KR900005147B1 - 초소형 접속부용 압축 페디스틀 및 그 제조 방법 - Google Patents

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Abstract

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Description

[발명의 명칭]
초소형 접속부용 압축 페디스틀 및 그 제조 방법
[도면의 간단한 설명]
제1a도 내지 제1e도는 기판상에 아바축 페디스틀을 형성하는 여러 단계를 나타내는, 본 발명의 양호한 제조 방법을 도시한 도면이다. 제1f도는 도전성 통로에 의해 접속되는 기판상의 2개의 완성된 압축 페디스틀의 사시도이다.
제2도는 상호접속 장치에 링크되는 압축 페디스틀에 의해 대응리셉터클 내에 보유되고 이 대응 리셉터클에 의해 링크된 칩 및 칩 인터페이스 메사 어셈블리들의 다중칩 어레이의 사시도이다.
제3도는 칩을 보유 및 링크시키기 위해 압축 페디스틀를 사용하는 단일 칩 캐리어의 측단면도이다.
[발명의 상세한 설명]
[발명의 배경]
1. 관련 특허 출원 참조
본 특허 출원은 닐스 이. 패트로우(Nils E. Patrow)가 발명하여 휴우즈 에어크라프트 캄파니에 양도한 "반전 칩 캐리어" 및 "칩 인터페이스 메사" 라는 명칭의 계류중인 특허 출원에 관련된다.
2. 발명 분야
본 발명은 다수의 집적 회로상에 존재하는 마이크로 일렉트로닉 부품들의 초 조밀 초대규모 집적 및 웨이퍼 규모 합성(Ultra - Dense, Extremely Large Scale Integration and wafer scale synthesis)에 관한 것이다. 양호한 실시예의 특수 촛점은 매우 높은 신호 처리 능력 및 매우 메모리 용량을 갖고 있는 다중- 칩 VHSIC 하이브리드(hybrid)를 가능케 하는 능동(active) 마이크로일렉트로닉 회로 소자들의 평평한 직교 공간 최적화이다.
3. 배경 정보
과거 40년에 걸쳐, 전자 산업은 전자 부품의 성능 면에서 상당한 발전을 보여왔다. 열-이온(thermo-ionic) 장치로부터 고상 (solid state) 다이오드 및 트랜지스터로의 전이는 강력한 디지탈 컴퓨터를 구성하기 위해서 회로를 소형화하기 위한 열띤 노력의 제1단계였다. 제2혁신 단계는 개별 고상 장치들을 단일 하우징을 공유한 소형 단일 회로로 통합하는 것을 포함하였다. 집적 회로 출현전에, 트랜지스터와 같은 부품들은 플라스틱 케이스 내에 각각 캡슐화(encapsulate)되거나 금속 캔(can)내에 수용되었다. 이 단일 소자들은 일반적으로 회로 기판상에 장착되었고, 납땜와이어에 의해 함께 접속된 다수의 리드(lead)들을 각각 갖고 있었다. 제1세대 집적 회로는 절연 기판상에 용착된 금속 및 유전막으로 된 몇개의 교호층 상에 다수의 개별 능동 소자들을 함께 결합시켰다. 이 이전의 집적회로 (박막 하이브리드라고 칭함)는 단일체이지만 매우 강력하고 조밀하게 팩(pack)된 반도체 칩 또는 다이를 포함하는 현재 집적 회로의 전신이었다. 이 반도체 칩은 몇개의 수평층들을 수직으로 통과하는 작은 금속 상호 접속부 또는 비아(via)에 의해 함께 접속되는 다수의 박층들이 형성되는 물질의 기부 또는 기판을 포함한다.
실리콘, 게르마늄 또는 비소화 갈륨과 같은 반도체 물질은 상이한 전기적 특성을 갖고 있는 신중히 선택된 미세 영역들을 형성하기 위해서 화학적으로 변형될 수 있다. 현재, 이 별개의 영역들은 높은 정밀도로 제조되고, 각각의 영역은 100만분의 1일치 미만을 측정할 수 있다. 상이한 도전율을 나타내는 몇개의 영역들은 수학적 계산을 실행하거나 정보를 저장하는 것을 도울 수 있는 장치를 형성하기 위해서 함께 그룹화될 수 있다. 1개의 모놀리딕(monolithic) 칩의 다수의 층들중 1개의 층내의 현미경학적으로 작은 영역들의 이 그룹들은 20-30년 전의 개별적으로 팩키지된 부품들의 최신 유사물(modern analog)이다.
각각의 전자 부품 단계가 계산 속도 및 메모리 용량을 향상시켰을 때, 이 부품들의 팩키징은 더욱 더 중요하게 되었다. 반도체 물질 및 장치의 제조 또는 소형화에 관련된 문제점을 해결하는 기술적 장점은 수반되는 팩키징 문제점을 동시에 발생시킨다. 회로 부품들이 점점 더 작은 크기로 축소될수록, 각각의 부품 억세싱 문제점은 더욱 악화된다. 집적 회로가 다수의 별개의 능동 소자들이 연필 지우개 직경보다 작은 공간을 점유하도록 조밀하게 팩될 때, 작은 회로 소자의 큰 회로망과 외계(outside world) 사이의 전기 신호의 형태로 정보를 변환시킬 때 포함된 어려움들은 커지게 된다.
설계자가 단일 시스템 내에 다수의 집적 회로를 함께 접속시키고저 할때 다른 복잡한 문제가 발생된다. 연필 지우개 폭보다 짧고 2/100인치(0.05㎝)두께 미만인 반도체 칩은 전형적으로 폭이 약 4인치(10.2㎝)인 반도체 물질의 얇은 원형 웨이퍼상에 수백개가 동시에 제조된다. 모든 별도칩들을 웨이퍼 상에 결합시키기 위한 최근의 시도는 웨이퍼 규모 집적이라는 용어를 발생시켰다. 1개의 웨이퍼상에 대략 1백만개의 능동 부품들을 각각 포함하는 수십개, 수백개 또는 수천개 또는 수백만개의 강력한 별개의 칩들을 결합시킬 수 있는 전자 장치는 전자공학 분야내의 굉장한 기술적 도약을 이룩하게 되었다.
집적 회로 및 다중 집적 회로 어레이 설계 및 제조시에 당면한 가장 심각한 문제점들 중에는 집적 회로의 내부 회로로부터 외계로의 억세스 지점인 소규모 단자 또는 패드를 접속시키기 위해 가는 필라멘트 와이어를 사용한다는 해로운 결과가 있다. 이 약하고 매우 가벼운 게이지(gauge) 접속 와이어들의 직경은 전형적으로 1/1000인치(0.0025㎝)이다. 이 와이어 또는 리드들을 칩의 도전성 외부 단자에 부착시키기 위한 한가지 통상적인 기술은 열압착법(thermocompression bonding)이다. 이 처리 공정은 집적 회로 다이 상의 열 및 응력의 인가 수단을 포함한다. 본딩 엣지(bonding wedge)라고 부르는 매우 작은 엣지형 탐침 또는 공구는 현미경을 통해 관찰되어야 하고, 도전성 패드상에 본드될 와이어상에 안내된다. 패드는 통상적으로 패드를 구성하는 금속 물질을 연화시키기 위해서 가열 장치 상에 배치되는 반도체 칩 또는 다이의 주변부에 배치된다. 본딩 엣지는 네일헤드(nailhead) 또는 볼 본더(ball bonder)라고 불리워지는데, 압착 공구는 중심을 통해 패드에 와이어를 공급하는 유리 모세관으로 구성된다. 화염은 모세관의 개방 단부 외부로 돌출하는 와이어의 단부를 용융시켜, 와이어의 직경의 약 2배의 직경을 갖고 있는 볼을 형성한다. 그다음, 와이어는 모세관내에서 수축되고, 볼은 오리피스(orifice)에 대향하여 넉적하게 지지되지만, 모세관은 패드상에서 이동되어 상당한 힘이 가해진다. 압력은 네일헤드와 유사한 형내로 된 열압착물로 볼을 변형시킨다. 그 다음, 모세관은 패드로부터 다시 당겨지고, 다이 상의 패드에 부착되는 와이어를 용융시키기 위해 화염이 다시 사용된다. 와이어 및 접촉 패드는 전형적으로 금 또는 알루미늄으로 제조된다.
열압착이 수년간의 제조에 걸쳐 유용한 것으로 증명되었지만, 이 방법은 많은 단점을 갖고 있다. 수동 또는 고가의 자동화 장비로 와이어 및 패드를 본딩할 때 발생된 막대한 비용을 제외하고라도, 압착과 같은 소정의 기계적 접속은 다수의 주위 환경 요인에 의해 야기된 고장을 일으키기 쉽다. 소정의 제조 공정이 완전하지 않기 때문에, 몇개의 와이어 본드는 제조후에 고장나게 된다. 접속부의 단1%가 부적합하더라도, 불량 접속부를 갖고 있는 칩을 포함하는 전체 시스템은 결과적으로 완전하게 동작할 수 없게 된다. 온도 변화로 인한 접속 물질의 상이한 팽창 및 수축률은 본드를 파괴하게 된다. 주위 환경은 금속 접속부를 부식 및 파괴할 수 있는 산화와 같은 화학처리를 개시하게 되는 화합물을 포함할 수 있다. 부속 부품의 장치, 취급 또는 사용중에 발생한 진동은 이 와이어 브릿지들을 떨어뜨릴 수 있다.
전자 장치의 수명에 걸쳐 완전한 와이어 본드를 유지하는 문제점외에, 1개의 칩 또는 다수의 칩의 어레이의 접속부의 이 모우드(mode)는 모든 본드들이 완전히 제조되고 절대로 파괴되지 않더라도 문제점들이 뒤따른다. 다수의 칩들을 접속시키기 위해 필요한 다수의 와이어 본드들은 시스템 회로내의 도전성 통로의 길이를 길게 만든다. 이 도체들은 전력을 소모하는데, 그 이유는 이 도체들이 저항성 성분들이기 때문이다. 이 가열에 의해 야기된 증가된 주위 온도는 관련된 집적 회로의 동작을 감쇠시킬 수 있다. 이 와이어들은 불필요한 인덕턴스 및 캐패시턴스를 정확히 평형화된 회로내로 주입시킨다. 도체들 사이의 누화는 전체 시스템의 성능을 심하게 감쇠시킬 수 있다. 긴 통로내의 시간 지연은 계산 능력을 감소시킨다.
최악의 문제점은 와이어들이 칩 또는 다수의 칩의 어레이 부분을 함께 접속시키기 위해 사용될 때 소요되는 공간이 크다는 것이다. 거의 동일 면내에 존재하는 2배의 지점들을 접속시키는 와이어의 각각의 스팬(spen)은 루우프식 파라볼릭(parabolic) 만곡 와이어를 필요로 한다. 와이어가 만곡될 수 있는 크기는 파열에 대한 와이어의 취약성 및 민감성에 의해 제한된다. 부수적으로, 와이어 본딩 공구의 크기는 열압착부를 수용하는 접촉지점들 사이의 최소 공간을 요구한다. 이 와이어 루우프는 칩 전개(deployment)의 수평 밀도에 제한을 가하는데, 그 이유는 각각의 루우프용 최소 공간이 각각의 인접 칩 사이에 제공되어야 하기 때문이다. 종래의 와이어 본딩 기술은 다이의 두께의 2개 이상의 다이 전극 제한을 부여한다. 다이의 높이가 20/1000인치(0.05㎝)정도이면, 와이어 본드를 제조하기에 적합한 간격을 제공하기 위해서 50밀(0.127㎝) 정도가 소요된다. 또한, 와이어 본드를 수용하는 패드들은 다이 상의 귀중한 공간을 소모한다. 각각의 패드는 와이어 본드 공구에 의해 전달된 큰 압력을 허용하기에 충분히 크고 튼튼해야 한다. 와이어 본드들은 다이의 표현상의 귀중한 수평 표면적을 소모할 뿐만아니라, 다이의 면상의 공간을 차지한다. 접속 와이어의 루우프 부분은 다이 표면 상에 멀리 연장될 수 있고, 칩 어레이 면들의 몇가지 레벨의 스택킹(stacking)을 배제한다. 접속 와이어들이 활성 다이 표면 위 또는 아래에서 공간을 소모하면, 능동 회로에 수직하게 연장되는 수직 또는 직교 공간은 와이어를 돌출시키기 위해 보존되어야 한다. 이 노출된 와이어들은 조립 공정중의 물리적 충격, 진동, 온도의 극대화 및 손상을 포함하는 다수의 주위 환경 위험의 영향을 받기 쉽다.
이전의 마이크로회로 접속 및 웨이퍼 규모 집적 발명은 다양한 해결 방법을 사용하여 수백만개의 능동 회로 부품들을 결합 및 접속시킬 때의 전개 및 팩키징 문제점을 해결하고자 하였다. 랜드론(Landron)의 미합중국 특허 제3,436,605호 내에는, 본딩 표면을 갖고 있는 다수의 간격을 두고 배치된 둥근 페디스틀(pedestal)내에서 종단되는 기판상에 전개된 도전성 통로를 포함하는 반도체 장치용 팩키징 공정이 기술되어 있다. 랜드론의 페디스틀은 반구형 팁(tip)을 가질 수 있고, 각각의 트랜지스터들을 지지하는 헤더(header) 상에 삼각형 패턴으로 배열될 수 있다.
웨이클리(Wakely)의 미합중국 특허 제3,483,308호 내에는 반도체 장치용 모듈러 팩키지가 기술되어 있다. 웨이클리의 설계는 루우프식 와이어본드를 사용하여 도전성 통로에 결합된 반도체 칩을 보유하는 평평한 상부 표면을 갖고있는 절연 물질로된 장방형 본체를 사용한다. 또한, 도전성 통로들은 장방형 본체의 중심을 통해 하향으로 의지되어 있는 페디스틀에 접속된다. 이 통로들은 인쇄 회로 기판에 전기적으로 결합되는 페디스틀의 단부에서 종단된다.
조쉬(Joshi)등의 미합중국 특허 제4,179,802호 내에는 스터트식(studded) 칩 부착 공정이 기술되어 있다. 금속 스터드들은 대응 칩의 종단 금속 풋프린트(footprint)를 정합시키도록 칩 캐리어 표면상에 설계된다. 칩들은 칩상의 금속 패드들을 캐리어의 실리콘 기판상의 대응 스터드에 결합시킴으로써 캐리어에 부착된다. 스터트와 패드 사이의 본드를 완성하기 위해 극소량이 땜납이 사용된다.
로빌라드(Robillard)등의 미합중국 특허 제4,189,825호 내에는 집적 검사 및 조립 장치가 기술되어 있다. 이 발명은 집적 회로 장치, 팩키지의 절연부를 통해 연장되는 도전성 리드(lead)를 갖고 있는 팩키지 프레임, 및 칩을 수용하기 위한 에퍼츄어를 갖고 있는 상호 접속 기판을 포함한다.
파크스(Parks)의 미합중국 특허 제3,813,773호 내에는 다중 웨이퍼 회로 구조로 웨이퍼들을 제조하기 위해 정밀 스탬핑(stamping)을 사용하기 위한 방법이 기술되어 있다. 이 발명은 집적 회로 칩들을 포함하는 평행육면체 구조를 형성하기 위해서 압력하에서 함께 스택되는 다수의 도전성 웨이퍼들을 사용한다. 파스크는 집적회로를 외부 장치에 접속시키기 위한 단자로서 유전 물질로 분리된 Z - 축 슬러그(slug)의 균일한 장방형 매트릭스를 사용한다.
호톤(Horton)의 미합중국 특허 제2,850,681호 내에는 강성 절연 물질로 제조된 다수의 웨이퍼, 각각의 웨이퍼에 고착된 도체 및 이 웨이퍼들 상의 전기 부품들 사이의 접속부들의 결합을 포함하는 전기 장치용 소형 구조가 도시되어 있다.
비저(Vizzer)의 미합중국 특허 제3,107,319호 내에는, 모듈러 부품 인쇄 회로 접속기가 도시되어 있다. 이 발명은 스프링 장하(spring loaded) 단자들에 의해 유지되는 회로 접속기 소자들의 삽입을 위한 단부 슬롯트를 갖고 있는 인쇄 회로 기판에 부착되는 모듈러 부품 기부 블럭을 사용한다.
엘리오트(Elliott)의 미합중국 특허 제3,271,507호 내에는, 금 표면에 본드되는 반도체 웨이퍼를 수용하고 채널을 갖고 있는 절연 세라믹 기판을 포함하는 반도체용 플랫 팩키지(flat package)가 기술되어 있다.
고갈(Gogal)의 미합중국 특허 제4,288,841호 내에는, 한 쌍의 칩 캐비티(cavity)를 갖고 있는 다층 세믹 샌드위치 구조를 구성하는 이중 캐비티 칩 캐리어를 포함하는 반도체 장치가 기술되어 있다. 이 발명이 구조가 상이한 단자 패턴을 갖는 2개의 집적 회로들을 접속시키기에 유용하다는 것을 청구하고 있다.
미네티(Minetti)의 미합중국 특허 제4,332,341호 내에는, 기판과 접촉 부재를 본드시키기 위해 고체 땜을 사용하는 회로 팩키지를 형성하는 방법이 기술되어 있다. 미네티의 세라믹 칩 캐리어는 캐스텔레이(castellation)들이 캐리어 표면의 연부에 형성된 세라믹 본체를 포함한다. 다층 접촉 부재들은 집적 회 칩으로부터의 리드들에 접속되는 접촉 패드에 결합된다.
홀(Hall) 등의 미합중국 특허 제4,352,449호, 내에는 지지 기판 상에 장착된 매크로 부품(macrc component)을 사용하는 회로 팩키지를 제조하는 방법이 기술되어 있다. 부품과 기판 사이의 충분한 여도를 유지하고 고 신뢰성 본드를 달성하기 위해서, 홀은 부품 또는 기판 상에 패드를 접촉시키기 위해 인되는 대형(massive) 땜납 예형(preform)들을 사용한다. 이 발명은 또한 칩 캐리어 상에 패드를 접촉시키기 위해 20 내지 40밀(0.05 내지 0.1㎝)의 직경을 갖고 있는 납 - 주석 땜납 구(sphere)의 본딩을 포함한다.
라너드(Larnerd) 등의 미합중국 특허 제3,811,186호 내에는, 도체들이 기판에 부착될 때 기판 도체 상에 마이크로회로 장치를 정렬 및 지지하기 위한 방법이 기술되어 있다. 장치와 이들에 대응하는 도체들 사이에 배치된 성형된 가요성 절연 물질은 도체들이 적합하게 정렬된 후 도체들을 부착시키기 위해 열로 함께 용융 될 수 있는 단자들을 지지한다.
비비트(Beavitt) 등의 미합중국 특허 제3,825,801호 내에는, 덮개와 칩을 지지하는 기부내에 형성된 캐비티 사이에 본드된 다수의 도체들을 포함하는 집적 회로 팩키지가 기술되어 있다. 이 캐비티는 기부와 절연 물질의 덮개 사이에 고착되는 탄성 물질의 도전성 스트립(strip)들 사이의 제 위치에 유지되는 칩용 캐리어로서 작용한다.
하기스(Hargis)의 미합중국 특허 제3,864,810호 내에는 납땜 가능한 외부 접속부들을 갖고 있는 무도선 반전(leadless inverted) 칩 캐리어와 같은 소형 세라믹 장치 셋트를 제조하기 위한 처리 공정이 기술되어 있다. 기부 시이트(sheet) 상의 몇개의 세라믹 물질층을 화이어(fire)한 후, 하기스는 칩 단자들 자체보다 더욱 용이하게 외부 장치에 접속되는 칩용 리드를 제공하기 위해서 에폭시 수지 내에 매입 또는 캡슐화시킴으로써 세라믹 캐리어 상에 칩을 장착시킨다.
페리노(Perrino)의 미합중국 특허 제3,868,724호 내에는 가요성 테이프 상에 다수의 리드 셋트를 형성함으로써 제조되는 집적 회로 칩용 접속 구조가 기술되어 있다. 이 리드들은 테이프내에 형성된 구멍을 관통하고, 집적 회로 칩 상의 접촉부들의 패턴에 대응하는 패턴으로 배열되는 접촉부내에서 종단된다. 칩들은 접촉부에 본드된 후 에폭시 캡슐물로 둘러싸여 진다.
하틀로드(Hartleroad) 등은 칩들을 자동적으로 자기적으로 정렬시키고 이들을 위에 놓여 있는 리드 프레임 구조에 본드시키는 이송(thansfer) 탐침이 한 단부 상에 반도체 플립(flip) 칩을 배치시키기 위한 방법 및 장치에 대해서 설명하였다. 위치 설정 장치의 기다란 홈의 한 단부내에 플립 칩을 배치시키고, 이들을 본딩전에 칩을 적합하게 배치시키도록 자력을 사용하여 안내 레일상에 이송하기 위한 이들의 방법은 미합중국 특허 제3,937,386호의 주제이다.
혼(Honn) 등의 미합중국 특허 제4,074,342호 내에는, 캐리어, 회로 트랜스포저(transposer)와 LSI 장치를 상호 접속시키기 위해 납땜 기술을 사용하는 대규모 집적 회로용 전기 팩키지가 기술되어 있다. 혼 전기 팩키지는 반도체 물질과 유사한 열팽창 계수를 갖는 캐리어, 표준 단자핀 어레이 및 트랜스포저를 포함하는데, 이들은 다수의 팩키징 물질의 상이한 열팽창에 의해 야기되는 납땜 접합부상의 기계적 응력을 제거하는 것을 청구하고 있다.
이노우에(Inoue)의 미합중국 특허 제4,143,456호 내에는, 반도체 장치 절연 방법이 기술되어 있다. 이 발명은 도전성 패턴을 갖고 있는 회로 기판 및 칩을 포함하는 반도체 장치용 보호 덮개를 사용한다. 이노우에는 알루미늄 와이어로 회로 기판 패턴의 다이 본드된 부분에 공융(eutectic) 또는 전기적으로 접속된 접착제로 칩을 고정시킨다.
앤드류스(Andrews) 등의 미합중국 특허 제4,147,889호 내에는, 도금 또는 본드된 납땜가능한 도전성 트레이스(trace) 및 통로를 갖고 있는 가요성 장착 플랜지를 갖는 얇은 유전성 접시형 칩 캐리어가 기술되어 있다. 이 트레이스 및 통로들은 전기적으로 접지되고 구조적 완전성(integrity)을 제공하는 도금 또는 본드된 방열판과 결합된다.
어곤(Ugon)의 미합중국 특허 제4,264,917호 내에는, 집적 회로 장치용 지지 부재, 외부 출력 단자, 및 출력 도체 어레이로 구성되는 출력 패드 및 전기 절연 캡슐 덮개를 갖고 있는 집적 회로 장치용 플랫 팩키지가 기술되어 있다. 이 방법은 두께 및 표면적이 감소되어 있는 1개 이상의 집적 회로용 팩키지를 제공하도록 지지 웨이퍼 상에 배열된 접촉 아일런드를 포함한다.
상술한 발명들 중 어느것도, 와이어 본드와 같은 칩 상호접속에 제공되는 칩 어셈블리의 높은 부분으로부터 발생되는 소모된 평평하고 직교하는 공간의 문제점을 해결하지 못한다. 이 종래의 방법 또는 장치들 중 어느것도, 능동 반도체 부품들의 초고밀도를 달성하는 모든 복잡한 형태들을 제공하는 효율적이고 포괄적인 해결 방법을 제공하지 못한다. 이 문제점에 대한 이러한 해결 방법은 근 30년동안 반도체 및 집적 회로 산업이 오랫동안 느껴온 필요한 경험을 만족시키게 되었다.
다이의 평평하고 직교하는 공간의 상당한 부분을 낭비하지 않고서 유효한 인트라 - 칩(intra - chip) 및 칩 - 칩 상호접속부를 제조하기 위한 실용적이고 신뢰할 수 있는 장치는 마이크로 일렉트로닉스 분야내의 주요한 발전을 이룩하게 되었다. 반도체 다이의 제조자들은 현재 기술 상태를 매우 능가하는 속도로 정보를 처리할 수 있고 오늘날의 대부분의 조밀하게 팩된 설계보다 많은 양의 데이타를 저장할 수 있는 집적 회로를 제조하기 위해 이러한 혁신적인 설계를 사용할 수 있었다. 이러한 발명은 이상적으로 다양한 계산 시스템과 상호작용하여 동작하기에 적합하게 되었고, 광범위한 동작 조건 및 시스템 응용에 걸쳐 일관적이고 신뢰성 있게 실행하게 되었다. 또한, 초 대규모 집적 마이크로 회로는 슈퍼컴퓨터 및 궤도 방어 시스템(orbital defense system) 의 엄격한 요구를 만족시키게 되었다. 항공우주 마이크로일렉트로닉 설계자들이 우주 방어 시스템용 궤도내의 매우 강력하고 매우 소형인 집적 회로를 전개할 수 있게 하는 발명은 전자공학 분야내의 주요한 기술적 발전을 이룩하게 되었다.
[발명의 요약]
본 발명의 목적은 이 주요한 기술적 발전을 달성하는 것을 돕기 위한 것이다. 패트로우 초소형 접속부용 압축 페디스틀(Compressive Pedestal for Microminiature Connections)은 이전의 개별 접속된 다중 집적회로 시스템을 소형화하는 신호 처리 및 메모리 용량을 갖는 단일 온- 웨이퍼(on-wafer) 칩 어레이를 형성하기 위해서 집적 회로 설계자들이 집적 회로들을 함께 접속시킬 수 있게 한다. 본 발명은 다음에 설명 및 청구한 웨이퍼 규모 합성 기술을 사용하여 현재 기술 상태를 초 대규모 집적(VLSI) 능력을 능가하여 더 높은 범위의 초 조밀 초 대규모 집적(ELSI)으로 확장시킨다.
본 발명은, 최상의 실행모우드 내에서, 닐스 이. 패트로우에 의해 발명되었고 휴우즈에어크라프트 캄파니에게 양도된 명칭을 갖고 있는 계류중인 특허 출원서내에 기술되어 있는 칩 인터페이스 메사에 사용되도록 설계된다. 칩 인터페이스 매사는 유전 물질로 제조되고, 이것이 위에 놓이는 반도체 다이보다 약간 작은 크기를 갖고 있는 장방형 형태를 갖는다. 메사는 장방향 단면을 갖고, 능동 회로의 최상 레벨을 갖고 있는 다이의 상부에 에폭시될 수 있다. 메사의 둘레에는 도전 물질 층으로 피막되는 수직 채널 또는 노치(notch)들이 배치된다. 메사의 상부면은 도전성 영역의 어레이 또는 종래의 본드 패드보다 큰 외부 인터페이스 패드를 포함한다. 이 외부 인터페이스 패드들은 얇은 도전성 통로에 의해 메사의 측벽상의 노치에 전기적으로 결합된다. 메사내의 각각의 노치는 반도체 칩 상의 도전성 칩 인터페이스 패드와 정렬된다. 칩 인터페이스 패드는 메사에 본드되는 칩의 상부 표면의 주변수 상에 전개된다. 가열된 납땜 또는 그외의 다른 용이하게 변형가능한 도전 물질의 방울은 메사 상으로부터의 각각의 노치내에 배치되고, 메사와 칩 인터페이스 패드 사이의 전기적 링크(link)를 형성하는데, 그 이유는 땜납이 패드와 노치의 수직벽들과 결합하기 때문이다.
이 마이크로일렉트로닉 팩키징 형태는 칩의 능동 회로 상의 직교 공간으로 인트라-칩 및 칩-칩 상호접속부를 다시 보냄으로써 긴 루우프식 와이어 본드를 거의 제거하는 패트로우 반전 칩 캐리어의 중요한 개량 및 정련을 이룩한다. 칩 인터페이스 메사는 와이어본드를 완전히 제거한다. 모든 바람직하지 못한 와이어 결합기들은 대응 칩 패드와 상대 관계인 노치내부에 튼튼하고 용이하게 형성된 땜납 방울(droplet) 접속부에 의해 대체된다. 인트라 - 칩 및 칩 - 칩 상호접속부를 능동 회로 상의 공간내에 재배치시키면, 집적 회로 어셈블리용 팩키징 공간이 최적화되고, 인접 칩들 사이의 와이어 본드에 의해 1회 소모된 공간의 절약으로 인해 설계자가 반도체 장치용 이론적 밀도 한계에 도달할 수 있게 된다. 칩 인터페이스 메사는 능동 반도체 회로용 다중 칩 어레이의 거의 모든 평평한 공간을 보존하고, 능동 회로의 면 위 또는 이것에 직교하는 크기로 비효율적 상호 접속 공간을 제거한다. 이 중요한 새로운 집적 회로 어셈블리 설계는 팩키징 기준을 최적화시킬 뿐만아니라, 최소의 고가의 인터 - 칩 공간으로 다수의 평행 레벨의 인접 칩들을 스택킹한다. 다수의 칩들을 함께 접속시킴으로써, 웨이퍼상의 다수의 반도체 다이들은 전(full) 웨이퍼 규모 재구성을 실현하기 위해서 결합될 수 있다.
본 발명은 "반전 칩 캐리어" 및 "칩 인터페이스 메사"란 명칭의 계류중인 특허 출원서내에 기술되고 청구된 혁신적인 개념의 다른 발전된 형태이다. 초소형 접속부용 압축 페디스틀은 상부 및 이 상부로부터 연장되는 최소한 3개의 다리(leg)를 갖고있는 도전성 물질의 본체이다. 다리들은 신뢰할 수 있는 전기적 결합을 형성하기 위해서 거의 평평한 도전성 패드에 고착적으로 정합될 수 있는 플레어드(flared) 접촉 패드내에서 종단된다. 이 다리들은 칩 인터페이스 메사상의 메사 인터페이스 패드들 중 1개의 메사 인터페이스 패드에 정합하도록 설계된다. 페디스틀은 가요성 물질로 형성되고, 전체 페디스틀이 메사 인터페이스 패드에 대항하여 압압하는 로딩 힘(loading force)을 받을 때 반대 방향의 스프링 장력을 제공하게 된다. 관련된 특허 출원서내에 기술되고 청구된 칩 인터페이스 메사 및 칩 어셈블리에 압축 페디스틀은 사용함으로써, 현재 VLSI 기술을 능가하는 시스템 밀도를 발생시키는 실제 웨이퍼 규모 재구성을 가능케 하는 상당히 개량된 집적 회로용 팩키징 어레이가 가능해진다. 압축 페디스틀은 수백개 또는 수 천개의 상호접속된 칩 인터페이스 메사 및 칩 어셈블리들을 결합시키는 칩 인터페이스 메사 어레이를 제조하기 위해 사용될 수 있다. 단일 칩 캐리어는 칩을 용이하게 억세스 및 교체시키는 스프링 - 장하 리셉터클 내에 본 발명을 사용하여 구성될 수 있다.
그러므로 본 발명의 목적은 용이하고 가격면에서 효율적으로 대량 생산되는 장치를 사용하여 상호접속된 집적 회로 어셈블리들의 큰 어레이를 접속시키는 간단하고 신뢰할 수 있는 수단을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 칩이 대형이고 복잡한 집적 회로 시스템내에 결합시키는 장치를 파괴시키지 않고서 반복적으로 검사, 탐침 또는 교체될 수 있도록 칩 인터페이스 메사 및 칩 어셈블리와 같은 집적회로 어셈블리의 부속 부품들이 분리될 때 대응 칩 또는 캐리어를 파괴시키지 않는 마이크로일렉트로닉 상호접속 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 칩 제조 공정 중에 고가의 칩 생산량에 악 영향을 미치지 않는 집적 회로 팩키징 해결 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 바람직하지 못하고 신뢰할 수 없는 와이어 본드를 완전히 제거하는 마이크로일렉트로닉 상호접속용 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 소정의 크기 내에서 능동 집적 회로 장치의 밀도를 최대화시키는 초소형 전자부품 상호접속용 장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 이전에 불가능한 웨이퍼 규모 합성 설계를 실용적이고 가격면에서 효율적으로 되게 하기 위해서 1개의 칩내에 회로들을 접속시키거나 다수의 상이한 칩들내에 회로들을 접속시키는 간단하고 신뢰할 수 있는 수단을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 현재 시판중인 다이 및 기존 팩키징 기술을 사용하여 다수의 반도체 다이들을 접속시키는 수단을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상호 접속 와이어들을 모두 제거함으로써 발생되는 전달 지연 시간의 상당한 감소로 인해 시스템 속도가 증가된 칩 어레이를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 다수의 긴 와이어 본드들의 제거가 일차 낭비적 용량성 로딩(loading) 소오스를 제거하기 때문에 설계자가 상당한 전력 소모 감소의 장점을 취할 수 있게 하는 칩 캐리어를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 다른 목적은 용이하게 검사, 조사, 번-인(burn - in)및 수리될 수 있는 칩 캐리어 상에 다수의 칩들을 함께 장치하는 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 칩 - 칩 입/출력 필요성을 최소화시키는 칩 전개 기법을 제공하기 위한 것이다.
다음에 청구된 본 발명의 다른 목적은 집적 회로 어셈블리 내에 다수의 긴 와이어 접속기를 결합시키는 종래의 장치에 의해 발생되는 해로운 부수적인 캐패시턴스 및 인덕턴스를 제거하는 마이크로 일렉트로닉 상호접속용 장치를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 목적은 궤도 주위환경내에 경제적으로 배치될 수 있는 시스템을 제조하기 위해서 집적회로 시스템들의 크기를 감소시키기 위한 것이다.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명에 대해서 상세하게 기술하겠다.
[양호한 실시예의 설명]
압축 페디스틀과 결합하여 사용될 수 있는 칩 및 칩 인터페이스 메사 어셈블리는 "칩 인터페이스 메사"란 명칭의 닐스 이. 패트로우의 계류중인 특허 출원서내에 상세하게 기술되어 있다. 이 발명의 설명은, 이 특허 출원서내에 포함된 도면과 함께, 본 특허 출원서내에 참고 문헌으로 사용되었다.
제1a도 내지 제1e도는 압축 페디스틀의 양호한 실시예를 제조하기 위해 사용된 동작 순차를 도시한 것이다. 기판(10)은 직경이 약 4 내지 12밀 (0.1 내지 0.03㎝)인 원형 구멍(14) 패턴을 갖고 있는 왁스, 포토레지스트, 열가소성 수지(thermoplastic) 또는 금속 기판 마스크(12)로 덮혀지거나 스크린(screen) 된다. 구멍(14)들은 포지티브 메니스커스(positive meniscus)가 형성되는 레벨로 포타슘 클로라이드(potassium chloride) 또는 포토레시스트와 같은 물질로 충전된다(제1b도). 둥근 필러(pillar, 16)은 각각의 구멍(14)내에 형성된다. 기판 마스크(12)는 기판(10) 상에 필터(16)만을 남기는 적합한 용해물질로 제거된다(제1c도).
제1d도 및 제1e도 내에서, 중심 본체부 및 4개의 방사상 연장 부재를 갖고 있는 금속 마스크(18)은 필러(16) 상에 알루미늄 층을 용착시키기 위해서 필러(16)상에 배치된다. 제1f도는 일반적으로 평평한 플레어드패드(25)내에서 종단되는 4개의 하향 의지 다리(21)을 갖고 있는 2개의 완성된 압축 페디스틀(20)을 도시한 것이다. 페디스틀(20)들은 기판(10) 정상에 배치되고, 도전성 통로(22)에 의해 접속된다. 페디스틀(20)들은 "칩 인터페이스 메사"라는 명칭의 계류중인 관련 특허 출원서내에 도시되어 있는 메사 인터페이스 패드상에 용착되도록 설계된다. 페디스틀과 이것을 수용하는 도전성 표면 사이에 신뢰할 수 있는 본드를 형성하기 위해서, 페디스틀들은 약 150℃로 가열된 주위 환경내에서 인듐 합금(indium alloy)로 피막된다.
제2도는 매트릭스형 배열로 되어 있는 다수의 칩 인터페이스 메사 및 칩 어셈블리(28)을 포함하는 다중 칩 어레이를 도시한 것이다. 각각의 어셈블리(28)은 상호접속 기판(24)에 관련된 외부단자(도시하지 않음)에 전기적으로 결합되는 도전성 통로(22)에 접속되는 다수의 대응 압축 페디스틀(20)을 포함하는 리셉터클내에 보유된다. 리셉터클들은 배열 스페이서(26) 정상에서 기판(24) 상에 배열된다. 각각의 어셈블리(28)은 칩(30), 메사 부재(32), 접속성 땜납 방울(도시하지 않음)을 갖고 있는 노치(34), 및 대응 메사 부재(32)의 평평한 메사 표면(36) 정상에 전개된 확대된 메사 인터페이스 패드(40)의 매트릭스로 구성된다. 패드(40)은 도전성 통로(38)을 통해 각각의 칩(30)에 접속되고, 압축 페디스틀(20)을 통해 다중 칩 어레이(23)에 전기적으로 결합된다.
제3도는 압축 페디스틀(20)을 사용하는 단일 칩 캐리어(42)를 도시한 것이다. 세라믹 본체(44)는 칩 인터페이스 메사 및 칩 어셈블리(28)을 지지하는 리셉터클을 포함한다. 보유링(retainingring, 47)에 의해 고착된 제거가능한 덮개(46)은 종래의 스프링(48)을 피스톤(50)상의 제 위치에 지지한다. 피스톤(50)은 칩(52), 메사 부재(54) 및 땜납 방울(56)을 포함하는 어셈블리(28)을 리셈터클의 저부에 있는 단자(60)들에 대항하여 지지하는 연속 압력을 제공한다. 단자(60)들은 세라믹 본체(44)의 주변부에 있는 외부 단자 또는 연부 접점(도시하지 않음)에 링크되는 세라믹 본체(44)내의 내부 접속기(도시하지 않음)에 접속된다.
계류중인 관련 특허 출원서내에 상세하게 기술되어 있는 패트로우 반전 칩 캐리어는 본 분야에 숙련된 설계자들이 현재 시판중인 칩을 취할 수 있고, 이 칩을 이 새로운 캐리어 내에 배치시키며, 베어(bare)다이 크기에 비해 평면적을 단지 3% 증가시킬 경우에 능동 회로의 크기를 65% 증가시킬 수 있게 한다. 패트로우의 칩 인터페이스 메사는 모든 와이어본드들을 완전히 제거함으로써 표면적 비를 크게 증가시킨다. 종래의 제조 기술 내에서 요구된 거의 모든 인터 - 칩 간격은 칩과 외계 사이에 전기적 상호접속부를 형성하기 위해 칩의 능동 회로의 면에 수직으로 연장되는 메사 리셉터클 내에 땜납 방울을 사용함으로써 제거된다.
초소형 접속부용 패트로우 압축 페디스틀은 이전의 2가지 발명의 장점들을 부품 칩들이 초조밀 형태로 팩키지되고 용이하게 교체 또는 제거되는 큰 다중 - 칩 어레이 설계의 다른 큰 장점과 결합시킨다.
지금까지, 양호한 실시예를 참조하여 본 발명에 대해서 기술하였지만, 본 분야에 숙련된 기술자들은 본 발명의 원리 및 범위를 벗어나지 않고서 본 발명을 여러가지 형태로 변형 및 개량할 수 있다.

Claims (7)

  1. 탄성 마이크로일렉트로닉 접속성 부재를 형성하기 위해 기판을 제공하는 수단, 애퍼츄어를 갖고 있는 기판 마스크로 기판을 덮는 수단, 애퍼츄어 내에서 기판상에 둥근 필러를 형성하기 위해서 기판 마스크의 상부 경계 영역에서 포지티브 메니스커스를 형성하게 되는 충전 물질로 애퍼츄어를 충전시키는 수단, 기판으로부터 기판 마스크를 제거하게 되지만 기판상에 필러를 완전하게 남기게 되는 용해 물질로 기판 마스크를 용해시키는 수단, 필러상에 페디스틀 설계 마스크를 각인하는 수단, 탄성 마이크로일렉트로닉 접속 부재를 형성하기 위해서 페디스를 설계 마스크 상에 금속층을 용착시키는 수단, 및 필러를 제거하게 되지만 기판상에 탄성 마이크로일렉트로닉 접속 부재를 남기게 되는 용해 물질을 필러를 용해시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 탄성 마이크로일렉트로닉 접속 부재 제조 방법.
  2. 초소형 접속부용 압축 페디스틀을 형성하기 위해 다층 유전성 기판을 제공하는 수단, 원통형 구멍을 갖고 있는 포토레지스트 기판 마스크로기판을 덮는 수단, 원통형 구멍내에서 기판상에 둥근 상부를 갖고 있는 필러를 형성하기 위해서 구멍내에 포타슘 클로라이드를 용착시키는 수단, 기판으로부터 포토레지스트 기판 마스크를 제거하게 되지만 기판상에 필러를 완전하게 남기게 되는 용해 물질로 포토레지스트 기판 마스크를 용해시키는 수단, 필러상에 페디스틀 설계 마스크를 각인하는 수단, 초소형 접속부용 압축 페디스틀을 형성하기 위해서 페디스틀 설계 마스크 상에 알루미늄 층을 용착시키는 수단, 및 필러를 제거하게 되지만 기판상에 초소형 접속부용 압축 페디스틀을 남기게 되는 용해 물질로 필러를 용해시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 초소형 접속부용 압축 페디스틀 제조 방법.
  3. 상부 및 거의 평평한 도전성 패드에 안정하고 신뢰할 수 있게 기계적 및 전기적 결합을 제공하기 위해 상부로부터 연장되는 최소한 3개의 하향 배치된 접촉 부재를 갖고 있는 도전 물질로 된 본체로 구성되고, 본체가 기계적 로딩 힘이 본체의 상부에 인가될 때 본체 및 접촉 부재가 안정한 전기적 접속부를 형성하기 위해서 상당히 가요될 수 있고 스프링 장하될 수 있도록 형성되어 접촉 부재에 결합되는 것을 특징으로 하는 탄성 마이크로일렉트로닉 접속 부재 제공 장치.
  4. 중심부 및 4개의 방사 전기 접속기 다리를 포함하는 반구형 형태를 갖고 있는 금속 다이로 구성되고, 각각의 다리가 거의 평평한 도전성 표면과 고착성 전기적 접합하기에 적합한 플레어드 및 평평한 패드 내에서 종단되며, 다이가 이 다이가 중심부상에 인가된 압력하에서 스프링과 같이 가요될 수 있게 하는 금속으로 제조되는 것을 특징으로 하는 초소형 접속부용 압축 페디스틀.
  5. 제2항에 청구된 방법에 따라 제조되는 제4항에 청구된 바와같은 초소형 접속부용 압축 페디스틀 장치.
  6. 최장 평면 크기에 평행하게 연장되는 제1평면축, 제2최장 평면 크기에 평행하게 연장되는 제2평면축, 제1과 제2평면축에 수직으로 연장되는 횡축, 횡축에 거의 수직으로 연장되고 최장 및 최단 평면 크기에 의해 제한된 평평한 상부 메사 표면, 횡축에 평행하게 배치된 다수의 평평한 주위 벽, 평평한 주위 벽거의 근처에 배치된 다수의 수직 전기 결합기 장치, 및 평평한 상부 메사 표면 상에 배치된 다수의 메사 인터페이스 도전성 단자를 갖고 있는 유전성 물질로 제조된 메사 부재, 칩의 2개의 최장 길이 및 폭 크기에 대응하는 2개의 평면 크기를 갖고 있는 반도체 칩, 및 메사 인터페이스 도전성 단자상에 전개된 제5항에 청구된 바와같은 초소형 접속부용 다수의 압축 페디스틀로 구성되고, 다수의 수직 전기 결합기 장치가 메사 부재의 횡축에 거의 평행한 수직 크기를 각각 갖고 있고 결합기 장치의 수직 크기를 따라 연장되는 도전성 피막을 각각 갖고 있으며, 평평한 상부 메사 표면상에 배치된 다수의 메사 인터페이스 도전성 단자들이 평평한 상부 메사 표면에 기계적으로 결합되는 다수의 전도성 통로에 전기적으로 결합되고, 다수의 도전성 통로들이 수직 전기적 결합기 장치에 선택적 및 전기적으로 결합되며, 반도체 칩이 능동 회로의 최상부층을 포함하는 2개의 평면 크기에 의해 제한된 상부 칩 표면을 갖고 있고 상부 칩 표면 상에 전개되고 능동 회로의 최상부층을 둘러싸는 다수의 칩 표면 주변부에 배치되며, 반도체 칩이 상부 칩 표면이 메사 부재에 거의 인접하도록 메사 부재에 기계적으로 결합되고, 다수의 칩 인터페이스 장치가 다수의 메사 - 칩 전기 접축 장치에 의해 수직 전기 결합기 장치에 선택적 및 전기적으로 결합되는 것을 특징으로 하는 칩 인터페이스 메사 및 초소형 접속부용 다수의 압축 페디스틀을 제공하기 위한 결합체.
  7. 제6항에 청구된 바와같은 칩 인터페이스 메사 및 초소형 접속부용 다수의 압축 페디스틀을 제공하기 위한 결합체를 수용 및 보유하기에 적합한 리세스를 갖고 있는 세라믹 본체, 및 칩 인터페이스 메사 및 초소형 접속부용 다수의 압축 페디스틀을 제공하기 위한 결합체에 인접하여 배치된 피스톤으로 구성되고, 피스톤이 스프링에 의해 칩 인터페이스 메사 및 초소형 접속부용 다수의 압축 페디스틀을 제공하기 위한 결합체와 기계적 결합 상태로 되며, 스프링이 세라믹 본체내에 고착적으로 끼워지기에 적합한 제거가능한 덮개에 의해 피스톤에 대항하여 압축 상태로 유지되는 것을 특징으로 하는 단일 칩 캐리어내에 칩 인터페이스 메사 및 초소형 접속부용 다수의 압축 페디스틀을 제공하기 위한 결합체.
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5047830A (en) * 1990-05-22 1991-09-10 Amp Incorporated Field emitter array integrated circuit chip interconnection
JP3002512B2 (ja) * 1990-09-10 2000-01-24 株式会社日立製作所 集積回路装置
US5345365A (en) * 1992-05-05 1994-09-06 Massachusetts Institute Of Technology Interconnection system for high performance electronic hybrids
DE4417586A1 (de) * 1993-08-03 1995-02-09 Hewlett Packard Co Familie von demontierbaren Hybridanordnungen unterschiedlicher Größe mit Mikrowellenbandbreitenverbindern
US6840777B2 (en) * 2000-11-30 2005-01-11 Intel Corporation Solderless electronics packaging
EP4261872A1 (en) * 2022-04-11 2023-10-18 Nexperia B.V. Molded electronic package with an electronic component encapsulated between two substrates with a spring member between the electronic component and one of the substrates and method for manufacturing the same

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CA1021066A (en) * 1974-10-17 1977-11-15 James B. Morris (Sr.) Semiconductor chip interconnect package
US4070688A (en) * 1976-12-27 1978-01-24 International Rectifier Corporation Flexible lead
FR2471048A1 (fr) * 1979-12-07 1981-06-12 Silicium Semiconducteur Ssc Structure et procede de montage d'un composant semi-conducteur principal et d'un circuit auxiliaire
JPS58110778A (ja) * 1981-12-23 1983-07-01 ワイケイケイ株式会社 自動開閉扉の制御装置

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