KR20220116454A - 카트리지 검사 앵커 - Google Patents

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Abstract

본 개시내용은 접합된 패드들을 사용하여 마이크로 디바이스들을 백플레인 상에 집적하는 방법을 다룬다. 프로세스는, 마이크로 디바이스들 상의 연결 패드들 및 백플레인 상의 대응하는 패드들을 통해 선택적인 마이크로 디바이스들을 접합하고, 앵커들을 형성하고, 그리고 마이크로 디바이스 기판을 분리함으로써, 접합된 마이크로 디바이스들의 선택적인 세트를, 백플레인 상에 남겨두게 하여, 마이크로 디바이스들을 구비시킨 기판을 갖는다.

Description

카트리지 검사 앵커
본 개시내용은 마이크로 디바이스들을 시스템 기판에 집적하는 것에 관한 것이다.
일 실시형태에 따르면, 백플레인(backplane) 상에 마이크로 디바이스들을 집적하는 방법이 제공될 수 있는 바, 이 방법은, 제1 기판 상에 마이크로 디바이스를 형성하는 단계로서, 마이크로 디바이스는 유전층으로 덮이는, 단계, 마이크로 디바이스의 최상부에 박리층을 형성하는 단계, 유전층의 개구부를 통해 마이크로 디바이스 콘택트에 전도층을 커플링하는 단계, 마이크로 디바이스를 제2 기판에 접합층을 통해 접합하는 단계, 제1 기판으로부터 마이크로 디바이스를 제거하는 단계, 마이크로 디바이스를 유지시키는 앵커들을 형성하기 위해 유전층을 패터닝하는 단계, 마이크로 디바이스의 일부 주위에 공극을 생성하는 박리층 제거 단계, 및 마이크로 디바이스를 시스템 기판으로 전사하는 단계를 포함한다.
본 개시내용의 전술한 이점 및 기타 이점은 다음의 상세한 설명을 숙독하고 도면을 참조함으로써 명백해질 것이다.
도 1a는 여러 층들을 포함할 수 있는 마이크로 디바이스를 도시한다.
도 1b는 오리지널 기판이 제거된 후의 마이크로 디바이스를 도시한다.
도 1c는 오리지널 기판이 제거된 후의 마이크로 디바이스의 평면도를 도시한다.
도 1d는 박리층이 제거된 후의 마이크로 디바이스를 도시한다.
본 개시내용은 다양한 수정 및 대안적 형태를 취할 수 있고, 특정 실시형태 또는 구현예가 도면에 예로서 도시되었고 본원에서 상세히 설명될 것이다. 그러나, 본 개시내용은 본원에 개시된 특정 형태에 한정되게 하려는 것이 아님을 이해해야 한다. 오히려, 본 개시내용은 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 바와 같은 본 발명의 사상 및 범위 내에 있는 모든 수정물, 균등물, 및 대안물을 포괄하려는 것이다.
본 설명에서, "디바이스" 및 "마이크로 디바이스"라는 용어는 상호교환적으로 사용된다. 그러나, 본원에서 설명되는 실시형태들이 디바이스 크기와 무관하다는 것은 당업자에게 자명하다.
본 설명의 몇몇 실시형태들은 마이크로 디바이스들을 수용 기판에 집적하는 것에 관한 것이다. 시스템 기판은 마이크로 발광 다이오드(LED)들, 유기 LED들, 센서들, 솔리드 스테이트 디바이스들, 집적 회로들, 마이크로-전자-기계 시스템(MEMS: micro electro mechanical system), 및/또는 다른 전자 부품들을 포함할 수 있다.
도 1a는, 공통의 에칭되지 않은 층(102), 도핑된 층(104), 활성 층(106), 다른 도핑된 층들(108), 및 전류 확산 층(110)과 같은, 다양한 층들(층들은 수직 또는 수평일 수 있음)을 포함할 수 있는 마이크로 디바이스(100)를 도시한다. 마이크로 디바이스(100)는 기판(120) 상에 형성될 수 있다. 마이크로 디바이스(100)는 유전체(112)로 덮인다. 유전체는 마이크로 디바이스(100) 콘택트들의 최상부에 개구부(112-2)를 가질 수 있다. 마이크로 디바이스가 하나 초과의 콘택트를 가지는 경우, 하나 초과의 개구부가 있을 수 있다. 전도층 전 또는 후에 마이크로 디바이스의 최상부에 박리층이 형성될 수 있다. 전도층(114)은 박리층과 동일할 수 있다. 전도층(및/또는 박리층)은 유전층(112)으로의 액세스를 제공하는 개구부(116)를 가질 수 있다. 전도층(114)은 유전체의 개구부(112-2)를 통해 마이크로 디바이스 콘택트에 커플링될 수 있다. 마이크로 디바이스는 접합층(들)(118)을 사용하여 다른 기판(122)에 접합된다. 마이크로 디바이스(100)가 하나 초과의 콘택트를 가지는 경우, 전도층은 개별 마이크로 디바이스 콘택트에 커플링된 개별 전도성 트레이스들을 제공하도록 패터닝될 수 있다.
도 1b는 기판(120)이 제거되고 공통 층(102)(존재하는 경우)이 제거된 후의 마이크로 디바이스(100)를 도시한다. 다른 콘택트들(124)이 마이크로 디바이스의 노출된 표면 상에 형성될 수 있다. 적어도 하나의 마이크로 디바이스를 연결하는 새로운 콘택트들(124)의 전, 후, 또는 일부에 층이 형성될 수 있다. 새로운 콘택트(들) 및 전도층(114)은 마이크로 디바이스의 성능 또는 결함을 검사한다. 유전층(112)은 마이크로 디바이스(100)를 제자리에 유지시키는 앵커들을 마련하도록 패터닝될 수 있다.
도 1c는 도 1b에 도시된 마이크로 디바이스(100)의 평면도를 도시한다. 이 도면은 패터닝 구성을 도시한다. 유전층의 패턴(130)은 디바이스를 제자리에 유지시키는 앵커들(132)을 형성한다.
도 1d는 박리층이 제거된 예시적인 실시형태를 도시한다. 박리층은 전도층과 동일할 수 있다. 박리층의 제거는 마이크로 디바이스 주위에 공극(134)을 생성한다.
그런 다음, 마이크로 디바이스가 시스템 기판으로 전사될 수 있다. 앵커들은 전사 프로세스로 인해 LED를 해제할 것이다.
본 발명은 마이크로 디바이스를 전사하는 방법의 대요를 설명하는 바, 본 방법은, 제1 기판 상에 마이크로 디바이스를 형성하는 단계로서, 마이크로 디바이스는 유전층으로 덮이는, 단계, 마이크로 디바이스의 최상부에 박리층을 형성하는 단계, 유전층의 개구부를 통해 마이크로 디바이스 콘택트에 전도층을 커플링하는 단계, 마이크로 디바이스를 제2 기판에 접합층을 통해 접합하는 단계, 제1 기판으로부터 마이크로 디바이스를 제거하는 단계, 마이크로 디바이스를 유지시키는 앵커들을 형성하기 위해 유전층을 패터닝하는 단계, 마이크로 디바이스의 일부 주위에 공극을 생성하는 박리층 제거 단계, 및 마이크로 디바이스를 시스템 기판으로 전사하는 단계를 포함한다. 본 방법은 전도층이 박리층인 것을 더 포함한다. 본 방법은 마이크로 디바이스가 하나 초과의 콘택트를 갖는 것을 더 포함한다. 본 방법은 박리층이 전도층 전 또는 후에 형성되는 것을 더 포함한다. 본 방법은 유전층이 마이크로 디바이스 콘택트들의 최상부에 하나 초과의 개구부들을 갖는 것을 더 포함한다. 본 방법은 전도층이 유전층으로의 접근을 위한 개구부를 갖는 것을 더 포함한다. 본 방법은, 마이크로 디바이스가 공통의 에칭되지 않은 층, 도핑된 층, 활성 층, 다른 도핑된 층들, 및 전류 확산 층과 같은 다양한 층들을 포함하는 것과, 또한 상기 다양한 층들이 수직 또는 수평일 수 있는 것을, 더 포함한다. 본 방법은, 제1 기판이 제거되면, 마이크로 디바이스의 노출된 표면 상에 추가적인 콘택트들이 형성되는 것과, 또한 추가적인 콘택트들 및 전도층은 마이크로 디바이스의 성능 및 결함을 검사하는 것을, 더 포함한다.
본 개시내용은 다양한 수정 및 대안적 형태를 취할 수 있지만, 특정 실시형태 또는 구현예가 도면에 예로서 도시되었고 본원에서 상세히 설명될 것이다. 그러나, 본 개시내용은 본원에 개시된 특정 형태에 한정되게 하려는 것이 아님을 이해해야 한다. 오히려, 본 개시내용은 첨부되는 청구범위에 의해 정의되는 바와 같은 본 발명의 사상 및 범위 내에 있는 모든 수정물, 등가물, 및 대안물을 포괄하려는 것이다.

Claims (10)

  1. 마이크로 디바이스를 전사하는 방법으로서,
    제1 기판 상에 마이크로 디바이스를 형성하는 단계로서, 상기 마이크로 디바이스는 유전층으로 덮이는, 단계;
    상기 마이크로 디바이스의 최상부에 박리층을 형성하는 단계;
    상기 유전층의 개구부를 통해 마이크로 디바이스 콘택트(microdevice contact)에 전도층을 커플링하는 단계;
    상기 마이크로 디바이스를 제2 기판에 접합층을 통해 접합하는 단계;
    상기 제1 기판으로부터 상기 마이크로 디바이스를 제거하는 단계;
    상기 마이크로 디바이스를 유지시키는 앵커들을 형성하기 위해 상기 유전층을 패터닝하는 단계;
    상기 마이크로 디바이스의 일부 주위에 공극을 생성하는 박리층 제거 단계; 및
    상기 마이크로 디바이스를 시스템 기판으로 전사하는 단계를 포함하는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 전도층은 상기 박리층인, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  3. 제1항에 있어서, 상기 마이크로 디바이스는 하나 초과의 콘택트를 갖는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  4. 제1항에 있어서, 상기 박리층은 상기 전도층 전 또는 후에 형성되는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  5. 제3항에 있어서, 상기 유전층은 상기 마이크로 디바이스 콘택트들의 최상부에 하나 초과의 개구부를 갖는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  6. 제1항에 있어서, 상기 전도층은 상기 유전층으로의 접근을 위한 개구부를 갖는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  7. 제1항에 있어서, 상기 마이크로 디바이스는 공통의 에칭되지 않은 층, 도핑된 층, 활성 층, 다른 도핑된 층들, 및 전류 확산 층과 같은 다양한 층들을 포함하는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 다양한 층들은 수직 또는 수평일 수 있는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 제1 기판이 제거되면, 상기 마이크로 디바이스의 노출된 표면 상에 추가적인 콘택트들이 형성되는, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 추가적인 콘택트들 및 상기 전도층은 상기 마이크로 디바이스의 성능 및 결함을 검사하는 것인, 마이크로 디바이스를 전사하는 방법.
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