KR960024415A - 큐에프피(qfp) 및 에스오아이씨(soic) 겸용 테스트 소켓 - Google Patents

큐에프피(qfp) 및 에스오아이씨(soic) 겸용 테스트 소켓 Download PDF

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KR960024415A
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Abstract

본 발명은 디바이스(DEVICE)를 테스트(TEST)하기 위한 소켓(SOCKET)에 관한 것으로, 장방형의 소켓 하우징(21)의 내측 가장자리에 큐에프피 디바이스(D1) 및 에스오아이씨 디바이스(D2)의 리드(L1)(L2)가 접촉되는 양측에 리드 접촉부(22a)(22b)를 갖는 수개의 컨택트 핀(22)을 포함하여 구성하고, 상기 각 컨택트 핀(22)의 리드 접촉부(22a)(22b)에 의하여 이루어지는 사각 모서리 부위에 큐에프피 디바이스(D1) 및 에스오아이씨 디바이스(D2)를 안내하기 위한 안내부(23)(24)를 각각 형성하여, 하나의 소켓을 이용하여, 큐에프피(QFP;Quad Flat Rackage) 및 에스오아이씨(SOIC;Small Outline IC) 디바이스를 선택적으로 테스트하도록 한 것이다.

Description

큐에프피(QFP) 및 에스오아이씨(SOIC) 겸용 테스트 소켓
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명에 의한 큐에프피 및 에스오아이씨 겸용 테스트 소켓의 사시도, 제7도는 본 발명에 의한 큐에프피 및 에스오아이씨 겸용 테스트 소켓의 요부 구성을 보인 평면도, 제8도는 본 발명에 의한 큐에프피 및 에스오아이씨 겸용 테스트 소켓을 구성하는 컨택트 핀의 측면도.

Claims (3)

  1. 큐에프피 디바이스 및 에스오아이씨 디바이스의 리드가 접촉되는 양측에 리드 접촉부를 갖는 수개의 컨택트 핀을 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 큐에프피 및 에스오아이씨 겸용 테스트 소켓.
  2. 제1항에 있어서, 서로 대향되는 컨택트 핀의 내측단부에 2열로 에스오아이씨 디바이스의 리드가 접촉되는 리드 접촉부가 각각 형성된 것을 특징으로 하는 큐에프피 및 에스오아이씨 겸용 테스트 소켓.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 각 컨택트 핀의 리드 접촉부에 의하여 이루어지는 사각 모서리 부위에 큐에프피 디바이스 및 에스오아이씨 디바이스를 안내하기 위한 안내부가 각각 형성된 것을 특징으로 하는 큐에프피 및 에스오아이씨 겸용 테스트 소켓.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940035678A 1994-12-21 1994-12-21 큐에프티 및 에스오아이씨 디바이스 겸용 테스트 소켓 KR0152903B1 (ko)

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