KR980005959A - 반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법 - Google Patents

반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 완성된 셀의 페일 발생시 대체대상인 스페어 셀을 전체 메모리 셀의 테스트로 대신하는 반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법을 개시 한다. 이 방법은 셀의 페일을 검사하여 페일된 셀을 스페어 셀로 대체하고, 페일된 칼럼 및 로우 어드레스 셀을 저장하는 단계; 저장된 대체 스페어 셀만을 테스트하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 1 도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법에서 1차 테스트 방법을 설명하는 흐름도.
제 2 도는 본 발명의 실시예에 따른 반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법을 설명하기 위하여 페일 셀이 발생한 1메가디렘셀의 어드레스를 표시한 도면.

Claims (1)

  1. 셀의 페일을 검사하여 페일된 셀을 스페어 셀로 대체하고, 페일된 칼럼및 로우 어드레스 셀을 파일로 저장하는 단계; 저장된 스페어 셀만을 테스트하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 페일 셀 테스트 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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