KR970706505A - 바이어스 발생기의 아이 디 디 큐(IDDQ) 테스팅용 기능을 갖춘 회로(A circuit provided with facilities for IDDQ-tesing of a generator) - Google Patents

바이어스 발생기의 아이 디 디 큐(IDDQ) 테스팅용 기능을 갖춘 회로(A circuit provided with facilities for IDDQ-tesing of a generator)

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KR970706505A
KR970706505A KR1019970701794A KR19970701794A KR970706505A KR 970706505 A KR970706505 A KR 970706505A KR 1019970701794 A KR1019970701794 A KR 1019970701794A KR 19970701794 A KR19970701794 A KR 19970701794A KR 970706505 A KR970706505 A KR 970706505A
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KR1019970701794A
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마노즈 사크데브
보트조 아트제마
Original Assignee
요트. 게. 아. 롤페즈
필립스 일렉트로닉스 엔. 브이.
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Abstract

바이어스 발생기는 각 NFET에 의해 독립적으로 개폐되는 각 PFET에 각 바이어스 전압을 인가함으로써 IDDQ구조에서 테스트된다. 이로서 대기 전류를 측정할 수 있다. 바이어스 전압의 소정의 편차는 대기 전류의 편차로 변형된다.

Description

바이어스 발생기의 아이 디 디 큐(IDDQ) 테스팅용 기능을 갖춘 회로(A circuit provided withr facilities for IDDQ-tesing of a generator)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 바이어스 발생기와 다수의 전류로를 갖춘 제1전자 회로의 도면, 제2도는 바이어스 발생기와 다수의 전류도를 갖춘 제2전자 회로의 도면.

Claims (5)

  1. 아날로그 회로 소자와 상기 회로와 상호 접속되어 여러가지 서로 독립적인 바이어싱 전압을 수신하는 다중 노드를 포함하는 대규모 직접 전자 회로에 있어서, 상기 전자 회로는 다수의 상기 바이어싱 전압을 테스팅 하는 내부 테스트 회로를 포함하고, 상기 노드중 다수에 대하여 전압 대 전류 컨버터 수단은 각 관련 바이어싱 전압을 대기 전류 신호로 전환하여 연관된 스위치상의 인에이블 신호를 선택적으로 제공하고, 다수의 상기 전압 대 전류 컨버터 수단은 합병 회로를 공급하기 위해 배열되어 연관된 노드 또는 노드들상의 하나 이상의 적당한 바이어싱 전압과 사전결정된 대기 전류를 선택적으로 생성하는 것을 특징으로 하는 대규모 직접 전자 회로.
  2. 제1항에 있어서, 상기 스위치는 상기 전압 대 전류 컨버터 전용으로 상기 전압 대 전류 컨버터중 여러개에 대한 시분할 멀티플렉스 조직의 합병시 상기 전류를 측정할 수 있는 대규모 직접 전자 회로.
  3. 제1항에 있어서, 상기 스위치는 전류의 부가시 여러개의 상기 전류를 합병하기 위해 다수의 상기 전압 대 전류 컨버터 사이에 동시에 합당되는 대규모 직접 전자 회로.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 전압 대 전류 컨버터 수단은 연관된 바이어싱 전압에 의해 제어되는 트랜지스터 및 상기 연관된 스위치와 직렬로 배열된 트랜지스터를 포함하는 대규모 직접 전자 회로.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회로는 테스팅을 위한 상기 하나 이상의 노드와 직접 상호접속된 D/A 및/또는 A/D 전환 회로를 더 포함하는 대규모 집적 전자 회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019970701794A 1995-07-17 1996-07-08 바이어스 발생기의 아이 디 디 큐(IDDQ) 테스팅용 기능을 갖춘 회로(A circuit provided with facilities for IDDQ-tesing of a generator) KR970706505A (ko)

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EP95201964 1995-07-17
EP95201964.4 1995-07-17
PCT/IB1996/000657 WO1997004326A1 (en) 1995-07-17 1996-07-08 A circuit provided with facilities for iddq-testing of a bias generator

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WO (1) WO1997004326A1 (ko)

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TW280869B (en) 1996-07-11
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