KR910001936A - 반도체 장치의 소자 분리방법 - Google Patents

반도체 장치의 소자 분리방법 Download PDF

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KR910001936A
KR910001936A KR1019890008481A KR890008481A KR910001936A KR 910001936 A KR910001936 A KR 910001936A KR 1019890008481 A KR1019890008481 A KR 1019890008481A KR 890008481 A KR890008481 A KR 890008481A KR 910001936 A KR910001936 A KR 910001936A
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polycrystalline silicon
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semiconductor device
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KR1019890008481A
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백원식
오경석
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김광호
삼성전자 주식회사
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반도체 장치의 소자 분리방법
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2 (A)-(D)도는 본 발명에 따른 반도체 장치의 제조공정도.

Claims (2)

  1. 반도체 장치의 소자 분리방법에 있어서, 제1도전형의 반도체 기판상에 패드산화막, 다결정 실리콘막 및 질화막을 순차적으로 형성한 후 상기 질화막의 소정 부분을 식각하여 개구를 형성하는 제1공정과, 상기 질화막과 노출된 다결정 실리콘막의 상부에 LTO막을 침적하는 제2공정과, 상기 LTO막을 다경정 실리콘막이 드러날때까지 에치백하여 스페이서를 형성한 후 상기 제1도전형의 불순물을 이온주입하여 이온주입영역을 형성하는 제3공정과, 상기 스페이서를 제거한 후 개구를 통하여 다결정 실리콘막을 산화시켜 필드산화막을 형성함과 동시에 채널 스토퍼를 형성하고 상기 필드산화막이외 영역의 기판을 노출시킨 후 게이트 산화막을 형성하고 상기 제1도 전형과 반대도전형인 제2도 전형의 불순물을 이온주입한 후 확산시켜 확산영역을 형성하는 제4공정으로 이루어짐을 특징으로 하는 반도체 장치의 소자 분리방법.
  2. 제1항에 있어서, LTO막의 두께에 따라 스페이서의 크기를 조절할 수 있음을 특징으로 하는 반도체 장치의 소자 분리방법.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890008481A 1989-06-20 1989-06-20 반도체 장치의 소자 분리방법 KR910001936A (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100341590B1 (ko) * 1999-06-30 2002-06-22 박종섭 동적 범위를 개선한 비교 장치

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