KR970004071A - 접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법 - Google Patents

접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법 Download PDF

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KR970004071A
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노병혁
김기남
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김광호
삼성전자 주식회사
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Abstract

접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법에 관하여 개시한다. 본 발명에 의한 반도체장치의 특징은 활성 영역과 필드 산화막의 경계 근방에서 저농도의 제1확산 영역을 사이에 두고, 고농도의 제2확산 영역이 채널 정지 불순물 영역과 분리되어 있는 것이다. 따라서, 본 발명의 반도체 장치에서 접합의 항복 전압이 감소하거나 또는 누설 전류가 증가하는 것을 피하고, 반도체 장치의 신뢰성을 향상시키는 장점도 있다.

Description

접합의 전기적 특성을 향상시킨 반도체 장치 및 그 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명에 의한 반도체 장치를 보여주는 단면도이다, 제3A도 내지 제3D도는 본 발명에 의한 반도체장치의 제조방법을 공정 순서대로 보여주는 단면도들이다.

Claims (4)

  1. 반도체 기판; 상기 반도체 기판 상에 형성되어 활성 영역을 한정하는 필드 산화막; 상기 필드 산화막 아래의 상기 반도체 기판에 형성된 채널 정지 불순물 영역; 상기 활성 영역에 형성된 제1농도의 불순물을 포함하는 제1확산 영역; 및 상기 활성 영역과 상기 필드 산화막 경계 근방에서 상기 제1확산 영역을 사이에 두고 상기 채널 정지 불순물 영역과 분리되고, 제1농도보다 더 큰 제2농도의 불순물을 포함하는 제2확산 영역을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1확산 영역 및 상기 제2확산 영역은 각각 인(P) 및 비소(As)를 불순물로 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치.
  3. 반도체 기판 상에 활성 영역을 한정하는 필드 산화막을 형성하는 단계; 상기 필드 산화막 아래의 반도체기판에 채널 정지 불순물 영역을 형성하는 단계; 상기 활성 영역에 게이트 절연막을 형성하는 단계; 상기 게이트 절연막 위에 게이트 전극을 형성하는 단계; 상기 필드 산화막 및 상기 게이트 전극을 마스크로 이용하여 상기 활성 영역에 제1농도로 불순물을 이온 주입하는 단계; 상기 게이트 전극의 측벽에 스페이서를 형성하는 단계; 사진 묘화 공정을 통하여 상기 활성 영역보다 더 좁은 영역에 상기 제1농도보다 더 큰 제2농도로 불순물을 이온 주입하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 채널 정지 불순물 영역은 마스크 없이 상기 반도체 기판의 전면에 이온 주입하여 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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