KR970004071A - 접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법 - Google Patents
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Abstract
접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법에 관하여 개시한다. 본 발명에 의한 반도체장치의 특징은 활성 영역과 필드 산화막의 경계 근방에서 저농도의 제1확산 영역을 사이에 두고, 고농도의 제2확산 영역이 채널 정지 불순물 영역과 분리되어 있는 것이다. 따라서, 본 발명의 반도체 장치에서 접합의 항복 전압이 감소하거나 또는 누설 전류가 증가하는 것을 피하고, 반도체 장치의 신뢰성을 향상시키는 장점도 있다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 반도체 장치를 보여주는 단면도이다, 제3A도 내지 제3D도는 본 발명에 의한 반도체장치의 제조방법을 공정 순서대로 보여주는 단면도들이다.
Claims (4)
- 반도체 기판; 상기 반도체 기판 상에 형성되어 활성 영역을 한정하는 필드 산화막; 상기 필드 산화막 아래의 상기 반도체 기판에 형성된 채널 정지 불순물 영역; 상기 활성 영역에 형성된 제1농도의 불순물을 포함하는 제1확산 영역; 및 상기 활성 영역과 상기 필드 산화막 경계 근방에서 상기 제1확산 영역을 사이에 두고 상기 채널 정지 불순물 영역과 분리되고, 제1농도보다 더 큰 제2농도의 불순물을 포함하는 제2확산 영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 제1확산 영역 및 상기 제2확산 영역은 각각 인(P) 및 비소(As)를 불순물로 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
- 반도체 기판 상에 활성 영역을 한정하는 필드 산화막을 형성하는 단계; 상기 필드 산화막 아래의 반도체기판에 채널 정지 불순물 영역을 형성하는 단계; 상기 활성 영역에 게이트 절연막을 형성하는 단계; 상기 게이트 절연막 위에 게이트 전극을 형성하는 단계; 상기 필드 산화막 및 상기 게이트 전극을 마스크로 이용하여 상기 활성 영역에 제1농도로 불순물을 이온 주입하는 단계; 상기 게이트 전극의 측벽에 스페이서를 형성하는 단계; 사진 묘화 공정을 통하여 상기 활성 영역보다 더 좁은 영역에 상기 제1농도보다 더 큰 제2농도로 불순물을 이온 주입하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
- 제3항에 있어서, 상기 채널 정지 불순물 영역은 마스크 없이 상기 반도체 기판의 전면에 이온 주입하여 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
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KR1019950019024A KR970004071A (ko) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법 |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR970004071A true KR970004071A (ko) | 1997-01-29 |
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Family Applications (1)
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KR1019950019024A KR970004071A (ko) | 1995-06-30 | 1995-06-30 | 접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR970004071A (ko) |
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1995
- 1995-06-30 KR KR1019950019024A patent/KR970004071A/ko not_active Application Discontinuation
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