KR950031823A - Ic테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구 - Google Patents
Ic테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구 Download PDFInfo
- Publication number
- KR950031823A KR950031823A KR1019950010240A KR19950010240A KR950031823A KR 950031823 A KR950031823 A KR 950031823A KR 1019950010240 A KR1019950010240 A KR 1019950010240A KR 19950010240 A KR19950010240 A KR 19950010240A KR 950031823 A KR950031823 A KR 950031823A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- arm
- units
- tip
- storage
- Prior art date
Links
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 title description 3
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 6
- 239000012536 storage buffer Substances 0.000 claims abstract 3
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims 2
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Attitude Control For Articles On Conveyors (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
본 발명은 디바이스 반송 기구로서, 적은 스페이스에서 염가로 간단한 기구를 이용하여, 디바이스의 테스트 타임에 대응하여 소크 타임을 수시로 변경할 수 있는 기구의 제공을 목적으로 한다. 이를 위한 구성으로서, 원반형의 회전 테이블(12)상에 n개 단위로 디바이스(71)를 수납하는 포켓(18)을 복수개 설치한 무한 궤도의 회전 테이블(12)을 설치하고, 적어도 8개의 아암을 배치하여, 각 아암의 선단부에 n개 단위로 디바이스(71)를 흡착하는 흡착부(15)가 설치된 콘택트 아암(14)을 구비한다. 더욱이, 복수개의 아암을 배치하여 각 아암의 선단부에 n개 단위로 디바이스(71)를 수납하는 포켓(13)을 설치하여 반송하는 회전 수납 아암(16)을 설치해도 좋다. 또는, 아암의 선단부에 n개 단위로 디바이스(71)를 수납하는 포켓(18)을 설치하여, 수납 디바이스를 이동후에 수납 버퍼부(50)로 반송시키는 왕복 수납 아암(216)을 설치해도 좋다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 3개의 회전 무한 궤도 아암에 의한 제1 IC반송 기구의 구성도, 제2도는 본 발명의 3개의 회전 무한 궤도 아암에 의한 제2 IC반송 기구의 구성도, 제3도는본 발명의 2개의 회전 무한 궤도 아암과 1개의 왕복 수납아암에 의한 제3 IC반송 기구의 구성도, 제4도는 본 발명의 공급 y아암에 2개의 흡착부(45a)(45b)를 설치한 경우의 구조도, 제5도는 본 발명의 공급 y아암에 2개의 흡착부(45a)(45b)를 설치하여 회전 테이블측에도 대응하는 포켓을 설치한 경우의 구조도.
Claims (4)
- 피반송 디바이스(71)를 공급하는공급 버퍼부(40)에서 n개 단위로 디바이스(71)를 수취하는 IC핸들러에 있어서, 공급 버퍼부(40)로부터 디바이스(71)를 수취하기 위하여, 원반형의 회전 테이블(12)에 n개 단위로 디바이스(71)를 수납하는 포켓(13)을 복수 설치하여, 디바이스(71)를 콘택트 아암(14)으로 반송시키는 회전 테이블(12)을 설치하고, 상기 회전 테이블(12)로부터 디바이스(71)를 수취하기 위하여, 적어도 3개의 아암을 배치하고, 각 아암의 선단부에 n개 단위로 디바이스(71)를 흡착하는 흡착부(15)를 구비한 콘택트 아암(14)을 설치한 것을 특징으로 하는 IC테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구.
- 제1항에 있어서, 사이 회전 제어 수단은 1포켓(18)각도 단위, 또는 m포켓(13)각도 단위로 정회전 또는 역회전 이동하는 것을 특징으로 하는 IC테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 콘택트 아암(14)으로부터 디바이스(71)를 수취하기 위하여, 복수개의 아암을 배치하여 각 아암의 선단부에 n개 단위로 디바이스(71)를 수납하는 포켓(13)을 설치하고, 동시에 다른 디바이스(71)를 수납 버퍼부(50)로 반송시키는 회전 수납 아암(16)을 설치한 것을 특징으로 하는 IC테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 콘택트 아암(14)으로부터 디바이스(71)를 수취하기 위하여, 아암의 선단부에 n개 단위로 디바이스(71)를 수취하는 포켓(13)을 설치하고, 이동후에 디바이스(71)를 수납 버퍼부(50)로 반송시키는 왕복 수납 아암(216)을 설치한 것을 특징으로 하는 IC테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP94-138085 | 1994-05-27 | ||
JP13808594A JP3563108B2 (ja) | 1994-05-27 | 1994-05-27 | Icテストハンドラのデバイス搬送機構 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950031823A true KR950031823A (ko) | 1995-12-20 |
KR0153365B1 KR0153365B1 (ko) | 1999-02-18 |
Family
ID=15213609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019950010240A KR0153365B1 (ko) | 1994-05-27 | 1995-04-28 | Ic 테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5617945A (ko) |
JP (1) | JP3563108B2 (ko) |
KR (1) | KR0153365B1 (ko) |
DE (1) | DE19519454C2 (ko) |
TW (1) | TW323335B (ko) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6019564A (en) * | 1995-10-27 | 2000-02-01 | Advantest Corporation | Semiconductor device transporting and handling apparatus |
DE19645038C1 (de) * | 1996-10-31 | 1998-07-02 | Siemens Ag | Bauteil-Testvorrichtung |
US5730048A (en) * | 1997-01-06 | 1998-03-24 | Averill; Michael J. | System for the printing of small flat objects using direct rotary printing apparatus |
JPH10329944A (ja) * | 1997-05-28 | 1998-12-15 | Advantest Corp | 直線可動装置 |
AT406025B (de) * | 1997-07-22 | 2000-01-25 | M & R Automatisierung Von Indu | Mess- und sortieranlagen zum messen und sortieren von widerstandskörper sowie ein verfahren |
US6593761B1 (en) * | 1997-11-28 | 2003-07-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Test handler for semiconductor device |
EP1516520B1 (en) * | 2002-06-21 | 2005-10-26 | Icos Vision Systems N.V. | Device for transferring electronic components from an inclined supply track to another element |
JP4647197B2 (ja) * | 2003-09-17 | 2011-03-09 | 東京エレクトロン株式会社 | 被処理体の搬送方法及びコンピュータ読取可能な記憶媒体 |
US6967475B2 (en) * | 2004-01-22 | 2005-11-22 | Asm Assembly Automation Ltd. | Device transfer mechanism for a test handler |
KR100723503B1 (ko) * | 2005-09-13 | 2007-05-30 | 삼성전자주식회사 | 회전형 모듈 탑재부를 구비하는 메모리 모듈의 테스트시스템 |
KR100714106B1 (ko) * | 2005-12-15 | 2007-05-02 | (주)테크윙 | 테스트핸들러 및 테스트핸들러의 작동방법 |
JP4832323B2 (ja) * | 2007-01-30 | 2011-12-07 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP5120017B2 (ja) * | 2007-05-15 | 2013-01-16 | 東京エレクトロン株式会社 | プローブ装置 |
CN101960311B (zh) * | 2008-02-29 | 2014-04-16 | 爱科来株式会社 | 分析装置用输送装置 |
JP2009290162A (ja) * | 2008-06-02 | 2009-12-10 | Ueno Seiki Kk | 半導体素子製造装置 |
EP2148211A1 (en) * | 2008-07-24 | 2010-01-27 | DEK International GmbH | Apparatus and method for transferring electronic devices to and from a test position |
WO2010137072A1 (ja) * | 2009-05-27 | 2010-12-02 | 上野精機株式会社 | 分類装置 |
JP5391394B2 (ja) * | 2009-12-14 | 2014-01-15 | ハイメカ株式会社 | 電子部品の分類装置 |
JP5413431B2 (ja) * | 2011-09-20 | 2014-02-12 | Tdk株式会社 | 電子部品の検査装置、測定装置、包装装置およびシステム |
US20130200915A1 (en) * | 2012-02-06 | 2013-08-08 | Peter G. Panagas | Test System with Test Trays and Automated Test Tray Handling |
TWI475631B (zh) * | 2012-10-11 | 2015-03-01 | Chroma Ate Inc | A semiconductor component test system with a rotary test arm |
CN104254758B (zh) * | 2013-01-30 | 2016-07-06 | 日锻汽门株式会社 | 工件的检查设备 |
JP2014236185A (ja) * | 2013-06-05 | 2014-12-15 | 株式会社エヌ・ピー・シー | 太陽電池セルの移載装置及び移載方法 |
KR101650504B1 (ko) * | 2013-07-11 | 2016-08-23 | 주식회사 엘지화학 | 배터리 팩용 품질 검사 장치 |
JP6372911B2 (ja) * | 2014-04-16 | 2018-08-15 | 名古屋電機工業株式会社 | Icハンドラの電子部品姿勢修正装置及び電子部品姿勢修正方法 |
CN104003192B (zh) * | 2014-06-06 | 2016-04-06 | 东华大学 | 用于负极片自动化生产线的银网输送取放方法及装置 |
JP6517324B2 (ja) | 2015-08-03 | 2019-05-22 | 日鍛バルブ株式会社 | エンジンバルブの軸接部の探傷検査方法および装置 |
KR102536180B1 (ko) * | 2018-11-13 | 2023-05-24 | 세메스 주식회사 | 테스트 챔버의 내부 온도 측정 장치 및 이를 이용하여 테스트 챔버의 내부 온도를 교정하는 방법 |
JP7007677B1 (ja) * | 2021-03-11 | 2022-02-10 | 上野精機株式会社 | 電子部品検査装置 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3563170A (en) * | 1968-04-16 | 1971-02-16 | Reynolds Metals Co | Machine for marking the exterior cylindrical surfaces of cans in a continous nonidexing manner |
JPS4924239B1 (ko) * | 1969-12-31 | 1974-06-21 | ||
US3712450A (en) * | 1970-12-18 | 1973-01-23 | Ball Corp | Method for handling articles |
US4752206A (en) * | 1987-04-06 | 1988-06-21 | Johnson Service Company | Take-out assembly for blow molding machine |
IT1233303B (it) * | 1989-06-07 | 1992-03-26 | Azionaria Costruzioni Acma Spa | Apparecchiatura per il convogliamento di prodotti |
DE4127341C2 (de) * | 1991-08-19 | 2000-03-09 | Leybold Ag | Vorrichtung zum selbsttätigen Gießen, Beschichten, Lackieren, Prüfen und Sortieren von Werkstücken |
DE4244640C2 (de) * | 1992-01-17 | 1998-07-02 | Sillner Kamilla | Transporteinrichtung für Bauelemente |
DE4235674C2 (de) * | 1992-10-22 | 2000-12-28 | Balzers Ag Liechtenstein | Kammer für den Transport von Werkstücken in Vakuumatmosphäre, Kammerkombination und Verfahren zum Transportieren eines Werkstückes |
JPH0664180U (ja) * | 1993-02-17 | 1994-09-09 | 株式会社アドバンテスト | Icハンドラにおける搬送装置 |
-
1994
- 1994-05-27 JP JP13808594A patent/JP3563108B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-04-28 KR KR1019950010240A patent/KR0153365B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1995-05-11 US US08/438,947 patent/US5617945A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-26 DE DE19519454A patent/DE19519454C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-28 TW TW084106644A patent/TW323335B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07315565A (ja) | 1995-12-05 |
DE19519454A1 (de) | 1995-12-07 |
JP3563108B2 (ja) | 2004-09-08 |
KR0153365B1 (ko) | 1999-02-18 |
TW323335B (ko) | 1997-12-21 |
US5617945A (en) | 1997-04-08 |
DE19519454C2 (de) | 2001-02-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR950031823A (ko) | Ic테스트 핸들러용 디바이스 반송 기구 | |
KR880014855A (ko) | 부품장착 장치 | |
KR960015840A (ko) | 기판 반송장치 | |
DE68920916T2 (de) | Elektronische Tafel und Hilfsmittel, zum Beispiel Schreibinstrumente. | |
ES2095841T3 (es) | Aparato y metodo para el proceso de imagenes. | |
DE357589T1 (de) | Traeger fuer flaschenvorformlinge. | |
ES2149064B1 (es) | Unidad de transferencia de lanzadera rotatoria. | |
ATE337180T1 (de) | Vorrichtung zum dekorieren von einzelobjekten | |
ATE241551T1 (de) | Anlage zum sortieren und überführen von glasscheiben | |
DE69201049D1 (de) | Transportvorrichtung für einen Informationsträger. | |
KR920008463A (ko) | Ic 시험장치 | |
DE3853321T2 (de) | Elektronische Einrichtung, geeignet zum Speichern geheimer Daten. | |
DE69101830T2 (de) | Handhabungsgerät zum Bewegen eines Gegenstandes in Raum, z.B. parallel mit sichselbst. | |
DE3882193T2 (de) | Verarbeitungsvorrichtung für ein tragbares Speichermedium. | |
DE50007328D1 (de) | Drehtisch | |
DE3878107D1 (de) | Transportvorrichtung fuer traeger. | |
DE3851721D1 (de) | Klebestreifen für das Festhalten von Chips darauf. | |
TR26232A (tr) | DÖNME HAREKETLI CAMASIR MAKINELERINDE KULLANILMAYA MAHSUS ILAVE GRES DEPOLAMA HAZNESI BULUNAN SüRTüN- ME DAMPERI. | |
DE59101060D1 (de) | Transportwagen zum Transport eines Operationstisches. | |
ES2041772T3 (es) | Procedimiento y dispositivo de soporte de datos para el reconocimiento de la legitimidad de chips de memoria. | |
NO903319D0 (no) | Tenninnretning, saerlig for drivladninger i rehylfrie panservaapen. | |
DE68908931T2 (de) | Wagentransportvorrichtung für Tunnelöfen. | |
DE68915633D1 (de) | Kontrolleinrichtung für das Laden und Entladen von Flüssigkeit in und von Transportbehältern. | |
DE68900951D1 (de) | Handhabungsgeraet fuer behaelter wie zum beispiel kaesten. | |
DE3688468D1 (de) | Drehbare und zurueckziehbare haltevorrichtung fuer behaelter und foerderer dafuer. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20020621 Year of fee payment: 5 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |