KR20230115156A

KR20230115156A - 컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓

Info

Publication number: KR20230115156A
Application number: KR1020220011815A
Authority: KR
Inventors: 신용섭
Original assignee: 신용섭
Priority date: 2022-01-26
Filing date: 2022-01-26
Publication date: 2023-08-02

Abstract

본 발명의 일실시예는 피검사 디바이스의 단자에 접촉되는 상부 플런저; 상기 상부 플런저로부터 하부로 연장되는 상부 연장부; 상기 상부 플런저의 반대측에 마련되며, 검사기기의 패드에 접촉되는 하부 플런저; 상기 하부 플런저로부터 상부로 연장되는 하부 연장부; 및 일단은 상기 하부 연장부의 단부에 연결되고, 타단은 상기 상부 연장부의 단부에 연결되며 반복적인 S자 형상을 이루는 탄성부를 포함하며, 상기 상부 플런저와 하부 플런저에 미리 정해진 압력 이상이 가해질 시, 상기 탄성부는 인장되며 상기 탄성부의 상단에 마련된 제1 접촉부 및 상기 탄성부의 하단에 마련된 제2 접촉부 중 하나 이상은 상기 상부 연장부 또는 하부 연장부에 접촉되는 것인 컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓을 제공한다.

Description

컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓{CONTACTOR AND SOCKET FOR TESTING HAVING THE SAME}

본 발명은 컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓에 관한 것으로, 보다 상세하게는 단순한 구조를 가지며, 테스트용 소켓에 조립 및 분리가 간편하도록 이루어진 컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓에 관한 것이다.

일반적으로 피검사 디바이스의 전기적 특성 검사를 위해서는 피검사 디바이스와 검사기기와의 전기적 연결이 안정적으로 이루어져야 된다. 이와 같이, 피검사 디바이스와 검사기기와의 전기적 연결의 안정성을 위해 일반적으로 테스트용 소켓이 사용되며, 이러한 테스트용 소켓을 통해 피검사 디바이스의 불량 유무를 검사하게 된다.

이와 같은 테스트용 소켓은 피검사 디바이스의 단자와 검사기기의 패드를 서로 연결시켜 전기적 신호가 양방향으로 교환 가능하도록 이루어진 것이다. 이러한 테스트용 소켓은 접속수단에 따라 크게 핀 타입(pin type)과 러버 타입(rubber type)으로 나눠질 수 있으며, 통상 핀 타입(pin type)에는 포고핀(pogo pin)이 사용되고, 러버 타입(rubber type)에는 도전성 탄성부가 사용된다.

도 1은 종래의 포고핀이 구비된 테스트용 소켓을 보여주는 예시도이다.

도 1을 참고하면, 포고핀(10)은 배럴(1), 상부 플런저(2), 하부 플런저(3) 및 스프링(4)을 포함할 수 있다.

여기서 스프링(4)은 수용 공간부(5)에 수용되되, 일단부는 상부 플런저(2)에 지지되고, 타단부는 하부 플런저(3)에 지지된다. 따라서, 상부 플런저(2)와 하부 플런저(3)는 압축된 상태에서 압축이 해제될 시, 스프링(4)에 의해 원래의 상태로 복원될 수 있다.

여기서 상부 플런저(2)는 피검사 디바이스(20)의 단자(21)에 접속되고, 하부 플런저(3)는 검사기기(30)의 패드(31)에 접속될 수 있다.

이러한 포고핀(10)은 피검사 디바이스(20)로부터 전달된 전기적 신호를 상부 플런저(2), 스프링(4) 및 하부 플런저(3)를 통해 검사기기(30)로 전달하게 된다. 이때, 스프링(4)을 통해 흐르는 전류는 스프링(4)의 나선방향을 따라 흐르는 과정에서 임피던스가 증가되는 문제가 있다. 따라서, 피검사 디바이스(20)의 전기적 특성 검사가 정확히 이루어지지 못하는 문제가 있다. 즉, 상부 플런저(2)로부터 하부 플런저(3)로 안내되는 전기적 신호는 스프링(4)에 의해 이동거리가 길어짐에 따라 전기적 특성 검사가 정확하게 이루어지지 못하는 문제가 있다.

한편, 종래의 테스트용 소켓(40)은 포고핀(10)의 파손 또는 불량 발생 시, 해당 포고핀(10)의 교체 작업에 어려움이 있다.

따라서, 전기적 신호의 이동 경로가 짧도록 이루어지고, 조립 및 분리가 간편하도록 이루어진 커넥터 및 그를 갖는 테스트용 소켓에 대한 다양한 연구 개발이 필요하다.

선행문헌 1 : 한국공개특허 제10-1998-0085880호(1998.12.05)

상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 기술적 과제는, 단순한 구조를 가지며, 테스트용 소켓에 조립 및 분리가 간편하도록 이루어진 컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓을 제공하는 것이다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일실시예는 피검사 디바이스의 단자에 접촉되는 상부 플런저; 상기 상부 플런저로부터 하부로 연장되는 상부 연장부; 상기 상부 플런저의 반대측에 마련되며, 검사기기의 패드에 접촉되는 하부 플런저; 상기 하부 플런저로부터 상부로 연장되는 하부 연장부; 및 일단은 상기 하부 연장부의 단부에 연결되고, 타단은 상기 상부 연장부의 단부에 연결되며 반복적인 S자 형상을 이루는 탄성부를 포함하며, 상기 상부 플런저와 하부 플런저에 미리 정해진 압력 이상이 가해질 시, 상기 탄성부는 인장되며 상기 탄성부의 상단에 마련된 제1 접촉부 및 상기 탄성부의 하단에 마련된 제2 접촉부 중 하나 이상은 상기 상부 연장부 또는 하부 연장부에 접촉되는 것인 컨택터를 제공한다.

본 발명의 일실시예에 있어서, 상기 탄성부가 미리 정해진 거리 이상으로 인장될 시, 상기 탄성부의 길이 방향으로 연결한 정렬라인은 가상의 수직선상을 기준으로 회전되도록 상기 탄성부의 탄성 변형 방향이 기 설정될 수 있다.

본 발명의 일실시예에 있어서, 상기 탄성부가 원래 형태로 복원된 상태에서, 상기 정렬라인은 가상의 수직선상과 동일선상에 위치하는 것을 특징으로 하는 컨택터.

본 발명의 일실시예에 있어서, 상기 상부 플런저에는 상기 상부 플런저의 하부로부터 외측 방향으로 돌출된 상부 가압 지지부가 구비되고, 상기 하부 연장부에는 외측으로 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기가 구비될 수 있다.

본 발명의 일실시예에 있어서, 상기 탄성부가 복원된 상태에서, 상기 상부 가압 지지부와 상기 탄성부의 상단부 사이에는 제1 공간부가 형성되고, 상기 하부 플런저와 상기 탄성부의 하단부 사이에는 제2 공간부가 형성될 수 있다.

본 발명의 일실시예는 단턱부가 마련되며, 내부에 수용 공간부가 형성된 메인 하우징; 상기 메인 하우징의 하부에 구비되며, 체결부재에 의해 상기 메인 하우징과 일체로 결합된 하부 하우징; 상기 메인 하우징의 상부에 구비되며, 상기 체결부재에 의해 상기 메인 하우징과 일체로 결합된 상부 하우징; 하부측은 상기 상부 하우징에 형성된 안내부 삽입 공간에 배치되고, 상부측에는 피검사 디바이스가 안착되는 안착부가 마련되며, 스프링에 의해 상기 메인 하우징의 상부로부터 이격 배치되되 미리 정해진 힘 이상이 가해질 시, 상기 메인 하우징 측으로 이동되는 이동 안내부; 상기 수용 공간부에 수용되며, 상기 단턱부에 지지되는 상부 가압 지지부가 구비된 컨택터; 상기 이동 안내부의 하부에 구비되며, 상기 컨택터에 구비된 상부 플런저가 관통 삽입되는 제1 삽입홀이 형성된 제1 가이드부; 상기 메인 하우징과 하부 하우징 사이에 구비되며, 상기 컨택터에 구비된 상부 연장부, 하부 연장부 및 탄성부가 관통 삽입되는 제2 삽입홀이 형성된 제2 가이드부; 및 상기 하부 하우징의 하부에 구비되며, 상기 컨택터에 구비된 하부 플런저가 관통 삽입되는 제3 삽입홀이 형성된 제3 가이드부를 포함하며, 상기 제1 가이드부 내지 제3 가이드부는 상기 컨택터의 가압이 이루어질 시, 상기 컨택터의 이동 방향을 안내하도록 이루어진 것인 테스트용 소켓을 제공한다.

본 발명의 일실시예에 있어서, 상기 하부 연장부에는 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기가 구비되며, 상기 수용 공간부에 상기 컨택터가 삽입된 상태에서 상기 이탈 방지 돌기는 상기 제2 가이드부에 지지되며, 상기 컨택터의 이탈을 방지하도록 이루어질 수 있다.

상기에서 설명한 본 발명에 따른 컨택터 및 그를 갖는 테스트용 소켓의 효과를 설명하면 다음과 같다.

본 발명에 따르면, 테스트용 소켓에 구비되는 컨택터는 조립 및 분리가 간편하다. 예를 들어, 작업자가 테스트용 소켓에 컨택터를 조립함에 있어, 작업자는 일정 이상의 힘으로 컨택터를 테스트용 소켓의 내부로 밀어 넣으면 되기에, 컨택터의 조립 작업은 간편하게 이루어질 수 있다. 그리고 복수개의 컨택터 중 파손된 컨택터를 교체할 경우, 작업자는 교체가 필요한 컨택터를 일정 이상의 힘으로 잡아 당기면 되기에, 컨택터의 교체 작업 역시 간편하게 이루어질 수 있다.

본 발명에 따르면, 피검사 디바이스의 전기적 신호 검사 과정에서 상부 플런저와 하부 플런저에 일정 이상의 힘이 가해질 시, 탄성부는 인장되며 탄성부의 상단에 마련된 제1 접촉부와 탄성부의 하단에 마련된 제2 접촉부 중 하나 이상은 상부 연장부 또는 하부 연장부에 접촉되도록 이루어진다. 이에, 상부 플런저로부터 하부 플런저로 안내되는 전기적 신호의 이동 경로는 짧아질 수 있다. 따라서, 피검사 디바이스에 대해 정확한 검사가 이루어질 수 있다.

본 발명의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 상세한 설명 또는 특허청구범위에 기재된 발명의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.

도 1은 종래의 포고핀이 구비된 테스트용 소켓을 보여주는 예시도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓의 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 상부에서 바라본 테스트용 소켓의 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 하부에서 바라본 테스트용 소켓의 분해 사시도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓의 단면 예시도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 컨택터의 사시도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 컨택터의 작동 상태도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 전기 신호의 이동 경로를 개략적으로 나타낸 예시도이다.

이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 따라서 여기에서 설명하는 실시예로 한정되는 것은 아니다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 구비할 수 있다는 것을 의미한다.

본 발명에서 상부와 하부는 대상부재의 위 또는 아래에 위치함을 의미하는 것으로, 반드시 중력방향을 기준으로 상부 또는 하부에 위치하는 것을 의미하는 것은 아니다.

이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓의 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 상부에서 바라본 테스트용 소켓의 분해 사시도이며, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 하부에서 바라본 테스트용 소켓의 분해 사시도이고, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트용 소켓의 단면 예시도이다.

도 2 내지 도 5에서 보는 바와 같이, 테스트용 소켓(1000)은 검사가 요구되는 피검사 디바이스(20)의 단자(21)와 검사기기(30, 도 1 참조)의 패드(31, 도 1 참조)를 서로 연결하며, 피검사 디바이스(20)의 전기적 특성 및 주파수 특성을 파악하도록 이루어진다.

이러한 테스트용 소켓(1000)은 피검사 디바이스(20)와 검사기기(30)의 사이에 배치되어 상부는 피검사 디바이스(20)의 단자(21)와 직간접적으로 접속되고, 하부는 검사기기(30)의 패드(31)와 직간접적으로 접속되어 피검사 디바이스(20)의 검사를 수행한다.

이와 같은 테스트용 소켓(1000)은 메인 하우징(100), 하부 하우징(200), 상부 하우징(300), 이동 안내부(400), 컨택터(500), 제1 가이드부(600), 제2 가이드부(700) 및 제3 가이드부(800)를 포함할 수 있다.

여기서 메인 하우징(100)에는 수용 공간부(101)가 형성된다. 이러한 수용 공간부(101)에는 피검사 디바이스(20)의 단자(21)와 검사기기(30)의 패드(31)에 전기적으로 접속되는 컨택터(500)가 수용될 수 있다.

이와 같이, 메인 하우징(100)에 형성된 수용 공간부(101)에는 예를 들어, 서로 대칭을 이루도록 배치된 복수개의 컨택터(500)가 수용될 수 있다.

그리고 메인 하우징(100)에는 단턱부(110)가 마련된다. 이러한 단턱부(110)에는 수용 공간부(101)로 삽입된 컨택터(500)에 구비된 상부 가압 지지부(511)가 지지될 수 있다. 이와 같은 단턱부(110)는 상부 가압 지지부(511)와의 걸림에 의해 컨택터(500)가 메인 하우징(100)의 상부측으로 이탈되는 것을 방지하도록 이루어진다.

그리고 상부 하우징(300)은 메인 하우징(100)의 상부에 구비되고, 하부 하우징(200)은 메인 하우징(100)의 하부에 구비된다. 이러한 상부 하우징(300), 메인 하우징(100) 및 하부 하우징(200)은 체결부재(910)에 의해 일체로 결합되며, 테스트용 소켓(1000)의 외형을 이룬다. 여기서 하부 하우징(200)의 하부에는 제3 가이드부(800)를 지지 고정하는 고정 하우징(810)이 더 구비될 수 있다.

그리고 상부 하우징(300)에는 이동 안내부(400)가 수용되는 안내부 삽입 공간(301)과 이동 안내부(400)의 상부측이 관통 삽입되는 안내부 삽입홀(302)이 형성된다. 이에, 이동 안내부(400)의 하부측은 안내부 삽입 공간(301)에 배치되고, 이동 안내부(400)의 상부측은 안내부 삽입홀(302)을 관통 삽입한 상태에서 외부로 노출된다.

이와 같은 이동 안내부(400)의 상부에는 피검사 디바이스(20)의 단자(21)가 안착되는 안착부(410)가 마련된다. 여기서 안착부(410)는 단자(21)의 테두리부를 지지하며, 상부 플런저(510)와 전기적 접속이 이루어지는 단자(21) 부분은 이동 안내부(400)에 형성된 플런저 삽입홀(402)로 노출된다.

이러한 이동 안내부(400)는 스프링(920)에 의해 메인 하우징(100)의 상부로부터 이격 배치된다. 여기서 이동 안내부(400)에 미리 정해진 힘 이상이 가해질 시, 이동 안내부(400)는 메인 하우징(100) 측으로 이동될 수 있다.

이러한 이동 안내부(400)의 하면에는 스프링(920)의 상부측이 삽입되는 제1 스프링 지지홈(403)이 형성된다. 그리고 메인 하우징(100)에는 스프링(920)의 하부측이 삽입되는 제2 스프링 지지홈(102)이 형성된다. 이에, 스프링(920)의 양단부는 제1 스프링 지지홈(403)과 제2 스프링 지지홈(102)에 각각 삽입된 상태에서 이동 안내부(400)에 미리 정해진 힘이 가해질 시, 이동 안내부(400)는 메인 하우징(100) 측으로 이동될 수 있다.

그리고 이동 안내부(400)에는 상부 플런저(510)가 삽입되는 플런저 삽입홀(402)이 형성된다. 이에, 상부 플런저(510)는 이동 안내부(400)에 안착된 피검사 디바이스(20)의 단자(21)와 전기적 접속이 이루어질 수 있다. 이러한 플런저 삽입홀(402)은 상부 플런저(510)가 상, 하로 이동되는 과정에서 상부 플런저(510)의 이동 방향을 안내하는 역할도 동시에 수행하게 된다.

한편, 컨택터(500)는 메인 하우징(100)에 형성된 수용 공간부(101) 내에 배치된다.

이러한 컨택터(500)는 피검사 디바이스(20)와 검사기기(30)에 직간접적으로 접속되어, 검사기기(30)는 피검사 디바이스(20)의 불량 유무를 검사하게 된다. 여기서 컨택터(500)는 단순한 구조를 가지며 피검사 디바이스(20)와 검사기기(30)를 직간접적으로 접속하도록 이루어진다. 이와 같은 컨택터(500)의 구체적인 구성에 대해서는 후술하기로 한다.

한편, 제1 가이드부(600)는 이동 안내부(400)의 하부에 구비된다. 이러한 제1 가이드부(600)에는 상부 플런저(510)와 대응되는 크기를 갖는 제1 삽입홀(601)이 형성되어, 각각 상부 플런저(510)는 제1 삽입홀(601)에 각각 관통 삽입될 수 있다.

이와 같은 제1 가이드부(600)는 탄성부(550)의 인장 또는 복원이 이루어질 시, 상부 플런저(510)의 이동 방향을 안내하도록 이루어진다. 즉, 제1 삽입홀(601)은 예를 들어 상부 플런저(510)가 가압에 의해 상, 하로 이동됨에 있어, 상부 플런저(510)의 이동 방향을 안내하도록 이루어진다.

그리고 제2 가이드부(700)는 메인 하우징(100)과 하부 하우징(200) 사이에 구비된다. 이러한 제2 가이드부(700)에는 컨택터(500)에 구비된 상부 연장부(520)로부터 하부 연장부(540) 까지의 이격 거리와 대응되는 크기를 갖는 제2 삽입홀(701)이 형성된다. 이와 같은 제2 삽입홀(701)에는 상부 연장부(520), 하부 연장부(540) 및 탄성부(550)가 관통 삽입될 수 있다.

이러한 제2 가이드부(700)는 탄성부(550)의 인장 또는 복원이 이루어질 시, 상부 연장부(520)와 하부 연장부(540)의 이동 방향을 안내하도록 이루어진다.

그리고 제3 가이드부(800)는 하부 하우징(200)의 하부에 구비된다. 이러한 제3 가이드부(800)에는 하부 플런저(530)가 관통 삽입되는 제3 삽입홀(801)이 형성된다. 여기서 제3 삽입홀(801)은 제2 삽입홀(701)과 대응되는 크기로 형성될 수 있다.

이러한 제3 삽입홀(801)은 예를 들어 하부 플런저(530)가 가압에 의해 상, 하로 이동됨에 있어, 하부 플런저(530)의 이동 방향을 안내하도록 이루어진다.

이와 같은 제3 삽입홀(801)에 하부 플런저(530)가 관통 삽입됨에 있어, 하부 플런저(530)는 제3 삽입홀(801)의 외부로 노출되도록 이루어진다. 이에, 제3 삽입홀(801)로부터 외부로 노출된 하부 플런저(530)는 검사기기(30)의 패드(31)와 접속이 이루어질 수 있다.

이러한 제1 가이드부(600) 내지 제3 가이드부(800)는 상부 플런저(510)에 피검사 디바이스(20)의 단자(21)가 접촉되고, 하부 플런저(530)에 검사기기(30)의 패드(31)가 접촉되는 과정에서 컨택터(500)에 가압이 이루어질 시, 컨택터(500)의 이동 방향을 안내하도록 이루어진다. 이와 반대로, 컨택터(500)에 가해지는 가압력이 해제되어 컨택터(500)가 원래의 형태로 복원되는 과정에서도 컨택터(500)의 이동 방향을 안내하도록 이루어진다.

도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 컨택터의 사시도이고, 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 컨택터의 작동 상태도이며, 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 전기 신호의 이동 경로를 개략적으로 나타낸 예시도이다.

도 6 내지 도 8을 참고하면, 컨택터(500)는 상부 플런저(510), 상부 연장부(520), 하부 플런저(530), 하부 연장부(540) 및 탄성부(550)를 포함할 수 있다.

여기서 상부 플런저(510)는 피검사 디바이스(20)의 단자(21)에 접촉되도록 이루어진다. 이와 같은 피검사 디바이스(20)의 단자(21)에 접촉되는 상부 플런저(510)의 단부는 특정 형상으로 한정되지 않고, 다양한 형상으로 이루어질 수 있다.

그리고 하부 플런저(530)는 상부 플런저(510)의 하부 배치된다. 이러한 하부 플런저(530)는 상부 플런저(510)의 반대측에 마련되며, 검사기기(30)의 패드(31)에 접촉되도록 이루어진다.

한편, 상부 연장부(520)는 상부 플런저(510)로부터 하부로 연장된다. 그리고 하부 연장부(540)는 하부 플런저(530)로부터 상부로 연장된다. 이러한 상부 연장부(520)는 하부 연장부(540)와 미리 정해진 간격으로 서로 마주보도록 이격 배치된다.

이와 같은 상부 연장부(520)와 하부 연장부(540)의 단부는 반복적인 S자 형상을 이루는 탄성부(550)에 각각 연결된다. 즉, 상부 연장부(520)의 하단은 탄성부(550)의 일단인 탄성부(550)의 하단에 연결되고, 하부 연장부(540)의 상단은 탄성부(550)의 타단인 탄성부(550)의 상단에 연결된다.

이러한 탄성부(550)는 상부 플런저(510)와 하부 플런저(530) 사이에 배치되되, 탄성부(550)에 외부 힘이 가해지지 않은 복원 상태에서 탄성부(550)의 상단부와 상부 가압 지지부(511) 사이에는 제1 공간부(501)가 형성된다. 그리고 탄성부(550)의 하단부와 하부 플런저(530) 사이에는 제2 공간부(502)가 형성된다. 이러한 제1 공간부(501)와 제2 공간부(502)는 탄성부(550)가 인장되기 위한 공간이다.

여기서 테스트용 소켓(1000)은 피검사 디바이스(20)를 검사하는 과정에서 상부 플런저(510)와 하부 플런저(530)에 가압이 이루어지며, 탄성부(550)는 인장된다. 즉, 미리 정해진 힘 이상으로 상부 플런저(510)와 하부 플런저(530)가 가압되며, 상부 플런저(510)와 하부 플런저(530)의 이격 거리가 가까워질 시, 탄성부(550)는 인장된다. 이때, 탄성부(550)가 인장되는 과정에서 탄성부(550)의 상단에 마련된 제1 접촉부(551)는 상부 연장부(520)에 접촉될 수 있다. 그리고 탄성부(550)의 하단에 마련된 제2 접촉부(552)는 하부 연장부(540)에 접촉될 수 있다.

이러한 탄성부(550)의 인장 과정에서 제1 접촉부(551) 및 제2 접촉부(552) 중 하나 이상은 상부 연장부(520) 또는 하부 연장부(540)에 접촉되도록 이루어진다. 본 발명에서는 탄성부(550)의 인장 과정에서 제1 접촉부(551)가 하부 연장부(540)에 접촉되고, 제2 접촉부(552)가 상부 연장부(520)에 함께 접촉되는 형태를 예로 설명하기로 한다.

여기서 제1 접촉부(551)는 S자 형상으로 반복적으로 굴곡된 탄성부(550)의 최상단에 마련된 굴곡된 부위이고, 제2 접촉부(552)는 S자 형상으로 반복적으로 굴곡된 탄성부(550)의 최하단에 마련된 굴곡된 부위이다.

이와 같은 탄성부(550)는 미리 정해진 거리 이상으로 인장될 시, 탄성부(550)의 정렬라인(L)은 가상의 수직선상(V)을 기준으로 회전되도록 이루어진다. 즉, 탄성부(550)는 탄성부(550)가 인장되는 과정에서 미리 설정된 탄성 변형 방향으로 탄성부(550)의 탄성 변형이 이루어지도록 탄성부(550)는 제조된다.

이러한 탄성부(550)는 탄성부(550)가 복원된 상태에서 탄성부(550)의 정렬라인(L)과 가상의 수직선상(V)은 동일선상에 배치될 수 있다. 즉, 탄성부(550)는 탄성부(550)가 인장되는 과정에서 탄성부(550)의 길이 방향으로 연장한 탄성부(550)의 정렬라인(L)은 가상의 수직선상(V)을 기준으로 회전되도록 이루어진다. 이에, 상부 플런저(510)와 하부 플런저(530)에 일정 이상의 힘이 가해져 탄성부(550)가 인장될 시, 제1 접촉부(551)는 하부 연장부(540)에 접촉되고, 제2 접촉부(552)는 상부 연장부(520)에 접촉될 수 있다.

이와 같이, 탄성부(550)의 인장 시, 탄성부(550)는 미리 정해진 탄성 변형 방향으로 탄성부(550)가 인장되도록 기 설정됨에 따라 컨택터(500)는 단순한 구조를 가지면서도 피검사 디바이스(20)와 검사기기(30)의 간의 신호를 효과적으로 전달할 수 있다.

다시 말해서, 탄성부(550)는 상부 플런저(510)와 하부 플런저(530)의 탄성 복원력을 제공함은 물론 제1 접촉부(551)는 하부 연장부(540)에 접촉되고 제2 접촉부(552)는 상부 연장부(520)에 접촉됨에 따라 피검사 디바이스(20)와 검사기기(30)의 간의 신호 전달 경로는 최소화될 수 있다.

이와 같은 컨택터(500)는 탄성부(550)가 접촉부재의 역할을 직접 수행하기에, 별도의 접촉부재가 불필요하다. 따라서, 컨택터(500)의 구조는 단순화될 수 있다.

한편, 상부 플런저(510)에는 상부 플런저(510)의 하부로부터 외측 방향으로 돌출된 상부 가압 지지부(511)가 구비된다. 이러한 상부 가압 지지부(511)는 컨택터(500)를 테스트용 소켓(1000)에 삽입 결합함에 있어, 메인 하우징(100)에 마련된 단턱부(110)에 지지되어 컨택터(500)가 메인 하우징(100)의 상부측으로 이탈되는 것이 방지된다.

그리고 하부 연장부(540)의 외측면에는 외측으로 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기(541)가 구비된다. 이러한 이탈 방지 돌기(541)는 컨택터(500)를 테스트용 소켓(1000)에 삽입 결합함에 있어, 컨택터(500)가 메인 하우징(100)의 하부측으로 이탈되는 것을 방지하도록 이루어진다.

이와 같이, 컨택터(500)가 테스트용 소켓(1000)에 삽입 결합됨에 있어, 이탈 방지 돌기(541)는 제2 삽입홀(701)이 형성된 제2 가이드부(700)에 지지될 수 있다.

여기서 제2 삽입홀(701)의 폭(D)은 탄성부(550)에 구비된 상부 연장부(520)로부터 하부 연장부(540)까지의 이격 거리와 대응되도록 이루어진다. 이때, 상부 연장부(520)로부터 이탈 방지 돌기(541)까지의 이격 거리는 제2 삽입홀(701)의 폭(D) 보다 길게 형성된다.

이에, 컨택터(500)의 조립을 위해 일정 이상의 힘으로 컨택터(500)를 테스트용 소켓(1000)으로 밀어 넣는 과정에서, 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기(541)는 제2 삽입홀(701)의 테두리 부위를 타고 넘어간 후, 제2 가이드부(700)에 지지될 수 있다. 여기서 일정 이상의 힘으로 컨택터(500)를 밀어 넣는 과정에서 탄성부(550)는 탄성 변형이 일어나며 상부 연장부(520)와 하부 연장부(540) 사이의 이격 거리는 미세하게 조정될 수 있다. 이 과정에서 이탈 방지 돌기(541)는 제2 삽입홀(701)의 테두리 부위를 타고 넘어간 후, 제2 가이드부(700)에 지지될 수 있다.

이와 같이, 작업자는 테스트용 소켓(1000)을 전체적으로 분해하지 않은 상태에서 일정 이상의 힘으로 컨택터(500)를 테스트용 소켓(1000)으로 밀어 넣는 것만으로도 컨택터(500)를 테스트용 소켓(1000)에 간편하게 조립할 수 있다.

이와 반대로, 사용 과정에서 복수개의 컨택터(500) 중 어느 하나의 컨택터(500)에 파손 또는 불량이 발생된 경우, 해당 컨택터(500)의 교체 또한 간편하게 이루어질 수 있다. 즉, 작업자는 불량이 발생된 해당 컨택터(500)를 일정 이상의 힘으로 잡아 당길 경우, 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기(541)는 제2 삽입홀(701)의 테두리 부위를 타고 넘어가도록 이루어짐에 따라 컨택터(500)의 분리가 간편하게 이루어질 수 있다.

이와 같이, 테스트용 소켓(1000)은 테스트용 소켓(1000)을 전체적으로 분해하지 않은 상태에서도 컨택터(500)의 결합 및 분리가 간편하게 이루어질 수 있다.

다만, 이는 본 발명의 바람직한 일실시예에 불과할 뿐, 본 발명의 권리 범위가 이러한 실시예의 기재 범위에 의하여 제한되는 것은 아니다.

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.

본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

100: 메인 하우징
101: 수용 공간부
102: 제2 스프링 지지홈
110: 단턱부
200: 하부 하우징
300: 상부 하우징
301: 안내부 삽입 공간
302: 안내부 삽입홀
400: 이동 안내부
402: 플런저 삽입홀
403: 제1 스프링 지지홈
410: 안착부
500: 컨택터
501: 제1 공간부
502: 제2 공간부
510: 상부 플런저
511: 상부 가압 지지부
520: 상부 연장부
530: 하부 플런저
540: 하부 연장부
541: 이탈 방지 돌기
550: 탄성부
551: 제1 접촉부
552: 제2 접촉부
600: 제1 가이드부
601: 제1 삽입홀
700: 제2 가이드부
701: 제2 삽입홀
800: 제3 가이드부
801: 제3 삽입홀
810: 고정 하우징
910: 체결부재
920: 스프링
1000: 테스트용 소켓

Claims

피검사 디바이스의 단자에 접촉되는 상부 플런저;
상기 상부 플런저로부터 하부로 연장되는 상부 연장부;
상기 상부 플런저의 반대측에 마련되며, 검사기기의 패드에 접촉되는 하부 플런저;
상기 하부 플런저로부터 상부로 연장되는 하부 연장부; 및
일단은 상기 하부 연장부의 단부에 연결되고, 타단은 상기 상부 연장부의 단부에 연결되며 반복적인 S자 형상을 이루는 탄성부를 포함하며,
상기 상부 플런저와 하부 플런저에 미리 정해진 압력 이상이 가해질 시, 상기 탄성부는 인장되며 상기 탄성부의 상단에 마련된 제1 접촉부 및 상기 탄성부의 하단에 마련된 제2 접촉부 중 하나 이상은 상기 상부 연장부 또는 하부 연장부에 접촉되는 것인 컨택터.
제1항에 있어서,
상기 탄성부가 미리 정해진 거리 이상으로 인장될 시, 상기 탄성부의 길이 방향으로 연결한 정렬라인은 가상의 수직선상을 기준으로 회전되도록 상기 탄성부의 탄성 변형 방향이 기 설정된 것을 특징으로 하는 컨택터.
제2항에 있어서,
상기 탄성부가 원래 형태로 복원된 상태에서, 상기 정렬라인은 가상의 수직선상과 동일선상에 위치하는 것을 특징으로 하는 컨택터.
제1항에 있어서,
상기 상부 플런저에는 상기 상부 플런저의 하부로부터 외측 방향으로 돌출된 상부 가압 지지부가 구비되고,
상기 하부 연장부에는 외측으로 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기가 구비된 것을 특징으로 하는 컨택터.
제4항에 있어서,
상기 탄성부가 복원된 상태에서, 상기 상부 가압 지지부와 상기 탄성부의 상단부 사이에는 제1 공간부가 형성되고,
상기 하부 플런저와 상기 탄성부의 하단부 사이에는 제2 공간부가 형성되는 것을 특징으로 하는 컨택터.
단턱부가 마련되며, 내부에 수용 공간부가 형성된 메인 하우징;
상기 메인 하우징의 하부에 구비되며, 체결부재에 의해 상기 메인 하우징과 일체로 결합된 하부 하우징;
상기 메인 하우징의 상부에 구비되며, 상기 체결부재에 의해 상기 메인 하우징과 일체로 결합된 상부 하우징;
하부측은 상기 상부 하우징에 형성된 안내부 삽입 공간에 배치되고, 상부측에는 피검사 디바이스가 안착되는 안착부가 마련되며, 스프링에 의해 상기 메인 하우징의 상부로부터 이격 배치되되 미리 정해진 힘 이상이 가해질 시, 상기 메인 하우징 측으로 이동되는 이동 안내부;
상기 수용 공간부에 수용되며, 상기 단턱부에 지지되는 상부 가압 지지부가 구비된 컨택터;
상기 이동 안내부의 하부에 구비되며, 상기 컨택터에 구비된 상부 플런저가 관통 삽입되는 제1 삽입홀이 형성된 제1 가이드부;
상기 메인 하우징과 하부 하우징 사이에 구비되며, 상기 컨택터에 구비된 상부 연장부, 하부 연장부 및 탄성부가 관통 삽입되는 제2 삽입홀이 형성된 제2 가이드부; 및
상기 하부 하우징의 하부에 구비되며, 상기 컨택터에 구비된 하부 플런저가 관통 삽입되는 제3 삽입홀이 형성된 제3 가이드부를 포함하며,
상기 제1 가이드부 내지 제3 가이드부는 상기 컨택터의 가압이 이루어질 시, 상기 컨택터의 이동 방향을 안내하도록 이루어진 것인 테스트용 소켓.
제6항에 있어서,
상기 하부 연장부에는 곡선을 이루며 돌출된 이탈 방지 돌기가 구비되며,
상기 수용 공간부에 상기 컨택터가 삽입된 상태에서 상기 이탈 방지 돌기는 상기 제2 가이드부에 지지되며, 상기 컨택터의 이탈을 방지하도록 이루어진 것을 특징으로 테스트용 소켓.