KR20240053434A - 디스플레이 검사용 블래이드 핀 - Google Patents

Abstract

본 발명은 디스플레이 검사용 블래이드 핀에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀은 제1접속부; 제2접속부; 및 상기 제1접속부에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부;를 포함한다.

Description

디스플레이 검사용 블래이드 핀{Blade fin}

본 발명은 디스플레이 검사용 블래이드 핀에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 본 발명은 과전류에 의한 검사 소켓 파손을 방지하고자 고전류 특성을 갖는 고전류 블래이드 핀에 관한 것이다.

디스플레이 장치는 출고 전에 제품이 정상적으로 제조되었는지 여부를 검사하기 위해 테스트 소켓을 이용하여 전기적 특정을 검사한다. 고전류 핀은 반도체 또는 전자기기 등의 회로를 검사하는 장치에 사용되는 테스트 소켓에 포함되는 부품이다. 상기 고전류 핀의 일단은 테스트 대상이 대는 반도체 등의 리드 단자에 접촉하고, 타단은 검사 장치의 회로에 접촉하도록 배치되어, 입출력되는 신호를 시험용 회로로써 분석하는 방식으로 이루어지고 있다.

최근 전자제품 등이 초소형화됨에 따라 이에 내장되는 반도체 소자의 리드 단자 또한 초소형화되고, 그 피치가 작아지고 있다. 이로 인하여 기존의 포고 타입의 핀을 사용하는 경우에는 짧은 선폭에 대응하기 어렵고 수명이 짧은 문제가 있다.

선행기술문헌 중 한국 등록특허 제10-1860792호는 테스트 소켓 및 블레이드 핀을 개시하고 있다.

한국 등록특허 제10-1860792호

본 발명은 과전류 및 고전류 특성이 개선된 블래이드 핀을 제공함을 목적으로 한다.

또한, 정확도 및 내구성이 우수하다.

본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀은 제1접속부; 제2접속부; 및 상기 제1접속부에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부;를 포함한다.

상기 중심부는, 일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제1굴곡부; 일단이 상기 제1굴곡부의 타단에 연결되는 제2굴곡부; 및 일단이 상기 제2굴곡부의 타단에 연결되는 제3굴곡부;을 포함할 수 있다.

상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부에 비하여 좁을 수 있다.

상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부의 폭에 대하여 30 내지 50%일 수 있다.

상기 제2굴곡부는, 일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제2-1굴곡부; 일단이 상기 제2-1굴곡부의 타단에 연결되는 제2-2굴곡부; 및 일단이 상기 제2-2굴곡부의 타단에 연결되고 타단이 상기 제3굴곡부에 연결되는 제2-3굴곡부;를 포함할 수 있다. 상기 제2-2굴곡부의 폭은 상기 제2-1굴곡부 및 제2-3굴곡부에 비하여 좁을 수 있다.

본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀은 과전류 및 고전류 특성이 개선된다.

또한, 정확도 및 내구성이 우수하다.

도 1 및 도 2는 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀을 도시한 것이다.
도 3(a) 및 (b)는 각각 하중 0.05N 및 0.1N에서의 응력 분포를 도시한 것이다.
도 4는 전기적 특정을 측정하기 위해 블래이드 핀을 전극에 연결한 모습을 도시한 것이다.
도 5는 울템(ultem) 및 대기(air) 중에서 전기적 특성을 측정한 결과를 도시한 것이다(시뮬레이션 조건: 0GHz ~ 60GHz, 1001 points).

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 다음과 같이 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다.　또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.　따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면 상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다. 덧붙여, 명세서 전체에서 어떤 구성요소를 "포함"한다는 것은 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.

도 1 및 도 2는 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)을 도시한 것이다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)은 제1접속부(110); 제2접속부(120); 및 상기 제1접속부(110)에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부(120)에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부(130);를 포함한다.

본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)은 디스플레이 장치 등의 전자기기의 전극과 접촉하여 해당 전자기기로부터 전기적 신호를 검출하는 것으로, 일측은 테스트 대상이 되는 전자기기와 접촉하고 타측은 테스트 장치와 연결되며, 그 사이에 일정한 탄성을 가질 수 있는 구조를 포함한다. 이를 통해 내구성을 가질 수 있다. 상기 블래이드 핀(100)은 소켓에 적어도 하나가 삽입된 형태로 테스트 장치에 장착되어 사용될 수 있다.

상기 블래이드 핀(100)은 수 mm 두께의 금속 또는 합금 판재로 이루어질 수 있으며, 두께나 재질은 특별히 한정하지 않는다. 일 실시 예에서, 상기 블래이드 핀(100)의 두께는 0.1mm, 폭은 1.0mm, 길이는 7.5mm일 수 있다.

상기 제1전극부 및 제2전극부는 외부의 전도성 단자와 접촉하여 전류가 상기 블래이드 핀(100)을 따라 흐르도록 하는 기능을 수행한다. 상기 제1전극부 및 제2전극부는 일단은 각각 외부의 전도성 단자와 연결되고 타단은 상기 중심부(130)와 연결될 수 있다. 상기 제1전극부 및 제2전극부의 일단은 외부의 전도성 단자와 전기적으로 연결되기 위해 일정한 폭 및 두께를 갖도록 형성될 수 있으며, 타단은 일단에 비하여 폭이 넓게 형성될 수 있다. 이는 전류의 흐름을 고려한 것으로, 상기 제1전극부 및 제2전극부와 상기 중심부(130)사이에서 전류가 흐르는 경우 그 연결부분에 의해 저항 등 전기적 특성이 영향받지 않도록 하기 위함이다. 도 1을 참조하면, 상기 제1전극부 및 제2전극부는 'T'자 형성을 할 수 있으며, 'ㅣ'부분의 끝이 일단에 해당하고, 'ㅡ'부분이 타단에 해당할 수 있다. 또한, 상기 중심부(130)는 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)의 타단인 'ㅡ' 부분의 일측 가장자리에 배치될 수 있다. 이를 통해 보다 정확한 전기적 특성의 측정이 가능하다.

상기 중심부(130)는 정방향'S'자 형상 및 역방향 'S' 형상의 구조물이 반복하여 형성된 형상일 수 있으며, 도 1과 같이, 정방향'S'자 형상 및 역방향 'S' 형상의 구조물은 총 9개일 수 있다.

일 실시 예에서, 상기 중심부(130)는 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)와 접속하는 부분과 중심부(130)의 폭이 서로 다를 수 있다. 여기서 '폭'이란 도 2와 같이 바라본 경우 가로 방향으로의 길이를 의미한다.

도 2를 참조하면, 상기 중심부(130)는, 일단이 상기 제1접속부(110)에 연결되는 제1굴곡부(131); 일단이 상기 제1굴곡부(131)의 타단에 연결되는 제2굴곡부(132); 및 일단이 상기 제2굴곡부(132)의 타단에 연결되는 제3굴곡부(133);을 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제2굴곡부(132)의 폭은 상기 제1굴곡부(131) 및 제3굴곡부(133)에 비하여 좁을 수 있다. 바람직하게, 상기 제2굴곡부(132)의 폭은 상기 제1굴곡부(131) 및 제3굴곡부(133)의 폭에 대하여 30 내지 50%일 수 있다. 일 예로, 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)의 일단의 폭은 1mm일 수 있고, 상기 제1굴곡부(131) 및 제3굴곡부(133)의 폭은 0.06mm, 상기 제2굴곡부(132)의 폭은 0.036mm일 수 있다. 이와 같이 가운데 부분의 폭을 좁게함으로써 보다 정확한 측정이 가능하다.

다른 실시 예에서, 상기 제2굴곡부(132)는, 일단이 상기 제1접속부(110)에 연결되는 제2-1굴곡부(132a); 일단이 상기 제2-1굴곡부(132a)의 타단에 연결되는 제2-2굴곡부(132b); 및 일단이 상기 제2-2굴곡부(132b)의 타단에 연결되고 타단이 상기 제3굴곡부(133)에 연결되는 제2-3굴곡부(132c);를 포함할 수 있고, 상기 제2-2굴곡부(132b)의 폭은 상기 제2-1굴곡부(132a) 및 제2-3굴곡부(132c)에 비하여 좁을 수 있다. 바람직하게, 상기 제2-2굴곡부(132b)의 폭은 상기 제2-1굴곡부(132a) 및 제2-3굴곡부(132c)의 폭에 대하여 30 내지 40%일 수 있다. 일 예로, 상기 제1전극부 및 제2전극부의 일단의 폭은 1mm일 수 있고, 상기 제2-1굴곡부(132a) 및 제2-3굴곡부(132c)의 폭은 0.036mm, 상기 제2-2굴곡부(132b)의 폭은 0.024mm일 수 있다. 이와 같이 가운데 부분의 폭을 좁게함으로써 보다 정확한 측정이 가능하다.

도 3(a) 및 (b)는 각각 하중 0.05N 및 0.1N에서의 응력 분포를 도시한 것이다. 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)은 측정에 사용하는 하중 범위인 0.05 내지 0.1N에서 충분한 내구성을 가짐을 알 수 있다.

도 4는 전기적 특정을 측정하기 위해 블래이드 핀(100)을 전극(11, 12)에 연결한 모습을 도시한 것이고, 도 5는 울템(ultem) 및 대기(air) 중에서 전기적 특성을 측정한 결과를 도시한 것이다(시뮬레이션 조건: 0GHz ~ 60GHz, 1001 points).

본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)의 전기적 특성을 측정하기 위한 것으로, 도 4(a)와 같이 블래이드 핀(100)과 외부의 전극(11, 12)을 연결한다. 도 4(b)에서 L은 1.49mm, M은 0.59mm, N은 0.35mm로 설정하였다. 이후 이와 같이 제조된 블래이드 핀(100) 세트를 울템(ultem) 및 대기 중에 두어 전기적 특성을 측정하였으며, 그 결과를 도 5에 도시하였다.

본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.

100: 블래이드 핀, 110: 제1접속부, 120: 제2접속부, 130: 중심부, 131: 제1굴곡부, 132: 제2굴곡부, 132a: 제2-1굴곡부, 132b: 제2-2굴곡부, 132c: 제2-3굴곡부, 133: 제3굴곡부, 11, 12: 전극

Claims (4)

1. 제1접속부;
   제2접속부; 및
   상기 제1접속부에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부;를 포함하는,
   디스플레이 검사용 블래이드 핀.
2. 제1항에 있어서,
   상기 중심부는,
   일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제1굴곡부;
   일단이 상기 제1굴곡부의 타단에 연결되는 제2굴곡부; 및
   일단이 상기 제2굴곡부의 타단에 연결되는 제3굴곡부;을 포함하고,
   상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부에 비하여 좁은 것인,
   디스플레이 검사용 블래이드 핀.
3. 제2항에 있어서,
   상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부의 폭에 대하여 30 내지 50%인 것인,
   디스플레이 검사용 블래이드 핀.
4. 제2항에 있어서,
   상기 제2굴곡부는,
   일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제2-1굴곡부;
   일단이 상기 제2-1굴곡부의 타단에 연결되는 제2-2굴곡부; 및
   일단이 상기 제2-2굴곡부의 타단에 연결되고 타단이 상기 제3굴곡부에 연결되는 제2-3굴곡부;를 포함하고,
   상기 제2-2굴곡부의 폭은 상기 제2-1굴곡부 및 제2-3굴곡부에 비하여 좁은 것인,
   디스플레이 검사용 블래이드 핀.