KR960036522A - 광로조절장치의 제조방법 - Google Patents

광로조절장치의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR960036522A
KR960036522A KR1019950005513A KR19950005513A KR960036522A KR 960036522 A KR960036522 A KR 960036522A KR 1019950005513 A KR1019950005513 A KR 1019950005513A KR 19950005513 A KR19950005513 A KR 19950005513A KR 960036522 A KR960036522 A KR 960036522A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
manufacturing
pattern
optical path
mask
present
Prior art date
Application number
KR1019950005513A
Other languages
English (en)
Other versions
KR0150546B1 (ko
Inventor
김준모
Original Assignee
배순훈
대우전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 배순훈, 대우전자 주식회사 filed Critical 배순훈
Priority to KR1019950005513A priority Critical patent/KR0150546B1/ko
Publication of KR960036522A publication Critical patent/KR960036522A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0150546B1 publication Critical patent/KR0150546B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/0816Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
    • G02B26/0825Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a flexible sheet or membrane, e.g. for varying the focus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67063Apparatus for fluid treatment for etching
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00Details of colour television systems
    • H04N9/12Picture reproducers
    • H04N9/31Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
    • H04N9/3141Constructional details thereof

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

본 발명은 광로조절장치 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 투사형 화상표시장치에 채용되는 광로조절장치로서의 액츄에이티드 미러 어레이(Actuated Mirror Array)의 제조를 위해 현재 사용중인 마스크 콘택트 얼라이너(Mask Contact Aligner)의 개선없이 오정렬에 의한 식각 손실을 최소화시키는 방법에 관한 것이며, 본 발명에 따른 광로조절장치의 제조방법은 광로조절장치의 제조공정중에 멤브레인(27), 신호전극(31), 변형부(33) 및 반사막(35)이 차례로 적층되는 다층의 박막을 형성한 후, 콘택트 마스크 얼라이너를 사용하여 통상의 포토마스킹 방법으로 감광막 패턴 공정을 함에 있어서, 실제 얻고자하는 패턴의 크기보다 작은 마스크(40)를 사용하여 노광을 준비하는 제1공정과, 제1공정후 노광시 실제 얻고자하는 패턴보다 작게 감광막(30)을 패턴하는 제2공정과, 제2공정후 상기 패턴된 감광막을 열처리하여 유동성을 증가시켜서 실제 얻고자하는 패턴의 크기를 갖도록 플로우(flow)시키는 제3공정 및, 상기 제3공정후 식각 및 감광막을 제거하는 제4공정을 함유하여 이루어진 것을 특징으로 하여 기존에 사용중인 장비의 개선없이 오정렬에 의한 식각 손실을 최소화하여 공정시간을 단축하고 비용을 절감하므로 본 발명의 제조법에 의해 제조되는 제품의 수율을 향상시키는 효과가 있다.

Description

광로조절장치의 제조방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도(A)~(D)는 본 발명에 따른 광로조절장치의 제조 방법을 설명하기 위한 공정을 나타내는 측단면도이다.

Claims (1)

  1. 광로조절장치의 제조공정중 멤브레인, 신호전극, 변형부 및 반사막이 차례로 적층되는 다층의 박막을 형성한 후, 콘택트 마스크 얼라이너(Contact Mask Aligner)를 사용하여 통상의 포토마스킹 방법으로 감광막 패턴 공정을 함에 있어서, 실제 얻고자하는 패턴의 크기보다 작은 마스크(40)를 사용하여 노광을 준비하는 제1공정과, 제1공정후 노광시 실제 얻고자하는 패턴보다 작게 감광막(30)을 패턴하는 제2공정과, 제2공정후 상기 패턴된 감광막을 열처리하여 유동성을 증가시켜서 실제 얻고자하는 패턴의 크기를 갖도록 플로우(flow)시키는 제3공정 및, 상기 제3공정후 식각 및 감광막을 제거하는 제4공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 광로조절장치의 제조방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950005513A 1995-03-17 1995-03-17 광로조절장치의 제조방법 KR0150546B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950005513A KR0150546B1 (ko) 1995-03-17 1995-03-17 광로조절장치의 제조방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950005513A KR0150546B1 (ko) 1995-03-17 1995-03-17 광로조절장치의 제조방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960036522A true KR960036522A (ko) 1996-10-28
KR0150546B1 KR0150546B1 (ko) 1998-10-15

Family

ID=19409933

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950005513A KR0150546B1 (ko) 1995-03-17 1995-03-17 광로조절장치의 제조방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0150546B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR0150546B1 (ko) 1998-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW554411B (en) Exposure apparatus
JP4613364B2 (ja) レジストパタン形成方法
US20080304034A1 (en) Dose control for optical maskless lithography
KR960036522A (ko) 광로조절장치의 제조방법
US5362583A (en) Reticle mask exposure method comprising blank to remove incomplete circuits
US6638664B2 (en) Optical mask correction method
KR100529619B1 (ko) 반도체 소자의 마스크 및 그 패턴 형성 방법
JP2000173979A (ja) エッチングマスク及び微細パターンの形成方法
KR100522094B1 (ko) 반도체 장치의 패턴형성방법
KR0128833B1 (ko) 반도체 소자의 미세패턴 제조방법
JP3027370B2 (ja) ホトマスクの製造方法
JP2002164280A (ja) 露光方法
KR970016794A (ko) 하프톤 위상 반전 마스크의 제조 방법
KR100220940B1 (ko) 반도체 소자의 미세패턴 제조방법
KR100198599B1 (ko) 반도체 소자의 정렬 및 노광방법
JP2682430B2 (ja) 半導体装置の製造方法
KR960011465B1 (ko) 반도체 제조용 위상반전 마스크 제조방법
KR100257707B1 (en) Farextra-violetphotoresistmaterialandfinepatternformingmethodusingthesame
KR950030258A (ko) 포토마스크 제조방법
KR970051932A (ko) 포토 리소그래피(Photo Rithography) 장치
KR960005809A (ko) 반도체 소자의 패턴 형성방법
KR970018536A (ko) 원통형 캐패시터를 형성하는 반도체기억장치의 제조방법
JPH07130603A (ja) 半導体装置の製造方法
KR970022470A (ko) 광로 조절 장치의 제조 방법
KR960002507A (ko) 마스크 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20040528

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee