KR20240053434A - Blade fin - Google Patents
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Abstract
본 발명은 디스플레이 검사용 블래이드 핀에 관한 것이다. 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀은 제1접속부; 제2접속부; 및 상기 제1접속부에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부;를 포함한다.The present invention relates to a blade pin for display inspection. A blade pin according to an embodiment of the present invention includes a first connection part; second connection part; and a center having one end connected to the first connection, the other end connected to the second connection, and an 'S' shape repeatedly arranged.
Description
본 발명은 디스플레이 검사용 블래이드 핀에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 본 발명은 과전류에 의한 검사 소켓 파손을 방지하고자 고전류 특성을 갖는 고전류 블래이드 핀에 관한 것이다. The present invention relates to a blade pin for display inspection. More specifically, the present invention relates to a high-current blade pin with high-current characteristics to prevent inspection socket damage due to overcurrent.
디스플레이 장치는 출고 전에 제품이 정상적으로 제조되었는지 여부를 검사하기 위해 테스트 소켓을 이용하여 전기적 특정을 검사한다. 고전류 핀은 반도체 또는 전자기기 등의 회로를 검사하는 장치에 사용되는 테스트 소켓에 포함되는 부품이다. 상기 고전류 핀의 일단은 테스트 대상이 대는 반도체 등의 리드 단자에 접촉하고, 타단은 검사 장치의 회로에 접촉하도록 배치되어, 입출력되는 신호를 시험용 회로로써 분석하는 방식으로 이루어지고 있다.The display device inspects electrical characteristics using a test socket to check whether the product has been manufactured properly before shipping. High-current pins are components included in test sockets used in devices that test circuits such as semiconductors or electronic devices. One end of the high-current pin is placed in contact with a lead terminal of a semiconductor, etc., to which the test object is touched, and the other end is arranged to contact the circuit of the inspection device, and the input and output signals are analyzed using a test circuit.
최근 전자제품 등이 초소형화됨에 따라 이에 내장되는 반도체 소자의 리드 단자 또한 초소형화되고, 그 피치가 작아지고 있다. 이로 인하여 기존의 포고 타입의 핀을 사용하는 경우에는 짧은 선폭에 대응하기 어렵고 수명이 짧은 문제가 있다. Recently, as electronic products have become ultra-miniaturized, lead terminals of semiconductor devices built into them are also becoming ultra-miniaturized and their pitches are becoming smaller. Because of this, when using existing pogo-type pins, it is difficult to cope with short line widths and has a short lifespan.
선행기술문헌 중 한국 등록특허 제10-1860792호는 테스트 소켓 및 블레이드 핀을 개시하고 있다.Among prior art documents, Korean Patent No. 10-1860792 discloses a test socket and blade pin.
본 발명은 과전류 및 고전류 특성이 개선된 블래이드 핀을 제공함을 목적으로 한다. The purpose of the present invention is to provide a blade pin with improved overcurrent and high current characteristics.
또한, 정확도 및 내구성이 우수하다. Additionally, it has excellent accuracy and durability.
본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀은 제1접속부; 제2접속부; 및 상기 제1접속부에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부;를 포함한다.A blade pin according to an embodiment of the present invention includes a first connection part; second connection part; and a center having one end connected to the first connection and the other end connected to the second connection, and having an 'S' shape repeatedly arranged.
상기 중심부는, 일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제1굴곡부; 일단이 상기 제1굴곡부의 타단에 연결되는 제2굴곡부; 및 일단이 상기 제2굴곡부의 타단에 연결되는 제3굴곡부;을 포함할 수 있다. The central portion includes a first bent portion whose one end is connected to the first connection portion; a second bent portion, one end of which is connected to the other end of the first bent portion; and a third bent portion, one end of which is connected to the other end of the second bent portion.
상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부에 비하여 좁을 수 있다. The width of the second bent portion may be narrower than that of the first bent portion and the third bent portion.
상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부의 폭에 대하여 30 내지 50%일 수 있다. The width of the second bent portion may be 30 to 50% of the width of the first bent portion and the third bent portion.
상기 제2굴곡부는, 일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제2-1굴곡부; 일단이 상기 제2-1굴곡부의 타단에 연결되는 제2-2굴곡부; 및 일단이 상기 제2-2굴곡부의 타단에 연결되고 타단이 상기 제3굴곡부에 연결되는 제2-3굴곡부;를 포함할 수 있다. 상기 제2-2굴곡부의 폭은 상기 제2-1굴곡부 및 제2-3굴곡부에 비하여 좁을 수 있다. The second bent portion includes a 2-1 bent portion, one end of which is connected to the first connection portion; a 2-2 bent portion, one end of which is connected to the other end of the 2-1 bent portion; and a 2-3 curved portion, one end of which is connected to the other end of the 2-2 curved portion, and the other end of which is connected to the third curved portion. The width of the 2-2 bent portion may be narrower than that of the 2-1 bent portion and the 2-3 bent portion.
본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀은 과전류 및 고전류 특성이 개선된다.Blade fins according to embodiments of the present invention have improved overcurrent and high current characteristics.
또한, 정확도 및 내구성이 우수하다. Additionally, it has excellent accuracy and durability.
도 1 및 도 2는 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀을 도시한 것이다.
도 3(a) 및 (b)는 각각 하중 0.05N 및 0.1N에서의 응력 분포를 도시한 것이다.
도 4는 전기적 특정을 측정하기 위해 블래이드 핀을 전극에 연결한 모습을 도시한 것이다.
도 5는 울템(ultem) 및 대기(air) 중에서 전기적 특성을 측정한 결과를 도시한 것이다(시뮬레이션 조건: 0GHz ~ 60GHz, 1001 points). 1 and 2 illustrate blade fins according to an embodiment of the present invention.
Figures 3(a) and (b) show stress distribution at loads of 0.05N and 0.1N, respectively.
Figure 4 shows a blade pin connected to an electrode to measure electrical characteristics.
Figure 5 shows the results of measuring electrical characteristics in ultem and air (simulation conditions: 0GHz to 60GHz, 1001 points).
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 다음과 같이 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면 상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다. 덧붙여, 명세서 전체에서 어떤 구성요소를 "포함"한다는 것은 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the attached drawings. However, the embodiments of the present invention may be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. Additionally, the embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to those with average knowledge in the relevant technical field. Accordingly, the shapes and sizes of elements in the drawings may be exaggerated for clearer explanation, and elements indicated by the same symbol in the drawings are the same element. In addition, the same symbols are used throughout the drawings for parts that perform similar functions and actions. In addition, throughout the specification, “including” a certain element means that other elements may be further included, rather than excluding other elements, unless specifically stated to the contrary.
도 1 및 도 2는 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)을 도시한 것이다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)은 제1접속부(110); 제2접속부(120); 및 상기 제1접속부(110)에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부(120)에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부(130);를 포함한다.1 and 2 show a blade fin 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to Figures 1 and 2, the blade pin 100 according to an embodiment of the present invention includes a first connection portion 110; Second connection part 120; and a central portion 130 having one end connected to the first connection part 110 and the other end connected to the second connection part 120 and having an 'S' shape repeatedly arranged.
본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)은 디스플레이 장치 등의 전자기기의 전극과 접촉하여 해당 전자기기로부터 전기적 신호를 검출하는 것으로, 일측은 테스트 대상이 되는 전자기기와 접촉하고 타측은 테스트 장치와 연결되며, 그 사이에 일정한 탄성을 가질 수 있는 구조를 포함한다. 이를 통해 내구성을 가질 수 있다. 상기 블래이드 핀(100)은 소켓에 적어도 하나가 삽입된 형태로 테스트 장치에 장착되어 사용될 수 있다. The blade pin 100 according to an embodiment of the present invention is in contact with the electrode of an electronic device such as a display device and detects an electrical signal from the electronic device. One side is in contact with the electronic device to be tested, and the other side is in contact with the test device. It is connected to and includes a structure that can have a certain elasticity in between. This allows durability. The blade pin 100 may be used by being mounted on a test device in the form of at least one inserted into a socket.
상기 블래이드 핀(100)은 수 mm 두께의 금속 또는 합금 판재로 이루어질 수 있으며, 두께나 재질은 특별히 한정하지 않는다. 일 실시 예에서, 상기 블래이드 핀(100)의 두께는 0.1mm, 폭은 1.0mm, 길이는 7.5mm일 수 있다. The blade fin 100 may be made of a metal or alloy plate several mm thick, and the thickness or material is not particularly limited. In one embodiment, the blade fin 100 may have a thickness of 0.1 mm, a width of 1.0 mm, and a length of 7.5 mm.
상기 제1전극부 및 제2전극부는 외부의 전도성 단자와 접촉하여 전류가 상기 블래이드 핀(100)을 따라 흐르도록 하는 기능을 수행한다. 상기 제1전극부 및 제2전극부는 일단은 각각 외부의 전도성 단자와 연결되고 타단은 상기 중심부(130)와 연결될 수 있다. 상기 제1전극부 및 제2전극부의 일단은 외부의 전도성 단자와 전기적으로 연결되기 위해 일정한 폭 및 두께를 갖도록 형성될 수 있으며, 타단은 일단에 비하여 폭이 넓게 형성될 수 있다. 이는 전류의 흐름을 고려한 것으로, 상기 제1전극부 및 제2전극부와 상기 중심부(130)사이에서 전류가 흐르는 경우 그 연결부분에 의해 저항 등 전기적 특성이 영향받지 않도록 하기 위함이다. 도 1을 참조하면, 상기 제1전극부 및 제2전극부는 'T'자 형성을 할 수 있으며, 'ㅣ'부분의 끝이 일단에 해당하고, 'ㅡ'부분이 타단에 해당할 수 있다. 또한, 상기 중심부(130)는 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)의 타단인 'ㅡ' 부분의 일측 가장자리에 배치될 수 있다. 이를 통해 보다 정확한 전기적 특성의 측정이 가능하다. The first electrode portion and the second electrode portion contact an external conductive terminal and perform a function of allowing current to flow along the blade pin 100. One end of the first electrode unit and the second electrode unit may be connected to an external conductive terminal, and the other end may be connected to the center 130. One end of the first electrode unit and the second electrode unit may be formed to have a certain width and thickness to be electrically connected to an external conductive terminal, and the other end may be formed to be wider than the one end. This is in consideration of the flow of current, and is intended to prevent electrical characteristics such as resistance from being affected by the connection portion when current flows between the first and second electrode portions and the center 130. Referring to Figure 1, the first electrode unit and the second electrode unit may form a 'T' shape, with the end of the 'ㅣ' portion corresponding to one end and the 'ㅡ' portion corresponding to the other end. Additionally, the center 130 may be disposed on one edge of the '-' portion, which is the other end of the first connection part 110 and the second connection part 120. This allows more accurate measurement of electrical characteristics.
상기 중심부(130)는 정방향'S'자 형상 및 역방향 'S' 형상의 구조물이 반복하여 형성된 형상일 수 있으며, 도 1과 같이, 정방향'S'자 형상 및 역방향 'S' 형상의 구조물은 총 9개일 수 있다. The central portion 130 may be formed by repeating a forward 'S' shape and a reverse 'S' shaped structure. As shown in FIG. 1, there are a total of 9 forward 'S' shaped and reverse 'S' shaped structures. You can.
일 실시 예에서, 상기 중심부(130)는 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)와 접속하는 부분과 중심부(130)의 폭이 서로 다를 수 있다. 여기서 '폭'이란 도 2와 같이 바라본 경우 가로 방향으로의 길이를 의미한다. In one embodiment, the central portion 130 may have a different width from the portion connecting the first connection portion 110 and the second connection portion 120. Here, 'width' means the length in the horizontal direction when viewed as shown in Figure 2.
도 2를 참조하면, 상기 중심부(130)는, 일단이 상기 제1접속부(110)에 연결되는 제1굴곡부(131); 일단이 상기 제1굴곡부(131)의 타단에 연결되는 제2굴곡부(132); 및 일단이 상기 제2굴곡부(132)의 타단에 연결되는 제3굴곡부(133);을 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 제2굴곡부(132)의 폭은 상기 제1굴곡부(131) 및 제3굴곡부(133)에 비하여 좁을 수 있다. 바람직하게, 상기 제2굴곡부(132)의 폭은 상기 제1굴곡부(131) 및 제3굴곡부(133)의 폭에 대하여 30 내지 50%일 수 있다. 일 예로, 상기 제1접속부(110) 및 제2접속부(120)의 일단의 폭은 1mm일 수 있고, 상기 제1굴곡부(131) 및 제3굴곡부(133)의 폭은 0.06mm, 상기 제2굴곡부(132)의 폭은 0.036mm일 수 있다. 이와 같이 가운데 부분의 폭을 좁게함으로써 보다 정확한 측정이 가능하다.Referring to FIG. 2, the central portion 130 includes a first bent portion 131, one end of which is connected to the first connection portion 110; a second bent portion 132, one end of which is connected to the other end of the first bent portion 131; and a third bent portion 133, one end of which is connected to the other end of the second bent portion 132. In this case, the width of the second bent portion 132 may be narrower than that of the first bent portion 131 and the third bent portion 133. Preferably, the width of the second bent portion 132 may be 30 to 50% of the width of the first bent portion 131 and the third bent portion 133. For example, the width of one end of the first connection part 110 and the second connection part 120 may be 1 mm, the width of the first bending part 131 and the third bending part 133 may be 0.06 mm, and the width of the first bending part 131 and the third bending part 133 may be 0.06 mm. The width of the bent portion 132 may be 0.036 mm. By narrowing the width of the middle part like this, more accurate measurement is possible.
다른 실시 예에서, 상기 제2굴곡부(132)는, 일단이 상기 제1접속부(110)에 연결되는 제2-1굴곡부(132a); 일단이 상기 제2-1굴곡부(132a)의 타단에 연결되는 제2-2굴곡부(132b); 및 일단이 상기 제2-2굴곡부(132b)의 타단에 연결되고 타단이 상기 제3굴곡부(133)에 연결되는 제2-3굴곡부(132c);를 포함할 수 있고, 상기 제2-2굴곡부(132b)의 폭은 상기 제2-1굴곡부(132a) 및 제2-3굴곡부(132c)에 비하여 좁을 수 있다. 바람직하게, 상기 제2-2굴곡부(132b)의 폭은 상기 제2-1굴곡부(132a) 및 제2-3굴곡부(132c)의 폭에 대하여 30 내지 40%일 수 있다. 일 예로, 상기 제1전극부 및 제2전극부의 일단의 폭은 1mm일 수 있고, 상기 제2-1굴곡부(132a) 및 제2-3굴곡부(132c)의 폭은 0.036mm, 상기 제2-2굴곡부(132b)의 폭은 0.024mm일 수 있다. 이와 같이 가운데 부분의 폭을 좁게함으로써 보다 정확한 측정이 가능하다.In another embodiment, the second bent portion 132 includes a 2-1 bent portion 132a, one end of which is connected to the first connection portion 110; a 2-2 bent portion (132b), one end of which is connected to the other end of the 2-1 bent portion (132a); and a 2-3 bent portion (132c) whose one end is connected to the other end of the 2-2 bent portion (132b) and the other end is connected to the third bent portion 133, wherein the 2-2 bent portion The width of 132b may be narrower than that of the 2-1st curved portion 132a and the 2-3rd curved portion 132c. Preferably, the width of the 2-2 bent part 132b may be 30 to 40% of the width of the 2-1 bent part 132a and the 2-3 bent part 132c. For example, the width of one end of the first electrode portion and the second electrode portion may be 1 mm, the width of the 2-1 bent portion 132a and the 2-3 bent portion 132c may be 0.036 mm, and the width of the 2-1 bent portion 132a and the 2-3 bent portion 132c may be 0.036 mm. The width of the second bent portion 132b may be 0.024 mm. By narrowing the width of the middle part like this, more accurate measurement is possible.
도 3(a) 및 (b)는 각각 하중 0.05N 및 0.1N에서의 응력 분포를 도시한 것이다. 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)은 측정에 사용하는 하중 범위인 0.05 내지 0.1N에서 충분한 내구성을 가짐을 알 수 있다. Figures 3(a) and (b) show stress distribution at loads of 0.05N and 0.1N, respectively. Referring to FIG. 3, it can be seen that the blade pin 100 according to an embodiment of the present invention has sufficient durability in the load range of 0.05 to 0.1 N used for measurement.
도 4는 전기적 특정을 측정하기 위해 블래이드 핀(100)을 전극(11, 12)에 연결한 모습을 도시한 것이고, 도 5는 울템(ultem) 및 대기(air) 중에서 전기적 특성을 측정한 결과를 도시한 것이다(시뮬레이션 조건: 0GHz ~ 60GHz, 1001 points). Figure 4 shows the blade pin 100 connected to the electrodes 11 and 12 to measure electrical characteristics, and Figure 5 shows the results of measuring electrical characteristics in ultem and air. (Simulation conditions: 0GHz ~ 60GHz, 1001 points).
본 발명의 실시 예를 따르는 블래이드 핀(100)의 전기적 특성을 측정하기 위한 것으로, 도 4(a)와 같이 블래이드 핀(100)과 외부의 전극(11, 12)을 연결한다. 도 4(b)에서 L은 1.49mm, M은 0.59mm, N은 0.35mm로 설정하였다. 이후 이와 같이 제조된 블래이드 핀(100) 세트를 울템(ultem) 및 대기 중에 두어 전기적 특성을 측정하였으며, 그 결과를 도 5에 도시하였다. To measure the electrical characteristics of the blade pin 100 according to an embodiment of the present invention, the blade pin 100 and the external electrodes 11 and 12 are connected as shown in FIG. 4(a). In Figure 4(b), L is set to 1.49mm, M is set to 0.59mm, and N is set to 0.35mm. Thereafter, the set of blade pins 100 manufactured in this way were placed in ultem and air to measure the electrical characteristics, and the results are shown in FIG. 5.
본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다. The present invention is not limited by the above-described embodiments and attached drawings, but is intended to be limited by the attached claims. Accordingly, various forms of substitution, modification, and change may be made by those skilled in the art without departing from the technical spirit of the present invention as set forth in the claims, and this also falls within the scope of the present invention. something to do.
100: 블래이드 핀, 110: 제1접속부, 120: 제2접속부, 130: 중심부, 131: 제1굴곡부, 132: 제2굴곡부, 132a: 제2-1굴곡부, 132b: 제2-2굴곡부, 132c: 제2-3굴곡부, 133: 제3굴곡부, 11, 12: 전극100: blade pin, 110: first connection, 120: second connection, 130: center, 131: first bend, 132: second bend, 132a: 2-1 bend, 132b: 2-2 bend, 132c : 2-3 bent part, 133: 3rd bent part, 11, 12: electrode
Claims (4)
제2접속부; 및
상기 제1접속부에 일단이 연결되고, 상기 제2접속부에 타단이 연결되고, 'S'자 형상이 반복적으로 배치된 형상을 갖는 중심부;를 포함하는,
디스플레이 검사용 블래이드 핀.First connection part;
second connection part; and
One end is connected to the first connection, the other end is connected to the second connection, and the center has a repeatedly arranged 'S' shape.
Blade pins for display inspection.
상기 중심부는,
일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제1굴곡부;
일단이 상기 제1굴곡부의 타단에 연결되는 제2굴곡부; 및
일단이 상기 제2굴곡부의 타단에 연결되는 제3굴곡부;을 포함하고,
상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부에 비하여 좁은 것인,
디스플레이 검사용 블래이드 핀.According to paragraph 1,
The center is,
a first bent portion whose one end is connected to the first connection portion;
a second bent portion, one end of which is connected to the other end of the first bent portion; and
It includes a third bent portion, one end of which is connected to the other end of the second bent portion,
The width of the second bent portion is narrower than that of the first bent portion and the third bent portion,
Blade pins for display inspection.
상기 제2굴곡부의 폭은 상기 제1굴곡부 및 제3굴곡부의 폭에 대하여 30 내지 50%인 것인,
디스플레이 검사용 블래이드 핀.According to paragraph 2,
The width of the second bent portion is 30 to 50% of the width of the first bent portion and the third bent portion,
Blade pins for display inspection.
상기 제2굴곡부는,
일단이 상기 제1접속부에 연결되는 제2-1굴곡부;
일단이 상기 제2-1굴곡부의 타단에 연결되는 제2-2굴곡부; 및
일단이 상기 제2-2굴곡부의 타단에 연결되고 타단이 상기 제3굴곡부에 연결되는 제2-3굴곡부;를 포함하고,
상기 제2-2굴곡부의 폭은 상기 제2-1굴곡부 및 제2-3굴곡부에 비하여 좁은 것인,
디스플레이 검사용 블래이드 핀.
According to paragraph 2,
The second bent portion,
A 2-1 bent portion, one end of which is connected to the first connection part;
a 2-2 bent portion, one end of which is connected to the other end of the 2-1 bent portion; and
It includes a 2-3 bent portion, one end of which is connected to the other end of the 2-2 bent portion, and the other end of which is connected to the third bent portion,
The width of the 2-2 bent portion is narrower than that of the 2-1 bent portion and the 2-3 bent portion,
Blade pins for display inspection.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220133525A KR20240053434A (en) | 2022-10-17 | 2022-10-17 | Blade fin |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020220133525A KR20240053434A (en) | 2022-10-17 | 2022-10-17 | Blade fin |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20240053434A true KR20240053434A (en) | 2024-04-24 |
Family
ID=90884058
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020220133525A KR20240053434A (en) | 2022-10-17 | 2022-10-17 | Blade fin |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20240053434A (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101860792B1 (en) | 2018-02-28 | 2018-05-25 | (주)퀀텀테크 | Socket for testing semiconductor |
-
2022
- 2022-10-17 KR KR1020220133525A patent/KR20240053434A/en not_active Application Discontinuation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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