KR900007526Y1 - 슬라이드 파스너 체인들로 부터 기형의 결합 엘레멘트 들을 검사하기 위한 장치 - Google Patents

슬라이드 파스너 체인들로 부터 기형의 결합 엘레멘트 들을 검사하기 위한 장치 Download PDF

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Abstract

내용 없음.

Description

슬라이드 파스너 체인들로부터 기형의 결합 엘레멘트 들을 검사하기 위한 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 고안을 실현하는 장치의 정면도.
제2도는 본 장치에서 사용하기 위한 실제 전기 회로도.
제3도는 복수의 광섬유들이 두줄의 결합 엘레멘트에 대해 위치함을 보여주는 부분 확대 사시도.
제4도는 한쌍의 결합 엘레멘트가 마주보는 두요부와 잘못 맞춰진 상태를 나타내는 모떼기 장치의 부분 종단면도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
11 : 홀더 12 : 광원
13 : 광섬유 14 : 레버
15 : 기부 20 : 발광다이오드
21 : 광 트랜지스터 24 : 제어장치
25 : 비교기 32 : 결합 엔레멘트
40 : 모떼기장치 41 : 해머
42 : 요부
본 고안은 슬라이드 파스너 체인들로부터 기형의 결합 엘레멘트들을 검사하기 위한 장치에 관한 것이다.
불연속형 결합 엘레멘트들은 코너를 둥글게 하는 동안 기형이 되거나 불규칙하게 되기쉽다. 이것은 모떼기 장치를 통과하는 슬라이드 파스너 체인위에 장력이 일정하게 적용하지 않기 때문이다.
그런 경우에 결합 엘레멘트들은 이 장치에 있는 요부로부터 이탈하거나 또는 잘못 맞춰지려 하여 각 코너부분에서 과잉 원형이 되게 한다. 용인할 수 있는 결합 엘레멘트의 코너는 일정하게 약간의 수준으로 둥그렇게 되어야 한다.
기형의 결합 엘레멘트들을 탐지하기 위하여 어떠한 장치가 제안되어왔다. 예로 일본국특허 공개 공보 번호61-94606에는 완성된 슬라이드 파스너를 시각적으로 검사하는 장치가 개시되어있다. 이러한 종래 장치는 시각검사가 작업자의 기술과 집중 또한 그들의 피로에 의해 변화하며 때로 누락을 초래하므로 신뢰도의 견지에서 전적으로 만족할 수는 없다. 한번에 하나씩 슬라이드 파스너를 검사하는 방법은 노고와 시간의 짐을 수반한다.
전술한 종래기술의 단점을 감안해서, 본 고안은 슬라이드 파스너 체인들로부터 기형의 결합 엘레먼트들을 탐지하기 위한 장치로서 비용이 적게들고 설치가 간단하며 탐지의 신뢰도가 높은 새롭고 개선된 장치의 제공을 모색한다.
보다 구체적으로 본 고안에 따른 장치는 광섬유들과 결합된 발광장치와 수광장치의 사용에 의해 불규칙한 결합 엘레멘트들을 광학적으로 탐지하는 것이다. 본 장치는 연속하여 진행하는 슬라이드 파스너 체인들에 사용하기에 특별히 적합하다.
다른 목적과 이들들은 예증을 위해 본 고안의 우선실현을 나타낸 첨부된 도면을 참조하여 아래의 설명을 읽으면 보다 이해가 잘 될 것이다.
본 고안에따라, 슬라이드 파스너 체인들로부터 기형의 결합 엘레멘트들을 검사하기 위한 장치가 제공되는데, 이장치는 (a)홀더, (b)홀더상에 지탱되고 발광장치와 수광장치를 포함하는 적어도 한 개의 광원, (c)광원에서 뻗어나와 있고 선단부가 결합 엘레먼트들의 열과 마주보게 모떼기 코너를 따라 배열된 적어도 한 개의 광섬유, (d)광원에 연결된비교기를 구성되며, 발광장치는 광섬유를 통하여 결합 엘레멘트들의 열위로 광선을 발산하게 되어있고, 수광장치는 광섬유를 거쳐서 모떼기 코너로부터 반사된 광선을 받아들여 반사된 신호를 펄스신호로 변환하게 되어있으며, 비교기는 최종신호를 기준신호와 비교 하므로서 불규칙한 결합 엘레멘트들을 탐지하게 되어있다.
제1도에는 본 고안에 따른 장치(10)가 도시되어있다.
본 장치는 수직으로 배치된 홀더(11)와 홀더의 상측에 지지된 발광장치와 수광장치를 포함하는 광원(12)으로 구성된다.
본 고안의 목적상 유용한 발광장치는 발광 다이오드 따위를 포함하고, 적접한 수광장치는 광트랜지스터 따위를 포함한다.
두쌍의 격리된 광섬유(13), (13)는 광원(12)으로부터 아래로 뻗어있고 홀더(11)의 밑부분에서 45도로 안쪽으로 꺾여있으며 서로 마주보며 고정되어 있다. 제3도에 도시된 바와같이 짝진 광섬유(13), (13)는 그 선단부들이 결합 엘레먼트들의 둥근 모서리와 대면하게 위치해있다. 이러한 위치조정으로 서로 맞물린 두열의 결합 엘레먼트들이 동시에 검사 될 수 있게된다.
검사될 슬라이드 파스너 체인은 한쌍의 스트링거 테이프(31)와 스프링거테이프의 한종연부에 부착된두줄의 서로 맞물린 불연속 결합 엘레멘트(32)로 되어 있다. 제3도의 33은 과잉 모떼기로 인한 결합 엘레멘트 모서리이다.
각각의 광섬유(13)는 하나의 광원에 연결되어 있다. 본 실시예에는 4개의 광원(12)이 채택되었는데 제1도에는 이중 두 개만이 나타나있다.
제4도에는 모떼기 장치(40)가 마주하여 배치되어 수평으로 이동할 수 있는 두 개의 해머(41)로 구성되어 있다.
해머(41)의 대향면에는 결합 엘레멘트(32)를 모떼기 하기 위한 요부(42)가 형성되어있다. 제4도는 어느 한쌍의 맞물린 결합 엘레멘트가 요부(42)로부터 이탈하여 한모서리가 과잉 원형이 된 상태를 설명한다.
상기와 같이 광섬유(13)가 45도로 각져있도록 한 것은 요부(42)의 축선과 동일축 선상에 오기 위함이다.
제2도는 본 장치(10)에 사용하기 위한 대표적인 전기 회로를 보여준다. 광원(12)에는 발광장치로서 광섬유(13)의 연결단부와 떨어져서 반대로 위차한 발광 다이오드(20)와, 수광장치로서 절반반사경(22)을 거쳐 광섬유(13)로 부터의 광선을 받아들이도록 정열된 광 트랜지스터(21)가 설치된다. 트랜지스터(21)의 출력은 이득제어 증폭기를 통하여 제어장치(24)의 비교기(25)로 전달되며, 비교기(25)는 제어회로(26)와 연결되어있다.
비교기(25)는 결합 엘리멘트(32)의 둥근 모서리부부터 반사되어 트랜지스터(21)에 의해 변환된 광선으로부터 펄스 신호의 펄스열들을 결정하기 위해 동작된다. 계산과 표시장치는 선택적이며, 기준치와 결과치를 비교하기 위해 각각의 펄스폭을 계산하는 디지털 계산 또는, 기준치와 결과치를 비교하기위해 각 펄스가 종합되는 아나로그 계산으로부터 선택될 것이다.
유익하게도, 본 고안에 따른 장치는 반 완성된 슬라이드 파스너 체인의 검사를 가능하게 한다.
본 장치(10)는 레버(14)에 의해 동작위치와 비동작 위치사이에서 상하운동을 하기 위해 기부(15)위에 일반적으로 장착된다.
슬라이드 파스너 체인(30)의 공급 방향은 제1도에 화살표 A로 도시되었다.
작동중에, 슬라이드 파스너 체인은 결합 엘레멘트(32)의 두 맞물린 열을 동시에 검사하기 위해서 장치(10)를 연속적으로 통과하도록 되어 있다. 반사 광선의 좁은 펄스폭은 채택 가능하게 둥근 결합 엘레멘트로부터 제공되고, 반변에 넓은 펄스폭은 제3도의 33에 나타난 바와 같이 과잉 모떼기된 결합 엘레멘트로부터 반사된 광선에 의해 얻어진다. 이 반사된 광선들은 트랜지스터(21)에 의해 수신되고 전기적인 신호로 변환되며 이어서 비교기(25)로 전달된다. 여기서 최종 펄스폭은 기준치와 비교된다. 기준치 보다 넓은 펄스폭을 감지하면 비교기(25)는 기형의 결합 엘레멘트가 발생했다는 신호를 제어회로(26)로 보내고, 그후 제어회로(26)는 출력을 발생하여 소정의 기형 표시를 제공한다.
본 고안에서 광학검사는 결합 엘레벤트 열의 표면에서만 효력을 발생한다. 모떼기 장치(40)는 표면 및 이면에서 결합 엘레멘트를 둥글게 하도록 구성되었기 때문에 하나의 결합 엘레멘트가 요부(42)와 잘못 맞춰졌을때는 양쪽다 틀리게 모떼기된다.
상기 설명에는 광섬유의 개수와 위치와 발광장치와 수광장치의 종류 및 형상에 관한 특별한 제한이 없다.

Claims (4)

  1. (a) 홀더(11), (b) 상기홀더(11)에 지탱되고 발광 장치와 수광 장치를 포함하는 적어도 한 개의 광원(12). (c) 상기 광원(12)에서 뻗어나와 있고 선단부가 결합 엘레멘트(32)들의 열과 마주보기 위하여 모떼기 코너를 따라 배열된 적어도 한 개의 광섬유(13), 그리고 (d) 상기 광원에 연결된 비교기(25)로 구성되므로서, 상기 발광 장치는 상기 광섬유를 통하여 상기 결합 엘레멘트(32)들의 열 위로 광선을 발산하게 되어있고, 상기 수광 장치는 상기 광섬유(13)를 거쳐서 모떼기 코너로부터 반사된 광선을 받아들여 이 반사된 신호를 펄스 신호로 변환하게 되어 있으며, 상기 비교기는 최종 신호를 기준 신호와 비교하므로서 불규칙한 결합 엘레멘트(33)들을 탐지하게 되어있는, 슬라이드 파스너 체인들로 붙커 기형의 결합 엘레멘트들을 검사하기 위한 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 발광 장치가 발광 다이오드(20)인 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 수광 장치가 광 트랜지스터인 장치.
  4. 제1항에 있어서, 다수의 광섬유들(13)이 쌍으로 서로 마주보고 배치된 장치.
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