KR950033841A - 디램(dram) 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법 및 장치. - Google Patents

디램(dram) 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법 및 장치. Download PDF

Info

Publication number
KR950033841A
KR950033841A KR1019950003599A KR19950003599A KR950033841A KR 950033841 A KR950033841 A KR 950033841A KR 1019950003599 A KR1019950003599 A KR 1019950003599A KR 19950003599 A KR19950003599 A KR 19950003599A KR 950033841 A KR950033841 A KR 950033841A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
dram
address
cell
row
interest
Prior art date
Application number
KR1019950003599A
Other languages
English (en)
Inventor
라가바카리 파쌰
Original Assignee
알. 비. 레비
에이 티 앤드 티 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 알. 비. 레비, 에이 티 앤드 티 코포레이션 filed Critical 알. 비. 레비
Publication of KR950033841A publication Critical patent/KR950033841A/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/408Address circuits

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)

Abstract

DRAM 소자(10)의 복수의 뱅크(320~327)를 포함하는 메모리 시스템(30)은 메모리 제어기(34)에 의해 제어된다. 이 메모리 제어기는 DRAM 소지의 존재 및 집적도를 파워-업을 토대로 판단할뿐 아니라, 통상의 동작동안 그들의 어드레스 지정 동작을 제어한다. 메모리 제어기는 DRAM 소자에 완전한 행 및 열 어드레스를 제공함으로써 각 뱅크내의 DRAM 소자를 어드레스 지정하는데, 이 완전한 행 및 열 어드레스는 DRAM 소자가 대칭형 또는 비대칭형 일때의 상황에서 행 및 열 어드레스를 동시에 지정한다. 이로써, 이 제어기는 동일 뱅크내에서 대칭형 및 비대칭형 DRAM 소자를 모두 지원할 수 있다.

Description

디램(DRAM) 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법 및 장치.
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 제2도의 메모리 시스템에서의 DRAM 소자를 제어하기 위한 메모리 제어기의 개략 블럭도.

Claims (13)

  1. 각각 행과 열내에 배열된 복수의 메모리 셀들을 구비하며, 상기 각 셀이 행 어드레스 및 열 어드레스에 의해 유일하게 식별되는 DRAM 소자(10)의 복수의 뱅크(320∼327)들을 제어하는 벙법으로서, 한 뱅크내의 각 DRAM 소자내의 관심 세을 지정하는 인입어드레스르 복호하여 상기 관심 셀을 각각 구비하는 상기 DRAM 소자(10)의 뱅크(320∼327)를 지정하는 단계를 포함하는 방법에 있어서, 상기 인입 어드레스를 다중화하여, 상기 각DRAM 소자가 동수의 행 열을 지날때에는 관심 셀을 포함하는 지정된 뱅크내의 각 DRAM 소자내의 행을 지정하는 동시에, 상기 DRAM소자가 지닌 행과 열의 수가 서로 다른 경우에는 관심 행의 셀을 포함하는 행을 지정하는, 완전한 행 어드레스를 발생시키는 단계와; 상기 인입 어드레스를 다중화하여, 상기 각 DRAM 소자가 동수의 행 및 열을 지날때에는 관심 셀을 포함하는 지정된 뱅크내의 각 DRAM 소자의 열을 지정하는 동시에, 상기 DRAM 소자가 지닌 행과 열의 수가 서로 다른 경우에는 관심 행의 셀을 포함하는 행을 지정하는, 완전한 행 어드세스를 발생시키는 단계와; 상기 완전한 행 및 열 어드세슬 상기 지정된 뱅크내의 각 DRAM 소자에 순차적으로 인가하는 단계와; 상기 DRAM 소자내의 열들의 수에 따라 각 DRAM 소자에 필요한 만큼의 완전한 행 어드레스를 복호하여 관심 셀을 포함하는 행을 선택하는 단계; 및 상기 DRAM 소자 내의 열들의 수에 따라 각 DRAM 소자에 필요한 만큼의 완전한 열 열 어드레스를복호하여 관심 셀을 포함하는 행을 선택하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 인입 어드레스를 다중화 하여 완전한 행 어드래스를 발생시키는 단계는, 상기 인입 어드레스를 다중화 하여 상기 DRAM 소자가 비대칭형 일때의 조건에 대해 상기 각 DRAM 소자내의 관심 셀을 포함하는 행을 지정하는 행 어드레스를 설정하는 단계; 및 최상위 비트와 최하위 비트들을 상호 교환함으로써 행어드레스를 치환하여 완전한 행 어드레스를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수이 뱅크를 제어하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 인입 어드레스를 다중화하여 완전한 열 어드레스를발생시키는 단계는, 상기 인입 어드레스를 다중화 하여 DRAM 소자가 대칭형 일때의 조건에 대하여 관심 셀을 포함하는 열을 지정하는 열 어드레스를 생성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 각 뱅크(320∼327)내의 상기 DRAM 소자(10)들의 존재를 판단하는 단계; 및 각 뱅크내의 각기 DRAM 소자들의 직접도를 판단하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 각 뱅크내의 DRAM 소자들의 존재를 판단하는 단계는, 존재 가능한 DRAM 소자(10)내에 있는 것으로 알려진 최소 하나의 셀(14)에 최소한 하나의 데이타 패턴을 기록하는 단계로서, 상기 셀은 상기 DRAM 소자가 대칭형 또는 비대칭형형인 것에 무관하게 동일한 어드레스를 갖는 단계와; 상기 하나의 셀을 판독하는 단계와; 상기 하나의 셀에 있는 내용을 이 셀에 기록된 상기 데이타 패턴과 비교하고, 이러한 비교를 나타내는 결과를 출력하는 단계; 및 상기 비교 결과에 따라 상기 DRAM 소자의 존재를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  6. 제4항에 있어서, 상기 각 뱅크내의 DRAM 소자들의 존재를 판단하는 단계는, 각 4개의 셀(14)로 각각 4개의 독립된 데이타 패턴을 기록하는 단계로서, 상기 각 셀이 존재 가능한 각 DRAM 소자(10)에 있는 것으로 알려진 것이며, 또한 상기 각 셀이 상기 DRAM 소자의 대칭성에 무관하게 동일한 어드레스를 갖는 단계와; 상기 각 셀을 판독하는 단계와; 상기 4개의 데이타 패턴중 독립된 한 데이타 패턴과 각 셀의 내용을 비교하고, 각 셀에 대해 상기 독립된 데이타 패턴이 상기 셀내에 존재하는가를 나타내는 결과를 출력하는 단계; 및 상기 비교 결과에 따라 상기 DRAM 소자의 존재를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  7. 제4항에 있어서, 상기 DRAM 소자의 집적도를 판단하는 단계는, 한 데이타 패턴을 각각 4개의 셀(14)에 기록하는 단계로 서, 상기 셀들의 어드레스들은 상기 뱅크(320∼327) 내의 DRAM 소자(10)의 집적도에 있어서의 가능한 변화에 상응한 양에 의해 구분되는 단계와; 상기 4개의 각 셀을 판독하는 단계와; 상기 셀들에 기록된 데이타 패턴과 상기 각 셀의 내용을 비교하도, 이러한 비교를 나타내는 결과를 출력하는 단계; 및 상기 각 비교 결과에 따라 DRAM 소자의 집적도를 나타내는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 각 4개의 셀(14)들은 상이한 데이타 패턴으로 기록되는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법.
  9. 행과 열들내의에 배열된 복수의 메모리 셀들을 구비하며, 상기 각 셀은 행 어드레스 및 열 어드레스메 의해 유일하게 식별되는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하기 위한 장치(34)에 있어서, 뱅크내의 각 DRAM 소자 내의 관심 셀을 지정하는 인입 어드레스를 복호하여, 각각 상기 관심 셀을 포함하는 DRAM 소자들의 뱅크를 지정하기 위한 수단(42)과; 상기 인입 어드레스를 다중화 하여 완전한 행 어드레스 및 완전한 열 어드레스를 발생시키기 위한 수단으로서, 상기 행 어드레스는 상기 각 DRAM 소자가 동수의 행 및 열들을 지닐때에는 상기 관심 셀을 포함하는 지정된 뱅크내의 각 DRAM 소자내의 행을 지정하는 동시에, 상기 DRAM 소자가 상이한 갯수의 행 및 열들을 지닐때에는 상기 관심 셀을 포함하는 행을 지정하며, 상기 열 어드레스 는상기 각 DRAM 소작가 동수의 행 및 열들을 지닐때에는 상기 관심 셀을 포함하는 지정된 뱅크내의 각 DRAM 소자내의 열을 지정하는 동시에, 상기 DRAM 소자가 상이한 갯수의 행 및 열들을 지질때에는 상기 관심 셀을 포함하는 열을 지정하는 수단(38); 및 상기 완전한 행 어드레스와 열 어드레스를 상기 지정된 뱅크내의 각 DRAM 소자에 순차적으로 인가하기 위한 수단(36)을 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM소자의 복수의 뱅크를 제어하기 위한 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 뱅크들내의 DRAM 소자들의 존재 및 집적도를 판단하기 위한 수단(44, 46)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하기 위한 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 판단 수단은, 집적도와 무관하게 모든 가능한 DRAM 소자에 대한 유효한 최소 하나의 존재 어드레스를 발생시키고, DRAM 소자의 집적도 차이에 따른 양으로 각각 서로 구분되는 복수의 크기 어드레스를 발생시키기 위한 어드레스 발생 수단(44); 및 상기 존재 및 크기 어드레스들로의 기록을 위한 최소 하나의 데이타 패턴을 발생시키고, 상기 존재 및 크기 어드레스들로부터 판독된 데이타를 비교하여, 상기 DRAM소자의 존재 및 직접도를 판정하기 위한 데이타 발생기/비교기 수단(46)을 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하기 위한 장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 어드레스 발생 수단(44)은, 최소 하나의 존재 어드레스를 선택적으로 전달하기 위한 제1멀티플렉서(56)와; 상기 제1멀티플렉서에 의해 전달된 존재 어드레스를 일시적으로 저장하기 위한 제1 버퍼(58); 상기 4개의 크기 어드레스중 하나를 선택적으로 전달하기 위한 제2멀티플렉서(60); 및 상기 제2멀피플렉서에 의해 전달된 크기 어드레스를 일시적으로 저장하기 위한 제2버퍼(62)를 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수 뱅크를 제어하기 위한 장치.
  13. 제11항에 있어서, 상기 데이타 발새기/비교기(46)는, 최소 하나의 데이타 패턴을 공급하기 위한 수단(64)과, 상기 공급 수단에 의해 공급된 데이타 패턴을 상기 크기 및 존재 어드레스를 중 하나로부터 판독된 데이타 패턴에 비교시키고, 그 비교에 따른 결과를 발생시키기 위한 비교기 수단(68)과; 상기 비교기 수단의 결과를 저장하기 위한 레지스터 수단(70); 및 상기 레지스터 수단에 의해 유지되 있는 상기 결과를 처리하기 위한 논리 수단(72)을 포함하는 것을 특징으로 하는 DRAM 소자의 복수의 뱅크를 제어하기 위한 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950003599A 1994-02-28 1995-02-24 디램(dram) 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법 및 장치. KR950033841A (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/203,209 US5386383A (en) 1994-02-28 1994-02-28 Method and apparatus for controlling dynamic random access memory devices
US203,209 1994-02-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR950033841A true KR950033841A (ko) 1995-12-26

Family

ID=22752969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950003599A KR950033841A (ko) 1994-02-28 1995-02-24 디램(dram) 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법 및 장치.

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5386383A (ko)
EP (1) EP0669621A1 (ko)
JP (1) JPH07254270A (ko)
KR (1) KR950033841A (ko)
CA (1) CA2142044A1 (ko)
IL (1) IL112737A0 (ko)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6725349B2 (en) * 1994-12-23 2004-04-20 Intel Corporation Method and apparatus for controlling of a memory subsystem installed with standard page mode memory and an extended data out memory
US5572686A (en) * 1995-06-05 1996-11-05 Apple Computer, Inc. Bus arbitration scheme with priority switching and timer
US5619471A (en) * 1995-06-06 1997-04-08 Apple Computer, Inc. Memory controller for both interleaved and non-interleaved memory
US5737572A (en) * 1995-06-06 1998-04-07 Apple Computer, Inc. Bank selection logic for memory controllers
US5555209A (en) * 1995-08-02 1996-09-10 Simple Technology, Inc. Circuit for latching data signals from DRAM memory
US5802603A (en) * 1996-02-09 1998-09-01 Intel Corporation Method and apparatus for asymmetric/symmetric DRAM detection
US6253302B1 (en) * 1996-08-29 2001-06-26 Intel Corporation Method and apparatus for supporting multiple overlapping address spaces on a shared bus
US5996042A (en) * 1996-12-16 1999-11-30 Intel Corporation Scalable, high bandwidth multicard memory system utilizing a single memory controller
KR100532369B1 (ko) * 1997-05-20 2006-01-27 삼성전자주식회사 멀티 뱅크 제어장치 및 멀티 뱅크 제어장치를 구비한 메모리 모듈
US6001662A (en) * 1997-12-02 1999-12-14 International Business Machines Corporation Method and system for providing a reusable configurable self-test controller for manufactured integrated circuits
US6282622B1 (en) * 1998-08-10 2001-08-28 Joseph Norman Morris System, method, and program for detecting and assuring DRAM arrays
JP4675442B2 (ja) * 1999-11-02 2011-04-20 富士通セミコンダクター株式会社 メモリデバイス
US6529433B2 (en) * 2001-04-03 2003-03-04 Hynix Semiconductor, Inc. Refresh mechanism in dynamic memories
US6687172B2 (en) * 2002-04-05 2004-02-03 Intel Corporation Individual memory page activity timing method and system
KR100924303B1 (ko) * 2008-02-22 2009-11-02 인하대학교 산학협력단 메모리 어드레스의 모니터링 방법 및 장치
US8959420B1 (en) * 2012-12-19 2015-02-17 Datadirect Networks, Inc. Data storage system and method for data migration between high-performance computing architectures and data storage devices using memory controller with embedded XOR capability
CN103197753A (zh) * 2013-03-25 2013-07-10 西安华芯半导体有限公司 一种darm存储器省电方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4533843A (en) * 1978-09-07 1985-08-06 Texas Instruments Incorporated High performance dynamic sense amplifier with voltage boost for row address lines
IT1153611B (it) * 1982-11-04 1987-01-14 Honeywell Inf Systems Procedimento di mappatura della memoria in sistema di elaborazione dati
US4757503A (en) * 1985-01-18 1988-07-12 The University Of Michigan Self-testing dynamic ram
JP2523586B2 (ja) * 1987-02-27 1996-08-14 株式会社日立製作所 半導体記憶装置
GB2204721B (en) * 1987-05-11 1991-10-23 Apple Computer Method and apparatus for determining available memory size
US4782487A (en) * 1987-05-15 1988-11-01 Digital Equipment Corporation Memory test method and apparatus
US5003506A (en) * 1987-06-02 1991-03-26 Anritsu Corporation Memory capacity detection apparatus and electronic applied measuring device employing the same
JPH01196647A (ja) * 1988-01-31 1989-08-08 Nec Corp 誤り訂正機能を有する記憶装置
US4980888A (en) * 1988-09-12 1990-12-25 Digital Equipment Corporation Memory testing system
JPH02146199A (ja) * 1988-11-28 1990-06-05 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置のテスト回路
EP0382360B1 (en) * 1989-02-08 1997-03-19 Texas Instruments Incorporated Event qualified testing architecture for integrated circuits
GB2228112A (en) * 1989-02-09 1990-08-15 Acer Inc Computer system and method
EP0411904A3 (en) * 1989-07-31 1992-05-27 Texas Instruments Incorporated Processor condition sensing circuits, systems and methods
US5228045A (en) * 1990-08-06 1993-07-13 Ncr Corporation Test driver for connecting a standard test port integrated circuit chip to a controlling computer
US5231605A (en) * 1991-01-31 1993-07-27 Micron Technology, Inc. DRAM compressed data test mode with expected data
US5278801A (en) * 1992-08-31 1994-01-11 Hewlett-Packard Company Flexible addressing for drams

Also Published As

Publication number Publication date
IL112737A0 (en) 1995-05-26
JPH07254270A (ja) 1995-10-03
CA2142044A1 (en) 1995-08-29
EP0669621A1 (en) 1995-08-30
US5386383A (en) 1995-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950033841A (ko) 디램(dram) 소자의 복수의 뱅크를 제어하는 방법 및 장치.
US7054178B1 (en) Datapath architecture for high area efficiency
US4809234A (en) Memory device including memories having different capacities
KR950006864A (ko) 다이나믹 ram
US5278801A (en) Flexible addressing for drams
TW330265B (en) Semiconductor apparatus
US7272070B2 (en) Memory access using multiple activated memory cell rows
US8060705B2 (en) Method and apparatus for using a variable page length in a memory
KR930005200A (ko) 메모리 모듈, 메모리 모듈의 제어방법 및 메모리 모듈을 사용하기 위한 고장비트 테이블을 설정하기 위한 방법
KR960015578A (ko) 버스트 동작중에 리프레시 동작이 가능한 반도체 기억장치
FR2787233B1 (fr) Procede pour verifier l'integrite des circuits de decodage d'une memoire
KR970051182A (ko) 반도체 기억 장치
KR940007894A (ko) 여러가지 검사패턴에 대한 병렬 검사 모드가 있는 반도체 디램(dram) 장치
KR980004964A (ko) 다중 뱅크-다중 포트 메모리 및 시스템과 그를 사용하는 방법
RU97117589A (ru) Контроллер памяти, который выполняет команды считывания и записи не в порядке простой очереди
US20010044874A1 (en) Memory system capable of supporting different memory devices and a memory device used therefor
WO2001038985B1 (en) Arrangement and method for accessing data in a virtual memory arrangement
KR890002773A (ko) 디지탈 비데오 신호의 기억 장치 및 그 방법
KR920000080A (ko) 비휘발성 메모리장치의 시그네쳐(signature)회로
TW374178B (en) A semiconductor memory device, and a data reading method and a data writing method therefor
US6477082B2 (en) Burst access memory with zero wait states
CN110164487A (zh) 一种动态随机存储器的架构
KR100267412B1 (ko) 블럭 기록 기능이 있는 반도체 메모리 장치
GB1272551A (en) Memory devices
KR20030014276A (ko) 블록 수준 기록 시 판독 방법 및 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application