KR900001820B1 - The loop back circuit of analog and digital signal - Google Patents
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Abstract
Description
제1도는 종래의 펄스코드 변조 암호 복호기(PCMCODEC)의 루프백 회로 계통도.1 is a loopback circuit diagram of a conventional pulse code modulation code decoder (PCMCODEC).
제2도는 제1도의 실시예 회로도.2 is a circuit diagram of the embodiment of FIG.
제3도는 본 발명의 펄스코드 변조 암호 복호기의 루프백 회로 계통도.3 is a loopback circuit diagram of the pulse code modulation crypto decoder of the present invention.
제4도는 제3도 AD 루프백 신호 선택회로(10)의 회로 계통도.4 is a circuit diagram of the AD loopback
제5도는 제4도 A-F의 실시예 회로도.5 is an exemplary circuit diagram of FIGS. 4A-F.
제6도는 제4도 G, H 및 전자스위치의 실시예 회로도이고, 표1은 루프백 신호 선택부의 진리치표이다.6 is an exemplary circuit diagram of FIG. 4 G, H, and an electronic switch, and Table 1 is a truth table of the loopback signal selection unit.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : A/D변환기 2 : D/A 변환기1: A / D converter 2: D / A converter
3 : 송신여파기 4 : 수신여파기3: Transmission filter 4: Reception filter
5 : IC칩 6 : 루프백 신호 레벨 보정부5
10 : AD루프백 신호 선택 회로 ES1: 제1전자 스위치10: AD loopback signal selection circuit ES 1 : first electronic switch
ES2: 제2전자 스위치 A : 제1신호 상태 결정부ES 2 : second electronic switch A: first signal state determiner
B : 제2신호 상태 결정부 C : 제3신호상태 결정부B: second signal state determiner C: third signal state determiner
D : 제1출력 논리 발생부 E : 제2출력 논리 발생부D: first output logic generator E: second output logic generator
F : 루프백 신호 선택부 G : 아날로그 루프백 신호레벨 보정부F: Loopback signal selector G: Analog loopback signal level correction
H : 디지탈 루프백 신호레벨 보정부H: Digital loopback signal level correction unit
본 발명은 펄스코드 변조의 암호 복호기(일명 PCMCODEC)에 관한 것으로서, 특히 펄스코드 변조 암호 복호기의 회로가 내장된 반도체 칩 내에서 아날로그 신호와 디지탈 신호 모두를 루프백 시킴으로써 디지탈대 디지탈 신호의 이득 및 특성 측정 뿐만 아니라 아날로그대 아날로그 신호의 이득 및 특성 측정도 가능하게 되는 아날로그 신호와 디지탈 신호의 루프백 회로에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
일반적으로 펄스코드 변조의 암호 복호기는 정보의 송수신에 관련된 통신장비, 전화교환기 또는 컴퓨터 단말기등과의 송수신 계통에서 아날로그신호를 디지탈 신호로 또는 디지탈 신호를 아날로그 신호로 변환하면서 특정 신호를 선택 출력 하는 기능을 가지고 있다. 이러한 펄스코드 변조의 암호 복호기에 있어서, 칩 내의 이득 및 특성을 측정하기 위한 종래의 루프백 기술은 제1도에 도시한 바와 같은 회로 계통으로 구성된다. 이를 설명하면 다음과 같다.In general, the code decoder of pulse code modulation has a function of selecting and outputting a specific signal while converting an analog signal into a digital signal or a digital signal into an analog signal in a transmission / reception system with a communication device, a telephone exchange or a computer terminal related to the transmission and reception of information. Have. In such a code decoder of pulse code modulation, a conventional loopback technique for measuring gain and characteristics in a chip is composed of a circuit system as shown in FIG. This is described as follows.
칩(5)의 외부로부터 들어오는 디지탈 입력신호(Di)는 D/A변환기(2) 및 수신여파기(4)를 거쳐 아날로그 출력신호(AO)로 출력된다. 상기 아날로그 출력신호(AO)는 와이어(Wire)에 의해 IC칩(5)의 외부로 출력되며, 또한 상기 IC칩(5)내의 전자스위치(ES), 송신여파기(3) 및 A/D변환기(1)를 거쳐 IC칩(5) 외부에 디지탈 출력신호(DO)로 제공된다. 이때, 상기 전자스위치(ES)는 IC칩(5)의 외부로부터 들어오는 아날로그 루프백 신호(ALBi)에 위해, 상기 아날로그 출력신호(AO) 또는 아날로그 입력신호(Ai)를 송신여파기(3)에 선택적으로 공급하게 된다. 한편 상기 전자스위치(ES)의 구체적인 회로는 제2도에서 도시하고 있는 바와 같이 인버터(IO)와 2개의 쌍방향게이트(G1,G2)로 구성된다. 여기에서, 아날로그 루프백 신호발생부(7)에서는 외부신호(EXi)를 받아들여 아날로그 루프백 신호(ALBi)를 발생한다. 상기 아날로그 루프백 신호(ALBi)는 레벨보정부(6)를 거쳐 전자스위치(ES)에 제공된다. 상기 레벨 보정부(6)내에 의해 보정된 아날로그 루프백 신호(ALBi)는 전자스위치(ES)내의 인버터(IO)에 의해 반전된 신호와 비반전된 신호로되어 쌍방향게이트(G1,G2)에 각각 제공된다. 이에따라 아날로그 입력신호(Ai) 또는 아날로그 출력신호(AO)가 송신여파기(3)에 제공되는 것이다.The digital input signal Di coming from the outside of the
이러한 종래의 루프백회로에서는 디지탈 신호 만을 루프백시켜 IC칩의 정상적인 전기적 동작 상태나 이득 측정에 이용하게 되므로 칩 내부에서는 디지탈 입력신호 대 디지탈 출력신호의 이득 및 특성 밖에는 측정할 수 없게 된다. 그러므로 아날로그 입력신호 대 아날로그 출력신호의 이득 및 특성에 대한 측정시에는 상기신호들을 칩 외부로 인출하기위해 와이어를 연결하여 별도의 수단으로 측정하여야 하므로, 상기 펄스코드 변조 암호 복호기의 이득 및 특성을 측정하기 위한 시간이 많이 소요되고, 또한 칩 외부로 와이어를 연결하여 신호를 끌어낼 경우 잡음 유입등의 가능성을 배제할 수가 없으므로 이에 따라 IC칩 내의 회로의 신뢰도가 저하되는 문제점이 야기 되었다.In such a conventional loopback circuit, only the digital signal is looped back and used to measure the normal electrical operation state or gain of the IC chip. Therefore, only the gain and characteristics of the digital input signal versus the digital output signal can be measured inside the chip. Therefore, when measuring the gain and the characteristic of the analog input signal versus the analog output signal, it is necessary to measure the gain and the characteristic of the pulse code modulated encryption decoder by connecting the wire in order to extract the signals to the outside of the chip. It takes a long time to do this, and also, when the wire is connected to the outside of the chip to pull out the signal, the possibility of noise inflow, etc. can not be excluded, thereby causing a problem that the reliability of the circuit in the IC chip is lowered.
본 발명의 목적은 이러한 펄스코드 변조 암호 복호기에서 이에 의해 변환된 아날로그 또는 디지탈 신호를 칩 내의 전자스위치 및 AD루프백 신호 선택회로에 의해 모두 루프백이 가능하게하여 펄스코드 변조 암호 복호기 회로를 내장한 반도체칩의 특성 및 이득 측정시에 그 측정의 용이성을 부여하고, 또한 외부잡음의 유입으로 반도체 칩의 신뢰성이 저하되는 것을 방지할 수 있는 아날로그 신호와 디지탈 신호의 루프백 회로를 제공하는데 있는 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to enable a loopback of an analog or digital signal converted by a pulse code modulated encryption decoder by an electronic switch and an AD loopback signal selection circuit in a chip, thereby incorporating a pulse code modulated encryption decoder circuit. The present invention provides a loopback circuit for analog signals and digital signals that gives ease of measurement when measuring the characteristics and gain of the circuit and prevents the reliability of the semiconductor chip from deteriorating due to the inflow of external noise.
본 발명의 특징은 루프백 신호, 아날로그 입력신호 및 디지탈 입력신호로 동작되는 AD 루프백 신호 선택회로의 출력으로 각각의 제1, 2전자스위치가 제어되게하여, 상기 제1, 2전자스위치에 의해 송신 여파기-A/D변환기-A/D변환기-수신여파기로 이루어지는 아날로그신호 루프백 회로와 D/A변환기-수신여파기-송신여파기-A/D변환기로 이루어지는 디지탈 신호 루프백 회로로 구성되어지는 아날로그 신호와 디지탈 신호의 루프백회로에 있으며, 이러한 루프백 회로의 AD루프백 신호 선택회로를 구성함에 있어, 디지탈 신호에 관련된 전기적 신호의 유무를 검지하여 결정하는 제1신호 상태 결정부 및 루프백 신호의 유무를 결정하는 제2신호 상태 결정부와, 아날로그 신호에 관련된 제3신호 상태 결정부를 구비하고, 이들 신호의 유무상태를 각기 논리 출력으로 발생시키는 제1, 2출력 논리 발생부와, 이들의 논리출력으로 루프백 종유를 선택하는 루프백 신호 선택부와, 상기 루프백 신호 선택부의 출력신호의 레벨을 보정하는 아날로그 및 디지탈 루프백 신호 레벨 보정부와의 관련 구성으로 이루어진 아날로그 신호와 디지탈 신호의 루프백 회로에 있는 것이다.The present invention is characterized in that each of the first and second electronic switches is controlled by an output of an AD loopback signal selection circuit operated with a loopback signal, an analog input signal and a digital input signal, thereby transmitting a transmission filter by the first and second electronic switches. Analog and digital signals consisting of an analog signal loopback circuit consisting of an A / D converter, an A / D converter, and a receiving filter, and a digital signal loopback circuit consisting of a D / A converter, a receiving filter, a transmitting filter, and an A / D converter. In the loopback circuit of the present invention, in the AD loopback signal selection circuit of the loopback circuit, a first signal state determination unit for detecting and determining the presence or absence of an electrical signal related to a digital signal and a second signal for determining the presence or absence of a loopback signal are determined. A status determination section and a third signal status determination section related to the analog signal, and output the presence or absence of these signals as logic outputs, respectively. The first and second output logic generators, a loopback signal selector for selecting the loopback type as their logic outputs, and an analog and digital loopback signal level corrector for correcting the level of the output signal of the loopback signal selector. They are in loopback circuits of analog and digital signals.
이하 본 발명의 일 실시예를 첨부한 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다. 제3도는 본 발명의 기본적인 회로 계통도를 나타내고 있다. 여기에서, 외부로부터 들어오는 아날로그 입력신호(Ai) 또는 칩 내부의 수신여파기(4)로부터 외부로 출력되는 아날로그 출력신호(AO)가 AD루프백 신호 선택회로(10)에 의해 제어되는 제1전자스위치(ES1)를 통하여 송신여파기(3)로 입력되게 연결되고, 외부로부터 들어오는 디지탈 입력신호(Di) 또는 칩 내부의 A/D변환기(1)로부터 외부로 출력되는 디지탈 출력신호(DO)가 AD루프백 신호 선택회로(10)에의해 제어되는 제2전자스위치(ES2)를 통하여 D/A변환기(2)로 입력되게 연결되고, 상기 AD루프백 신호 선택회로(10)에는 외부 루프백 신호(LBi) 아날로그 및 디지탈 입력신호(Ai,Di)가 입력되게 연결되고, 송신 여파기(3)의 출력은 A/D변환기(1)로, D/A변환기(2)의 출력을 수신여파기(4)로 입력되게 연결된다. 제4도는 상기 AD루프백 신호 선택회로(10)의 구체적인 회로 계통도로써 디지탈 입력신호(Di)의 유무를 감지하여 판단하는 제1신호 상태 결정부(A)와 루프백 신호(LBi)에 관련된 제2신호 상태 결정부(B)와 아날로그 입력신호(Ai)의 유무를 감지하여 판단하는 제3신호 상태 결정부(e)가 구비되고, 이로부터 판단된 상태에 따라 해당 논리를 발생시키는, 제1, 2출력 논리 발생부(D,E) 및, 상기 제1, 2출력 논리 발생부(D,E)의 출력논리와 제2신호 상태 결정부(B)의 출력 논리 등의 입력상태에 따라 당해 루프백 신호의 종류를 선택하는 루프백 신호 선택부(F)가 구비되며, 상기 루프백 신호 선택부(F)의 아날로그 신호를 루프백 시키는 아날로그 루프백 신호(F1)와 루프백 신호(F1)와 디지탈 신호를 루프백 시키는 디지탈 루프백 신호(F2)를 받는 아날로그 및 디지탈 루프백 신호레벨 보정부(G,H)가 구비되어 있다. 제5도와 제6도는 상기 AD루프백 신호 선택회로(10)의 일실시예에서 회로 구성도이다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 3 shows a basic circuit diagram of the present invention. Here, the first electronic switch in which the analog input signal Ai coming from the outside or the analog output signal AO output from the receiving filter 4 inside the chip to the outside is controlled by the AD loopback
여기에서, 제1신호상태 결정부(A)는 트랜지스터(M1,M2) 및 (M3,M4)로 구성되는 CMOS회로와 트랜지스터(M5,M6) 및 캐패시터(C1)로 구성되며, 제2, 3신호상태 결정부(B,C)도 상기 제1신호상태 결정부(A)의 회로 구성과 등가 또는 동일하게 구성된다. 또한 제1, 3신호상태 결정부(A,C)의 출력을 받는 제1, 2출력 논리 발생부(D,E)는 트랜지스터(M7-M10)와 캐패시터(C2) 및 인버터(I1,I2)로 양자 동일한 구성으로 된다. 또한 제2신호상태 결정부(B)와 제1, 2출력논리 발생부(D,E)의 출력을 받는 루프백 신호 선택부(F)는 앤드게이트(A1-A4), 오어게이트(O1,O2) 및 인버터(I3)의 구성으로되어 아날로그 루프백 신호(F1)의 디지탈 루프백 신호(F2)를 발생한다. 한편 제6도의 아날로그 및 디지탈 루프백 신호 레벨 보정부(G,H)는 트랜지스터(M11-M14)와 인버터(I4-I7)로 양자 동일한 구성으로되며, 성기 아날로그 및 디지탈 루프백 신호 레벨 보정부(G,H)의 출력을 각각 받는 제1,2전자스위치(ES1,ES2)는 쌍방향게이트(CG1,CG2)와 인버터(I8)로 양자 동일한 구성으로 된다.Here, the first signal state determining unit A includes a CMOS circuit composed of transistors M 1 , M 2 , and M 3 , M 4 , transistors M 5 , M 6 , and capacitor C 1 . The second and third signal state determination units (B, C) are also equivalent or identical to the circuit configuration of the first signal state determination unit (A). In addition, the first and second output logic generators D and E, which receive the outputs of the first and third signal state determination units A and C, include the transistors M 7- M 10 , the capacitor C 2 , and the inverter I. 1 , I 2 ) to have the same configuration. Also, the loopback signal selector F, which receives the outputs of the second signal state determiner B and the first and second output logic generators D and E, includes an AND gate A 1 -A 4 and an or gate O. 1 , O 2 ) and inverter I 3 to generate the digital loopback signal F 2 of the analog loopback signal F 1 . Meanwhile, the analog and digital loopback signal level correction units G and H of FIG. 6 have the same configuration as the transistors M 11 to M 14 and the inverters I 4 to I 7 . The first and second electronic switches ES 1 and ES 2 receiving the outputs of the chiefs G and H, respectively, have the same configuration as the bidirectional gates CG 1 and CG 2 and the inverter I 8 .
이와 같이 구성된 본 발명의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다. 제5도에서, 신호를 루프백 시키지 않을 경우에는 루프백 신호(LBi)의 유무를 결정하는 제2신호상태 결정부(B)에 루프백 신호(LBi)를 인가하지 않거나 OV를 인가하게 된다. 이때에는 상기 제2신호상태 결정부(B)의 트랜지스터(M1,M2) 및 (M3,M4)의 CMOS를 통한 루프백 신호(LBi)는 로우레벨을 출력하게 되므로, 표1의 ①-④에 나타내고 있는 바와 같이, 제1, 2출력 논리 발생부(D,E)의 출력여부에 관계없이 루프백 신호 선택부(F)의 출력(F1,F2)은 모두 로우레벨로 출력된다. 따라서 제6도에 도시한 아날로그 및 디지탈 루프백 신호레벨 보정부(G,H)에서는 각각 로우레벨이 출력되어 제1, 2전자스위치(ES1,ES2)의 쌍방향게이트(CG2)를 동작시키게 되므로, 제1전자스위치(ES1)를 통한 아날로그 입력신호(Ai)는 송신여파기(3)에 제공되게 되고, 제2전자스위치(ES2)를 통한 디지탈 입력신호(Di)는 D/A변환기(2)에 제공되게 된다. 그러므로 제3도에서 알수 있는 바와 같이, 디지탈 입력신호(Di)는 D/A변환기(2)와 수신여파기(4)를 통하여 아날로그 출력신호(AO)로 그대로 출력되고, 아날로그 입력신호(Ai)는 송신여파기(3)와 A/D변환기(1)를 통하여 디지탈 출력신호(DO)로 그대로 출력되는 것이다. 한편 제5도에서, 루프백 신호(LBi)가 있고 디지탈 입력신호(Di)가 들어오게 되면, 제2신호상태 결정부(B)와 제1출력논리 발생부(D)의 출력이 하이레벨로 된다. 이에 따라, 루프백 신호 선택부(F)의 앤드게이트(A1)의 출력이 하이레벨로 되어 오어게이트(O1)에서 하이레벨을 출력하게되고, 상기 앤드게이트(A1)의 출력이 인버터(I3)를 거쳐 앤드게이트(A4)에 입력되므로 앤드게이트(A4)에서는 로우레벨을 출력하게 된다. (표1의 ⑦참조) 즉, 아날로그 루프백 신호(F1)는 하이레벨을 출력하게되고 디지탈 루프백 신호(F2)는 로우레벨로 그대로 유지되며 출력된다. 따라서 아날로그 루프백 신호레벨 보정부(G)에서는 하이레벨이 출력되고 디지탈 루프백 신호레벨 보정부(H)에서는 로우레벨이 출력됨에따라, 제1전자스위치(ES1)는 쌍방향게이트(CG1)가 동작하게되고 제2전자스위치(ES2)에서는 쌍방향게이트(CG2)가 동작하게 된다. 그러므로, 제3도의 회로 계통도에서 알수 있는 바와 같이, 수신여파기(4)에서 출력되는 아날로그 출력신호(AO)는 제1전자스위치(ES1)를 통하여 송신여파기(3)로 입력되고 디지탈 입력신호(Di)는 D/A변환기(2)에 입력되어, 결국 디지탈신호 루프백회로가 구성되는 것이다. 한편 제5도에서, 루프백신호(LBi)가 있고 아날로그 입력신호(Ai)가 들어올 경우에는, 표1의 ⑥에서 알 수 있는 바와 같이 루프백 신호 선택부(F)의 아날로그 루프백 신호(F1)는 로우레벨로 출력되고 디지탈 루프백 신호(F2)는 하이레벨로 출력되므로, 이때에는 제1,2전자스위치(ES1,ES2)의 쌍방향게이트(CG2) 및 쌍방향게이트(CG1)가 각각 동작하게 된다.Referring to the operation and effects of the present invention configured as described above are as follows. In FIG. 5, when the signal is not looped back, the loopback signal LBi is not applied or the OV is applied to the second signal state determination unit B, which determines the presence or absence of the loopback signal LBi. At this time, the loopback signal LBi through the CMOS of the transistors M 1 , M 2 and M 3 , M 4 of the second signal state determination unit B outputs a low level. As shown in -4, the outputs F 1 and F 2 of the loopback signal selector F are all output at a low level regardless of whether the first and second output logic generators D and E are output. . Accordingly, low levels are output from the analog and digital loopback signal level correction units G and H shown in FIG. 6 to operate the bidirectional gate CG 2 of the first and second electronic switches ES 1 and ES 2 . Therefore, the analog input signal Ai through the first electronic switch ES 1 is provided to the
따라서 제3도의 회로계통도에서 알수 있는 바와 같이 아날로그 입력신호(Ai)는 제1전자스위치(ES1)를 통하여 송신여파기(3)로 입력되고 또한 A/D변환기(1)의 디지탈 출력신호(DO)는 제2전자스위치(ES2)를 통하여 D/A변환기(2)로 입력되므로 아날로그 신호의 루프백 회로가 구성되는 것이다.Accordingly, as can be seen from the circuit diagram of FIG. 3, the analog input signal Ai is input to the
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명은 펄스코드 변조 암호복호기에 의해서 변환된 아날로그신호 또는 디지탈 신호가 칩 내의 전자스위치에 의해 자체적으로 루프백되어지므로 상기 펄스코드 변조 암호복호기의 이득 및 특성 측정시 외부잡음의 유입이 억제되고 측정시간에 단축되는 효과가 있는 것이다.In the present invention as described above, since the analog signal or the digital signal converted by the pulse code modulation code decoder is looped back by the electronic switch in the chip, the external noise is introduced when measuring the gain and characteristics of the pulse code modulation code decoder. This suppresses and shortens the measurement time.
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