KR950703164A - 극성화 빔 스플리터와 이를 사용하는 마그네토-광학적 판독 디바이스(Polarizing beam splitter and magneto-optic reading device using the same) - Google Patents
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Abstract
광학적 극성화 빔 스플리터는 보상 적층(11-13)에 인접한 극성화적층(8-10)을 포함하는 박 층(8-13)들의 적층을 가진다. 극성화 적층은 제1굴절율(nw)과 제2굴절율(nh)을 교번적으로 가지는 다수의 연속층을 포함한다. 보상 적층은 n3<n2<n1관계에 따라 굴절율(n1, n2, n3)을 각각 가지는 1/4과장 두께의 직렬의 세 연속층을 포함한다. 보상 적층은 빔 스플리터로 하여금 전송 또는 반사된 빔의 상호 직각인 2개의 극성 방향 사이에 최소의 위상차를 도입하도록 한다. 빔 스플리터는 이탈 또는 모아진 광 빔이 주어진 성분으로 분할되게 하는 광학적 시스템에서 사용하는데 적합하다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 제1분류의 보상 적층을 가지는 본 발명에 따른 조합된 적층의 제1실시예를 도시한 도면,
제5도는 제1분류의 보상 적층을 가지는 본 발명에 따른 조합된 적층의 제2실시예를 도시한 도면.
Claims (13)
- 박층의 극성화 적층을 구비한 기판을 가지며, 주어진 파장을 가지는 비 조준된 입사광 빔을 상호 상이한 상태의 극성으로 분할하기 위한 극성화빔 스플리터에 있어서, 상기 극성화 적층을 통과하는 광 빔에 의해 초래된 조사를 보상하기 위한 보상 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제1항에 있어서, 상기 보상 수단은 상기 극성화 적층에 인접한 박층의 보상 적층을 포함하는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제2항에 있어서, 상기 극성화 빔 스플리터는 상기 극성화 적층에 인접한 박층의 추가의 보상 적층을 포함하는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제1항, 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 극성화 적층은 제1굴절율(nw)과 제2굴절율(nh)을 교번적으로 가지는 다수의 연속층을 포함하며, nw의 값은 nh의 값보다 낮은 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 보상 적층은 n3<n2<n1의 관계에 따르는 굴절율(n1, n2, n3)을 각각 가지는 직렬의 세 연속층을 포함하는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제4항 및 제5항에 있어서, 상기 층들의 굴절율은 nw가 n3와 같고, nh가 n1및 n2중 어느 하나와 같은 관계에 따르는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제4항 및 제5항에 있어서, 상기 충들의 굴절율은 nw가 n3와 같고, nh가 n1과 같은 관계에 다르는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 선행의 항중 어느 한 항에 있어서, 극성화 적층 및 보상 적층의 각 층은 광 빔의 1/4파장과 같은 광학적 두께를 가지는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제2항, 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 보상 적층은 광 빔의 1/2 과장의 배수와 같은 광학적 두께를 가지는 하나이상의 층을 포함하는 것은 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 제4항 및 재9항에 있어서, 상기 하나이상은 층은 2개의 값(nw, nh)중 하나와 같은 굴절율을 가지는 것을 특징으로 하는 극성화 빔 스플리터.
- 선행의 항중 어느 한 항에 있어서, 극성화 적층에서의 이것의 입사각이 20°와 80° 사이의 범위에 놓이는 입사 광 빔의 부품으로서 적합한 것을 특징으로 하는 극성화빔 스플리터.
- 선행의 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 빔 스플리터는 추가의 기관을 가겨서, 상기 극성화 적층이 2개의 기관들 사이에 배열되는 것을 특징으로 하는 극성화빔 스플리터.
- 마그네토-광학적 기록 캐리어에 저장된 정보를 판독하는 마그네토-광학적 판독 디바이스에 있어서, 조사빔을 공급하는 조사 소스와, 상기 조사 소스와 상기 기록 캐리어 사이의 광빔의 경로에, 그리고 상기 조사소스에 의해 공급된 조사 빔으로부터 반사된 조사 빔을 분리하기 위하여 상기 기록 캐리어에 의해 반사된 조사빔의 경로에 배열되는 선행의 항중 어느 한 항에서 청구된 바와 같은 극성화 빔 스플리터와, 반사된 조사 빔으로부티 정보를 끌어내기 위해 상기 빔 스플리터 뒤의 반사된 조사 빔의 경로에 배열되는 검출 시스템을 포함하는 것을 특징으로 하는 마그네토-광학적 판독 디바이스.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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