KR970028568A - 마이크로콘트롤러의 테스트 회로 및 방법 - Google Patents
마이크로콘트롤러의 테스트 회로 및 방법 Download PDFInfo
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Abstract
1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야
마이크로콘트롤러
2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제
마이크로콘트롤러의 내부 구성 요소들의 동작을 테스트할 시 복수의 포트들을 이용하여 테스트한다.
3. 발명의 해결방법의 요지
마이크로프로세의 동작을 테스트하는 회로가, 테스트전압들을 감지하여 제1테스트모드신호 및 제2테스트모드신호를 발생하는 수단과, 테스트버스 및 데이타버스와 연결되며 외부의 제1테스트명령어를 입력하여 테스트버스로 출력하고 데이타버스의 제1테스트결과데이타를 외부로 출력하는 제1포트와, 테스트버스 및 데이타버스와 연결되며 외부의 제2테스트명령어를 입력하여 테스트버스로 출력하고 데이타버스의 제2테스트결과데이타를 외부로 출력하는 제2포트와, 테스트버스 및 데이터버스와 연결되며 테스트버스로 입력되는 테스트명령어에 따라 테스트한 결과를 데이타버스에 출력하는 중앙처리장치와, 테스트버스를 통해 제1포트와 중앙처리장치 사이에 연결되며 제1테스트모드신호에 의해 스위칭되는 제1스위치와, 테스트버스를 통해 제2포트와 중앙처리장치 사이에 연결되며 제2테스트모드신호에 의해 스위칭되는 제2스위치를 구비하여, 제1테스트모드시 제1포트와 중앙처리장치의 테스트경로를 형성하고 제2포트와 중앙처리장치의 테스트 경로를 차단하며, 제2테스트모드시 제2포트와 중앙처리장치의 테스트경로를 형성하고 제1포트와 중앙처리장치의 테스트경로를 차단한다.
4. 발명의 중요한 용도
마이크로프로세서의 각 내부 구성요소들의 동작을 테스트할 시 다수의 포트들을 이용하여 테스트 동작을 수행하므로서, 특정 테스트 포트의 동작을 테스트하기 위한 별도의 메모리를 사용하지 않아도 된다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 종래의 마이크로콘트롤러에서 테스트를 위한 내부 구성을 도시하는 도면,
제2도는 본 발명에 따른 마이크로콘트롤러에서 테스트를 수행하는 내부 구성을 도시하는 도면.
Claims (3)
- 마이크로프로세의 동작을 테스트하는 회로에 있어서, 테스트전압들을 감지하여 제1테스트모드신호 및 제2테스트모드신호를 발생하는 수단과, 테스트버스 및 데이타버스와 연결되며, 외부의 제1테스트명령어를 입력하는 상기 테스트버스로 출력하는 제1포트와, 테스트버스 및 데이타버스와 연결되며, 외부의 제2데스트명령어를 입력하여 상기 테스트버스로 출력하는 제2포트와, 테스트버스 및 데이타버스와 연결되며, 상기 테스트버스로 입력되는 테스트명령어에 따라 테스트 동작을 수행하며, 테스트 결과를 명령어를 입력한 포트 이외의 다른 포트를 선택하여 출력하는 중앙처리장치와, 상기 테스트버스를 통해 상기 제1포트와 중앙처리장치 사이에 연결되며 상기 제1테스트모드신호에 의해 스위칭되는 제1스위치와, 상기 테스트버스를 통해 상기 제2포트와 중앙처리장치 사이에 연결되며 상기 제2테스트모드신호에 의해 스위칭되는 제2스위치를 구비하여, 제1테스트모드시 상기 제1포트와 중앙처리장치의 테스트경로를 형성하고 상기 제2포트와 중앙처리장치의 테스트경로를 차단하며, 제2테스트 모드시 상기 제2포트와 중앙처리장치의 테스트경로를 형성하고 상기 제1포트와 중앙처리장치의테스트경로를 차단하는 것을 특징으로 하는 마이크로콘트롤러의 테스트회로.
- 제1항에 있어서, 상기 제1테스트명령어가 제1포트의 테스트를 제외한 마이크로콘트롤러의 모든 구성의 테스트 명령어이고, 상기 제2테스트명령어가 상기 제1포트의 테스트명령어인 것을 특징으로 하는 마이크로콘트롤러의 테스트회로.
- 제1포트를 제외한 마이크로콘트롤러의 모든 구성을 테스트하기 위한 제1테스트명령어를 입력하는 제1포트 및 상기 제1포트의 테스트명령어인 제2테스트명령어를 입력하는 제2포트가 각각이 테스트경로를 통해 중앙처리장치와 연결되며, 상기 중앙처리장치가 입력되는 테스트명령에 따라 테스트한 결과를 출력하는 마이크로콘트롤러의 테스트 방법에 있어서, 테스트전압의 레벨을 감지하여 테스트모드를 감지하는 과정과, 상기 감지과정에서 제1테스트모드일 시 상기 제1테스트경로를 활성화하며, 상기 제1포트가 상기 제1테스트명령어를 제1테스트경로를 통해 전달하고 상기 중앙처리장치가 상기 제1테스트명령어에 따라 해당하는 구성의 동작을 테스트하며, 테스트 결과를 상기 제1포트를 제외한 다른 포트로 출력하는 과정과, 상기 감지과정에서 제2테스트모드일시 상기 제2테스트경로를 활성화하며, 상기 제2포트가 상기 제2테스트명령어를 제1테스트경로를 통해 전달하고 상기 중앙처리장치가 상기 제1포트의 동작을 테스트하며, 테스트 결과를 상기 제2포트를 제외한 다른 포트로 출력하는 과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 마이크로콘트롤러의 테스트 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950039607A KR0177778B1 (ko) | 1995-11-03 | 1995-11-03 | 마이크로 콘트롤러의 테스트 회로 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019950039607A KR0177778B1 (ko) | 1995-11-03 | 1995-11-03 | 마이크로 콘트롤러의 테스트 회로 및 방법 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970028568A true KR970028568A (ko) | 1997-06-24 |
| KR0177778B1 KR0177778B1 (ko) | 1999-04-01 |
Family
ID=19432897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019950039607A KR0177778B1 (ko) | 1995-11-03 | 1995-11-03 | 마이크로 콘트롤러의 테스트 회로 및 방법 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0177778B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10693506B2 (en) | 2015-12-10 | 2020-06-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electronic device comprising antenna |
-
1995
- 1995-11-03 KR KR1019950039607A patent/KR0177778B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10693506B2 (en) | 2015-12-10 | 2020-06-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Electronic device comprising antenna |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR0177778B1 (ko) | 1999-04-01 |
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