KR950035098A

KR950035098A - 디서 아날로그 디지탈 변환기를 테스트하는 장치 및 방법

Info

Publication number: KR950035098A
Application number: KR1019950011101A
Authority: KR
Inventors: 로버트 노스워씨 스티븐; 아서 리치 데이비드; 더블유. 월덴 로버트
Original assignee: 에이치. 에이. 스카이스트; 에이티앤드티 코포레이션
Priority date: 1994-05-09
Filing date: 1995-05-08
Publication date: 1995-12-30
Also published as: US5530442A; TW237584B; JPH07321653A; EP0682265A1

Abstract

본 발명은 신호경로를 갖는 아날로그 디지탈 변환기(200,205), 디지탈신호 프로세서(500,515), 디지탈 디서신호 발생기(400) 및 디서신호 발생기(400)과 디지탈신호 프로세서(500,515)중의 하나를 상기 변환기내의 신호경로에 선택적으로 결합되는 신호결합소자(300)을 포함하는 장치와 M(M은 정수)비트 디지탈 디서신호 발생기(400)을 사용하여 디서 아날로그 디지탈 변환기(200,205)를 테스트하는 방법으로서, M비트 주기신호를 생성하는 스텝, 디서신호 발생기(400)에 의해 생성된 디서신호 대신에 디서변환기(200,205)의 신호경로를 따라 상기 디서변환기(200,205)에 생성된 신호를 공급하는 스텝 및 변환기(200,205)에 의해 생성된 디지탈 출력신호를 측정하는 스텝을 포함하는 테스트방법에 관한 것이다.

Description

디서 아날로그 디지탈 변환기를 테스트하는 장치 및 방법

본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음

제1도는 본 발명에 따른 디서 아날로그 디지탈 변환기를 테스트하는 장치의 1실시예를 나타내는 블럭도, 제2도는 본 발명에 따른 디서 아날로그 디지탈 변환기를 테스트하는 방법을 사용하여 생성된 주파수 스펙트럼을 나타내는 도면.

Claims

신호경로를 갖는 아날로그 디지탈 변환기(200,205), 디지탈신호 프로세서(500,515), 디지탈 디서신호 발생기(400) 및 상기 디서신호 발생기(400)과 상기 디지탈신호 프로세서(500,515)중의 하나를 상기 변환기(200,205)내의 신호경로에 선택적으로 결합하는 신호결합소자(300)을 포함하는 디서 아날로그 디지탈 변환기를 테스트하는 장치.
제1항에 있어서, 상기 디지탈신호 프로세서(500)은 양자화기(510)을 구비한 디지탈신호 프로세서를 포함하는 장치.
제2항에 있어서, 상기 디지탈신호 프로세서(500,515)는 디지탈 잡음 파형정형코더(500)을 포함하는 양자화기를 구비하는 장치.
제3항에 있어서, 상기 디지탈 잡음 파형정형 코더(500)은 시그마 델타 변조기를 포함하는 장치.
제2항에 있어서, 상기 신호결합소자(300)은 상기 디서신호 발생기(400)과 상기 디지탈신호 프로세서(500,515)을 상기 변환기(200,205)내의 신호경로에 선택적으로 결합하는 수단(300)을 포함하는 장치.
제5항에 있어서, 상기 신호결합수단(300)은 멀티플레서(300)을 포함하는 장치.
아날로그 디지탈 변환기(200,205), 디지탈 디서신호 발생기(400), 적어도 하나의 기본 스펙트럼 성분과 주기적인 주파수 스펙트럼을 갖는 신호값을 생성하고 디지탈적으로 엔코드하여 마련하는 수단(500,505,515) 및 상기 디서신호 발생기(400)과 상기 신호값 마련수단(500,505,515)중의 하나를 상기 변환기(200,205)내의 신호경로에 선택적으로 결합하는 신호결합소자(300)을 포함하는 디서 아날로그 디지탈 변환기를 테스트하는 장치.
M(M은 정수)비트 디지탈 디서신호 발생기(400)을 사용하여 디서 아날로그 디지탈 변환기(200,205)를 테스트하는 방법으로서, M비트 주기신호를 생성하는 스텝, 상기 디서신호 발생기(400)에 의해 생성된 디서신호 대신에 상기 디서변환기(200,205)의 신호경로를 따르는 지점에서 상기 디서변환기(200,205)에 생성된 신호를 공급하는 스텝 및 상기 변환기(200,205)에 의해 생성된 디지탈 출력신호를 측정하는 스텝을 포함하는 테스트방법.
제8항에 있어서, 상기 M비트 주기신호를 생성하는 스텝은 디지탈적으로 엔코드되고 잡음 파형정형된 M비트 주기신호를 생성하는 스텝을 포함하는 테스트방법.
제9항에 있어서, 생성하는 스텝은 디지탈적으로 엔코드되고 잡음 파형정형된 M비트 주기신호를 저장하는 스텝을 포함하는 테스트방법.

※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.