KR910020418A - 크림프 전기 접속부의 품질 측정방법 - Google Patents

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Abstract

내용 없음

Description

크림프 전기 접속부의 품질 측정방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 내용을 구체화하는 크럼프 장치의 등각도, 제2도는 본 발명 실시에서 이용된 전형적인 기능 소자를 도시한 블록 다이아그램, 제3도는 와이어상의 단말을 크림프하는 동안에 권축력(crim force)대 램 변위에 관한 그래프.

Claims (9)

  1. 대향하는 상대 왕복운동을 위해 배열되어 하나의 크림프 다이 세트(14, 18)의 맞물림짝을 각각 이동시키는 베이스(12) 및 램(14)을 갖는 압축기(10)를 포함하는 크림프 장치를 이용하여 와이어 위에 크림프된 전기 단자(20) 크림프의 품질을 측정하는 방법에 있어서, (a) 단자(20) 및 와이어(22)를 상기 크림프 장치내의 크림프 위치에 설치하는 공정과, (b) 상기 다이세트(14,18)가 와이어(22)위의 단자가 크림프 되도록 결속 및 분리 되도록, 상기 베이스(12) 및 램(14)중의 적어도 하나로 하여금 상대운동을 하게 하는 공정과, (c) 공정(b)에서의 결속, 크림프 및 분리가 진행되는 동안, 상기 다이세트(14,18)맞물림 짝에 대한 다수의 상대 위치를 위하여, 상기 다이세트(14,18)의 단자 결속위치와 상기 다이세트(14,18)에 의해 단자(20)에 적용되는 힘 사이의 양쪽 거리를 동시에 측정하여, 각각 힘 값과 위치값을 갖는 다수의 측정된 힘과 위치 데이터 소자 쌍을 한정시키는 공정과, (d)공지의 크림프 품질에 대응하는 다수의 표준 데이터 소자 쌍을 제공하는 공정과, (e) 다수의 측정된 데이터 소자 쌍중의 선정된 것들을 다수의 표준 데이터 소자 쌍중의 선택된 쌍을 관련시켜서 상기 크림프된 단자(20)의 크림프의 물질을 측정하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 공정(e)에서의 다수의 측정된 데이터 소자 쌍중의 선정된 것들을 단계(c)에서의 결속 및 크림프가 이루어지는 동안에만 한정되어 상기 다수의 데이터 소자 쌍에 대한 최대 측정된 힘의 약 35퍼센트 및 약 95퍼센트 사이의 힘 값을 갖는 상기 쌍의 제1그룹을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 관련 공정(e)은, (e1) 상기 데이터 소자 쌍의 제1그룹의 최소 제곱법을 직선(106)에일치시키는 공정과, (e2)최대 및 최소로 측정된 힘의 평균과 일치하는 힘값(F)을 갖는 상기 직선상의 포인트와 상응하는 위치(P)를 계산하는 공정과, (e3)상기 공정(e2)에서의 계산된 위(P)를 대체로 F와 같은 힘 값을 갖는 다수의 표준 데이터 소자쌍에 상응하는 데이터 소자 쌍의 위치값과 비교하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  4. 제3항에 있어서, 공정(d)에서의 다수의 표준 데이터 소자 쌍을 제공하는 공정은, (d1)공지된 양질의 단자(20) 및 적절히 탈각된 와이어(22)를 제공하며, 상기 단자 및 와이어를 크림프 장치내의 크램프 위치에 설치하는 공정과, (d2)상기 베이스(2) 및 램(14)중의 적어도 하나로 하여금, 상기 다이세트(14,18)가 결속되어 상기 와이어(22)위로 단자(20)를 크림프시키고 분리되도록, 상대 운동을 하게 하는 공정과, (d3)공정(d2)에서의 결속, 크램프 및 분리가 진행되는 동안, 상기 다이세트 맞물림 짝에 대한 다수의 상대 위치에 대하여 상기 다이세트(14,18)의 단자 결속위치와 상기 다이세트(14,18)에 의해 단자(20)에 적용되는 힘 사이의 양쪽 거리를 동시에 측정하여, 다수의 표준 힘과 위치 데이터 소자 쌍을 한정시키는 공정과, (d4) (d1), (d2) 및 (d3) 공정을 적어도 한번 반복시켜, 적어도 2세트의 표준 힘 및 위치 데이터 소자 쌍의 샘플을 한정시키는 공정과, (d5) 각각의 상기 세트로부터 한 그룹의 인접한 쌍을 선정하는 공정과, (d6) 각각의 세트에 대한 상기 쌍의 그룹들의 직선(106)에 최소 제곱법을 적용하는 공정과, (d7) 각각의 직선(106)에 대하여 상기 직선(106)에 상응하는 세트에 있어서 데이터 소자 쌍의 최소 및 최대 힘의 평균과 거의 일치하는 힘값(F)을 갖는 상기 직선상의 포인트와 상응하는 위치(P)를 계산하는 공정과, (d8)상기 샘플에 대한 위치(P)의 평균(P') 및 표준 편차를 계산하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 비교 공정(e3)은 상기 측정된 데이터 소자 쌍의 계산된 위치(P)가 상기 계산된 평균(P')과 비교시키는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  6. 제5항에 있어서, (f)만약 상기 측정된 데이터 소자 쌍의 계산된 위치(P)가 상기 계산된 평균(P')으로부터 예정된 수의 표준 편차보다 더 많아질 경우, 거부신호를 제공하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  7. 제6항에 있어서, 상기 샘플에 있어서의 데이터 소자 쌍의 세트에 대한 최대 힘 값의 평균(F') 및 표준 편차를 계산하며, 상기 공정(e3)의 비교는 상기 측정된 데이터 소자 쌍의 최대 힘을 상기 샘플의 최대힘의 계산된 평균(F')과 비교하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  8. 제7항에 있어서, 공정(f)은, 만약 상기 측정된 데이터 소자 쌍의 최대 힘이 상기 샘플의 최대 힘의 계산된 평균(F')으로부터의 표준편차의 예정된 수 보다 클 경우, 거부신호를 제공하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  9. 제8항에 있어서, (g)만약 상기 공정(f)의 거부신호가 제공되지 않을 겅우, 상기 샘플이 부가적인 세트로서 상기 공정(e)쌍의 제1그룹을 포함했던 것 같이, 상기 샘플에 대한 위치(P)의 평균(P') 및 표준편차를 재검토하는 공정을 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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