KR850001636A - 반도체 집적회로의 열 검출 차단회로 - Google Patents

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KR850001636A
KR850001636A KR1019830003252A KR830003252A KR850001636A KR 850001636 A KR850001636 A KR 850001636A KR 1019830003252 A KR1019830003252 A KR 1019830003252A KR 830003252 A KR830003252 A KR 830003252A KR 850001636 A KR850001636 A KR 850001636A
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이방원
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강진구
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    • H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
    • H02H5/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal non-electric working conditions with or without subsequent reconnection
    • H02H5/04—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal non-electric working conditions with or without subsequent reconnection responsive to abnormal temperature
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Abstract

내용 없음

Description

반도체 집적회로의 열 검출 차단회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제4도는 본 발명에 따른 열검출차단회로의 블럭도. 제5도는 본 발명에 따른 열검출차단회로도. 제6도는 본 발명에 따른 또 다른 열검출차단회로의 실시회로도.

Claims (4)

  1. 반도체 집적회로의 열검출차단회로에 있어서 주변온도 검출기(15)와 출력트랜지스터 온도검출기(17)을 이격적으로 설치하며 출력트랜지스터 온도검출기(17)을 출력트랜지스터(Q5)와 인접하게 배치하여 상기 검출기(17,15)의 출력자와 허용 상승온도를 비교기에서 비교함으로써 동력차단을 시키는 것을 특징으로 하는 반도체 집적회로의 열검출 차단회로.
  2. 제1항에 있어서 주변온도 검출기(15)와 출력트랜지스터 온도검출기(17)을 주변온도검출용 트랜지스터(Q3)와 출력트랜지스터 온도검출용 트랜지스터(Q4)로 구성시켜 상기 트랜지스터(Q3,Q4)의 베이스에 전압바이어스를 걸며 전류 대칭회로(Q6,Q7)로 비교시킴을 특징으로 하는 반도체 집적회로의 열검출차단회로.
  3. 제2항에 있어서 주변온도 검출용 트랜지스터(Q3)와 출력트랜지스터 온도검출용 트랜지스터(Q4)를 다이오우드(D1,D2)와 함께 전류대칭회로를 구성시켜 전류바이어스 방식으로 함을 특징으로 하는 반도체집적회로의 열검출차단회로.
  4. 제2항에 있어서, 주변온도 검출용 트랜지스터(Q3)와 출력트랜지스터 온도검출용 트랜지스터(Q4)를 정전류원(I'S)와 함께 차동증폭기로 함을 특징으로 하는 반도체집적회로의 열 검출차단회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100434237B1 (ko) * 2001-11-26 2004-06-04 페어차일드코리아반도체 주식회사 반도체 집적회로의 열검출 차단 회로
KR100538853B1 (ko) * 2002-10-15 2005-12-23 엘지전자 주식회사 광디스크 장치에서의 텔레비전 주사방식에 따른 출력신호처리방법
KR100736403B1 (ko) * 2005-08-19 2007-07-09 삼성전자주식회사 온도 검출기, 온도 검출방법, 및 상기 온도 검출기를구비하는 반도체 장치

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