KR940016951A - AlGaAs/GaAs 메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터 및 그 제조방법 - Google Patents
AlGaAs/GaAs 메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터 및 그 제조방법 Download PDFInfo
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 5
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 title claims abstract 16
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 title claims abstract 11
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims abstract 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims abstract 3
- 238000002513 implantation Methods 0.000 claims abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims 13
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 claims 3
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 claims 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
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Abstract
본 발명은 이종접합 쌍극자 트랜지스터(Hetero-junction Bipolar Transistor)에 관한 것으로, 더 구체적으로 AlGaAs/GaAs 메사(mesa) 이종접합 쌍극자트랜지스터 및 그 제조방법에 관한 것으로, n-AlGaAs에 n+GaAs가 적층된 에미터메사와 n-GaAs에 P+GaAs가 적층된 베이스메사를 갖는 이종접합 바이폴라 트랜지스터에 있어서, 베이스메사의 표면에 Al 이온의 주입에 의해 형성되는 AlGaAs 보호층(12)을 포함하는 것이다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2 도는 본 발명에 따른 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 구조를 나타낸 도면, 제 3 도의 (A) 내지 (E)는 본 발명의 제조공정 단면도.
Claims (3)
- n-AlGaAs에 n+GaAs가 적층된 에미터메사와 n-GaAs에 P+GaAs가 적층된 베이스메사를 갖는 이종접합 바이폴라 트랜지스터에 있어서, 상기 베이스메사의 표면에 Al 이온의 주입에 의해 형성되는 AlGaAs 보호층(12)을 포함하는 것을 특징으로 하는 AlGaAs/GaAs 메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터.
- 에미터메사와 베이스메사를 갖는 이종접합 쌍극자 트랜지스터를 제조하는 방법에 있어서, 반절연기판(1)상에 n+GaAs 버퍼층(2), n-GaAs층(3), P+GaAs층(4), n-AlGaAs층(5), n+GaAs층(6) 및 n+InGaAs층(7)을 순차로 형성한 후 내화금속층(8)을 형성하는 단계와, 감광막(9)을 도포한 후 패턴을 형성하고 상기 내화금속층(8), 상기 n+InGaAs층(7), 상기 n+GaAs층(6) 및, 상기 n-AlGaAs층(5)을 차례대로 식각하여 에미터메사를 형성하는 단계와, 이온주입기를 이용하여 상기 P+GaAs층(4)의 표면에 고농도로 Al 이온(10)을 주입한 후 베이스메사 및 소자 격리메사를 형성하는 단계와, 질화막(11)을 증착한 후 열처리하여 AlGaAs 보호층(12)을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 AlGaAs/GaAs 메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법.
- 제 2 항에 있어서, 상기 내화금속층(8)은 WSi인 것을 특징으로 하는 AlGaAs/GaAs 메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터의 제조방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920024459A KR950008254B1 (ko) | 1992-12-16 | 1992-12-16 | AlGaAs/GaAs메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터 및 그 제조방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019920024459A KR950008254B1 (ko) | 1992-12-16 | 1992-12-16 | AlGaAs/GaAs메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터 및 그 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR940016951A true KR940016951A (ko) | 1994-07-25 |
KR950008254B1 KR950008254B1 (ko) | 1995-07-26 |
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ID=19345740
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019920024459A KR950008254B1 (ko) | 1992-12-16 | 1992-12-16 | AlGaAs/GaAs메사 이종접합 쌍극자 트랜지스터 및 그 제조방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR950008254B1 (ko) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101856937B1 (ko) * | 2016-10-14 | 2018-06-19 | 현대자동차주식회사 | 자동차의 레인 센서 및 그 제어 방법 |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR950008254B1 (ko) | 1995-07-26 |
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