KR900702325A - 투명판형재 검사장치 및 방법 - Google Patents
투명판형재 검사장치 및 방법Info
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Abstract
내용 없음
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 판유리 간극검사장치를 공급한 실시예의 공정을 도시한 블록도이고, 제2도는 제1도에 도시한 검사장치를 도시한 투시도이고, 제3도는 제2도에 도시한 검사장치를 도시한 정면도이다.
Claims (23)
- 투명판형재 검사방법에 있어서, a 적어도 2개이상의 투명판형재를 겹쳐진 상태로 지지하고 판형재의 주변을 겹침고정부에서 겹치는 단계와 b. 겹친 판형재의 외측표면에 광선을 지향시키는 단계와 c.겹친 판형재의 외측표면을 미리 예정된 경로를 따라 광선을 주사하여 반사광선을 발생하는 단계와 d. 반사광선을 감지하여 투명판재를 “양호”,“불량”으로 구분하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사방법.
- 제2항에 있어서, 상기한 투명판형제가 판유리인 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사방법.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, b)단계인 광선을 발생하는 단계에서 광선이 레이저인 것을 특징으로 하는 투명판형제 검사방법.
- 제3항에 있어서, 상기한 c) 단계에서 주사거울에서 투명판형재의 횡축에 수직한 평면상에 레이저 광선이 입사되도록 하고 입사광선이 투명판형재의 한쪽단부에서 반대쪽 단부까지 횡축따라 이동하여 주사되도록 하는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사방법.
- 제1항에 있어서, 상기한 d) 단계에서 미리 예정된 허용치와 반사광선으로부터 얻어진 값을 비교하는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사방법.
- 겹쳐진 투명판형재 검사장치에 있어서, 적어도 2개이상의 투명판형재의 주변단부의 겹치게 하는 겹침고정부와, 광선을 발생하는 광원과, 투명판형재의 외측표면상의 미리 예정된 경로를 따라 광선을 주사하여 반사광선을 발생시키는 수단과, 겹쳐진 투명판형재의 표면상에서 반사된 반사광선을 감지하여 투명판 형재의 겹침상태를 “양호”,“불량”으로 식별하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, 상기한 겹침고정부에 겹쳐진 투명판형의 주변단부를 고정하기에 적합한 지지벽의 단부나 직립한 지지벽에 결합된 바닥결합면이 포함된 것을 특징으로 하는 투명판형제 검사장치.
- 제6항에 있어서, 상기한 겹침고정부가 상기한 광원에 대해 이동가능한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, 상기한 광원이 레이저광선을 발생하는 것을 특징으로 하는 투명판형제 검사장치.
- 제6항에 있어서, 투명판형재의 외측표면상에 입사되는 광선을 반사시키기 위하여 주사거울을 포함한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, 반사광선에 응답하는 신호정보를 발생시키는 위하여 렌즈와 카메라를 공급하고 겹쳐진 판형재를 “양호 ”,“불량”으로 식별하기 위하여 신호정보에 응답하는 감지수단을 공급한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, “상기한 감지수단에 다수의 카메라를 겹쳐진 판형재의 외측표면에 수평하고 횡측에 수직한 방향으로 다수설치하고, 그 카메라들은 각기 반사광선의 어느 한 부분에 응답하여 “양호”,“불량 ”으로 식별하기 위한 신호를 발행사기에 적당한 카메라인 것을 특정으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, 상기한 감지수단에, 상기한 반사광선으로부터 이미지광선을 발생하기 위한 반사스크린과 겹쳐진 투명판형재를 “양호”,“불량”으로 식별하기 위한 이미지 광선에 감응하는 카메라를 공급한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, 상기한 감지수단을 캐리지상에 장착하고, 미리 예정된 경로를 따라 광선을 주사시키기 위하여 겹침고정부에 상대운동을 하도록 한 수단을 공급한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제14항에 있어서, 겹쳐진 판형재의 횡축에 평행한 방향으로 캐리지를 이동시키기 위하여 캐리지에 서보모터를공급한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제14항에 있어서, 겹쳐진 투명판형재의 외측면에 대해 미리 예정된 각으로만 광선이 주사되도록 광원에 서보모터를 공급한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제6항에 있어서, 미리 예정된 경로로 광선을 주사시키고 명령신호를 발생하는 마이크로 프로세서를 공급한 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제17항에 있어서, 상기한 마이크로 프로세서에 다수의 카메라를 연결하고 마이크로프로세서는 제어신호를 발생하고 카메라를 투명판형재를 표현하는 신호정보를 발생시키기 위하여 상기한 반사광선과 제어신호에 응답하는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제18항에 있어서, 상기한 마이크로프로세서에 모니터를 공급하여 겹쳐진 판형재의 영상이미지를 모니터에 보여주는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 제18항에 있어서, 상기한 마이크로 프로세서에 경보기를 공급하여 투명판형재의 “불량”을 식별하는 경보음성신호를 발생하는 것을 특징으로 하는 투명판형재 검사장치.
- 투명판형재 검사장치에 있어서, 적어도 2개이상의 투명한 유리의 주변단부를 겹치게 하기에 적합한 직립한 지지벽의 주변에 겹침고정부를 결합하고 광선을 발생하는 광원과 투명판 유리의 외측표면상의 미리 예정된 경로를 따라 광선을 주사하여 반사광선을 발생시키는 수단과 반사광선을 감지하여 투명판유리의 겹침상태를 “양호 ”.“불량 ”으로 식별하는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 투명판유리 검사장치.
- 제21항에 있어서, 마이크로 프로세서, 서보제어기, 서보제어기에 연결된 서보모터를 포함하고 마이크로프로세서에 서보제어기가 연결되어 미리 예정된 주사경로를 한정하기 위한 서보모터를 제어할 수 있는 명령신호를 발생하는 서보제어기가 연결된 것을 특징으로 하는 투평판유리 검사장치.
- 제22항에 있어서, 마이크로 프로세서에 다수의 카메라를 연결하고, 마이크로 프로세서에서 카메라를 제어하는 신호를 발생하고 겹쳐진 판유리의 상태를 “양호”,“불량”으로 식별하는 신호정보를 발생하기 위한 반사광선과 마이크로 프로세서의 제어신호에 감응하는 다수의 카메라를 공급한 것을 특징으로 하는 투명판유리 검사장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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US4158507A (en) * | 1977-07-27 | 1979-06-19 | Recognition Equipment Incorporated | Laser measuring system for inspection |
US4255055A (en) * | 1979-05-11 | 1981-03-10 | Libbey-Owens-Ford Company | Surface inspection system for detecting flatness of planar sheet materials |
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US4585343A (en) * | 1983-11-04 | 1986-04-29 | Libbey-Owens-Ford Company | Apparatus and method for inspecting glass |
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