KR950010666A - 전전자교환기(tdx-ib)의 비에이(ba)버스 루프백 시험장치 및 방법 - Google Patents

전전자교환기(tdx-ib)의 비에이(ba)버스 루프백 시험장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

본 전전자 교환기의 BA버스 루프백 시험장치 및 방법은 B버스 입출력장치의 포트와 B버스 정합장치간을 공통케이블을 이용하여 연결함으로서 BA버스 루프백 시험시 수동적인 케이블 변경없이 자동적으로 수행하기 위한 것이다. 따라서 B버스 입출력장치의 포트변경을 위한 케이블 착탈제어가 불필요하게 되었고, 케이블 착탈로 인한 시간의 소모를 줄일 수 있다.

Description

전전자교환기(TDX-1B)의 비에이(BA)버스 루프백 시험장치 및 방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제3도는 본 발명에 따른 전전자교환기(TDX-1B)의 BA버스 루프백 시험을 위한 하드웨어 구성도.
제4도는 본 발명에 BA버스 루프백 시험방법의 처리 흐름도.

Claims (4)

  1. 신호단말장치(16)와 신호단말 버스케이블로 연결되며 B버스 입출력 장치(10)를 포함하고 있는 공통선 신호장치(17)와, 상기 공통선 신호장치(17)내의 상기 B버스 입출력장치(10)에 연결되는 B버스 정합장치(32)를 구비한 전전자 교환기의 BA버스 루프백 시험장치에 있어서, 상기 B버스 입출력장치(10)의 복수의 포트(11 내지 14)와 상기 B버스 정합장치(32)를 하나의 케이블로 상호 연결하는 공통 BA버스 루프백 시험장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기공통 BA버스 케이블(31)은 송신을 위한 선과 수신을 위한 선이 분리된 것을 특징으로 하는 BA버스 루프백 시험장치.
  3. 신호단말장치(16)와 신호단말 버스케이블로 연결되며 B버스 입출력장치(10)를 포함하고 있는 공통선 신호장치(17)와, 상기 공통선 신호장치(17)내의 B버스 입출력장치에 연결되는 B버스 정합장치(15)와, 상기 버스 입출력장치(10)의 복수의 포트(11 내지 14)와 상기 B버스 정합장치(32)를 상호 연결하는 공통 BA버스 케이블(31)을 구비한 전전자 교환기의 BA버스 루프백 시험장치에 적용되는 BA버스 루프백 시험방법에 있어서, 주메뉴에서 BA버스 루프백 시험모드가 선택되면 입출력 부분을 초기화한후, 루프시험의 반복횟수를 결정하는 제1과정(제 S32,S33단계)과; 상기 제1과정(제 S32,S33단계) 수행후, 상기 B버스 정합장치(32)에 루프를 설정하고 상기 B버스 입출력장치(10)의 최우선 순위의 포트의 송신선을 통해 데이타를 송신하고 상기 B버스 정합장치(32)의 루프를 경유하여 상기 최우선 순위의 포트의 수신선으로 데이타를 수신하며 반복횟수만큼 시험을 반복하는 제2과정(제 S34,S35단계)과; 상기 제2과정(제 S34,S35단계) 수행후, 송수신 데이타를 비교하여 에러유무를 판별하고, 판별된 결과를 출력하는 제3과정(제 S36~S40단계); 상기 제3과정(S36~S40단계) 수행후, 상기 포트를 다음 순위의 포트값으로 증가시켜 새로운 포트를 지정하는 제4과정(S41단계); 상기 제4과정(S41단계)에서 지정합 값이 상기 B버스 입출력장치(10)에 구비된 포트수를 넘지 않은 경우에 해당 포트에 대하여 제2과정에서 제4과정을 반복 수행하는 제5과정; 및 상기 제4과정에서 상기 지정된 값이 상기 포트수를 넘는 경우에는 루프백 시험을 종료하고 제6과정을 포함하여 수행하는 것을 특징으로 하는 BA버스 루프백 시험방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 제3과정(제 S36~S40단계)에서의 상기 에러유무 판별결과 장애시에는 장애의 내용을 포함하도록 한 것을 특징으로 하는 BA버스 루프백 시험방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100417372B1 (ko) * 2001-09-25 2004-02-05 주식회사 머큐리 교환기의 택시 포트 시험장치
KR20200061062A (ko) * 2018-11-23 2020-06-02 (주)쿠첸 스위치드 릴럭턴스 모터를 구동하는 구동 회로

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