KR20230141554A - Mounting device and mounting method - Google Patents

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KR20230141554A
KR20230141554A KR1020230040201A KR20230040201A KR20230141554A KR 20230141554 A KR20230141554 A KR 20230141554A KR 1020230040201 A KR1020230040201 A KR 1020230040201A KR 20230040201 A KR20230040201 A KR 20230040201A KR 20230141554 A KR20230141554 A KR 20230141554A
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마사노리 하시모토
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시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤
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Abstract

본딩 헤드 및 촬상부의 이동에 의한 오차를 저감시킬 수 있는 실장 장치 및 실장 방법을 제공한다.
실시 형태의 실장 장치(1)는, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)과 헤드 마크(313)를 촬상한 제1 화상 α에 기초하여, 헤드 마크(313)와 전자 부품(2)의 제1 위치 관계를 산출하는 제1 위치 관계 산출부(73), 실장 위치 P3에 있어서 기판 마크(3b)를 촬상한 제2 화상 β와 본딩 헤드(310)가 보유 지지한 전자 부품(2)이 실장 영역(3a)에 대향한 상태에서, 헤드 마크(313)를 촬상한 제3 화상 γ에 기초하여, 헤드 마크(313)와 기판 마크(3b)의 제2 위치 관계를 산출하는 제2 위치 관계 산출부(74), 제1 위치 관계와 제2 위치 관계에 기초하여, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 제3 위치 관계를 산출하는 제3 위치 관계 산출부(75), 제3 위치 관계에 기초하여 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)를 위치 결정하는 위치 결정 기구를 갖는다.
A mounting device and method that can reduce errors caused by movement of a bonding head and an imaging unit are provided.
The mounting device 1 of the embodiment displays the head mark 313 and the electronic component ( 2) a first positional relationship calculation unit 73 that calculates the first positional relationship, a second image β obtained by imaging the substrate mark 3b at the mounting position P3, and an electronic component held by the bonding head 310 ( 2) Calculate the second positional relationship between the head mark 313 and the substrate mark 3b based on the third image γ captured of the head mark 313 in a state facing the mounting area 3a. 2. A positional relationship calculation unit 74, and a third positional relationship calculation unit 75 that calculates a third positional relationship between the electronic component 2 and the substrate mark 3b based on the first positional relationship and the second positional relationship. , and has a positioning mechanism for positioning the electronic component 2 and the substrate mark 3b based on the third positional relationship.

Description

실장 장치 및 실장 방법{MOUNTING DEVICE AND MOUNTING METHOD}Mounting device and mounting method {MOUNTING DEVICE AND MOUNTING METHOD}

본 발명은, 실장 장치 및 실장 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a mounting device and a mounting method.

반도체 칩 등의 전자 부품을, 웨이퍼나 트레이로부터 픽업하여, 기판 상으로 반송하고, 기판에 가압해 붙여서 실장하는 것이 행해지고 있다. 이러한 전자 부품의 실장에서는, 하나의 기판에 다수의 전자 부품을 실장하는 것도 있다. 예를 들어, 마이크로 LED 디스플레이의 제조 공정에 있어서는, 매스 트랜스퍼라고 불리는 장치에 의해, 전자 부품인 마이크로 LED를, 다수 일괄하여 기판에 실장하고 있다. 이러한 다수의 전자 부품의 실장에 있어서는, 미탑재부나 전자 부품의 불량부가 발생하는 경우가 있다. 미탑재부는, 전자 부품이 탑재되어 있지 않은 부분이다. 또한, 전자 부품의 불량부는, 검사에 의해 불량이라고 판정된 전자 부품의 부분이다. 상술한 마이크로 LED에서는, 미점등부를 들 수 있다. 미점등부는, 탑재된 마이크로 LED 중 검사에 의해 점등하지 않는 것이 명확해진 부분이다.Electronic components such as semiconductor chips are picked up from a wafer or tray, transported onto a substrate, and mounted by pressing and attaching them to the substrate. In such mounting of electronic components, there is a case where multiple electronic components are mounted on one board. For example, in the manufacturing process of a micro LED display, a large number of micro LEDs, which are electronic components, are collectively mounted on a substrate using a device called a mass transfer. In the mounting of such a large number of electronic components, unmounted parts or defective electronic parts may occur. The unmounted portion is a portion in which no electronic components are mounted. Additionally, a defective part of an electronic component is a part of an electronic component that is determined to be defective through inspection. In the above-mentioned micro LED, there is a non-lit portion. The non-illuminated part is a part of the installed micro LED that was found not to light through inspection.

이러한 미탑재부나 전자 부품의 불량부에 대해서는, 리페어 공정을 실시할 필요가 있다. 리페어 공정은, 미탑재부에 전자 부품을 탑재하거나, 불량부의 전자 부품을 제거하고, 다시 전자 부품을 탑재하는 공정이다. 리페어 공정에 있어서는, 본딩 헤드에 의해, 전자 부품을 하나씩 탑재할 필요가 있다. 이 경우, 기판에 있어서의 하나하나의 실장 영역에 대하여, 전자 부품을 정밀하게 위치 결정해야만 한다. 예를 들어, 사이즈가 한 변이 20㎛인 정사각형의 마이크로 LED인 경우, 1㎛ 정도의 정밀도가 필요해진다.It is necessary to perform a repair process on such unmounted parts or defective parts of electronic components. The repair process is a process of mounting electronic components on the non-mounted portion, removing electronic components from the defective portion, and mounting the electronic component again. In the repair process, it is necessary to mount electronic components one by one using a bonding head. In this case, the electronic components must be precisely positioned for each mounting area on the board. For example, in the case of a square micro LED with a side of 20㎛, a precision of about 1㎛ is required.

기판과 전자 부품을 위치 결정하기 위해, 이하와 같은 방법이 행해지고 있다. 먼저, 하단면에 전자 부품을 흡착 유지한 본딩 헤드를, 기판의 실장 영역의 상방에서 대기시키고, 본딩 헤드와 기판 사이에, 상하 양방향을 동시에 촬상할 수 있는 촬상부를 진입시켜 본딩 헤드에 흡착 유지된 전자 부품과 기판의 실장 영역을 촬상하고, 후퇴시킨다. 그리고, 촬상부가 촬상한 화상에 기초하여, 기판과 전자 부품의 수평 방향의 상대 위치를 인식하고, 그 위치 인식에 기초하여, 본딩 헤드를 위치 결정하여 전자 부품을 기판에 실장한다.The following methods are used to position the substrate and electronic components. First, the bonding head holding the electronic components on the bottom surface is placed on standby above the mounting area of the board, and an imaging unit capable of simultaneously capturing images in both directions is introduced between the bonding head and the board, and the bonding head holding the electronic components is brought into contact with the bonding head. The mounting area of the electronic components and the board is imaged and retracted. Then, based on the image captured by the imaging unit, the relative position of the substrate and the electronic component in the horizontal direction is recognized, and based on the position recognition, the bonding head is positioned to mount the electronic component on the substrate.

일본 특허 공개 제2010-129913호 공보Japanese Patent Publication No. 2010-129913

전자 부품과 기판 사이에 촬상부를 삽입하기 위해서는, 전자 부품과 기판 사이에 상하 방향으로 큰 간격을 둘 필요가 있다. 이 때문에, 촬상부를 전자 부품과 기판 사이로부터 후퇴시키고, 본딩 헤드를 하강시켜 전자 부품을 기판에 탑재할 때의 이동 거리가 길어진다. 그러면, 촬상이나 위치 결정한 위치로부터, 이동에 의해 발생하는 위치 어긋남이 발생하기 쉬워진다. 또한, 이동 거리가 길면, 이동 중에 기구 부분으로부터 발생하는 진애가 많아진다. 또한, 촬상부가 진입과 후퇴를 위한 이동을 반복하기 때문에, 촬상마다 촬상 위치가 변동됨과 함께, 상하의 카메라의 촬상 위치에 오차가 발생하기 쉽다.In order to insert an imaging unit between an electronic component and a board, it is necessary to leave a large gap in the vertical direction between the electronic part and the board. For this reason, the moving distance when the imaging unit is retracted from between the electronic component and the substrate, the bonding head is lowered, and the electronic component is mounted on the substrate becomes longer. Then, positional deviation caused by movement from the imaging or positioning position is likely to occur. Additionally, if the moving distance is long, the amount of dust generated from the mechanism portion during movement increases. Additionally, since the imaging unit repeats movements for entry and retreat, the imaging position changes for each imaging and errors are likely to occur in the imaging positions of the upper and lower cameras.

본 발명의 실시 형태는, 본딩 헤드 및 촬상부의 이동에 의한 오차를 저감시킬 수 있는 실장 장치 및 실장 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The purpose of embodiments of the present invention is to provide a mounting device and a mounting method that can reduce errors due to movement of the bonding head and the imaging unit.

상기한 목적을 달성하기 위해, 실시 형태의 실장 장치는, 헤드 마크가 마련된 본딩 헤드를 갖고, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 전자 부품을, 실장 위치에 있어서의 기판의 실장 영역에 탑재하는 탑재 장치와, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품을, 상기 헤드 마크와 함께 촬상하는 제1 화상을 촬상 가능한 위치에 마련된 제1 촬상부와, 상기 실장 위치에 있어서, 상기 실장 영역에 마련된 기판 마크를 촬상하는 제2 화상과, 상기 제2 화상을 촬상한 후, 상기 본딩 헤드가 상기 실장 위치에 위치 부여되고, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품이 상기 실장 영역에 대향한 상태에서, 상기 헤드 마크를 촬상하는 제3 화상을 촬상 가능하게 마련된 제2 촬상부와, 상기 제1 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 전자 부품의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출하는 제1 위치 관계 산출부와, 상기 제2 화상 및 상기 제3 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 기판 마크의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출하는 제2 위치 관계 산출부와, 상기 제1 위치 관계 및 상기 제2 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출하는 제3 위치 관계 산출부와, 상기 제3 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품의 탑재 전에, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크를 위치 결정하는 위치 결정 기구를 갖는다.In order to achieve the above object, the mounting device of the embodiment includes a mounting device that has a bonding head provided with a head mark and mounts the electronic component held by the bonding head on the mounting area of the substrate at the mounting position; , a first imaging unit provided at a position capable of capturing a first image of the electronic component held by the bonding head together with the head mark, and, at the mounting position, imaging a substrate mark provided in the mounting area. a second image, and after capturing the second image, the bonding head is positioned at the mounting position, and the electronic component held by the bonding head faces the mounting area, the head mark a second imaging unit provided to be capable of capturing a third image, and a first positional relationship calculation unit that calculates a first positional relationship, which is a positional relationship between the head mark and the electronic component, based on the first image; A second positional relationship calculation unit that calculates a second positional relationship that is a positional relationship between the head mark and the substrate mark, based on the second image and the third image, and the first positional relationship and the second positional relationship A third positional relationship calculation unit that calculates a third positional relationship, which is the positional relationship between the electronic component and the substrate mark, based on the third positional relationship, and a third positional relationship between the electronic component and the substrate before mounting the electronic component, based on the third positional relationship. It has a positioning mechanism for positioning the mark.

실시 형태의 실장 방법은, 제1 촬상부에 의해, 헤드 마크가 마련된 본딩 헤드에 보유 지지된 전자 부품이, 상기 헤드 마크와 함께 촬상된 제1 화상을 촬상하고, 제2 촬상부에 의해, 기판에 있어서의 상기 전자 부품의 실장 영역에 마련된 기판 마크가 촬상된 제2 화상을 촬상하고, 상기 제2 촬상부에 의해, 상기 제2 화상을 촬상한 후에, 상기 실장 영역에 상기 전자 부품이 대향하도록 상기 본딩 헤드를 배치한 상태에서, 상기 헤드 마크가 촬상된 제3 화상을 촬상하고, 제1 위치 관계 산출부가, 상기 제1 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 전자 부품의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출하고, 제2 위치 관계 산출부가, 상기 제2 화상 및 상기 제3 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 기판 마크의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출하고, 제3 위치 관계 산출부가, 상기 제1 위치 관계 및 상기 제2 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출하고, 위치 결정 기구가, 상기 제3 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크를 위치 결정하고, 탑재 장치가, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품을, 상기 기판의 상기 실장 영역에 탑재한다.In the mounting method of the embodiment, a first image of an electronic component held by a bonding head provided with a head mark is imaged together with the head mark by a first imaging unit, and a substrate is captured by a second imaging unit. A second image in which a substrate mark provided in the mounting area of the electronic component is imaged is captured, and after the second image is captured by the second imaging unit, the electronic component faces the mounting area. In a state in which the bonding head is disposed, a third image in which the head mark is captured is captured, and a first positional relationship calculation unit determines a first position, which is the positional relationship between the head mark and the electronic component, based on the first image. A relationship is calculated, and a second positional relationship calculation unit calculates a second positional relationship, which is a positional relationship between the head mark and the substrate mark, based on the second image and the third image, and a third positional relationship calculation unit, Based on the first positional relationship and the second positional relationship, a third positional relationship that is a positional relationship between the electronic component and the substrate mark is calculated, and the positioning mechanism calculates a third positional relationship between the electronic component and the substrate mark based on the third positional relationship. and positions the substrate mark, and a mounting device mounts the electronic component held by the bonding head on the mounting area of the substrate.

본 발명의 실시 형태에서는, 본딩 헤드 및 촬상부의 이동에 의한 오차를 저감시킬 수 있다.In the embodiment of the present invention, errors due to movement of the bonding head and the imaging unit can be reduced.

도 1은 실시 형태의 실장 장치를 나타내는 정면도 및 제어 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 실장 장치를 나타내는 평면도이다.
도 3은 도 1의 실장 장치의 전자 부품의 전달 시를 나타내는 정면도이다.
도 4는 도 3의 상태의 실장 장치를 나타내는 평면도이다.
도 5는 도 1의 A-A 단면도이고, 전자 부품의 실장 시를 나타내는 도면이다.
도 6은 본딩 헤드의 선단 부분을 나타내는 단면도이다.
도 7은 제1 촬상부에 의한 제1 화상의 촬상을 나타내는 설명도, 제2 촬상부에 의한 제2 화상 및 제3 화상의 촬상을 나타내는 설명도이다.
도 8은 실시 형태에 의한 실장 수순을 나타내는 흐름도이다.
도 9는 변형예의 헤드 마크를 나타내는 단면도이다.
1 is a front view showing a mounting device of an embodiment and a block diagram showing a control device.
Figure 2 is a plan view showing the mounting device of Figure 1.
FIG. 3 is a front view showing the electronic component of the mounting device of FIG. 1 when delivered.
Figure 4 is a plan view showing the mounting device in the state of Figure 3.
FIG. 5 is a cross-sectional view taken along line AA of FIG. 1 and is a diagram showing the electronic components when mounted.
Figure 6 is a cross-sectional view showing the tip of the bonding head.
Fig. 7 is an explanatory diagram showing imaging of a first image by the first imaging unit and imaging of a second image and a third image by the second imaging unit.
Fig. 8 is a flowchart showing the mounting procedure according to the embodiment.
Fig. 9 is a cross-sectional view showing a head mark of a modified example.

본 발명의 실시 형태(이하, 본 실시 형태라고 칭함)에 대하여, 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다. 또한, 도면은 모식도이며, 각 부의 사이즈, 비율 등은, 이해를 용이하게 하기 위해 과장되어 있는 부분을 포함하고 있다.An embodiment of the present invention (hereinafter referred to as the present embodiment) will be described in detail with reference to the drawings. In addition, the drawing is a schematic diagram, and the size and proportion of each part include exaggerated portions to facilitate understanding.

[개요][outline]

도 1 내지 도 4에 나타낸 바와 같이, 본 실시 형태의 실장 장치(1)는, 전자 부품(2)의 공급 장치(10), 픽업 장치(20), 탑재 장치(30), 기판 스테이지(40), 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60) 및 제어 장치(70)를 갖는다. 실장 장치(1)는, 전자 부품(2)을, 공급 장치(10)로부터 픽업 장치(20)에 의해 픽업하여 반전시키고, 탑재 장치(30)로 전달하고, 탑재 장치(30)에 의해 기판 스테이지(40)에 지지된 기판(3)에 탑재함으로써 실장한다.1 to 4, the mounting device 1 of this embodiment includes a supply device 10, a pickup device 20, a placement device 30, and a substrate stage 40 for the electronic component 2. , has a first imaging unit 50, a second imaging unit 60, and a control device 70. The mounting device 1 picks up the electronic component 2 from the supply device 10 by the pickup device 20, inverts it, and transfers it to the mounting device 30, where the electronic component 2 is placed on the substrate stage by the mounting device 30. It is mounted by mounting it on the board 3 supported on 40.

전자 부품(2)은, 예를 들어 직사각 형상의 박소편 부품이다. 본 실시 형태에서는, 전자 부품(2)은 마이크로 LED이다. 마이크로 LED는, 표리 중 한쪽의 면이, 전극부를 갖고 기판(3)에 실장되는 실장면(2a)이다. 기판(3)은, 예를 들어, 전자 부품(2)이 탑재되는 복수의 실장 영역(3a)이, 매트릭스(행렬) 형상으로 마련된 판체이다. 각 실장 영역(3a)에는 전극부가 마련되어 있다. 본 실시 형태의 전극부는, 얼라인먼트 마크로서의 기판 마크(3b)(도 7 참조)가 된다. 본 실시 형태의 기판 마크(3b)는, 평행한 2열의 직선 형상이다. 이 실장 영역(3a)의 전극부에, 전자 부품(2)의 전극부가 접합된다. 그 때문에, 전자 부품(2)과 실장 영역(3a)을 위치 결정할 필요가 있다.The electronic component 2 is, for example, a rectangular thin piece component. In this embodiment, the electronic component 2 is a micro LED. The micro LED has an electrode portion on one of the front and back surfaces and is a mounting surface 2a mounted on the substrate 3. The substrate 3 is, for example, a plate body in which a plurality of mounting areas 3a on which the electronic components 2 are mounted are provided in a matrix shape. An electrode portion is provided in each mounting area 3a. The electrode portion of this embodiment serves as a substrate mark 3b (see FIG. 7) as an alignment mark. The substrate mark 3b of this embodiment has the shape of two parallel rows of straight lines. The electrode portion of the electronic component 2 is bonded to the electrode portion of this mounting area 3a. Therefore, it is necessary to position the electronic component 2 and the mounting area 3a.

[공급 장치][Supply device]

공급 장치(10)는, 전자 부품(2)을 픽업 장치(20)로 공급하는 장치이다. 공급 장치(10)는, 픽업 대상의 전자 부품(2)을 공급 위치 P1로 이동시킨다. 공급 위치 P1이란, 픽업 장치(20)가, 픽업 대상이 되는 전자 부품(2)을 픽업하는 위치이다. 공급 장치(10)는, 복수의 전자 부품(2)이 적재된 트레이(11)를 지지하는 공급 스테이지(12), 공급 스테이지(12)를 이동시키는 스테이지 이동 기구(13)를 구비한다. 이 스테이지 이동 기구(13)로서는, 예를 들어 서보 모터에 의해 구동되는 볼 나사 기구에 의해, 레일 상을 슬라이더가 이동하는 리니어 가이드를 사용할 수 있다. 공급 장치(10)는, 스테이지 이동 기구(13)에 의해, 공급 스테이지(12)에 트레이(11)를 통해 지지되는 복수의 전자 부품(2) 중, 픽업 대상의 전자 부품(2)을 공급 위치 P1로 이동시킨다.The supply device 10 is a device that supplies the electronic component 2 to the pickup device 20 . The supply device 10 moves the electronic component 2 to be picked up to the supply position P1. The supply position P1 is a position where the pickup device 20 picks up the electronic component 2 that is a pickup target. The supply device 10 includes a supply stage 12 that supports a tray 11 on which a plurality of electronic components 2 are loaded, and a stage moving mechanism 13 that moves the supply stage 12. As this stage moving mechanism 13, for example, a linear guide in which a slider moves on a rail can be used by a ball screw mechanism driven by a servo motor. The supply device 10 supplies the electronic component 2 to be picked up from among the plurality of electronic components 2 supported on the supply stage 12 via the tray 11 by the stage moving mechanism 13. Move to P1.

전자 부품(2)이 적재되는 트레이(11)는, 상면에 전자 부품(2)을 적재하는 판체이다. 트레이(11) 상에는, 도시는 하지 않지만, 오목부가 매트릭스(행렬) 형상으로 형성되어 있다. 각 오목부에, 전자 부품(2)이 적재됨으로써, 트레이(11) 상에 전자 부품(2)이 매트릭스 형상으로 나열된다. 본 실시 형태에서는, 전자 부품(2)은, 실장면(2a)이 상방에 노출된 페이스 업 상태로 배치되어 있는 것으로 한다.The tray 11 on which the electronic component 2 is loaded is a plate body on which the electronic component 2 is loaded. On the tray 11, concave portions (not shown) are formed in a matrix shape. By loading the electronic components 2 into each recess, the electronic components 2 are arranged in a matrix shape on the tray 11. In this embodiment, the electronic component 2 is arranged face-up with the mounting surface 2a exposed upward.

공급 스테이지(12)는, 전자 부품(2)이 적재된 트레이(11)를, 수평하게 지지하는 대이다. 공급 스테이지(12)는, 스테이지 이동 기구(13)에 의해, 수평 방향으로 이동 가능하게 마련되어 있다. 트레이(11)는 공급 스테이지(12)에 지지되어 있기 때문에, 스테이지 이동 기구(13)에 의해 공급 스테이지(12)가 이동함과 함께, 트레이(11) 및 당해 트레이(11)에 적재된 전자 부품(2)도 또한, 수평 방향으로 이동 가능하게 마련되어 있다.The supply stage 12 is a stand that horizontally supports the tray 11 on which the electronic components 2 are loaded. The supply stage 12 is provided to be movable in the horizontal direction by the stage moving mechanism 13. Since the tray 11 is supported on the supply stage 12, the supply stage 12 is moved by the stage moving mechanism 13, and the tray 11 and the electronic components loaded on the tray 11 (2) is also provided to be movable in the horizontal direction.

또한, 도 1에 나타낸 바와 같이, 수평 방향 중, 공급 장치(10)와 탑재 장치(30)가 나열되는 방향을 X축 방향, X축에 직교하는 방향을 Y축 방향이라고 한다. 또한, 트레이(11)의 평면에 직교하는 방향을 Z축 방향 또는 상하 방향이라고 한다. 또한, 수평 방향에 있어서의 회전 방향을 θ축 방향이라고 한다. 단, 이들 방향은 실장 장치(1)의 설치 방향을 한정하는 것은 아니다.As shown in FIG. 1, among the horizontal directions, the direction in which the supply device 10 and the mounting device 30 are aligned is called the X-axis direction, and the direction orthogonal to the X-axis is called the Y-axis direction. Additionally, the direction perpendicular to the plane of the tray 11 is called the Z-axis direction or the up-down direction. Additionally, the direction of rotation in the horizontal direction is called the θ-axis direction. However, these directions do not limit the installation direction of the mounting device 1.

[픽업 장치][Pick-up device]

픽업 장치(20)는, 공급 장치(10)로부터 전자 부품(2)을 픽업하고, 픽업한 전자 부품(2)을 탑재 장치(30)로 전달하는 장치이다. 이 픽업 장치(20)는, 픽업 노즐(21)과, 이동 기구(22)와, 반전 기구(23)를 구비한다.The pickup device 20 is a device that picks up the electronic component 2 from the supply device 10 and delivers the picked up electronic component 2 to the mounting device 30 . This pickup device 20 is provided with a pickup nozzle 21, a moving mechanism 22, and a reversing mechanism 23.

(픽업 노즐)(pickup nozzle)

픽업 노즐(21)은, 전자 부품(2)을 흡인하여 보유 지지하고, 또한 흡인을 해제하여 전자 부품(2)을 해방하는 기구이다. 픽업 노즐(21)은, 선단면에 개구된 노즐 구멍을 구비한다. 노즐 구멍은 진공 펌프 등을 포함하는 부압 발생 회로(도시하지 않음)와 연통되어 있고, 당해 회로가 부압을 발생시킴으로써, 픽업 노즐(21)의 선단면에 전자 부품(2)을 흡인하여 보유 지지한다. 또한, 부압을 해제함으로써 선단면으로부터 전자 부품(2)의 보유 지지 상태를 해제한다.The pickup nozzle 21 is a mechanism that suctions and holds the electronic component 2 and releases the electronic component 2 by releasing the suction. The pickup nozzle 21 has a nozzle hole opened at the front end surface. The nozzle hole is in communication with a negative pressure generating circuit (not shown) including a vacuum pump, etc., and the circuit generates negative pressure to attract and hold the electronic component 2 on the front end surface of the pickup nozzle 21. . Additionally, by releasing the negative pressure, the holding state of the electronic component 2 from the tip end surface is released.

이동 기구(22)는, 도 1 내지 도 4에 나타낸 바와 같이, 공급 위치 P1과 전달 위치 P2 사이에서 픽업 노즐(21)을 왕복 이동시키고, 또한 공급 위치 P1 및 전달 위치 P2에서 픽업 노즐(21)을 승강시키는 기구이다. 또한, 전달 위치 P2란, 픽업 장치(20)가, 공급 위치 P1에서 픽업한 전자 부품(2)을 후술하는 수취부로서 기능하는 본딩 헤드(310)로 전달하는 위치이다. 공급 위치 P1 및 전달 위치 P2는, 주로 XY 방향의 위치를 의미하고, 반드시 Z축 방향의 위치를 의미하는 것은 아니다.As shown in FIGS. 1 to 4, the moving mechanism 22 moves the pickup nozzle 21 back and forth between the supply position P1 and the delivery position P2, and also moves the pickup nozzle 21 at the supply position P1 and the delivery position P2. It is a mechanism that elevates. In addition, the delivery position P2 is a position where the pickup device 20 delivers the electronic component 2 picked up at the supply position P1 to the bonding head 310 that functions as a receiving unit described later. The supply position P1 and delivery position P2 mainly mean a position in the XY direction and do not necessarily mean a position in the Z-axis direction.

(이동 기구)(Mobile device)

이동 기구(22)는, 픽업 노즐(21)이 설치된 암(22a)을 갖고, 암(22a)을 이동시킴으로써, 픽업 노즐(21)을 이동시킨다. 이동 기구(22)는, 슬라이드 기구(22b), 승강 기구(22f)를 구비한다. 슬라이드 기구(22b)는, 픽업 노즐(21)이 설치된 암(22a)을 이동시킴으로써, 픽업 노즐(21)을 공급 위치 P1과 전달 위치 P2 사이에서 왕복 이동시킨다. 여기서는, 슬라이드 기구(22b)는, X축 방향과 평행하게 연장되어, 지지 프레임(22c)에 고정된 레일(22d)과, 레일(22d) 상을 주행하는 슬라이더(22e)를 갖는다. 슬라이더(22e)는, 도시는 하지 않지만, 회전 모터에 의해 구동되는 볼 나사, 리니어 모터 등에 의해 구동된다.The moving mechanism 22 has an arm 22a on which the pickup nozzle 21 is installed, and moves the pickup nozzle 21 by moving the arm 22a. The moving mechanism 22 includes a slide mechanism 22b and a lifting mechanism 22f. The slide mechanism 22b moves the arm 22a on which the pickup nozzle 21 is installed, thereby reciprocating the pickup nozzle 21 between the supply position P1 and the delivery position P2. Here, the slide mechanism 22b has a rail 22d that extends parallel to the X-axis direction and is fixed to the support frame 22c, and a slider 22e that travels on the rail 22d. Although not shown, the slider 22e is driven by a ball screw driven by a rotary motor, a linear motor, or the like.

승강 기구(22f)는, 픽업 노즐(21)이 설치된 암(22a)을 이동시킴으로써, 픽업 노즐(21)을 상하 방향으로 이동시킨다. 구체적으로는, 승강 기구(22f)는, 서보 모터에 의해 구동되는 볼 나사 기구에 의해, 레일 상을 슬라이더가 이동하는 리니어 가이드를 사용할 수 있다. 즉, 서보 모터의 구동에 의해, 픽업 노즐(21)이 Z축 방향을 따라 승강한다.The lifting mechanism 22f moves the pickup nozzle 21 in the vertical direction by moving the arm 22a on which the pickup nozzle 21 is installed. Specifically, the lifting mechanism 22f can use a linear guide in which a slider moves on a rail by a ball screw mechanism driven by a servo motor. That is, the pickup nozzle 21 moves up and down along the Z-axis direction by driving the servo motor.

(반전 기구)(inversion mechanism)

반전 기구(23)는, 픽업 노즐(21)과 이동 기구(22) 사이에 마련되어 있다. 반전 기구(23)는, 여기서는, 픽업 노즐(21)의 방향을 변경하는 모터 등의 구동원, 볼 베어링 등의 회전 가이드를 포함하여 이루어지는 액추에이터이다. 방향을 변경한다는 것은, 상하 방향으로 0° 내지 180° 회전시키는 것이다.The inversion mechanism 23 is provided between the pickup nozzle 21 and the moving mechanism 22. The reversal mechanism 23 here is an actuator including a drive source such as a motor that changes the direction of the pickup nozzle 21, and a rotation guide such as a ball bearing. Changing the direction means rotating 0° to 180° in the vertical direction.

[탑재 장치][Mounted device]

탑재 장치(30)는, 전자 부품(2)을 기판(3)의 실장 영역(3a)에 탑재하는 장치이다. 탑재 장치(30)는, 도 3 및 도 4에 나타낸 바와 같이, 픽업 장치(20)로부터 수취한 전자 부품(2)을 실장 위치 P3까지 반송하고, 도 5에 나타낸 바와 같이, 기판(3)에 탑재함으로써 실장한다. 실장 위치 P3이란, 전자 부품(2)을 기판(3)에 실장하는 위치이다. 실장 위치 P3은, 주로 XY 방향의 위치를 의미하고, 반드시 Z축 방향의 위치를 의미하는 것은 아니다. 탑재 장치(30)는, 본딩 헤드(310), 헤드 이동 기구(320)를 갖는다.The mounting device 30 is a device that mounts the electronic component 2 on the mounting area 3a of the substrate 3. As shown in FIGS. 3 and 4, the placement device 30 transports the electronic component 2 received from the pickup device 20 to the mounting position P3, and places it on the board 3, as shown in FIG. 5. It is implemented by mounting it. The mounting position P3 is a position where the electronic component 2 is mounted on the board 3. The mounting position P3 mainly refers to a position in the XY direction and does not necessarily mean a position in the Z-axis direction. The mounting device 30 has a bonding head 310 and a head movement mechanism 320.

(본딩 헤드)(bonding head)

본딩 헤드(310)는, 전달 위치 P2에서 픽업 노즐(21)로부터 전자 부품(2)을 수취하는 수취부로서의 기능을 갖고, 또한 당해 전자 부품(2)을 실장 위치 P3에서 기판(3)에 실장하는 장치이다. 본딩 헤드(310)는, 전자 부품(2)을 보유 지지하고, 또한 실장 후에는 보유 지지 상태를 해제하여 전자 부품(2)을 해방한다.The bonding head 310 has a function as a receiving unit that receives the electronic component 2 from the pickup nozzle 21 at the delivery position P2, and mounts the electronic component 2 on the board 3 at the mounting position P3. It is a device that The bonding head 310 holds the electronic component 2, and after mounting, the holding state is released to release the electronic component 2.

구체적으로는, 본딩 헤드(310)는, 도 6에 나타낸 바와 같이, 본딩 툴(311), 보유 지지 기구(314)를 갖는다. 본딩 툴(311)은, 투광성을 갖는 판체이다. 투광성을 갖는다는 것은, 후술하는 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60)에 의한 촬상에 필요한 광을 투과한다는 의미이다. 본 실시 형태의 본딩 툴(311)은, 원형의 유리판이다. 본딩 툴(311)의 한쪽의 면은, 하방을 향하고, 전자 부품(2)을 보유 지지하는 보유 지지면(311a)이다. 보유 지지면(311a)의 중앙에는, 점착부(312)가 마련되어 있다. 점착부(312)는, 전자 부품(2)을 점착 보유 지지하는 부재이다. 점착부(312)는, 예를 들어 PDMS(Polydimethylsiloxane)를 사용한다.Specifically, the bonding head 310 has a bonding tool 311 and a holding mechanism 314, as shown in FIG. 6 . The bonding tool 311 is a plate body that transmits light. Having light transmission means that light required for imaging by the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60, which will be described later, is transmitted. The bonding tool 311 of this embodiment is a circular glass plate. One surface of the bonding tool 311 faces downward and is a holding surface 311a that holds the electronic component 2. An adhesive portion 312 is provided at the center of the holding surface 311a. The adhesive portion 312 is a member that adhesively holds the electronic component 2. The adhesive portion 312 uses, for example, polydimethylsiloxane (PDMS).

본딩 툴(311)의 보유 지지면(311a)과 반대 측의 면은, 상방을 향하고, 후술하는 보유 지지 기구(314)에 보유 지지되는 피보유 지지면(311b)이다. 피보유 지지면(311b)에는, 헤드 마크(313)가 마련되어 있다. 도 6 및 도 7에서는, 헤드 마크(313)는, 전자 부품(2)과 공통의 단면에 나타나 있지 않기 때문에, 편의적으로 점선으로 나타나 있다. 헤드 마크(313)는, 도 7의 (D)에 나타낸 바와 같이, 점착부(312)에 점착 보유 지지된 전자 부품(2)의 외측, 즉 평면에서 보아 전자 부품(2)과 겹치지 않는 위치에 마련된 얼라인먼트 마크이다. 본 실시 형태에서는, 헤드 마크(313)는, 평면에서 보아 전자 부품(2)을 사이에 두는 위치에 2개 마련되어 있다. 헤드 마크(313)는, 원 형상으로 오목한 오목부이다. 본딩 툴(311)은 투광성을 갖기 때문에, 하방의 보유 지지면(311a) 측으로부터, 헤드 마크(313)를 촬상할 수 있다.The surface opposite to the holding surface 311a of the bonding tool 311 is a holding surface 311b that faces upward and is held by a holding mechanism 314 described later. A head mark 313 is provided on the held support surface 311b. In FIGS. 6 and 7 , the head mark 313 is not shown in the same cross section as the electronic component 2, and is therefore shown as a dotted line for convenience. As shown in (D) of FIG. 7, the head mark 313 is located on the outside of the electronic component 2 adhesively held by the adhesive portion 312, that is, at a position that does not overlap the electronic component 2 in plan view. This is an alignment mark provided. In this embodiment, two head marks 313 are provided at positions sandwiching the electronic component 2 in plan view. The head mark 313 is a circular concave portion. Since the bonding tool 311 is transparent, the head mark 313 can be imaged from the lower holding surface 311a side.

보유 지지 기구(314)는, 본딩 툴(311)을 보유 지지하는 기구이다. 보유 지지 기구(314)는, 보유 지지부(315), 하중 제어부(316), 회동 유닛(317)을 갖는다. 보유 지지부(315)는, 본딩 툴(311)을 보유 지지하고, 또한 보유 지지 상태를 해제하여 본딩 툴(311)을 해방하는 판 형상의 부재이다. 보유 지지부(315)는, 본딩 툴(311)과 마찬가지로, 유리 등, 투광성을 갖는 재질로 형성되어 있다. 보유 지지부(315)는, 흡인 구멍(315a)을 구비한다. 흡인 구멍(315a)의 일단은, 보유 지지부(315)의 저면에 개구되고, 타단은 보유 지지부(315)의 측면에 개구되고, 진공 펌프 등을 포함하는 부압 발생 회로(도시하지 않음)와 연통되어 있다. 이 때문에, 부압 발생 회로가 부압을 발생시킴으로써, 보유 지지부(315)의 저면에 본딩 툴(311)을 흡인하여 보유 지지한다. 또한, 부압을 해제함으로써, 저면으로부터 본딩 툴(311)의 보유 지지 상태를 해제한다.The holding mechanism 314 is a mechanism that holds the bonding tool 311. The holding mechanism 314 has a holding portion 315, a load control portion 316, and a rotation unit 317. The holding portion 315 is a plate-shaped member that holds the bonding tool 311 and releases the bonding tool 311 by canceling the holding state. The holding portion 315, like the bonding tool 311, is formed of a light-transmitting material such as glass. The holding portion 315 has a suction hole 315a. One end of the suction hole 315a is open on the bottom of the holding part 315, the other end is open on the side of the holding part 315, and communicates with a negative pressure generating circuit (not shown) including a vacuum pump or the like. there is. For this reason, the negative pressure generating circuit generates negative pressure to attract and hold the bonding tool 311 on the bottom surface of the holding portion 315. Additionally, by releasing the negative pressure, the holding state of the bonding tool 311 from the bottom surface is released.

하중 제어부(316)는, 보유 지지부(315)의 상하 방향의 위치를 제어함과 함께 보유 지지부(315)가 전자 부품(2)에 가하는 하중을 제어하는 부재이다. 하중 제어부(316)는, 슬리브(316a), 가동축(316b)을 갖는 에어 베어링이다. 슬리브(316a)는 내부에, 상하로 관통한 원기둥 형상의 공극을 갖는다. 가동축(316b)은, 슬리브(316a)의 내부에 소정 범위에서 상하 이동 가능하게 마련된 통 형상체이다. 가동축(316b)의 하단에는, 보유 지지부(315)의 상면이 설치되어 있다. 이와 같이, 에어 베어링을 사용함으로써, 1N 이하의 저하중에 의한 실장이 가능해진다.The load control unit 316 is a member that controls the vertical position of the holding unit 315 and the load applied by the holding unit 315 to the electronic component 2. The load control unit 316 is an air bearing having a sleeve 316a and a movable shaft 316b. The sleeve 316a has a cylindrical gap penetrating upward and downward inside. The movable shaft 316b is a cylindrical body provided inside the sleeve 316a so that it can move up and down within a predetermined range. The upper surface of the holding portion 315 is provided at the lower end of the movable shaft 316b. In this way, by using air bearings, mounting with a low load of 1N or less becomes possible.

회동 유닛(317)은, 외통(317a)과, 외통(317a) 내에 회동 가능하게 마련된 회동축(317b)을 갖는다. 회동축(317b)은 통 형상체이고, 도시하지 않은 모터에 의해 벨트를 통해 회동 가능하게 마련되어 있다. 회동축(317b)의 하단은, 하중 제어부(316)의 슬리브(316a)에 설치되어 있다. 이 때문에, 회동 유닛(317)은, 하중 제어부(316)에 보유 지지된 본딩 툴(311)을 수평 방향으로 회동시킬 수 있다. 이로써, 회동 유닛(317)은, 본딩 툴(311)에 보유 지지된 전자 부품(2)을, θ축 방향으로 위치 결정할 수 있다. 또한, 회동축(317b)의 중공 부분, 가동축(316b)의 중공 부분, 투광성을 갖는 보유 지지부(315)를 통해, 헤드 마크(313)를 상방으로부터 촬상할 수 있다.The rotation unit 317 has an outer cylinder 317a and a rotation shaft 317b rotatably provided within the outer cylinder 317a. The rotation shaft 317b is a cylindrical body and is provided so as to be able to rotate via a belt using a motor (not shown). The lower end of the rotation axis 317b is installed on the sleeve 316a of the load control unit 316. For this reason, the rotation unit 317 can rotate the bonding tool 311 held by the load control unit 316 in the horizontal direction. Thereby, the rotation unit 317 can position the electronic component 2 held by the bonding tool 311 in the θ-axis direction. Additionally, the head mark 313 can be imaged from above through the hollow portion of the rotation axis 317b, the hollow portion of the movable shaft 316b, and the translucent holding portion 315.

(헤드 이동 기구)(Head moving mechanism)

헤드 이동 기구(320)는, 본딩 헤드(310)를, 전달 위치 P2와 실장 위치 P3 사이에서 왕복 이동시키고, 또한 전달 위치 P2 및 실장 위치 P3에서 승강시키는 기구이다. 본 실시 형태의 헤드 이동 기구(320)는, 상기한 회동 유닛(317)과 함께, 기판(3)의 실장 영역(3a)에 대하여 전자 부품(2)의 실장면(2a)을 위치 결정하는 위치 결정 기구로서 기능한다. 구체적으로는, 헤드 이동 기구(320)는, 슬라이드 기구(321), 승강 기구(322)를 구비한다.The head moving mechanism 320 is a mechanism that moves the bonding head 310 back and forth between the delivery position P2 and the mounting position P3, and also raises and lowers the bonding head 310 in the delivery position P2 and the mounting position P3. The head moving mechanism 320 of the present embodiment, together with the above-mentioned rotation unit 317, positions the mounting surface 2a of the electronic component 2 with respect to the mounting area 3a of the substrate 3. Functions as a decision-making body. Specifically, the head moving mechanism 320 includes a slide mechanism 321 and a lifting mechanism 322.

슬라이드 기구(321)는, 본딩 헤드(310)를 전달 위치 P2와 실장 위치 P3 사이에서 왕복 이동시킨다. 여기서는, 슬라이드 기구(321)는, X축 방향과 평행하게 연장되어, 지지 프레임(321a)에 고정된 2개의 레일(321b)과, 레일(321b) 상을 주행하는 슬라이더(321c)를 갖는다. 슬라이더(321c)는, 도시하지는 않지만, 회전 모터에 의해 구동되는 볼 나사, 리니어 모터 등에 의해 구동된다.The slide mechanism 321 moves the bonding head 310 back and forth between the delivery position P2 and the mounting position P3. Here, the slide mechanism 321 extends parallel to the X-axis direction and has two rails 321b fixed to the support frame 321a and a slider 321c running on the rails 321b. Although not shown, the slider 321c is driven by a ball screw driven by a rotary motor, a linear motor, or the like.

또한, 도시하지는 않지만, 슬라이드 기구(321)는, 본딩 헤드(310)를 Y축 방향으로 슬라이드 이동시키는 슬라이드 기구를 갖고 있다. 이 슬라이드 기구도, Y축 방향의 레일과 레일을 주행하는 슬라이더에 의해 구성할 수 있다. 슬라이더는, 회전 모터에 의해 구동되는 볼 나사, 리니어 모터 등에 의해 구동된다.In addition, although not shown, the slide mechanism 321 has a slide mechanism that slides the bonding head 310 in the Y-axis direction. This slide mechanism can also be comprised of a rail in the Y-axis direction and a slider running on the rail. The slider is driven by a ball screw driven by a rotary motor, a linear motor, or the like.

승강 기구(322)는, 본딩 헤드(310)를 상하 방향으로 이동시킨다. 구체적으로는, 승강 기구(322)는, 서보 모터(322a)에 의해 구동되는 볼 나사 기구에 의해, 레일(322b) 상을 슬라이더(322c)가 이동하는 리니어 가이드를 사용할 수 있다. 즉, 서보 모터(322a)의 구동에 의해, 본딩 헤드(310)가 Z축 방향을 따라 승강한다.The lifting mechanism 322 moves the bonding head 310 in the vertical direction. Specifically, the lifting mechanism 322 can use a linear guide in which the slider 322c moves on the rail 322b by a ball screw mechanism driven by the servo motor 322a. That is, the bonding head 310 moves up and down along the Z-axis direction by driving the servo motor 322a.

[기판 스테이지][Substrate stage]

기판 스테이지(40)는, 전자 부품(2)을 실장하기 위한 기판(3)을 지지하여, 실장 영역(3a)을 실장 위치 P3에 위치 부여하는 기구이다. 기판 스테이지(40)는, 기판(3)이 적재되는 지지대(41)가 스테이지 이동 기구(42)에 마련되어 있다. 스테이지 이동 기구(42)는, 지지대(41)를 XY 평면 상에서 슬라이드 이동시키고, 기판(3)에 있어서의 실장 영역(3a)을 실장 위치 P3에 위치 부여한다. 스테이지 이동 기구(42)는, 예를 들어 서보 모터에 의해 구동되는 볼 나사 기구에 의해, 레일 상을 슬라이더가 이동하는 리니어 가이드를 사용할 수 있다.The substrate stage 40 is a mechanism that supports the substrate 3 for mounting the electronic component 2 and positions the mounting area 3a at the mounting position P3. The substrate stage 40 is provided with a support 41 on which the substrate 3 is mounted on the stage moving mechanism 42. The stage moving mechanism 42 slides the support stand 41 on the XY plane and positions the mounting area 3a on the substrate 3 at the mounting position P3. The stage moving mechanism 42 can use, for example, a linear guide in which a slider moves on a rail using a ball screw mechanism driven by a servo motor.

[제1 촬상부][First imaging unit]

제1 촬상부(50)는, 도 7의 (A)에 나타낸 바와 같이, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)을, 헤드 마크(313)와 함께 촬상 가능한 위치에 마련되어 있다. 도 7의 (D)에 나타낸 바와 같이, 제1 촬상부(50)에 의해 촬상되는 전자 부품(2) 및 헤드 마크(313)를 포함하는 화상을, 제1 화상 α라고 칭한다. 더 구체적으로는, 제1 촬상부(50)는, 카메라, 렌즈, 경통, 광원 등을 갖고, 본 실시 형태에서는, 전달 위치 P2에 설치되어 있다. 제1 촬상부(50)는, 카메라가 위를 향하고, 본딩 툴(311)에 보유 지지된 전자 부품(2) 및 헤드 마크(313)를 촬상 가능하게 되도록, 광축이 수직 방향으로 배치되어 있다.As shown in FIG. 7 (A), the first imaging unit 50 is provided at a position where it can image the electronic component 2 held by the bonding head 310 together with the head mark 313. As shown in FIG. 7(D), the image including the electronic component 2 and the head mark 313 captured by the first imaging unit 50 is called first image α. More specifically, the first imaging unit 50 has a camera, lens, barrel, light source, etc., and is installed at the delivery position P2 in this embodiment. The optical axis of the first imaging unit 50 is arranged in the vertical direction so that the camera faces upward and can image the electronic component 2 and the head mark 313 held by the bonding tool 311.

제1 촬상부(50)는, 촬상 위치, 즉 전달 위치 P2에 있어서, 전자 부품(2) 및 헤드 마크(313)가 촬상 시야로부터 벗어나는 일이 없도록 마련되어 있다. 전달 위치 P2에 있어서, 전달 위치 P2에 위치 부여되는 본딩 헤드(310)의 위치, 픽업 노즐(21)로부터 본딩 툴(311)로 전달되는 전자 부품(2)의 보유 지지 위치에는, 변동이 있다. 즉, 전달 위치 P2에 대하여 전자 부품(2) 및 헤드 마크(313)의 위치가 변동된다. 이 변동의 최대의 범위가, 전달 위치 P2에 있어서의 전자 부품(2) 및 헤드 마크(313)가 최대한 이동할 수 있는 범위가 된다.The first imaging unit 50 is provided so that the electronic component 2 and the head mark 313 do not deviate from the imaging field of view at the imaging position, that is, the transfer position P2. At the delivery position P2, there is variation in the position of the bonding head 310 positioned at the delivery position P2 and the holding position of the electronic component 2 delivered from the pickup nozzle 21 to the bonding tool 311. That is, the positions of the electronic component 2 and the head mark 313 change with respect to the delivery position P2. The maximum range of this variation becomes the range in which the electronic component 2 and the head mark 313 at the delivery position P2 can move as much as possible.

제1 촬상부(50)는, 필요한 실장 정밀도를 확보하기 위해 충분한 배율과, 광원에 의한 조명의 조도나 위치 인식에 필요한 밝기로 촬상할 수 있도록 고려되어 있다. 또한, 상술한 전달 위치 P2에 있어서의 헤드 마크(313)가 최대한 이동할 수 있는 범위도 고려되어, 그것들의 조건으로부터 정해지는 촬상 시야(시야 범위)를 갖는다. 제1 촬상부(50)는, 촬상 시야의 중심이, 전달 위치 P2에 일치하는 위치에 마련되어 있다. 제1 촬상부(50)는, 본딩 헤드(310) 및 픽업 노즐(21)의 이동 동작을 방해하지 않도록, 이것들과는 독립하여 마련되어 있다.The first imaging unit 50 is designed to be capable of capturing images with sufficient magnification to ensure necessary mounting precision and with the illuminance of illumination by a light source and the brightness necessary for position recognition. In addition, the range in which the head mark 313 at the above-described delivery position P2 can move as much as possible is also taken into consideration, and has an imaging field of view (field of view) determined from those conditions. The first imaging unit 50 is provided at a position where the center of the imaging field of view coincides with the delivery position P2. The first imaging unit 50 is provided independently from the bonding head 310 and the pickup nozzle 21 so as not to interfere with their movement.

제1 촬상부(50)는, 제1 화상 α를 촬상 가능한 위치에 고정 지지되어 있다. 본 실시 형태에서는, 제1 촬상부(50)는, 전자 부품(2)의 전달 위치 P2에 대하여 부동이다. 여기서 말하는 부동이란, 전달 위치 P2로부터 후퇴한 위치와, 전달 위치 P2 사이에서 이동하는 동작을 행하지 않는다는 의미이고, 예를 들어 카메라의 초점을 맞추기 위해, 수밀리 상하 이동시켜도 된다.The first imaging unit 50 is fixedly supported at a position where the first image α can be captured. In this embodiment, the first imaging unit 50 is immobile with respect to the delivery position P2 of the electronic component 2. Floating as used here means that no movement is performed between the position retreating from the delivery position P2 and the delivery position P2, and may be moved up and down by several millimeters to focus the camera, for example.

[제2 촬상부][2nd imaging unit]

제2 촬상부(60)는, 도 7의 (B)에 나타낸 바와 같이, 실장 위치 P3에 있어서, 기판 마크(3b)를 촬상한다. 그 후, 본딩 헤드(310)가 실장 위치 P3으로 이동해 오고, 도 7의 (C)에 나타낸 바와 같이, 본딩 헤드(310)의 보유 지지한 전자 부품(2)이 실장 영역(3a)에 대향한 상태에서, 헤드 마크(313)를 촬상한다. 도 7의 (E)에 나타낸 바와 같이, 제2 촬상부(60)에 의해 촬상되는 기판 마크(3b)의 화상을 제2 화상 β라고 칭한다. 도 7의 (F)에 나타낸 바와 같이, 제2 촬상부(60)에 의해 촬상되는 헤드 마크(313)의 화상을 제3 화상 γ라고 칭한다. 또한, 도 7의 (E)에서는, 이해를 용이하게 하기 위해, 실장 영역(3a)을 점선으로 나타내고 있다. 마찬가지로, 도 7의 (F)에서는, 전자 부품(2)을 일점 쇄선으로 나타내고, 기판 마크(3b)를 이점 쇄선으로 나타내고 있다.As shown in FIG. 7(B), the second imaging unit 60 images the substrate mark 3b at the mounting position P3. After that, the bonding head 310 moves to the mounting position P3, and as shown in FIG. 7 (C), the electronic component 2 held by the bonding head 310 faces the mounting area 3a. In this state, the head mark 313 is imaged. As shown in FIG. 7(E), the image of the board|substrate mark 3b imaged by the 2nd imaging part 60 is called 2nd image β. As shown in FIG. 7(F), the image of the head mark 313 imaged by the 2nd imaging part 60 is called third image γ. In addition, in Figure 7(E), the mounting area 3a is indicated by a dotted line to facilitate understanding. Similarly, in Fig. 7(F), the electronic component 2 is indicated by a dashed-dotted line, and the substrate mark 3b is indicated by a dashed-dotted line.

더 구체적으로는, 제2 촬상부(60)는, 카메라, 렌즈, 경통, 광원 등을 갖고, 실장 위치 P3으로 온 본딩 헤드(310)의 상방이 되는 위치에, 프레임(61)에 의해 지지되어 있다. 제2 촬상부(60)는, 카메라가 아래를 향하고, 보유 지지부(315)를 투과하고, 헤드 마크(313)를 촬상 가능하게 되도록, 광축이 수직 방향으로 배치되어 있다.More specifically, the second imaging unit 60 has a camera, lens, barrel, light source, etc., and is supported by the frame 61 at a position above the bonding head 310 at the mounting position P3. there is. The optical axis of the second imaging unit 60 is arranged in the vertical direction so that the camera faces downward, passes through the holding unit 315, and can image the head mark 313.

제2 촬상부(60)는, 촬상 위치, 즉 실장 위치 P3에 있어서, 기판(3)의 기판 마크(3b), 본딩 헤드(310)의 헤드 마크(313)가 촬상 시야로부터 벗어나는 일이 없도록 마련되어 있다. 기판 스테이지(40)에 적재되는 기판(3)의 지지 위치에는, 변동이 있다. 즉, 실장 위치 P3에 대하여 기판(3)의 위치가 변동된다. 이 때문에, 기판(3)의 기판 마크(3b)의 위치도 변동된다. 이 변동의 최대의 범위가, 실장 위치 P3에 있어서의 기판(3)의 기판 마크(3b)가 최대한 이동할 수 있는 범위가 된다. 또한, 실장 위치 P3에 있어서 본딩 헤드(310)가 이르는 위치에는 변동이 있다. 즉, 실장 위치 P3에 대하여 헤드 마크(313)의 위치가 변동된다. 이 변동의 최대의 범위가, 실장 위치 P3에 있어서의 헤드 마크(313)가 최대한 이동할 수 있는 범위가 된다.The second imaging unit 60 is provided so that the substrate mark 3b of the substrate 3 and the head mark 313 of the bonding head 310 do not deviate from the imaging field of view at the imaging position, that is, the mounting position P3. there is. There is variation in the support position of the substrate 3 placed on the substrate stage 40. That is, the position of the substrate 3 changes with respect to the mounting position P3. For this reason, the position of the substrate mark 3b on the substrate 3 also changes. The maximum range of this variation becomes the range in which the board mark 3b of the board 3 at the mounting position P3 can move as much as possible. Additionally, there is variation in the position where the bonding head 310 reaches at the mounting position P3. That is, the position of the head mark 313 changes with respect to the mounting position P3. The maximum range of this variation is the range in which the head mark 313 at the mounting position P3 can move as much as possible.

제2 촬상부(60)는, 필요한 실장 정밀도를 확보하기 위해 충분한 배율과, 광원에 의한 조명의 조도나 위치 인식에 필요한 밝기로 촬상할 수 있도록 고려되어 있다. 또한, 상술한 실장 위치 P3에 있어서의 기판 마크(3b), 헤드 마크(313)가 최대한 이동할 수 있는 범위도 고려되어, 그것들의 조건으로부터 정해지는 촬상 시야(시야 범위)를 갖는다. 본딩 헤드(310)의 본딩 툴(311)의 크기는, 제2 촬상부(60)의 촬상 시야에 맞추어 설정한다.The second imaging unit 60 is designed to be capable of capturing images with sufficient magnification to ensure necessary mounting precision and with the illuminance of illumination by a light source and the brightness necessary for position recognition. In addition, the range in which the substrate mark 3b and the head mark 313 at the above-described mounting position P3 can move as much as possible is also taken into consideration, and has an imaging field of view (field of view) determined from those conditions. The size of the bonding tool 311 of the bonding head 310 is set to match the imaging field of view of the second imaging unit 60.

제2 촬상부(60)는, 촬상 시야의 중심이 실장 위치 P3에 일치하는 위치에 마련되어 있다. 제2 촬상부(60)는, 본딩 헤드(310) 및 기판 스테이지(40)의 이동 동작을 방해하지 않도록, 이것들과는 독립하여 마련되어 있다.The second imaging unit 60 is provided at a position where the center of the imaging field of view coincides with the mounting position P3. The second imaging unit 60 is provided independently from the bonding head 310 and the substrate stage 40 so as not to interfere with their movement.

제2 촬상부(60)는, 제2 화상 β 및 제3 화상 γ를 촬상 가능한 위치에 고정 지지되어 있다. 본 실시 형태의 제2 촬상부(60)는, 제1 촬상부(50)와 마찬가지로, 전자 부품(2)의 실장 위치 P3에 대하여 부동이다. 여기서 말하는 부동이란, 실장 위치 P3으로부터 후퇴한 위치와, 실장 위치 P3 사이에서 이동하는 동작을 행하지 않는다는 의미이고, 예를 들어 카메라의 초점을 맞추기 위해, 수밀리 상하 이동시켜도 된다.The second imaging unit 60 is fixed and supported at a position where the second image β and the third image γ can be imaged. The second imaging unit 60 of this embodiment, like the first imaging unit 50, is immobile with respect to the mounting position P3 of the electronic component 2. Floating here means that no movement is performed between the position retreated from the mounting position P3 and the mounting position P3. For example, to focus the camera, it may be moved up and down by several millimeters.

또한, 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60)가 각각 갖는 좌표는, 실장 장치(1)의 좌표와 일치하도록 조정되어 있다. 구체적으로는, 제어 장치(70)가 갖는 좌표는, 실장 장치(1)의 설계상의 XY 좌표이고, 그 원점은 실장 위치 P3으로 할 수 있다. 또한, 원점으로부터 소정 거리 이격한 정점을 전달 위치 P2로 할 수 있다.Additionally, the coordinates of the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60 are adjusted to match the coordinates of the mounting device 1. Specifically, the coordinates of the control device 70 are the XY coordinates in the design of the mounting device 1, and the origin can be the mounting position P3. Additionally, a vertex spaced a predetermined distance away from the origin can be set as the transfer position P2.

제2 촬상부(60)가 갖는 좌표는, 예를 들어 촬상 중심이 XY 좌표의 원점이 되고, 이 원점이 기계적 혹은 연산 가능한 정보로서 실장 위치 P3과 일치하도록 설정된다. 이 경우, 실장 장치(1)에 있어서의 XY 좌표 상의 기준 위치란 실장 위치 P3이고, 제2 촬상부(60)의 촬상 중심도 동일한 기준 위치가 된다. 또한, 제1 촬상부(50)가 갖는 좌표는, 예를 들어 촬상 중심이 XY 좌표의 원점이 되고, 이 원점이 기계적 혹은 연산 가능한 정보로서 전달 위치 P2와 일치하도록 설정된다. 전달 위치 P2가 실장 위치 P3에 대하여 소정 거리 이격된 위치이므로, 제1 촬상부(50)의 촬상 중심도 동일한 실장 장치(1)의 기준 위치를 갖는다.The coordinates of the second imaging unit 60 are set so that, for example, the imaging center becomes the origin of the XY coordinates, and this origin coincides with the mounting position P3 as mechanical or computable information. In this case, the reference position on the XY coordinates in the mounting device 1 is the mounting position P3, and the imaging center of the second imaging unit 60 is also the same reference position. Additionally, the coordinates of the first imaging unit 50 are set so that, for example, the imaging center becomes the origin of the XY coordinates, and this origin coincides with the transmission position P2 as mechanical or computable information. Since the transfer position P2 is a position spaced apart from the mounting position P3 by a predetermined distance, the imaging center of the first imaging unit 50 also has the same reference position of the mounting device 1.

[제어 장치][controller]

제어 장치(70)는, 공급 장치(10), 픽업 장치(20), 탑재 장치(30), 기판 스테이지(40), 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60)의 기동, 정지, 속도, 동작 타이밍 등을 제어한다. 제어 장치(70)는, 실장 장치(1)의 각종 기능을 실현하기 위해, 프로그램을 실행하는 프로세서, 프로그램이나 동작 조건 등의 각종 정보를 기억하는 메모리, 각 요소를 구동하는 구동 회로 등을 갖는다. 또한, 제어 장치(70)에는, 오퍼레이터가 제어에 필요한 지시나 정보를 입력하는 입력 장치, 장치의 상태를 확인하기 위한 출력 장치가 접속되어 있다.The control device 70 starts and stops the supply device 10, the pickup device 20, the mounting device 30, the substrate stage 40, the first imaging unit 50, and the second imaging unit 60. , speed, operation timing, etc. In order to realize various functions of the mounting device 1, the control device 70 has a processor that executes programs, a memory that stores various information such as programs and operating conditions, and a driving circuit that drives each element. Additionally, the control device 70 is connected to an input device through which the operator inputs instructions or information necessary for control, and an output device for checking the status of the device.

본 실시 형태의 제어 장치(70)는, 도 1에 나타낸 바와 같이, 기구 제어부(71), 화상 처리부(72), 제1 위치 관계 산출부(73), 제2 위치 관계 산출부(74), 제3 위치 관계 산출부(75), 기억부(76)를 갖는다. 기구 제어부(71)는, 공급 장치(10), 픽업 장치(20), 탑재 장치(30), 기판 스테이지(40)의 각 부의 기구를 제어한다. 예를 들어, 기구 제어부(71)는, 회동 유닛(317), 헤드 이동 기구(320)를 제어함으로써, 전자 부품(2)의 실장면(2a)을 기판(3)의 실장 영역(3a)에 대하여 위치 결정한다. 또한, 기구 제어부(71)는, 하중 제어부(316)를 제어함으로써, 본딩 툴(311)이 전자 부품(2) 및 기판(3)에 가하는 하중을 제어한다.As shown in FIG. 1, the control device 70 of this embodiment includes a mechanism control unit 71, an image processing unit 72, a first position relationship calculation unit 73, a second position relationship calculation unit 74, It has a third position relationship calculation unit 75 and a storage unit 76. The mechanism control unit 71 controls the mechanisms of each part of the supply device 10, the pickup device 20, the placement device 30, and the substrate stage 40. For example, the mechanism control unit 71 controls the rotation unit 317 and the head movement mechanism 320 to place the mounting surface 2a of the electronic component 2 on the mounting area 3a of the substrate 3. Decide on location. Additionally, the mechanism control unit 71 controls the load control unit 316 to control the load applied by the bonding tool 311 to the electronic component 2 and the substrate 3.

화상 처리부(72)는, 제1 촬상부(50)에 의해 촬상된 제1 화상 α를 처리하여, 헤드 마크(313) 및 전자 부품(2)의 형상을 추출한다. 또한, 화상 처리부(72)는, 제2 촬상부(60)에 의해 촬상된 제2 화상 β 및 제3 화상 γ를 처리하여, 기판 마크(3b), 헤드 마크(313)의 형상을 추출한다. 또한, 헤드 마크(313)의 사이즈, 복수의 헤드 마크(313)의 거리는 기지이기 때문에, 제1 촬상부(50)와 제2 촬상부(60)의 배율차에 의해, 각각이 촬상한 헤드 마크(313)의 사이즈, 복수의 헤드 마크(313)의 거리에 상이가 있어도, 기지의 사이즈, 거리의 데이터에 기초하여 교정할 수 있다.The image processing unit 72 processes the first image α captured by the first imaging unit 50 to extract the head mark 313 and the shape of the electronic component 2. Additionally, the image processing unit 72 processes the second image β and the third image γ captured by the second imaging unit 60 to extract the shapes of the substrate mark 3b and the head mark 313. Additionally, since the size of the head mark 313 and the distance between the plurality of head marks 313 are known, the head marks imaged by each may be determined by the difference in magnification between the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60. Even if there is a difference in the size of 313 and the distance of the plurality of head marks 313, correction can be made based on known size and distance data.

제1 위치 관계 산출부(73)는, 제1 화상 α의 헤드 마크(313) 및 전자 부품(2)의 무게 중심, 각도 등을 검출함으로써, 양자의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출한다. 즉, 제1 위치 관계 산출부(73)는, 제1 촬상부(50)의 촬상 중심을 원점으로 하는 좌표 상에서 각각의 위치를 특정하기 위해, 제1 화상 α의 헤드 마크(313)의 위치 좌표(X, Y, θ), 전자 부품(2)의 위치 좌표(X, Y, θ)를 구한다.The first positional relationship calculation unit 73 detects the center of gravity, angle, etc. of the head mark 313 of the first image α and the electronic component 2, thereby calculating the first positional relationship, which is the positional relationship between the two. That is, the first position relationship calculation unit 73 calculates the position coordinates of the head mark 313 of the first image α in order to specify each position on a coordinate with the imaging center of the first imaging unit 50 as the origin. (X, Y, θ), obtain the position coordinates (X, Y, θ) of the electronic component 2.

제2 위치 관계 산출부(74)는, 제2 화상 β의 기판 마크(3b), 제3 화상 γ의 헤드 마크(313)의 무게 중심, 각도 등을 검출함으로써, 양자의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출한다. 제2 화상 β도 제3 화상 γ도 동일한 제2 촬상부(60)에 의해 촬상되어 있다. 따라서, 제2 화상 β도 제3 화상 γ도 동일한 제2 촬상부(60)의 좌표계가 된다. 또한, 고정의 제2 촬상부(60)에서 촬상되어 있으므로, 제2 화상 β도 제3 화상 γ의 원점 어긋남은 없다. 즉, 제2 위치 관계 산출부(74)는, 제2 촬상부(60)의 촬상 중심을 원점으로 하는 좌표 상에서, 제2 위치 관계인 기판 마크(3b)와 헤드 마크(313)의 위치를 특정하기 위해, 제2 화상 β의 기판 마크(3b)의 위치 좌표(X, Y, θ), 제3 화상 γ의 헤드 마크(313)의 위치 좌표(X, Y, θ)를 구한다.The second positional relationship calculation unit 74 detects the center of gravity, angle, etc. of the substrate mark 3b of the second image β and the head mark 313 of the third image γ, thereby determining the second positional relationship between the two. Calculate . The second image β and the third image γ are both captured by the same second image capturing unit 60. Therefore, the second image β and the third image γ have the same coordinate system of the second imaging unit 60. Additionally, since the images are captured by the fixed second imaging unit 60, there is no origin deviation between the second image β and the third image γ. That is, the second positional relationship calculation unit 74 specifies the positions of the substrate mark 3b and the head mark 313, which are the second positional relationship, on coordinates with the imaging center of the second imaging unit 60 as the origin. To this end, the position coordinates (X, Y, θ) of the substrate mark 3b of the second image β and the position coordinates (X, Y, θ) of the head mark 313 of the third image γ are obtained.

제3 위치 관계 산출부(75)는, 제1 위치 관계와 제2 위치 관계에 기초하여, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출한다. 즉, 제1 위치 관계에 있어서의 헤드 마크(313)의 위치 좌표와 제2 위치 관계에 있어서의 헤드 마크(313)의 위치 좌표의 어긋남량과, 제1 위치 관계에 있어서의 전자 부품(2)의 위치 좌표와 제2 위치 관계에 있어서의 기판 마크(3b)의 위치 좌표의 어긋남량을 구한다. 즉, 헤드 마크(313)의, 수취 위치 P2에 있어서의 위치와 실장 위치 P3에 있어서의 위치의 어긋남량을 구하고, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 어긋남량에 가산함으로써, 실장 위치 P3에 있어서의 기판 마크(3b)의 위치에 대한 전자 부품(2)의 위치를 구할 수 있다.The third positional relationship calculation unit 75 calculates the third positional relationship, which is the positional relationship between the electronic component 2 and the substrate mark 3b, based on the first positional relationship and the second positional relationship. That is, the amount of deviation between the positional coordinates of the head mark 313 in the first positional relationship and the positional coordinates of the head mark 313 in the second positional relationship, and the electronic component 2 in the first positional relationship The amount of deviation between the position coordinates of and the position coordinates of the substrate mark 3b in the second position relationship is determined. That is, the amount of deviation between the position of the head mark 313 at the receiving position P2 and the position at the mounting position P3 is determined and added to the amount of deviation between the electronic component 2 and the substrate mark 3b, thereby determining the mounting position. The position of the electronic component 2 with respect to the position of the substrate mark 3b in P3 can be obtained.

기구 제어부(71)는, 제3 위치 관계에 기초하여, 어긋남량이 보정되어 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)가 일치하는(실장의 허용 범위 내가 됨) 이동량과 방향에서, 전자 부품(2)이 이동하도록, 위치 결정 기구(회동 유닛(317) 및 헤드 이동 기구(320))를 제어한다. 이러한 위치 결정 후, 기구 제어부(71)는, 헤드 이동 기구(320)의 승강 기구(322)에 의해 본딩 헤드(310)를 하강시키고, 전자 부품(2)을 기판(3)의 실장 영역(3a)에 실장한다.Based on the third positional relationship, the mechanism control unit 71 adjusts the electronic component 2 in a movement amount and direction in which the amount of misalignment is corrected and the electronic component 2 and the substrate mark 3b match (within the allowable range for mounting). ) is controlled so that the positioning mechanism (rotating unit 317 and head moving mechanism 320) moves. After this positioning, the mechanism control unit 71 lowers the bonding head 310 by the lifting mechanism 322 of the head moving mechanism 320 and places the electronic component 2 in the mounting area 3a of the substrate 3. ) is installed.

또한, 화상 처리부(72), 제1 위치 관계 산출부(73)는, 제1 촬상부(50)가 갖는 회로에 구성해도 된다. 또한, 화상 처리부(72), 제2 위치 관계 산출부(74), 제3 위치 관계 산출부(75)는, 제2 촬상부(60)가 갖는 회로에 구성해도 된다.Additionally, the image processing unit 72 and the first positional relationship calculation unit 73 may be configured in a circuit included in the first imaging unit 50. Additionally, the image processing unit 72, the second positional relationship calculation unit 74, and the third positional relationship calculation unit 75 may be configured in a circuit included in the second imaging unit 60.

기억부(76)는, 기록 매체인 각종 메모리(HDD: Hard Disk Drive나 SSD: Solid State Drive 등), 기록 매체와 외부의 인터페이스를 포함하는 기억 장치이다. 기억부(76)에는, 실장 장치(1)의 동작에 필요한 데이터, 프로그램이 기억된다. 필요한 데이터는, 예를 들어 제1 화상 α, 제2 화상 β, 제3 화상 γ, 제1 위치 관계, 제2 위치 관계, 제3 위치 관계, 각종 역치 등을 포함한다. 또한, 각 장치가 출력하는 데이터도, 기억부(76)에 적절히 기억된다. 이하의 설명에서는, 예를 들어 제1 촬상부(50)가 촬상한 화상, 제2 촬상부(60)가 촬상한 화상 등, 각 장치에 있어서 출력되는 데이터를 취득하는 것도, 기억부(76)에 기억하는 것에 상당한다.The storage unit 76 is a storage device that includes various types of memory (HDD: Hard Disk Drive, SSD: Solid State Drive, etc.) as a recording medium, a recording medium, and an external interface. The storage unit 76 stores data and programs necessary for the operation of the mounting device 1. Required data includes, for example, first image α, second image β, third image γ, first position relationship, second position relationship, third position relationship, various thresholds, etc. Additionally, data output from each device is also appropriately stored in the storage unit 76. In the following description, data output from each device, such as images captured by the first imaging unit 50 and images captured by the second imaging unit 60, are also acquired using the storage unit 76. It is equivalent to remembering.

[동작][movement]

이상과 같은 실장 장치(1)에 있어서, 픽업 장치(20)에 의해 공급 장치(10)로부터 전자 부품(2)을 픽업하고, 당해 전자 부품(2)을 탑재 장치(30)로 전달하고, 탑재 장치(30)에 있어서 전자 부품(2)을 기판(3)에 실장하는 수순을, 상기한 도 1 내지 도 7에 추가하고, 도 8의 흐름도를 참조하여 설명한다.In the above mounting device 1, the electronic component 2 is picked up from the supply device 10 by the pickup device 20, and the electronic component 2 is delivered to the mounting device 30 and mounted. The procedure for mounting the electronic component 2 on the board 3 in the device 30 will be explained in addition to FIGS. 1 to 7 described above with reference to the flowchart of FIG. 8 .

즉, 픽업 장치(20)의 이동 기구(22)에 의해, 픽업 노즐(21)을 공급 위치 P1로 이동시킨다. 한편, 공급 장치(10)는, 공급 스테이지(12)를 이동시켜, 공급 위치 P1에 픽업 대상의 전자 부품(2)을 위치시킨다. 이 후, 픽업 노즐(21)이 강하하여, 전자 부품(2)에 접근해 가고, 전자 부품(2)에 접촉하여 정지한다. 그리고, 픽업 노즐(21)이 정지한 상태에서, 노즐 구멍으로부터의 흡인을 개시한다. 이 상태에서, 픽업 노즐(21)이 상승하면, 픽업 노즐(21)에 의해 흡인된 전자 부품(2)이, 트레이(11)로부터 픽업된다.That is, the pickup nozzle 21 is moved to the supply position P1 by the moving mechanism 22 of the pickup device 20. On the other hand, the supply device 10 moves the supply stage 12 and positions the electronic component 2 to be picked up at the supply position P1. After this, the pickup nozzle 21 descends, approaches the electronic component 2, and comes into contact with the electronic component 2 and stops. Then, with the pickup nozzle 21 stopped, suction from the nozzle hole starts. In this state, when the pickup nozzle 21 rises, the electronic component 2 sucked by the pickup nozzle 21 is picked up from the tray 11.

픽업 장치(20)는, 반전 기구(23)에 의해, 픽업 노즐(21)을 반전시킨다. 픽업 장치(20)는, 이동 기구(22)에 의해, 전달 위치 P2로 픽업한 전자 부품(2)을 이동시킨다. 도 3, 도 4에 나타낸 바와 같이, 전달 위치 P2에서는, 탑재 장치(30)의 본딩 헤드(310)가 대기하고 있고, 반전된 픽업 노즐(21)에 보유 지지된 전자 부품(2)과 대향한다. 본딩 헤드(310)를 향해 픽업 노즐(21)을 상승시키고, 본딩 툴(311)의 점착부(312)에 전자 부품(2)을 부착시켜 보유 지지시킨 후, 픽업 노즐(21)이 부압을 해제함으로써, 본딩 헤드(310)로 전자 부품(2)을 전달한다. 이 후, 픽업 노즐(21)은, 본딩 헤드(310)로부터 이격되도록 하강하여, 공급 위치 P1로 복귀된다.The pickup device 20 inverts the pickup nozzle 21 using the inversion mechanism 23 . The pickup device 20 moves the picked up electronic component 2 to the delivery position P2 using the moving mechanism 22 . 3 and 4, at the delivery position P2, the bonding head 310 of the mounting device 30 is on standby and faces the electronic component 2 held by the inverted pickup nozzle 21. . After raising the pickup nozzle 21 toward the bonding head 310 and attaching and holding the electronic component 2 to the adhesive portion 312 of the bonding tool 311, the pickup nozzle 21 releases the negative pressure. By doing so, the electronic component 2 is transferred to the bonding head 310. After this, the pickup nozzle 21 descends to be spaced apart from the bonding head 310 and returns to the supply position P1.

이 상태에서, 도 7의 (A), (D)에 나타낸 바와 같이, 제1 촬상부(50)가, 제1 화상 α를 촬상한다(스텝 S101). 즉, 제1 촬상부(50)는, 본딩 툴(311)에 보유 지지된 전자 부품(2)과 함께, 본딩 툴(311)에 마련된 헤드 마크(313)를 촬상한다. 제1 위치 관계 산출부(73)는, 제1 화상 α를 화상 처리부(72)가 처리한 화상에 기초하여, 제1 위치 관계를 산출한다(스텝 S102). 또한, 이것과 병행하여, 도 7의 (B), (E)에 나타낸 바와 같이, 제2 촬상부(60)가, 제2 화상 β를 촬상한다(스텝 S103). 즉, 제2 촬상부(60)는, 기판 스테이지(40)에 지지되어, 실장 영역(3a)이 실장 위치 P3에 위치 부여된 기판(3)의 기판 마크(3b)를 촬상한다.In this state, as shown in Fig. 7 (A) and (D), the first imaging unit 50 captures the first image α (step S101). That is, the first imaging unit 50 images the head mark 313 provided on the bonding tool 311 along with the electronic component 2 held by the bonding tool 311. The first position relationship calculation unit 73 calculates the first position relationship based on the first image α processed by the image processing unit 72 (step S102). Additionally, in parallel with this, as shown in FIGS. 7B and 7E , the second imaging unit 60 captures the second image β (step S103). That is, the second imaging unit 60 is supported on the substrate stage 40 and images the substrate mark 3b of the substrate 3 with the mounting area 3a positioned at the mounting position P3.

다음으로, 본딩 헤드(310)는, 도 1 및 도 2에 나타낸 바와 같이, 실장 위치 P3으로 이동함으로써, 전자 부품(2)의 실장면(2a)과 기판(3)의 실장 영역(3a)을 대향시킨다(스텝 S104). 그리고, 도 7의 (C), (F)에 나타낸 바와 같이, 제2 촬상부(60)가, 제3 화상 γ를 촬상한다(스텝 S105). 즉, 제2 촬상부(60)는, 보유 지지부(315)를 투과하고, 본딩 툴(311)의 헤드 마크(313)를 촬상한다. 제2 위치 관계 산출부(74)는, 제2 화상 β 및 제3 화상 γ를 화상 처리부(72)가 처리한 화상에 기초하여, 제2 위치 관계를 산출한다(스텝 S106).Next, as shown in FIGS. 1 and 2, the bonding head 310 moves to the mounting position P3, thereby connecting the mounting surface 2a of the electronic component 2 and the mounting area 3a of the substrate 3. Face each other (step S104). Then, as shown in FIGS. 7(C) and 7(F), the second imaging unit 60 captures the third image γ (step S105). That is, the second imaging unit 60 transmits the holding portion 315 and images the head mark 313 of the bonding tool 311. The second position relationship calculation unit 74 calculates the second position relationship based on the second image β and the third image γ processed by the image processing unit 72 (step S106).

제3 위치 관계 산출부(75)는, 제1 위치 관계, 제2 위치 관계에 기초하여, 제3 위치 관계를 산출한다(스텝 S107). 즉, 헤드 마크(313)의 X, Y, θ의 어긋남량, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 X, Y, θ의 어긋남량을 구한다. 기구 제어부(71)는, 제3 위치 관계에 기초하여, 어긋남량이 해소되도록, 회동 유닛(317) 및 헤드 이동 기구(320)를 동작시킴으로써, 위치 결정을 행한다(스텝 S108). 그리고, 도 5에 나타낸 바와 같이, 헤드 이동 기구(320)의 승강 기구(322)에 의해 본딩 헤드(310)를 하강시켜, 전자 부품(2)을 기판(3)의 실장 영역(3a)에 실장한다(스텝 S109).The third positional relationship calculation unit 75 calculates the third positional relationship based on the first positional relationship and the second positional relationship (step S107). That is, the amount of deviation of X, Y, and θ of the head mark 313 and the amount of deviation of X, Y, and θ of the electronic component 2 and the substrate mark 3b are determined. The mechanism control unit 71 determines the position by operating the rotation unit 317 and the head movement mechanism 320 so that the amount of misalignment is eliminated based on the third positional relationship (step S108). Then, as shown in FIG. 5, the bonding head 310 is lowered by the lifting mechanism 322 of the head moving mechanism 320, and the electronic component 2 is mounted on the mounting area 3a of the substrate 3. Do it (step S109).

[위치 관계의 산출][Calculation of positional relationship]

상기한 위치 관계의 산출에 대하여, 더 구체적으로 설명한다. 또한, 이하의 설명의 「좌표계에서」란, 상기한 각 좌표에 있어서의 원점에 대한 X, Y, θ의 위치를 나타낸다. 먼저, 제1 화상 α에 기초하여, 전달 위치 P2에서 제1 촬상부(50)의 좌표계에서, 헤드 마크(313)의 위치를 산출한다. 또한, 제1 촬상부(50)의 좌표계에서, 전자 부품(2)의 위치를 산출한다. 다음으로, 실장 위치 P3에 있어서의, 제2 화상 β에 기초하여, 제2 촬상부(60)의 좌표계에서, 기판 마크(3b)의 위치를 산출한다. 또한, 제3 화상 γ에 기초하여, 제2 촬상부(60)의 좌표계에서, 헤드 마크(313)의 위치를 산출한다. 그리고, 제1 촬상부(50)의 좌표계에 있어서의 헤드 마크(313)의 위치와 제2 촬상부(60)의 좌표계에 있어서의 헤드 마크(313)의 위치의 어긋남량을 구한다. 헤드 마크(313)는 공통이므로, 이 어긋남량이, 제1 촬상부(50)의 좌표계와 제2 촬상부(60)의 좌표계의 어긋남에 상당한다.The calculation of the above positional relationship will be explained in more detail. In addition, “in the coordinate system” in the description below refers to the positions of X, Y, and θ with respect to the origin in each of the above-mentioned coordinates. First, based on the first image α, the position of the head mark 313 is calculated in the coordinate system of the first imaging unit 50 at the delivery position P2. Additionally, the position of the electronic component 2 is calculated in the coordinate system of the first imaging unit 50. Next, based on the second image β at the mounting position P3, the position of the substrate mark 3b is calculated in the coordinate system of the second imaging unit 60. Furthermore, based on the third image γ, the position of the head mark 313 is calculated in the coordinate system of the second imaging unit 60. Then, the amount of deviation between the position of the head mark 313 in the coordinate system of the first imaging unit 50 and the position of the head mark 313 in the coordinate system of the second imaging unit 60 is determined. Since the head mark 313 is common, this amount of deviation corresponds to the deviation between the coordinate system of the first imaging unit 50 and the coordinate system of the second imaging unit 60.

따라서, 제1 촬상부(50)의 좌표계에 있어서의 전자 부품(2)의 위치를, 이 어긋남량으로 보정함으로써, 제2 촬상부(60)의 좌표계에 있어서의 위치로 변환할 수 있다. 이 변환된 제2 촬상부(60)의 좌표계에 있어서의 전자 부품(2)의 위치와 제2 촬상부(60)의 좌표계에 있어서의 기판 마크(3b)의 어긋남량이, 실장 위치 P3에 있어서의 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 어긋남량에 상당하고, 즉 제3 위치 관계로 된다. 기구 제어부(71)는, 제3 위치 관계인 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 어긋남량이 해소되도록, 양자를 위치 결정한다. 이로써, 전자 부품(2)이, 실장되어야 할 기판(3)의 실장 영역에 실장된다.Therefore, the position of the electronic component 2 in the coordinate system of the first imaging unit 50 can be converted to the position in the coordinate system of the second imaging unit 60 by correcting this amount of deviation. The amount of deviation between the position of the electronic component 2 in the converted coordinate system of the second imaging unit 60 and the substrate mark 3b in the coordinate system of the second imaging unit 60 is at the mounting position P3. It corresponds to the amount of deviation between the electronic component 2 and the substrate mark 3b, that is, it becomes a third positional relationship. The mechanism control unit 71 positions the electronic component 2 and the substrate mark 3b, which are in the third positional relationship, so that the amount of misalignment is eliminated. Thereby, the electronic component 2 is mounted on the mounting area of the board 3 to be mounted.

[효과][effect]

(1) 본 실시 형태의 실장 장치(1)는, 헤드 마크(313)가 마련된 본딩 헤드(310)를 갖고, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)을, 실장 위치 P3에 있어서의 기판(3)의 실장 영역(3a)에 탑재하는 탑재 장치(30)와, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)을, 헤드 마크(313)와 함께 촬상하는 제1 화상 α를 촬상 가능한 위치에 마련된 제1 촬상부(50)와, 실장 위치 P3에 있어서, 실장 영역(3a)에 마련된 기판 마크(3b)를 촬상하는 제2 화상 β와, 제2 화상 β를 촬상한 후, 본딩 헤드(310)가 실장 위치 P3에 위치 부여되고, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)이 실장 영역(3a)에 대향한 상태에서, 헤드 마크(313)를 촬상하는 제3 화상 γ를 촬상 가능하게 마련된 제2 촬상부(60)를 갖는다.(1) The mounting device 1 of the present embodiment has a bonding head 310 provided with a head mark 313, and the electronic component 2 held by the bonding head 310 is placed at the mounting position P3. The first image α captures the mounting device 30 mounted on the mounting area 3a of the substrate 3 and the electronic component 2 held by the bonding head 310 together with the head mark 313. After imaging the first imaging unit 50 provided at a position capable of imaging, a second image β for imaging the substrate mark 3b provided in the mounting area 3a at the mounting position P3, and the second image β. , the bonding head 310 is positioned at the mounting position P3, and the electronic component 2 held by the bonding head 310 faces the mounting area 3a, and the head mark 313 is imaged. It has a second imaging unit 60 capable of capturing three images γ.

또한, 실장 장치(1)는, 제1 화상 α에 기초하여, 헤드 마크(313)와 전자 부품(2)의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출하는 제1 위치 관계 산출부(73)와, 제2 화상 β와 제3 화상 γ에 기초하여, 헤드 마크(313)와 기판 마크(3b)의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출하는 제2 위치 관계 산출부(74)와, 제1 위치 관계와 제2 위치 관계에 기초하여, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출하는 제3 위치 관계 산출부(75)와, 제3 위치 관계에 기초하여, 전자 부품(2)의 탑재 전에, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)를 위치 결정하는 위치 결정 기구를 갖는다.Additionally, the mounting device 1 includes a first position relationship calculation unit 73 that calculates a first position relationship, which is the position relationship between the head mark 313 and the electronic component 2, based on the first image α; Based on the second image β and the third image γ, a second positional relationship calculation unit 74 that calculates a second positional relationship that is the positional relationship between the head mark 313 and the substrate mark 3b, and a first positional relationship and a second positional relationship. 2 Based on the positional relationship, a third positional relationship calculation unit 75 that calculates a third positional relationship that is the positional relationship between the electronic component 2 and the substrate mark 3b, and based on the third positional relationship, an electronic component ( Before mounting 2), there is a positioning mechanism for positioning the electronic component 2 and the substrate mark 3b.

또한, 본 실시 형태의 실장 방법은, 제1 촬상부(50)에 의해, 헤드 마크(313)가 마련된 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)이, 헤드 마크(313)와 함께 촬상된 제1 화상 α를 촬상하고, 제2 촬상부(60)에 의해, 기판(3)에 있어서의 전자 부품(2)의 실장 영역(3a)에 마련된 기판 마크(3b)가 촬상된 제2 화상 β를 촬상하고, 제2 촬상부(60)에 의해, 제2 화상 β를 촬상한 후에, 실장 영역(3a)에 전자 부품(2)이 대향하도록 본딩 헤드(310)를 배치한 상태에서, 헤드 마크(313)가 촬상된 제3 화상 γ를 촬상한다.In addition, in the mounting method of the present embodiment, the electronic component 2 held by the first imaging unit 50 on the bonding head 310 provided with the head mark 313 is held together with the head mark 313. The captured first image α is imaged, and the substrate mark 3b provided in the mounting area 3a of the electronic component 2 in the substrate 3 is imaged by the second imaging unit 60. After imaging the image β and capturing the second image β by the second imaging unit 60, the bonding head 310 is arranged so that the electronic component 2 faces the mounting area 3a, The third image γ in which the head mark 313 is imaged is captured.

제1 위치 관계 산출부(73)가, 제1 화상 α에 기초하여, 헤드 마크(313)와 전자 부품(2)의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출하고, 제2 위치 관계 산출부(74)가, 제2 화상 β와 제3 화상 γ에 기초하여, 헤드 마크(313)와 기판 마크(3b)의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출하고, 제3 위치 관계 산출부(75)가, 제1 위치 관계와 제2 위치 관계에 기초하여, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출하고, 위치 결정 기구가, 제3 위치 관계에 기초하여, 전자 부품(2)과 기판 마크(3b)를 위치 결정하고, 탑재 장치(30)가, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)을, 기판(3)의 실장 영역(3a)에 탑재한다.The first positional relationship calculation unit 73 calculates a first positional relationship, which is the positional relationship between the head mark 313 and the electronic component 2, based on the first image α, and the second positional relationship calculation unit 74 First, based on the second image β and the third image γ, a second positional relationship, which is the positional relationship between the head mark 313 and the substrate mark 3b, is calculated, and the third positional relationship calculation unit 75 calculates the first positional relationship. Based on the positional relationship and the second positional relationship, a third positional relationship that is the positional relationship between the electronic component 2 and the substrate mark 3b is calculated, and the positioning mechanism calculates the electronic component 2 based on the third positional relationship. ) and the substrate mark 3b are positioned, and the mounting device 30 mounts the electronic component 2 held by the bonding head 310 on the mounting area 3a of the substrate 3.

이와 같이, 제1 촬상부(50)가 촬상하는 제1 화상 α와 제2 촬상부(60)가 촬상하는 제3 화상 γ는, 공통의 헤드 마크(313)를 포함하기 때문에, 제1 촬상부(50)와 제2 촬상부(60)의 위치 관계의 어긋남량을 캔슬할 수 있다. 또한, 동일한 제2 촬상부(60)에 의해, 기판 마크(3b)를 포함하는 제2 화상 β와 헤드 마크(313)를 포함하는 제3 화상 γ를 촬상하므로, 기판 마크(3b)의 위치와 헤드 마크(313)의 위치 관계는 일정해진다. 또한, 제2 촬상부(60)는, 동일한 실장 위치 P3에 있어서, 제2 화상 β, 제3 화상 γ를 촬상하므로, 제2 촬상부(60)의 이동 오차는 발생하지 않는다. 이 때문에, 전자 부품(2)을, 기판(3)의 실장 영역(3a)에 대하여 정확하게 위치 결정하여, 실장할 수 있다. 따라서, 본 실시 형태는, 마이크로 LED의 리페어 공정과 같이, 전자 부품(2)을 고정밀도로 탑재할 필요가 있는 경우에 특히 적합하다.In this way, since the first image α captured by the first imaging unit 50 and the third image γ captured by the second imaging unit 60 include the common head mark 313, the first image capturing unit 50 The amount of deviation in the positional relationship between 50 and the second imaging unit 60 can be canceled. In addition, since the second image β including the substrate mark 3b and the third image γ including the head mark 313 are imaged by the same second imaging unit 60, the position of the substrate mark 3b and The positional relationship of the head mark 313 becomes constant. Additionally, since the second image pickup unit 60 images the second image β and the third image γ at the same mounting position P3, movement error of the second image pickup unit 60 does not occur. For this reason, the electronic component 2 can be accurately positioned and mounted with respect to the mounting area 3a of the substrate 3. Therefore, this embodiment is particularly suitable for cases where the electronic component 2 needs to be mounted with high precision, such as a micro LED repair process.

또한, 실장 위치 P3에 있어서의 제2 촬상부(60)에 의한 촬상은, 헤드 마크(313)만으로, 전자 부품(2) 및 기판 마크(3b)를 촬상할 필요가 없기 때문에, 구성을 간소하게 할 수 있다. 즉, 예를 들어 상하 양방향을 동시에 촬상하는 촬상부가 불필요해지므로, 촬상부를 진입시켜 촬상마다 촬상 위치가 변동되는 경우가 없고, 상하의 카메라의 촬상 위치의 오차가 발생하는 경우도 없다. 카메라를 진입시키기 위해 본딩 헤드(310)와 기판(3)을 크게 이격시킬 필요가 없기 때문에, 위치 결정 후의 실장 시의 이동량을 억제하여, 이동 오차를 저감시킬 수 있다. 특히, 위치 정렬 시와 실장 시의 거리를 근접시킬 수 있으므로, 위치 정렬 후의 수평 방향의 어긋남을 최대한 억제할 수 있다. 또한, 실장 위치 P3에 있어서, 전자 부품(2), 기판 마크(3b)를 인식할 필요가 없기 때문에, 양자가 겹쳐 있어도 위치 결정이 가능해진다.In addition, imaging by the second imaging unit 60 at the mounting position P3 uses only the head mark 313, and there is no need to image the electronic component 2 and the substrate mark 3b, so the configuration is simplified. can do. In other words, for example, an imaging unit that simultaneously captures images in both the upper and lower directions becomes unnecessary, so the imaging position does not change for each image taken when the imaging unit is entered, and errors in the imaging positions of the upper and lower cameras do not occur. Since there is no need to separate the bonding head 310 and the substrate 3 significantly in order to introduce the camera, the amount of movement during mounting after positioning can be suppressed, and movement errors can be reduced. In particular, since the distances at the time of alignment and the time of mounting can be brought closer, deviation in the horizontal direction after alignment can be suppressed as much as possible. Moreover, since there is no need to recognize the electronic component 2 and the board mark 3b at the mounting position P3, positioning is possible even if both overlap.

또한, 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60)에 사용하는 카메라는, 전자 부품(2), 헤드 마크(313) 및 기판 마크(3b)를 촬상 가능한 것이면 되고, 특정한 것으로는 한정되지는 않는다. 단, 가시광을 촬상하는 통상의 카메라를 사용할 수 있고, 반드시 적외선 카메라 등 특수 카메라를 사용할 필요가 없기 때문에, 실장 정밀도를 확보하면서 장치 비용을 억제할 수 있다.Additionally, the cameras used in the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60 may be any camera capable of imaging the electronic component 2, head mark 313, and substrate mark 3b, and are limited to specific cameras. It doesn't work. However, since a normal camera that captures visible light can be used and there is no need to use a special camera such as an infrared camera, device costs can be kept down while ensuring mounting precision.

(2) 헤드 마크(313)는, 평면에서 보아, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)의 외측에 마련되어 있다. 이 때문에, 제1 촬상부(50)에 의해, 헤드 마크(313)와 전자 부품(2)을 명확하게 구별한 상태에서 촬상할 수 있다. 상기한 실시 형태와 같은 PDMS를 이용한 보유 지지에서는, PDMS막의 크기는 변동이 크고 헤드 마크(313)가 덮이거나, PDMS막의 형성 시에 헤드 마크(313)가 오염되거나 하여, 촬상할 수 없게 되는 경우가 상정되지만, 그것을 피할 수 있다. 물론, 전자 부품(2)이 흡인 유지되는 경우에도, 보유 지지 위치에는 변동이 있으므로, 헤드 마크(313)가 덮여 촬상할 수 없게 되는 것을 피할 수 있다.(2) The head mark 313 is provided on the outside of the electronic component 2 held by the bonding head 310 in plan view. For this reason, the first imaging unit 50 can capture images of the head mark 313 and the electronic component 2 while clearly distinguishing them. In holding using PDMS as in the above-described embodiment, the size of the PDMS film varies greatly and the head mark 313 is covered, or the head mark 313 is contaminated during formation of the PDMS film, making it impossible to capture images. is assumed, but it can be avoided. Of course, even when the electronic component 2 is held by suction, the holding position varies, so it is possible to avoid the head mark 313 being covered and making it impossible to capture an image.

(3) 본딩 헤드(310)는, 전자 부품(2)을 보유 지지하는 본딩 툴(311)과, 본딩 툴(311)을 보유 지지하는 보유 지지부(315)를 갖고, 헤드 마크(313)는, 본딩 툴(311)에 마련되어 있다. 이 때문에, 전자 부품(2)과 헤드 마크(313)의 제1 촬상부(50)의 거리의 차가 적고, 제1 촬상부(50)가 제1 화상 α를 촬상할 때, 양자에 초점을 맞추기 쉬워져, 양자의 위치 인식의 오차가 적다. 또한, 제2 촬상부(60)는, 실장 위치 P3에 있어서, 헤드 마크(313)를 기판(3)에 가까운 위치에서 촬상할 수 있으므로, 제2 화상 β를 촬상할 때의 초점과, 제3 화상 γ를 촬상할 때의 초점이 가까워져, 촬상된 기판 마크(3b)와 헤드 마크(313)의 위치 인식의 오차가 적다.(3) The bonding head 310 has a bonding tool 311 for holding the electronic component 2 and a holding portion 315 for holding the bonding tool 311, and the head mark 313 is, It is provided in the bonding tool 311. For this reason, the difference in distance between the electronic component 2 and the head mark 313 between the first imaging unit 50 is small, and when the first imaging unit 50 captures the first image α, it is possible to focus on both. It becomes easier, and there are fewer errors in recognizing the positions of both parties. In addition, the second imaging unit 60 can image the head mark 313 at a position close to the substrate 3 at the mounting position P3, so the focus when imaging the second image β and the third The focus when capturing the image γ becomes closer, and the error in position recognition of the imaged substrate mark 3b and the head mark 313 is small.

(4) 본딩 툴(311) 및 보유 지지부(315)는, 투광성을 갖는다. 이 때문에, 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60)는, 상하의 어느 것으로부터든 헤드 마크(313)를 촬상할 수 있다. 이 때문에, 높은 정밀도를 필요로 하는 헤드 마크(313)를 1군데에만 마련하면 되므로, 장치 비용을 저감시킬 수 있다. 또한, 이격된 장소에서의 각각의 촬상부(제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60))에 의한 촬상이라도, 동일한 헤드 마크(313)를 촬상하므로, 촬상부의 상이를 캔슬할 수 있다.(4) The bonding tool 311 and the holding portion 315 are transparent. For this reason, the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60 can image the head mark 313 from either the top or bottom. For this reason, the head mark 313, which requires high precision, only needs to be provided at one location, and thus the device cost can be reduced. In addition, even when images are captured by each imaging unit (the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60) at separate locations, the same head mark 313 is imaged, so differences in the imaging units can be canceled. there is.

(5) 헤드 마크(313)는 오목부이다. 이 때문에, 헤드 마크(313)의 형성이 용이하고, 다른 부재와의 접촉 등에 의해서도 소실되는 경우가 없다. 예를 들어, 본딩 툴(311)과 보유 지지부(315)의 접촉 등에 의해서도, 마모에 의한 변화가 적다.(5) The head mark 313 is a concave portion. For this reason, the head mark 313 is easy to form and is unlikely to be lost due to contact with another member. For example, there is little change due to wear due to contact between the bonding tool 311 and the holding portion 315.

(6) 제1 촬상부(50)는, 제1 화상 α를 촬상 가능한 위치에 고정 지지되어 있다. 또한, 제2 촬상부(60)는, 제2 화상 β 및 제3 화상 γ를 촬상 가능한 위치에 고정 지지되어 있다. 이 때문에, 제1 촬상부(50), 제2 촬상부(60)의 이동에 의한 오차가 없다. 또한, 이동을 위한 기구도 불필요해지므로, 간소하고 또한 저렴하게 구성할 수 있다.(6) The first imaging unit 50 is fixedly supported at a position where the first image α can be captured. Additionally, the second imaging unit 60 is fixed and supported at a position where the second image β and the third image γ can be imaged. For this reason, there is no error due to movement of the first imaging unit 50 and the second imaging unit 60. Additionally, since there is no need for a mechanism for movement, it can be constructed simply and inexpensively.

[변형예][Variation example]

본 발명은, 상기한 실시 형태에 한정되지는 않는다. 상기한 실시 형태와 기본적인 구성은 마찬가지로 하고, 이하와 같은 변형예도 적용 가능하다.The present invention is not limited to the above-described embodiments. The basic configuration is the same as the above-described embodiment, and the following modifications are also applicable.

(1) 헤드 마크(313)의 위치나 수 등은, 상기에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 도 9의 (A)에 나타낸 바와 같이, 헤드 마크(313)를 본딩 툴(311)의 보유 지지면(311a)에 마련함으로써, 전자 부품(2)과 근접시켜 초점을 접근시킬 수 있다. 따라서, 헤드 마크(313)와 전자 부품(2)의 선명한 화상을 얻을 수 있으므로, 위치의 인식 정밀도를 높일 수 있다. 또한, 도 9의 (B)에 나타낸 바와 같이, 헤드 마크(313)를 보유 지지부(315)의 상면에 마련해도 된다. 이 경우, 헤드 마크(313)에 접촉하는 것이 없으므로, 후술하는 바와 같은 금속막을 마련해도 흠집이 생기거나, 박리되거나 하는 경우가 없다. 금속막에 의해, 헤드 마크(313)의 위치나 형상을 정확하게 형성할 수 있으므로, 위치의 인식 정밀도를 높일 수 있다. 또한, 도 9의 (C)에 나타낸 바와 같이, 헤드 마크(313)를 보유 지지부(315)의 하면에 마련해도 된다. 이 경우, 상기한 실시 형태와 같은 PDMS를 이용한 보유 지지에서는, PDMS막의 형성 시에 오염되거나, 덮이거나 하여 인식할 수 없게 되는 경우가 상정되지만, 그것을 피할 수 있다. 물론, 흡인 유지 등으로 전자 부품(2)이 접촉하여, 헤드 마크(313)가 박리되거나, 흠집이 생기거나 하여 인식할 수 없게 되는 것도 피할 수 있다. 또한, 도 6, 도 9의 (C)는, 헤드 마크(313)를 본딩 툴(311)과 보유 지지부(315) 사이에 마련한 예이기도 한다.(1) The positions and numbers of the head marks 313 are not limited to the above. For example, as shown in (A) of FIG. 9, by providing the head mark 313 on the holding surface 311a of the bonding tool 311, the focus can be brought closer to the electronic component 2. there is. Accordingly, a clear image of the head mark 313 and the electronic component 2 can be obtained, and the accuracy of position recognition can be improved. Additionally, as shown in FIG. 9B, a head mark 313 may be provided on the upper surface of the holding portion 315. In this case, since there is no contact with the head mark 313, there is no case of scratches or peeling even if a metal film as described later is provided. Since the position and shape of the head mark 313 can be accurately formed by the metal film, the position recognition accuracy can be improved. Additionally, as shown in FIG. 9C, the head mark 313 may be provided on the lower surface of the holding portion 315. In this case, in the holding using PDMS as in the above-described embodiment, it is assumed that the PDMS film may be contaminated or covered during formation and become unrecognizable, but this can be avoided. Of course, it is also possible to avoid that the head mark 313 is peeled off or scratched and becomes unrecognizable due to contact with the electronic component 2 due to suction and holding, etc. 6 and 9(C) are also examples in which the head mark 313 is provided between the bonding tool 311 and the holding portion 315.

(2) 헤드 마크(313)의 양태는, 상기한 오목부에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 금속막을 증착함으로써 형성해도 된다. 금속막으로서는, 예를 들어 크롬(Cr)을 사용한다. 이로써, 헤드 마크(313)의 형상의 정밀도를 높일 수 있다. 단, 다른 부재와의 접촉에 의해 박리되지 않도록, 금속막을 덮는 투명한 커버를 마련하거나, 단차나 오목부의 저부에 금속막을 형성하는 것이 바람직하다. 기판 마크(3b)의 양태도, 상기한 전극에 한정되지는 않는다. 전극과는 별도로 형성된 마크여도 된다.(2) The aspect of the head mark 313 is not limited to the above-described concave portion. For example, it may be formed by depositing a metal film. As the metal film, chromium (Cr) is used, for example. As a result, the precision of the shape of the head mark 313 can be increased. However, to prevent peeling due to contact with other members, it is desirable to provide a transparent cover to cover the metal film, or to form the metal film at the bottom of the step or recess. The aspect of the substrate mark 3b is also not limited to the above-mentioned electrode. The mark may be formed separately from the electrode.

(3) 상기 실시 형태에서는, 본딩 툴(311) 및 보유 지지부(315)가 투광성을 갖는 것으로 했지만, 반드시 투광성을 가질 필요는 없다. 헤드 마크(313)를 정확하게 상하 방향으로부터 촬상할 수 있는 구성이면 된다. 예를 들어, 헤드 마크(313)를 관통 구멍이라고 할 수 있다. 또한, 헤드 마크(313)를 본딩 툴(311) 및 보유 지지부(315)의 양면에 마련함으로써, 하방으로부터 촬상하는 제1 촬상부(50), 상방으로부터 촬상하는 제2 촬상부(60)가, 헤드 마크(313)를 촬상할 수 있다.(3) In the above embodiment, the bonding tool 311 and the holding portion 315 are assumed to be transparent, but they do not necessarily have to be transparent. Any configuration that can accurately image the head mark 313 from the vertical direction is sufficient. For example, the head mark 313 may be referred to as a through hole. In addition, by providing the head mark 313 on both sides of the bonding tool 311 and the holding portion 315, the first imaging unit 50, which captures images from below, and the second imaging unit 60, which captures images from above, The head mark 313 can be imaged.

(4) 전자 부품(2)은 마이크로 LED에는 한정되지는 않고, 기판(3)으로 실장되는 다양한 전자 부품(2)에 적용 가능하다. 상기한 실시 형태에서는, 공급 장치(10)에 있어서, 전자 부품(2)은, 전극 등이 마련된 기능면이 상방으로 노출된 페이스 업 상태로 배치되어 있었지만, 기능면이 하방의 트레이(11) 측이 된 페이스 다운 상태로 배치되어 있어도 된다. 또한, 전자 부품(2)은, 기판(3)에 대하여 페이스 다운으로 실장되는 경우도, 페이스 업으로 실장되는 경우도 포함한다. 즉, 페이스 업으로 배치된 전자 부품(2)은, 반전시킴으로써 페이스 다운 본딩을 할 수 있고, 중계 장치를 마련하고, 이 중계 장치를 경유함으로써, 페이스 업 본딩을 할 수 있다. 또한, 페이스 다운으로 배치된 전자 부품(2)은, 반전시킴으로써 페이스 업 본딩을 할 수 있고, 중계 장치를 경유함으로써, 페이스 다운 본딩을 할 수 있다.(4) The electronic component 2 is not limited to micro LED, and can be applied to various electronic components 2 mounted on the substrate 3. In the above-described embodiment, in the supply device 10, the electronic component 2 was arranged in a face-up state with the functional surface provided with electrodes etc. exposed upward, but the functional surface was positioned on the tray 11 side below. It may be placed in a face-down state. In addition, the electronic component 2 includes cases where it is mounted face down or face up with respect to the board 3. That is, the electronic component 2 arranged face-up can be face-down bonded by being reversed, and face-up bonding can be performed by providing a relay device and passing through this relay device. Additionally, the electronic component 2 arranged face down can be face-up bonded by being reversed, and face-down bonding can be done by passing through a relay device.

중계 장치를 경유하는 경우, 픽업된 전자 부품(2)은, 일단, 중계 장치에 적재되고, 그 상태에서 제1 촬상부(50)에 의해 촬상되고, 따라서, 제1 촬상부(50)는, 중계 장치의 상방에 배치된다. 즉, 중계 장치를 상하에 끼우고 2개의 제1 촬상부(50)를 배치하고, 중계 장치를 경유하는 경우와 경유하지 않는 경우로 전환하여 촬상할 수 있다. 그렇게 하면, 페이스 업 본딩과 페이스 다운 본딩을 겸용할 수 있고, 실장 장치(1)에서의 실장 형태의 적용 범위를 넓게 할 수 있다. 또한, 후술하는 바와 같이, 중계 장치의 상방에만 제1 촬상부(50)를 배치해도 된다.In the case of passing through a relay device, the picked up electronic component 2 is first loaded on the relay device and imaged in that state by the first imaging unit 50. Accordingly, the first imaging unit 50 It is placed above the relay device. That is, by placing the two first imaging units 50 between the top and bottom of the relay device, images can be captured by switching between cases where the relay device passes through the relay device and when it does not pass through the relay device. By doing so, both face-up bonding and face-down bonding can be used, and the application range of the mounting form in the mounting device 1 can be expanded. Additionally, as will be described later, the first imaging unit 50 may be disposed only above the relay device.

또한, 중계 장치의 전자 부품(2)이 적재되는 스테이지를 투광성을 갖는 것으로 하면, 중계 장치의 하부로부터 제1 촬상부(50)에 의해, 중계 장치에 적재된 전자 부품(2)을 촬상할 수 있다. 이 경우에도, 페이스 업 본딩과 페이스 다운 본딩을 겸용할 수 있다.Additionally, if the stage on which the electronic component 2 of the relay device is mounted is made transparent, the electronic component 2 loaded on the relay device can be imaged by the first imaging unit 50 from the bottom of the relay device. there is. In this case as well, both face-up bonding and face-down bonding can be used.

또한, 어떤 경우에 있어서도, 중계 장치에 적재된 전자 부품(2)에 본딩 툴(311)을 접근시킨 상태, 또는 중계 장치에 적재된 전자 부품(2)을 본딩 툴(311)이 수취하기 위해 접촉한 상태에서, 제1 촬상부(50)에 의한 촬상을 행한다. 이로써, 헤드 마크(313)와 전자 부품(2)에 대한 제1 촬상부(50)로부터의 각각의 초점 거리를 접근시킬 수 있어, 양자를 선명하게 촬상할 수 있다. 또한, 중계 장치는, 탈착 가능하게 마련해도 되고, 전달 위치 P2로부터 후퇴 가능하게 마련해도 된다.In addition, in any case, the bonding tool 311 is brought close to the electronic component 2 loaded on the relay device, or the bonding tool 311 is brought into contact with the electronic component 2 loaded on the relay device to receive it. In this state, imaging is performed by the first imaging unit 50. As a result, the respective focal distances of the head mark 313 and the electronic component 2 from the first imaging unit 50 can be brought close to each other, and both can be clearly imaged. Additionally, the relay device may be provided to be detachable or may be provided to be retractable from the delivery position P2.

(5) 제1 촬상부(50)는, 중계 장치의 유무에 관계 없이, 전달 위치 P2에 있어서의 본딩 헤드(310)의 상방이 되는 위치에 배치되어 있어도 된다. 즉, 제1 촬상부(50)는, 카메라가 아래를 향하고, 하방의 헤드 마크(313) 및 전자 부품(2)을 투과하여 촬상하는 양태여도 된다.(5) The first imaging unit 50 may be disposed at a position above the bonding head 310 at the delivery position P2, regardless of the presence or absence of a relay device. That is, the first imaging unit 50 may be configured so that the camera faces downward and transmits and captures the head mark 313 and the electronic component 2 below.

또한, 상기한 양태에서는, 제1 촬상부(50)를 전달 위치 P2에 설치하고 있었다. 그러나, 제1 촬상부(50)는, 본딩 헤드(310)에 보유 지지된 전자 부품(2)을, 헤드 마크(313)와 함께 촬상 가능한 위치에 설치되어 있으면 된다. 전달 위치 P2로부터 실장 위치 P3 사이에서, 본딩 헤드(310)의 이동 경로 상이라면, 제1 촬상부(50)를 어디에 설치해도 된다. 이 경우에도, 본딩 헤드(310)의 상하 모두 제1 촬상부(50)를 설치할 수 있다. 기판 스테이지(40) 등의 다른 유닛의 레이아웃 등에 의해 적절히 설치 장소를 정할 수 있다.In addition, in the above-described aspect, the first imaging unit 50 was installed at the delivery position P2. However, the first imaging unit 50 may be installed at a position where the electronic component 2 held by the bonding head 310 can be imaged together with the head mark 313. Between the delivery position P2 and the mounting position P3, the first imaging unit 50 may be installed anywhere on the movement path of the bonding head 310. In this case as well, the first imaging unit 50 can be installed both above and below the bonding head 310. An appropriate installation location can be determined depending on the layout of other units such as the substrate stage 40.

본딩 헤드(310)의 경로 도중에 제1 촬상부(50)를 설치한 경우에는, 촬상을 위해 본딩 헤드(310)의 이동을 정지해도 되고, 정지하지 않아도 된다. 정지하는 경우에는, 정지를 위한 시간이 필요해지지만, 더 선명한 화상의 촬상을 할 수 있어, 위치의 인식 정밀도를 높일 수 있다. 정지하지 않고 이동 중에 촬상하는 경우에는, 정지를 위한 시간, 촬상을 위한 시간을 스루풋으로부터 단축할 수 있다. 이동 중에 촬상하는 경우에는, 인식 정밀도를 유지하기 위해, 셔터 스피드를 빠르게 하는 것, 조명을 밝게 하는 것 등이 바람직하다. 정지할지의 여부는, 필요한 정밀도와 스루풋으로부터 적절히 결정하면 된다.When the first imaging unit 50 is installed in the path of the bonding head 310, the movement of the bonding head 310 may or may not be stopped for imaging. When stopping, time is required for stopping, but clearer images can be captured and position recognition accuracy can be improved. When imaging while moving without stopping, the time for stopping and the time for imaging can be shortened from the throughput. When capturing images while moving, it is desirable to speed up the shutter speed and brighten the lighting in order to maintain recognition accuracy. Whether or not to stop can be determined appropriately based on the required precision and throughput.

또한, 전달 위치 P2에 설치한 경우는, 전달 직후이며 본딩 헤드(310)가 이동을 개시하기 전에, 전자 부품(2)이 전달된 때의 그대로의 상태에서 제1 화상 α를 촬상할 수 있으므로, 촬상을 위한 시간은 걸리지만, 상기와 같이 본딩 헤드(310)의 이동 개시부터 일시 정지 후의 촬상이나, 이동 중인 촬상에 의한 인식 정밀도의 저하는 없다.In addition, when installed at the delivery position P2, the first image α can be captured in the same state as when the electronic component 2 was delivered immediately after delivery and before the bonding head 310 starts moving, Although it takes time for imaging, as described above, there is no decrease in recognition accuracy due to imaging after the bonding head 310 has paused from the start of movement or imaging while moving.

(6) 본딩 헤드(310)에 의한 전자 부품(2)의 보유 지지는, 점착에 한정되지는 않는다. 예를 들어, 부압에 의해 흡인 유지하는 양태여도 된다. 예를 들어, 부압 발생 회로에 접속된 흡인 경로의 단부가, 본딩 툴(311)의 전자 부품(2)의 보유 지지면에 개구된 흡인구가 되어 있고, 이 흡인구에 있어서 전자 부품(2)을 흡인 유지해도 된다.(6) Holding of the electronic component 2 by the bonding head 310 is not limited to adhesion. For example, it may be suction-maintained by negative pressure. For example, the end of the suction path connected to the negative pressure generation circuit is a suction port opened in the holding surface of the electronic component 2 of the bonding tool 311, and the electronic component 2 is in this suction port. You may maintain suction.

(7) 공급 장치(10)는, 전자 부품(2)이 첩부된 시트를 지지하는 공급 스테이지와, 픽업 시에 시트를 통해 전자 부품(2)을 밀어올리는 밀어 올림 기구를 갖는 장치여도 된다.(7) The supply device 10 may be a device having a supply stage that supports the sheet to which the electronic component 2 is attached, and a push-up mechanism that pushes the electronic component 2 up through the sheet during pickup.

[다른 실시 형태][Other Embodiments]

본 발명은, 상기 실시 형태에 한정되는 것은 아니고, 상기 실시 형태의 모두 또는 어느 것을 조합한 형태도 포함한다. 또한, 이들 실시 형태를 발명의 범위를 일탈하지 않는 범위에서, 다양한 생략이나 치환, 변경을 행할 수 있고, 그 변형도 본 발명에 포함된다.The present invention is not limited to the above-described embodiments, and also includes a combination of all or any of the above-described embodiments. In addition, various omissions, substitutions, and changes may be made to these embodiments without departing from the scope of the invention, and such modifications are also included in the present invention.

1: 실장 장치
2: 전자 부품
2a: 실장면
3: 기판
3a: 실장 영역
3b: 기판 마크
10: 공급 장치
11: 트레이
12: 공급 스테이지
13: 스테이지 이동 기구
20: 픽업 장치
21: 픽업 노즐
22: 이동 기구
22a: 암
22b: 슬라이드 기구
22c: 지지 프레임
22d: 레일
22e: 슬라이더
22f: 승강 기구
23: 반전 기구
30: 탑재 장치
40: 기판 스테이지
41: 지지대
42: 스테이지 이동 기구
50: 제1 촬상부
60: 제2 촬상부
61: 프레임
70: 제어 장치
71: 기구 제어부
72: 화상 처리부
73: 제1 위치 관계 산출부
74: 제2 위치 관계 산출부
75: 제3 위치 관계 산출부
76: 기억부
310: 본딩 헤드
311: 본딩 툴
311a: 보유 지지면
311b: 피유지면
312: 점착부
313: 헤드 마크
314: 보유 지지 기구
315: 보유 지지부
315a: 흡인 구멍
316: 하중 제어부
316a: 슬리브
316b: 가동축
317: 회동 유닛
317a: 외통
317b: 회동축
320: 헤드 이동 기구
321: 슬라이드 기구
321a 지지 프레임
321b: 레일
321c: 슬라이더
322: 승강 기구
322a: 서보 모터
322b: 레일
322c: 슬라이더
1: Mounting device
2: Electronic components
2a: Real scene
3: Substrate
3a: Mounting area
3b: substrate mark
10: Supply device
11: tray
12: Supply stage
13: Stage moving mechanism
20: pickup device
21: Pick-up nozzle
22: moving mechanism
22a: cancer
22b: Slide mechanism
22c: support frame
22d: rail
22e: slider
22f: lifting mechanism
23: Inversion mechanism
30: Payload device
40: substrate stage
41: support
42: Stage moving mechanism
50: first imaging unit
60: second imaging unit
61: frame
70: control device
71: Mechanism control unit
72: Image processing unit
73: First position relationship calculation unit
74: Second position relationship calculation unit
75: Third position relationship calculation unit
76: memory unit
310: bonding head
311: Bonding tool
311a: holding surface
311b: Pyujimyeon
312: Adhesive part
313: head mark
314: holding support mechanism
315: holding support
315a: suction hole
316: load control unit
316a: sleeve
316b: movable shaft
317: rotation unit
317a: outer cylinder
317b: rotation axis
320: Head moving mechanism
321: Slide mechanism
321a support frame
321b: rail
321c: slider
322: Elevating mechanism
322a: servo motor
322b: rail
322c: slider

Claims (10)

헤드 마크가 마련된 본딩 헤드를 갖고, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 전자 부품을, 실장 위치에 있어서의 기판의 실장 영역에 탑재하는 탑재 장치와,
상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품을, 상기 헤드 마크와 함께 촬상하는 제1 화상을 촬상 가능한 위치에 마련된 제1 촬상부와,
상기 실장 위치에 있어서, 상기 실장 영역에 마련된 기판 마크를 촬상하는 제2 화상과, 상기 제2 화상을 촬상한 후, 상기 본딩 헤드가 상기 실장 위치에 위치 부여되고, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품이 상기 실장 영역에 대향한 상태에서, 상기 헤드 마크를 촬상하는 제3 화상을 촬상 가능하게 마련된 제2 촬상부와,
상기 제1 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 전자 부품의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출하는 제1 위치 관계 산출부와,
상기 제2 화상 및 상기 제3 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 기판 마크의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출하는 제2 위치 관계 산출부와,
상기 제1 위치 관계 및 상기 제2 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출하는 제3 위치 관계 산출부와,
상기 제3 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품의 탑재 전에, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크를 위치 결정하는 위치 결정 기구를
갖는 것을 특징으로 하는 실장 장치.
A mounting device that has a bonding head provided with a head mark and mounts the electronic component held by the bonding head on a mounting area of the substrate at the mounting position;
a first imaging unit provided at a position capable of capturing a first image of the electronic component held by the bonding head together with the head mark;
At the mounting position, a second image for imaging a substrate mark provided in the mounting area, and after imaging the second image, the bonding head is positioned at the mounting position, and the bonding head is held by the bonding head. a second imaging unit provided to capture a third image of the head mark with the electronic component facing the mounting area;
a first position relationship calculation unit that calculates a first position relationship between the head mark and the electronic component based on the first image;
a second positional relationship calculation unit that calculates a second positional relationship, which is a positional relationship between the head mark and the substrate mark, based on the second image and the third image;
a third positional relationship calculation unit that calculates a third positional relationship, which is a positional relationship between the electronic component and the substrate mark, based on the first positional relationship and the second positional relationship;
Based on the third positional relationship, a positioning mechanism for positioning the electronic component and the substrate mark before mounting the electronic component
A mounting device characterized by having.
제1항에 있어서, 상기 헤드 마크는, 평면에서 보아, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품의 외측에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 실장 장치.The mounting device according to claim 1, wherein the head mark is provided on an outside of the electronic component held by the bonding head when viewed from a plan view. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 본딩 헤드는,
상기 전자 부품을 보유 지지하는 본딩 툴과,
상기 본딩 툴을 보유 지지하는 보유 지지부를
갖고,
상기 헤드 마크는, 상기 본딩 툴에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 실장 장치.
The method of claim 1 or 2, wherein the bonding head,
A bonding tool for holding and supporting the electronic component,
A holding portion that holds and supports the bonding tool.
Have,
The head mark is provided on the bonding tool.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 본딩 헤드는,
상기 전자 부품을 보유 지지하는 본딩 툴과,
상기 본딩 툴을 보유 지지하는 보유 지지부를
갖고,
상기 헤드 마크는, 상기 보유 지지부에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 실장 장치.
The method of claim 1 or 2, wherein the bonding head,
A bonding tool for holding and supporting the electronic component,
A holding portion that holds and supports the bonding tool.
Have,
A mounting device characterized in that the head mark is provided on the holding portion.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 본딩 헤드는,
상기 전자 부품을 보유 지지하는 본딩 툴과,
상기 본딩 툴을 보유 지지하는 보유 지지부를
갖고,
상기 헤드 마크는, 상기 본딩 툴과 상기 보유 지지부 사이에 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 실장 장치.
The method of claim 1 or 2, wherein the bonding head,
A bonding tool for holding and supporting the electronic component,
A holding portion that holds and supports the bonding tool.
Have,
The mounting device, wherein the head mark is provided between the bonding tool and the holding portion.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 본딩 헤드는,
상기 전자 부품을 보유 지지하는 본딩 툴과,
상기 본딩 툴을 보유 지지하는 보유 지지부를
갖고,
상기 본딩 툴 및 상기 보유 지지부는, 투광성을 갖는 것을 특징으로 하는 실장 장치.
The method of claim 1 or 2, wherein the bonding head,
A bonding tool for holding and supporting the electronic component,
A holding portion that holds and supports the bonding tool
Have,
A mounting device characterized in that the bonding tool and the holding portion have light transparency.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 헤드 마크는 오목부인 것을 특징으로 하는 실장 장치.The mounting device according to claim 1 or 2, wherein the head mark is a concave portion. 제1항에 있어서, 상기 제1 촬상부는, 상기 제1 화상을 촬상 가능한 위치에 고정 지지되어 있는 것을 특징으로 하는 실장 장치.The mounting device according to claim 1, wherein the first imaging unit is fixedly supported at a position capable of capturing the first image. 제1항 또는 제8항에 있어서, 상기 제2 촬상부는, 상기 제2 화상 및 상기 제3 화상을 촬상 가능한 위치에 고정 지지되어 있는 것을 특징으로 하는 실장 장치.The mounting device according to claim 1 or 8, wherein the second imaging unit is fixedly supported at a position from which the second image and the third image can be captured. 제1 촬상부에 의해, 헤드 마크가 마련된 본딩 헤드에 보유 지지된 전자 부품이, 상기 헤드 마크와 함께 촬상된 제1 화상을 촬상하고,
제2 촬상부에 의해, 기판에 있어서의 상기 전자 부품의 실장 영역에 마련된 기판 마크가 촬상된 제2 화상을 촬상하고,
상기 제2 촬상부에 의해, 상기 제2 화상을 촬상한 후에, 상기 실장 영역에 상기 전자 부품이 대향하도록 상기 본딩 헤드를 배치한 상태에서, 상기 헤드 마크가 촬상된 제3 화상을 촬상하고,
제1 위치 관계 산출부가, 상기 제1 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 전자 부품의 위치 관계인 제1 위치 관계를 산출하고,
제2 위치 관계 산출부가, 상기 제2 화상 및 상기 제3 화상에 기초하여, 상기 헤드 마크와 상기 기판 마크의 위치 관계인 제2 위치 관계를 산출하고,
제3 위치 관계 산출부가, 상기 제1 위치 관계 및 상기 제2 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크의 위치 관계인 제3 위치 관계를 산출하고,
위치 결정 기구가, 상기 제3 위치 관계에 기초하여, 상기 전자 부품과 상기 기판 마크를 위치 결정하고,
탑재 장치가, 상기 본딩 헤드에 보유 지지된 상기 전자 부품을, 상기 기판의 상기 실장 영역에 탑재하는
것을 갖는 것을 특징으로 하는 실장 방법.
An electronic component held by a bonding head provided with a head mark is imaged by a first imaging unit, and a first image captured together with the head mark is captured,
A second image is captured by a second imaging unit, in which a substrate mark provided in a mounting area of the electronic component on the substrate is imaged,
After capturing the second image by the second imaging unit, a third image in which the head mark is captured is captured in a state in which the bonding head is disposed so that the electronic component faces the mounting area,
A first positional relationship calculation unit calculates a first positional relationship, which is a positional relationship between the head mark and the electronic component, based on the first image,
A second positional relationship calculation unit calculates a second positional relationship, which is a positional relationship between the head mark and the substrate mark, based on the second image and the third image,
A third positional relationship calculation unit calculates a third positional relationship, which is a positional relationship between the electronic component and the substrate mark, based on the first positional relationship and the second positional relationship,
A positioning mechanism positions the electronic component and the substrate mark based on the third positional relationship,
A mounting device mounts the electronic component held by the bonding head on the mounting area of the substrate.
A mounting method characterized by having:
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