KR20240025311A - 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그 - Google Patents

디스플레이 부품 검사 소켓용 지그 Download PDF

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이희준
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Abstract

본 발명은 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그는, 지지체; 상기 지지체 상부 중 일측에 배치되는 제1고정체; 및 상기 지지체 상부 중 타측에 배치되는 제2고정체;를 포함한다.
상기 제1고정체는 상기 지지체의 상부면과 접촉하는 제1몸체 및 상기 제1몸체에 접하고 상기 지지체의 상부로부터 이격하여 배치되는 제1고정부를 포함하고, 상기 제2고정체는 상기 지지체의 상부면과 접촉하는 제2몸체 및 상기 제2몸체에 접하고 상기 지지체의 상부로부터 이격하여 배치되는 제2고정부를 포함한다.

Description

디스플레이 부품 검사 소켓용 지그{Jig for inspecting socket}
본 발명은 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그에 관한 것이다.
일반적으로 디스플레이 부품이나 반도체 소자 등의 제조 공정이 완료되면 테스트 소켓 등과 같은 결함 검사 장비에 의하여 상기 부품 및 소자의 전기적 성능을 시험한다.
디스플레이 부품이나 반도체 소자의 전기적 성능 시험은 결함 검사 장비, 예컨대 테스트 소켓의 콘택부에 반도체 소자의 리드 단자가 접촉되도록 삽입하고, 각 콘택부에 입출력되는 신호를 시험용 회로로써 분석하는 방식으로 이루어지고 있다.
최근 전자제품 등이 초소형화됨에 따라 이에 내장되는 디스플레이 부품 또는 반도체 소자의 리드 단자 또한 초소형화되고, 그 피치가 작아지고 있는데, 종래 일반적으로 사용되던 테스트 소켓은 그 콘택부의 크기가 크고 상기 콘택부에 사용되는 포고 핀 등의 피치가 커 상기와 같이 초소형화되는 디스플레이 부품 또는 반도체 소자의 검사에 사용되기 어려운 문제점이 있다. 이러한 문제를 해결하기 위해 디스플레이 부품 검사 소켓의 핀이 미세화 및 정밀화되고 있고, 핀의 정렬이 집적화되고 있다. 그러나, 종래의 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조방법으로는 생산 속도가 느리고 불량률이 높은 문제가 있다.
한국 공개특허공보 제10-2022-0017828호
본 발명은 디스플레이 부품 검사 소켓의 생산 효율이 높은 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그를 제공함을 목적으로 한다.
또한, 제조가 간편하여 제조 비용을 낮출 수 있다.
또한, 복잡한 형상의 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그를 정밀하게 제조할 수 있다.
또한, 이형제를 사용하지 않고도 제조에 사용되는 실리콘을 쉽게 제거할 수 있어 오염을 방지할 수 있다.
본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그는, 지지체; 상기 지지체 상부 중 일측에 배치되는 제1고정체; 및 상기 지지체 상부 중 타측에 배치되는 제2고정체;를 포함한다.
상기 제1고정체는 상기 지지체의 상부면과 접촉하는 제1몸체 및 상기 제1몸체에 접하고 상기 지지체의 상부로부터 이격하여 배치되는 제1고정부를 포함하고, 상기 제2고정체는 상기 지지체의 상부면과 접촉하는 제2몸체 및 상기 제2몸체에 접하고 상기 지지체의 상부로부터 이격하여 배치되는 제2고정부를 포함한다.
상기 제1고정부는 상기 지지체 상부 방향으로 돌출된 돌기를 포함할 수 있다.
상기 지지체, 제1고정체 및 제2고정체는 표면이 아노다이징 처리된 것일 수 있다.
본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그는 디스플레이 부품 검사 소켓의 생산 효율이 높다.
또한, 제조가 간편하여 제조 비용을 낮출 수 있다.
또한, 복잡한 형상의 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그를 정밀하게 제조할 수 있다.
또한, 이형제를 사용하지 않고도 제조에 사용되는 실리콘을 쉽게 제거할 수 있어 오염을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그를 도시한 것이다.
도 2는 지지체를 도시한 것이다.
도 3(a) 및 (b)는 각각 제1고정체를 각기 다른 방향에서 도시한 것이다.
도 4(a) 및 (b)는 각각 제2고정체를 각기 다른 방향에서 도시한 것이다.
도 5는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그의 사용예를 촬영한 사진이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 다음과 같이 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시 형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 형태로 한정되는 것은 아니다.　또한, 본 발명의 실시 형태는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다.　따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면 상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다. 또한, 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 도면 전체에 걸쳐 동일한 부호를 사용한다. 덧붙여, 명세서 전체에서 어떤 구성요소를 "포함"한다는 것은 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그(100)를 도시한 것이고, 도 2는 지지체(110)를 도시한 것이고, 도 3(a) 및 (b)는 각각 제1고정체(120)를 각기 다른 방향에서 도시한 것이고, 도 4(a) 및 (b)는 각각 제2고정체(130)를 각기 다른 방향에서 도시한 것이다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시 예를 따르는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그(100)는, 지지체(110); 상기 지지체(110) 상부 중 일측에 배치되는 제1고정체(120); 및 상기 지지체(110) 상부 중 타측에 배치되는 제2고정체(130);를 포함한다.
상기 지지체(110)는 상기 제1고정체(120) 및 제2고정체(130)를 지지하는 기능을 수행한다. 또한, 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조 시 상부에 놓이는 실리콘 패드를 지지하는 기능을 수행한다(도 5 참조).
상기 지지체(110)는 도 2와 같이 상부가 평평한 면을 갖는 형태일 수 있으며, 그 가장자리가 상기 제1고정체(120) 및 제2고정체(130)의 가장자리와 동일한 형상일 수 있다. 이를 통해 상기 제1고정체(120) 및 제2고정체(130)를 안정적으로 조립할 수 있다. 또한, 상기 지지체(110)는 상기 제1고정체(120) 및 제2고정체(130)를 고정하기 위한 나사홀을 포함할 수 있다.
상기 지지체(110)는 금속 또는 고분자 물질로 이루어질 수 있으며, 재료 및 크기, 두께는 특별히 제한하지 않는다. 바람직하게는 상기 지지체(110)는 알루미늄 또는 알루미늄을 주 성분으로 하는 합금으로 이루어질 수 있고, 그 표면이 아노다이징 처리된 것일 수 있다. 이를 통해 표면에 일정한 조도를 형성할 수 있으며, 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조 과정에서 이형제를 사용하지 않고도 실리콘 패드를 쉽게 제거할 수 있다.
상기 제1고정체(120)는 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조 공정 중 실리콘 패드를 고정하는 기능을 수행한다. 상기 제1고정체(120)는 일부가 상기 지지체(110)의 상부에 접하여 고정되고, 나머지 일부는 상기 지지체(110)의 상부에 배치되는 실리콘 패드의 가장자리 부분을 압박하여 고정할 수 있다. 이를 위해, 상기 제1고정체(120)는 상기 지지체(110)의 상부면과 접촉하는 제1몸체(121) 및 상기 제1몸체(121)에 접하고 상기 지지체(110)의 상부로부터 이격하여 배치되는 제1고정부(122)를 포함한다.
상기 제1몸체(121)는 상기 지지체(110)의 상부면과 접하는 구성요소이다. 상기 제1몸체(121)는 상기 지지체(110)의 나사홀에 대응하는 위치에 배치된 나사홀을 포함할 수 있으며, 상기 나사홀에 나사볼트가 체결됨으로써 상기 지지체(110)와 일체로 고정할 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 상기 제1몸체(121)의 형상은 상기 지지체(110)의 일측의 형상과 동일할 수 있으며 이를 통해 조립을 쉽게 할 수 있다.
상기 제1고정부(122)는 상기 제1몸체(121)로부터 연장하여 형성될 수 있으며, 상기 지지체(110)의 상면으로부터 일정한 간격을 이격하여 배치될 수 있다. 이 때, 이격 간격은 실리콘 패드의 두께의 80 내지 95% 수준으로, 바람직하게는 0.9 내지 1.4 mm일 수 있다. 도 3을 참조하면, 상기 제1고정부(122)는 정면에서 바라볼 때'ㄱ'자 형상으로 단차를 가지는 형상일 수 있다. 또한, 'ㄱ'자 형상 중 'ㅡ'자 부분 상에는 돌기(122a)를 더 포함할 수 있다. 이를 통해, 상기 제1고정부(122)는 실리콘 패드의 가장 외각 부분은 전체적으로 압박하여 고정할 수 있고, 그 보다 안쪽 부분은 돌기(122a)를 통해 압박하여 고정할 수 있는 바, 상기 제1고정부(122)의 압박으로 인하여 실리콘 패드의 중심부가 변형되는 것을 방지할 수 있다.
상기 제1고정체(120)는 금속 또는 고분자 물질로 이루어질 수 있으며, 재료 및 크기, 두께는 특별히 제한하지 않는다. 바람직하게는 상기 제1고정체(120)는 알루미늄 또는 알루미늄을 주 성분으로 하는 합금으로 이루어질 수 있고, 그 표면이 아노다이징 처리된 것일 수 있다. 이를 통해 표면에 일정한 조도를 형성할 수 있으며, 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조 과정에서 이형제를 사용하지 않고도 실리콘 패드를 쉽게 제거할 수 있다.
상기 제2고정체(130)는 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조 공정 중 실리콘 패드를 고정하는 기능을 수행한다. 상기 제2고정체(130)는 일부가 상기 지지체(110)의 상부에 접하여 고정되고, 나머지 일부는 상기 지지체(110)의 상부에 배치되는 실리콘 패드의 가장자리 부분을 압박하여 고정할 수 있다. 이를 위해, 상기 제2고정체(130)는 상기 지지체(110)의 상부면과 접촉하는 제2몸체(131) 및 상기 제2몸체(131)에 접하고 상기 지지체(110)의 상부로부터 이격하여 배치되는 제2고정부(132)를 포함한다.
상기 제2몸체(131)는 상기 지지체(110)의 상부면과 접하는 구성요소이다. 상기 제2몸체(131)는 상기 지지체(110)의 나사홀에 대응하는 위치에 배치된 나사홀을 포함할 수 있으며, 상기 나사홀에 나사볼트가 체결됨으로써 상기 지지체(110)와 일체로 고정할 수 있다. 앞서 설명한 바와 같이, 상기 제2고정체(130)는 상기 지지체(110)의 상부 중에서 상기 제1고정체(120)가 배치된 쪽의 반대쪽 가장자리에 배치될 수 있고, 상기 제2몸체(131)의 형상은 상기 지지체(110)의 일측의 형상과 동일할 수 있으며 이를 통해 조립을 쉽게 할 수 있다.
상기 제2고정부(132)는 상기 제2몸체(131)로부터 연장하여 형성될 수 있으며, 상기 지지체(110)의 상면으로부터 일정한 간격을 이격하여 배치될 수 있다. 이 때, 이격 간격은 실리콘 패드의 두께의 80 내지 95% 수준으로, 바람직하게는 0.9 내지 1.4 mm일 수 있다. 도 4를 참조하면, 상기 제2고정부(132)는 제1고정부(122)와 달리 'ㅡ'자 형상일 수 있다. 이 때, 상기 제2고정부(132)가 상기 제2몸체(131)로부터 돌출된 길이는 상기 제1고정부(122)의 'l'자 형상이 돌출된 길이와 동일할 수 있다. 이 경우, 상기 제2고정부(132)를 이용하여 실리콘 패드의 가장 외각 부분만을 전체적으로 압박하여 고정할 수 있으며, 상기 제1고정부(122) 및 제2고정부(132)의 압박으로 인하여 실리콘 패드의 중심부가 변형되는 것을 방지할 수 있다.
상기 제2고정체(130)는 금속 또는 고분자 물질로 이루어질 수 있으며, 재료 및 크기, 두께는 특별히 제한하지 않는다. 바람직하게는 상기 제2고정체(130)는 알루미늄 또는 알루미늄을 주 성분으로 하는 합금으로 이루어질 수 있고, 그 표면이 아노다이징 처리된 것일 수 있다. 이를 통해 표면에 일정한 조도를 형성할 수 있으며, 디스플레이 부품 검사 소켓의 제조 과정에서 이형제를 사용하지 않고도 실리콘 패드를 쉽게 제거할 수 있다.
도 5는 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그(100)를 이용하여 디스플레이 부품 검사 소켓을 제조하는 모습을 도시한 것이다. 도 5에서 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그(100)의 상부에 실리콘 패드가 고정되어 배치되고, 상기 실리콘 패드 상에 핀이 부착된 것을 알 수 있다.
본 발명은 상술한 실시 형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며 첨부된 청구범위에 의해 한정하고자 한다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이며, 이 또한 본 발명의 범위에 속한다고 할 것이다.
100: 디스플레이 부품 검사 소켓용 지그, 110: 지지체, 120: 제1고정체, 121: 제1몸체, 122: 제1고정부, 122a: 돌기, 130: 제2고정체, 131: 제2몸체, 132: 제2고정부

Claims (3)

  1. 지지체;
    상기 지지체 상부 중 일측에 배치되는 제1고정체; 및
    상기 지지체 상부 중 타측에 배치되는 제2고정체;를 포함하고,
    상기 제1고정체는 상기 지지체의 상부면과 접촉하는 제1몸체 및 상기 제1몸체에 접하고 상기 지지체의 상부로부터 이격하여 배치되는 제1고정부를 포함하고,
    상기 제2고정체는 상기 지지체의 상부면과 접촉하는 제2몸체 및 상기 제2몸체에 접하고 상기 지지체의 상부로부터 이격하여 배치되는 제2고정부를 포함하는,
    디스플레이 부품 검사 소켓용 지그.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1고정부는 상기 지지체 상부 방향으로 돌출된 돌기를 포함하는 것인,
    디스플레이 부품 검사 소켓용 지그.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 지지체, 제1고정체 및 제2고정체는 표면이 아노다이징 처리된 것인,
    디스플레이 부품 검사 소켓용 지그.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20220017828A (ko) 2020-08-05 2022-02-14 오므론 가부시키가이샤 소켓, 소켓 유닛, 검사 지그 및 검사 지그 유닛

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