KR200364704Y1 - 포켓형 인서트 장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 종래의 일체형 인서트 장치에 있어서 반도체 소자가 장착되는 부분을 포켓형 소자 장착부로 별도로 제작하고 인서트 장치에 상기 포켓형 소자 장착부가 안착될 수 있도록 삽입홈을 형성함으로서 인서트 장치를 전체적으로 포켓형으로 제작함으로써 반도체 소자마다 다른 인서트 장치를 포켓형 소자 장착부 부분만 달리하여 제작함으로써 인서트 장치의 제작비용을 줄이고 생산성을 향상시킨 새로운 형태의 포켓형 인서트 장치에 관한 것이다.

본 고안의 포켓형 인서트 장치는 그의 중심 부분에 형성된 직사각형 형상의 삽입부와; 상기 인서트 장치의 삽입부의 크기와 대응되는 주변길이 및 형상을 가지며 그 내부에 형성된 반도체 소자 장착부에 반도체 소자가 장착된 포켓형 소자 장착부로 구성되며, 상기 인서트 장치의 삽입부에 상기 포켓형 소자 장착부가 삽입장착된 것을 특징으로 한다.

Description

포켓형 인서트 장치{POCKET TYPE INSERT APPARATUS}

본 고안은 포켓형 인서트 장치에 관한 것으로, 특히 종래의 일체형 인서트 장치에 있어서 반도체 소자가 장착되는 부분을 포켓형 소자 장착부로 별도로 제작하고 인서트 장치에 상기 포켓형 소자 장착부가 안착될 수 있도록 삽입홈을 형성함으로서 인서트 장치를 전체적으로 포켓형으로 제작함으로써 반도체 소자마다 다른 인서트 장치를 포켓형 소자 장착부 부분만 달리하여 제작함으로써 인서트 장치의 제작비용을 줄이고 생산성을 향상시킨 새로운 형태의 포켓형 인서트 장치에 관한 것이다.

일반적으로 반도체 소자를 생산하는 위한 마지막 단계로서 패키징(packging)단계가 수행되는데, 이러한 패키징 단계 전에 반도체 칩이 정상적인지 확인하기 위해 수행하는 테스트 공정이 있다.

이러한 반도체 소자 테스트 공정에는 반도체 디바이스의 전기적 특성을 테스트하는 테스터(도시안됨)와 연계하여 작업하는 조종자와 핸들러 설비(도시안됨)가 필요하며, 보드에 장착된 소켓과 접촉되어 전기적 특성을 검사하기 위한 대상물인 반도체 소자를 내장하고 있는 인서트 부재가 소켓에 정확히 안착되도록 하기 위한 인서트 가이드가 있다.

종래의 인서트 가이드(도시안됨)는 본 고안의 출원인이 이미 출원한 내용에개시된 바 있다. 즉 반도체 소자가 장착되는 인서트 어셈블리와, 상기 인서트 어셈블리의 상방에 위치하며 소정크기의 소자 장착부에 장착된 반도체 소자를 테스트를 위해 하방으로 누르기 위한 푸쉬 어셈블리와, 상기 인서트 어셈블리의 하방에 위치하며, 내측에 소켓을 결합하여 상기 인서트 어셈블리와 결합되어지는 소켓 가이드 및 테스터와 전기적 접촉이 이루어지는 보드를 일체로 결합된 구성으로 이루어진 것이다.

도 1은 종래 기술에 따른 인서트 장치의 개략적인 사시도이다.

도1을 참조하여 인서트 장치(20)를 설명하면, 상기 인서트 어셈블리는 내측에 테스트하고자 하는 반도체 소자를 안착시키기 위한 인서트 장치(20)가 구비되는데, 상기 인서트 장치(20)는 반도체 소자가 장착될 수 있는 소자 장착부(24) 및 기타 장치 예를 들면 토글 장치 및 래치부가 장착될 수 있는 토글장치 장착부(26) 및 래치 장착부가 형성되어있고, 상기 소자 장착부(24)상에 하방으로 반도체 소자가 장착된다.

한편 반도체 소자를 테스트하기 위해서는 핸들러(도시안됨)라는 장비에 넣고 반도체 소자를 테스트하는 곳까지 이동시켜줘야 한다. 또한 반도체 소자는 금속과 전기장에 약하다. 따라서 전기장에 대해 보호를 해주면서 운반시키기 위해 인서트 장치를 사용한다. 인서트 장치는 사출로 제작되므로 제작기간이 2주에서 2주 정도로 길다. 따라서 종래 기술에 따른 반도체 소자마다 다른 인서트 장치를 제작해야 하므로 인서트 가이드의 제작비용이 많이드는 문제점이 있었다.

본 고안은 상기한 바와 같은 종래 기술에서의 문제점을 해결하고자 제안된 것으로서, 인서트 장치의 몸체 중에서 반도체 소자가 장착되는 반도체 소자 장착부분을 별도로 포켓형으로 제작하고 핸들러에 직접 결합되는 인서트 장치에 상기 포켓형 소자 장착부가 삽입되는 형태로하여 인서트 장치의 제작비용을 줄이도록 한 새로운 형태의 포켓형 인서트 장치를 제공하고자 하는 것이 그 목적이다.

도 1은 종래 기술에 따른 인서트 장치의 개략적인 사시도이다.

도 2는 본 고안의 인서트 장치의 개략적인 사시도이다.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

200 : 포켓형 소자 장착부

400 : 인서트 장치

420 : 삽입홈

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안의 실시예로서, 반도체 소자가 결합되는 소자 장착부가 형성된 인서트 장치와 상기 인서트 장치상에 위치된 인서트 커버를 포함하는 인서트 어셈블리와, 내측에 소켓을 결합하여 상기 인서트와 결합되어지는 소켓가이드 및 테스터와 접촉되는 보드로 구성되어 상기 인서트 커버를 눌러서 반도체 소자의 볼을 소켓의 볼과 전기적으로 접촉되도록 하여 테스트하는 통상의 인서트 가이드에 있어서,

상기 인서트 장치는

그의 중심 부분에 형성된 직사각형 형상의 삽입부와;

상기 인서트 장치의 삽입부의 크기와 대응되는 주변길이 및 형상을 가지며 그 내부에 형성된 반도체 소자 장착부에 반도체 소자가 장착된 포켓형 소자 장착부로 구성되며,

상기 인서트 장치의 삽입부에 상기 포켓형 소자 장착부가 삽입장착된 것을 특징으로 하는 포켓형 인서트 장치가 제공된다.

바람직하게는, 상기 포켓형 소자 장착부의 소자 장착부는 반도체 소자의 크기에 맞게 변경되는 것을 특징으로 한다.

이하 본 고안에 따른 포켓형 인서트 장치를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.

본 고안의 포켓형 인서트 장치는 핸들러마다 인서트 장치의 결합위치가 같다는 특징과 이와 더불어 반도체 소자마다 인서트 장치의 안착면이 다르다는 점에 착안하였다. 즉 인서트 장치의 몸체부분을 똑 같이 제작하고 단지 반도체 장치의 안착면인 반도체 소자 장착부만을 포켓형으로 별도로 제작하여 이를 일체로 한 인서트 장치를 제공하고자 하는 것이다.

도 2는 본 고안에 따른 포켓형 인서트 장치의 개략적인 사시도이다. 이에 도시한 바와 같이, 본 고안의 인서트 장치는 전체적으로 외관은 종래 인서트 장치와유사하므로 다른 부분을 중심으로 설명하고자 한다. 먼저 상기 인서트 장치(400)의 중심 부분에는 직사각형 형상의 삽입부(420) 형성되어있다. 상기 인서트 장치(400)의 외측에 형성된 구멍들은 종래 인서트 장치에서 볼 수 있는 바와 같이, 다른 부품들 예를 들면 푸쉬 어셈블리와의 결합을 위한 결합공이다.

상기 인서트 장치(400)의 삽입부(420)의 크기와 대응되는 주변길이 및 형상을 가진 포켓형 소자 장착부(200)가 상기 인서트 장치(400)의 삽입부(420)에 삽입되어 인서트 장치(400)가 완성된다.

상기 포켓형 소자 장착부(200)는 그 내측에 종래 인서트 장치(20)에서와 마찬가지로 반도체 소자가 장착될 수 있는 소자 장착부(24) 및 기타 장치 예를 들면 토글 장치 및 래치부가 장착될 수 있는 토글장치 장착부(26) 및 래치 장착부가 형성되어있다. 상기 소자 장착부(24)상에 하방으로 반도체 소자가 장착된다.

상기와 같이 구성된 본 고안의 포켓형 인서트 장치는 사용자가 반도체 소자를 상기 포켓형 소자 장착부(200)내에 소자 장착부(24)상에 하방으로 반도체 소자를 장착한 후 그 포켓형 소자 장착부(200)를 다시 인서트 장치(400)의 삽입홈(420)에 삽입한 후 테스트 할 수 있다. 그후 다른 크기의 반도체 소자를 테스트하고자 하는 경우에는 상기 포켓형 소자 장착부(200)만을 다른 것으로 교체하여 다시 삽입시킴으로써 반도체 소자의 테스트 시간을 단축한다.

본 고안에 따른 인서트 장치에 따르면, 종래 기술에서 반도체 소자마다 다른 크기의 인서트 장치를 금형 제작하여 사용하여 하므로 생기는 불편함과 생산성 저하의 문제를 인서트 장치에서 반도체 소자마다 달라지는 반도체 소자 장착부 부분만을 별도로 포켓형 소자 장착부로 제작하여 사용하므로 전체적으로 인서트 가이드 장치 제작 비용이 저렴해지는 효과가 있다.

또한, 아울러 반도체 소자를 테스트하는데 있어서 단지 반도체 소자가 장착부만 다른 포켓형 소자 장착부를 교체하면 되기 때문에 테스트 시간이 종래에 비해 현저히 줄어들게 되는 효과가 있는 것이다.

Claims (2)

1. 반도체 소자가 결합되는 소자 장착부가 형성된 인서트 장치와 상기 인서트 장치상에 위치된 인서트 커버를 포함하는 인서트 어셈블리와, 내측에 소켓을 결합하여 상기 인서트와 결합되어지는 소켓가이드 및 테스터와 접촉되는 보드로 구성되어 상기 인서트 커버를 눌러서 반도체 소자의 볼을 소켓의 볼과 전기적으로 접촉되도록 하여 테스트하는 통상의 인서트 가이드에 있어서,

   상기 인서트 장치는

   그의 중심 부분에 형성된 직사각형 형상의 삽입부와;

   상기 인서트 장치의 삽입부의 크기와 대응되는 주변길이 및 형상을 가지며 그 내부에 형성된 반도체 소자 장착부에 반도체 소자가 장착된 포켓형 소자 장착부로 구성되며,

   상기 인서트 장치의 삽입부에 상기 포켓형 소자 장착부가 삽입장착된 것을 특징으로 하는 포켓형 인서트 장치.
2. 제 1 항에 있어서, 상기 포켓형 소자 장착부의 소자 장착부는 반도체 소자의 크기에 맞게 형성된 것을 특징으로 하는 포켓형 인서트 장치.