠点がある。
原則的には電界効果トランジスタの近くに第2の温度感
応素子を配置して、温度を別に表示させることができる
が、この場合電界効果トランジスタと温度感応素子との
2つの素子が常時確実に同じ温度となるかどうか、また
画素子が全く同じように温度変化に反応するかどうかを
正確に知ることも不可能である。これがため極めて正確
、かつ信頼で奉る温度補償を全く良好に行うことは不可
能である。本発明の目的は従来装置に較べて温度補償を
遥かに確実に、しかも正確に行うことのできる前述した
種類の測定装置を提供せんとするにある。本発明は電界
効果トランジスタのソースおよびドレイン電極を測定回
路の端子に接続して、前記両電極間の抵抗値の変化が測
定回路の出力電圧に影響を及ぼすようにして電界効果ト
ランジスタに影響する量を測定する装置において、測定
すべき量の変化を来たす周波数範囲以外に位置する周波
数の補助信号を電界効果トランジスタに供給し、測定回
路には補助信号の周波数を呈する信号を前記周波数範囲
内の信号から分離する手段を設けたことを特徴とする。
本発明の好適な実施に当つては、測定すべき量を第1入
力端子を介して電界効果トランジスタに供給すると共に
、補助信号を第2入力端子を介して電界効果トランジス
タに供給する。
図面につき本発明を説明する。
第1図に示す本発明装置は、例えば前記文献「IEEE
TransactiOnsOnBiOmedicalE
ngineering]または公開オランダ国特許願第
7602619号に記載されているような溶液中のイオ
ン活動度を測定する電界効果トランジスタ1を具えてい
る。
この装置はさらに溶液中に接地基準電極3も具えている
。さらに本発明装置は、特に「Archivf青Rte
chnischeMessen」(Z6343−6頁1
973年4月)から既知の計測増幅器5を具えている。
電界効果トランジスタ1のソース電極およびドレイン電
極にそれぞれ接続される導線7および9により、電界効
果トランジスタ1は計測増幅器5の回路、すなわちこの
増幅器の端子8と10との間に可変抵抗として含まれる
ため、ソース電極とドレイン電極との間の抵抗値は計測
増幅器5の利得に影響を及ぼす。電流源17から一定電
流で供給され抵抗15間に設定される電圧を入力電圧と
して導線11および13を介して計測増幅器5に供給す
る。従つて斯る入力電圧は一定であるため、計測増幅器
5の出力端子19における電圧は電界効果トランジスタ
1の抵抗値に依存するだけである。この出力電圧を差動
増幅器21に供給し、これにて斯る出力電圧と、導線2
3を介して差動増幅器21の他方の入力端子に供給され
る可調整基準電圧,Efとを比較する。帰還コンデンサ
25は差動増幅器21の遮断周波数を決定する。差動増
幅器21の出力電流fは固定抵抗27と可変抵抗29と
によつて形成される分圧器を経て流れ、この分圧器は電
界効果トランジスタ1および増幅器5,21によつて形
成される回路の負帰還を成す。
この場合、測定すべき量X,すなわちイオン活動度や、
電界効果トランジスタ1の温度Tや、基準電圧Vref
や、抵抗27と29との比率に依存する出力電圧VOは
抵抗29間にて測定される。測定のための零点調整は基
準電圧Refを予定値に選定して行うことができるが、
ノブ 測定感度は抵抗29によつて決定することができる。
温度Tの影響を求めるために、電界効果トランジスタ1
の基板は電極端子31によつて変成器33を介して電圧
源35に接続する。
電圧源35は電界効果トランジスタ1に補助信号を供給
し、この補助信号の周波数は、測定すべき量に変化を来
たす周波数範囲以外の周波数とする。例えばコンデンサ
25の容量を適当に選定して、差動増幅器21が3KH
zまでの信号を処理するようにし、また補助信号の周波
数は30KHzとする。補助信号並びに測定すべき量は
電界効果トランジスタ1の抵抗値に影響を及ぼす。従つ
て、計測増幅器5の出力端子19に現われる信号は、測
定すべき量Xに依存する低周波成分と、補助信号に依存
する高周波成分とで構成される。さらにこれらの両成分
は同様に電界効果トランジスタの温度にも依存する。計
測増幅器5の出力端子19は差動増幅器21たけでなく
、検出器37の入力端子にも接続する。検出器37その
ものは既知のものであり、これにより補助信号の周波数
を有する信号の振幅を測定する。従つて、この検出器の
出力端子には一定値の補助信号の従属件以外に、電界効
果トランジスタ1の温度に専ら依存する電圧Vsbが現
われる。それ故、この温度が変化すると、電圧VOおよ
び8bが全く同様に変化する。上述した動作を説明する
ために、第2図に上記2つの電圧oおよび,bの変化を
時間の関数として示してあるが、この図では便宜上電圧
,bに対する曲線を僅かな遅延時間Δtだけ遅らせて、
2つの曲線が部分的に一致しないように図示しである。
この図に関連する回路は電界効果トランジスタを所謂M
OSトランジスタとする回路であり、このMOSトラン
ジスタのゲート電極には入力量Xを制定する電圧を供給
することができる。瞬時t1とT2にトランジスタを短
期間加熱したら、この加熱により2つの電圧oおよびV
,bも同様に上昇した。瞬時T3およびT4にトランジ
スタのゲート電極に負および正の電圧をそれぞれ供給し
たら、電圧VO(ま変化したが、電圧V8bは反応しな
かつた。電圧V8bを適当な係数Aだけ増幅(または減
衰)し、その後2つの電圧を減算すれは、これによる電
圧V。
(X,T)−A−V8b(T)が測定すべき量Xに専ら
依存し、温度には依存しなくなることは明らかである。
このような動作は従来既知の差動増幅器(図示せず)に
よつて行うことができる。所要に応じ、電圧,bは、例
えは基準電圧,Efの制御、またはoをなお一層増幅す
る増幅器(図示せず)の制徊]用に用いることもできる
。本発明装置は上述した例のみに限定されるものでなく
、幾多の変更を加え得ること勿論である。例えは図示の
計測増幅器5および差動増幅器21の代りに、他の任意
の適当な測定回路を用いることができる。なお、斯様な
回路の例については前記[1EEETransacti
0ns0nBi0medica1Engineerin
g」を参照することができる。補助信号は図示の例とは
異なる方法にて与えることができ、例えは電界効果トラ
ンジスタを被変調光で照射したり、或いはMOSトラン
ジスタを用いる場合にはゲート電極を介して補助信号を
供給するようにして行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による測定装置の一例を示す回路図、第
2図は第1図の装置によつて得られる測定電圧値を時間
の関数として示す特性図である。 1・・・・・・電界効果トランジスタ、3・・・・・・
基準電極、5・・・・・・計測増幅器、7,9・・・・
・・導線、8,10・・・・・・計測増幅器の端子、1
1,13・・・・・・導線、15・・・・・・抵抗、1
7・・・・・・電流源、19・・・・・・計測増幅器出
力端子、21・・・・・・差動増幅器、23・・・・・
・導線、25・・・・・・帰還コンデンサ、27・・・
・・・固定抵抗、29・・・・・・可変抵抗、31・・
・・・・電極端子、33・・・・・・変成器、35・・
・・・・補助信号用電圧源、37・・・・・・検出器。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 電界効果トランジスタのソースおよびドレイン電極
    を測定回路の端子に接続して、前記両電極間の抵抗値の
    変化が測定回路の出力電圧に影響を及ぼすようにして電
    界効果トランジスタに影響する量を測定する装置におい
    て、測定すべき量の変化を来たす周波数範囲以外に位置
    する周波数の補助信号を電界効果トランジスタ1に供給
    し、測定回路には補助信号の周波数を呈する信号を前記
    周波数範囲内の信号から分離する手段を設けたことを特
    徴とする測定装置。 2 測定すべき量を第1入力端子を介して電界効果トラ
    ンジスタに供給すると共に、補助信号を第2入力端子を
    介して電界効果トランジスタ1に供給するようにしたこ
    とを特徴とする特許請求の範囲1記載の測定装置。 3 電界効果トランジスタ1の第2入力端子を該トラン
    ジスタの基板に接続される導線31をもつて構成したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲2記載の測定装置。
JP54141395A 1978-11-06 1979-11-02 測定装置 Expired JPS59780B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

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NLAANVRAGE7811001,A NL187546C (nl) 1978-11-06 1978-11-06 Meetinrichting voorzien van een veldeffekttransistor voor het meten van een de geleiding in het kanaal van de veldeffekttransistor beinvloedende uitwendige grootheid.

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JPS5566750A JPS5566750A (en) 1980-05-20
JPS59780B2 true JPS59780B2 (ja) 1984-01-09

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JP (1) JPS59780B2 (ja)
AU (1) AU531917B2 (ja)
CA (1) CA1123968A (ja)
CH (1) CH644448A5 (ja)
DE (1) DE2944364C2 (ja)
FR (1) FR2440599A1 (ja)
GB (1) GB2035577B (ja)
NL (1) NL187546C (ja)
SE (1) SE435553B (ja)

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CA1123968A (en) 1982-05-18
NL187546C (nl) 1991-11-01
JPS5566750A (en) 1980-05-20
SE435553B (sv) 1984-10-01
GB2035577A (en) 1980-06-18
CH644448A5 (de) 1984-07-31
US4267504A (en) 1981-05-12
SE7909093L (sv) 1980-05-07
AU5243879A (en) 1980-05-15
FR2440599A1 (fr) 1980-05-30
DE2944364A1 (de) 1980-06-12
FR2440599B1 (ja) 1981-10-02
DE2944364C2 (de) 1983-01-20
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