KR970701865A - 파형분석을 위한 방법 및 장치(method and apparatus for analyzing a waveform) - Google Patents

파형분석을 위한 방법 및 장치(method and apparatus for analyzing a waveform)

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씨.제이콥스 마크
이.반 노트위크 몬테
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로버트 이.스미스
벤쵸다인 리미티드
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Abstract

그래프(25)상에 도시된 형태의 전기적 파형(19)을 분석하는 새로운 방법은 분석될 파형(19)을 선택하는 단계, 창형태의 영역(27 또는 29)의 경계(35 또는 37)를 설정하는 단계 및 파형(19)이 영역 (27 또는 29)에 대하여 미리 정해진 위치에 있으면 신호를 발생시키는 단계를 포함한다. 예를 들면, 파형(19)이 실제로는 영역(29)내에 있지만 영역(29) 밖에 있어야 한다면 실패신호와 같은 신호가 발생된다. 상기 단계들은 파형(19)상의 제1 및 제2점(43 및 45; 41 및 47; 41 및 49; 45 및 49; 39 및 45)을 선택하는 단계 및 점들간의 경과시간을 결정하는 단계를 포함한다. 새로운 파형분석기(10)의 구조에 관한 상세한 내용도 공개된다.

Description

파형분석을 위한 방법 및 장치(METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING A WAVEFORM)
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 분석될 예시적인 파형을 도시하는 그래프.

Claims (10)

  1. 그래프상에 도시된 전기적 파형을 분석하기 위한 방법에 있어서, 분석될 파형을 선택하는 단계; 영역의 경계를 설정하는 단계; 및 파형이 영역에 대하여 미리 정해진 위치에 있으면 신호를 발생시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 파형이 영역과 일치되면 신호가 발생되는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 파형이 영역의 외부에 있으면 신호가 발생되는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 설정단계는 제1경과시간을 나타내는 그래프상의 제1점을 선택하는 단계를 포함하며, 신호발생단계는 제1경과시간과 같은 시간에 파형을 표본화하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제4항에 있어서, 제2경과시간을 나타내는 그래프상의 제2점을 선택하는 단계 및 제2경과시간과 같은 시간에 파형의 표본화를 종료하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제4항에 있어서, 제1점이 경계와 일치하는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제5항에 있어서, 제2점이 경계와 일치하는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 제4항에 있어서, 표본화단계는 파형의 진폭을 검출하는 단계 및 검출된 진폭을 기준 진폭의 미리 결정된 범위와 비교하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  9. 제1항에 있어서, 파형상의 제1점을 선택하는 단계; 파형상의 제2점을 선택하는 단계; 및 점들간의 경과시간을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  10. 제9항에 있어서, 제1점을 선택하는 단계는 제1점의 진폭을 결정하는 단계를 포함하며, 제2점을 선택하는 단계는 제2점의 진폭을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019960704869A 1994-03-23 1995-03-17 파형분석을위한방법및장치 KR100296085B1 (ko)

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