KR20220027404A - Mcu 고장 검출 장치 및 방법 - Google Patents

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KR20220027404A
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Abstract

본 개시는 MCU 고장 검출 장치 및 방법에 관한 것이다. 구체적으로 본 개시에 따른 MCU 고장 검출 장치는 전자 제어 장치로부터 고장 판단을 위한 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 수신부, 제1 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 판단부 및 전자 제어 장치가 고장이라고 판단된 경우, 전자 제어 장치로 제1 리셋 신호를 전송하는 송신부를 포함한다.

Description

MCU 고장 검출 장치 및 방법{MCU FAULT DETECTION APPARATUS AND METHOD}
본 개시는 MCU 고장 검출 장치 및 방법에 관한 것으로써, 보다 구체적으로, 전자 제어 장치의 고장을 감지하는 MCU 고장 검출 장치 및 방법에 관한 것이다.
임베디드 시스템은 제어를 수행하기 위한 MCU(Micro Controller Unit) 및 MCU의 동작을 감시하는 워치독 타이머(Watchdog Timer, WDT)를 포함하는 것이 일반적이다. 워치독 타이머는 컴퓨터 또는 임베디드 시스템의 오작동을 탐지하고 복구하기 위해 쓰이는 전자 타이머이다.
정상 작동 중인 시스템은 워치독 타이머의 에러 카운트 증가로 인한 타임 아웃이 발생하는 것을 막기 위해 미리 설정된 주기에 따라 워치독 타이머를 리셋시킨다. 즉, 의도치 않은 오류로 인해 시스템이 비정상적으로 동작할 경우, 워치독 타이머의 카운트는 리셋되지 않고 미리 설정된 카운트에 도달하여 타임 아웃이 발생하게 된다. 이때 워치독 타이머는 시스템의 오작동이 발생한 것으로 판단하여 해당 시스템을 정지시키거나 리셋(Reset) 시킬 수 있다.
한편, 자율 주행과 같은 사용자 편의 장치가 증가 됨에 따라 이를 안전하게 구동하기 위한 ASIL(Automotive Safety Intergrity Level) 관련 활동의 중요도가 매우 증가 하고 있다. 라이다, 레이더, 카메라, 초음파와 같은 센서는 사용자 편의 기능과 합하여 운전자 편의 기능을 제공하는데 핵심적인 역할을 하게 된다. 해당 시스템을 구동 시키며 연산을 처리하는 MCU의 동작은 안전 설계에서 매우 중요한 비중을 차지 하고 있다. MCU의 내부 동작에 대한 신뢰성을 높이기 위하여 MCU 내부 동작이 특정 연산 오류 등으로 스턱(Stuck) 되는 현상을 방지 하기 위하여 많은 시스템에서는 워치독 기능을 사용하고 있다.
이러한 배경에서, 본 개시는 전자 제어 장치의 고장을 감지하여 전자 제어 장치를 리셋하는 MCU 고장 검출 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
전술한 과제를 해결하기 위하여, 일 측면에서, 본 개시는 전자 제어 장치로부터 고장 판단을 위한 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 수신부, 제1 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 판단부 및 전자 제어 장치가 고장이라고 판단된 경우, 전자 제어 장치로 제1 리셋 신호를 전송하는 송신부를 포함하는 MCU 고장 검출 장치를 제공한다.
다른 측면에서, 본 개시는 전자 제어 장치로부터 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 수신 단계, 제1 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 고장 판단 단계 및 전자 제어 장치가 고장이라고 판단된 경우, 전자 제어 장치로 제1 리셋 신호를 전송하는 리셋 신호 송신 단계를 포함하는 MCU 고장 검출 방법을 제공한다.
본 개시에 의하면, MCU 고장 검출 장치 및 방법은 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치의 고장을 직접 검출하여 전자 제어 장치를 리셋시킴으로써, 높은 안정성을 만족시킬 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 시스템을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 개시의 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 3은 일 실시예에 따른, 수신부가 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 일 실시예에 따른, 제2 리셋 신호가 전자 제어 장치로 전송되는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 5 및 도 6은 일 실시예에 따른, 워치독 출력 정보 및 센서 상태 정보를 기초로 전자 제어 장치의 고장을 판단하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 일 실시예에 따른, MCU 고장 검출 시스템의 연결 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 개시의 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 방법을 설명하는 흐름도이다.
이하, 본 개시의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 이하, 이하, 본 개시의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 이하, 본 개시의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 실시예들을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 기술 사상의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 개시의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들이나, 동작 방법이나 제작 방법 등과 관련한 시간적 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
이하에서는 첨부되는 도면들을 참조하여 본 개시의 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 장치(10)를 설명하기로 한다.
도 1은 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 시스템(1)을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 MCU 고장 검출 시스템(1)은 MCU 고장 검출 장치(10), 센서(30) 및 전자 제어 장치(20) 등을 포함할 수 있다.
MCU 고장 검출 시스템(1)은 전자 제어 장치(20)에서 생성된 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 이상 동작 여부를 판단하고, 판단 결과, 전자 제어 장치(20)가 이상 동작인 경우, 전자 제어 장치(20)의 제1 리셋 신호를 전송할 수 있다.
구체적으로, 센서(30)는 열, 빛, 온도, 압력, 소리 등의 물리적인 양이나 그 변화를 감지하거나 구분 및 계측하여 일정한 신호로 알려주는 부품으로써, 레이더 센서, 차속 센서, 토크 센서, 조향각 센서, 랙 위치 센서, 위치 센서 및 이미지 센서 등 특정 센서에 한정되지 않는다.
센서(30)는 특정 물체의 움직임, 소리, 압력, 열 등을 감지하여 센싱 정보를 생성할 수 있다. 그리고, 센서(30)는 생성된 센싱 정보에 대한 무결성을 판단함으로써, 자체적으로 센서(30) 자체의 에러 여부를 판단할 수 있다. 센서(30) 내부에 포함된 프로세서는 통해 센싱 정보를 기초로 센서(30)에 대한 에러 여부를 판단할 수 있다. 그리고, 센서(30)는 이렇게 판단된 센서(30)의 에러 결과가 포함된 센서 상태 정보를 센싱 정보와 함께 전자 제어 장치(20)로 전송할 수 있다. 여기서 센싱 정보는 센서(30)의 종류에 따라, 이미지 형태의 데이터일 수 있고, 안테나에서 수신된 레이더 신호의 형태일 수 있다.
그리고, 센서(30)는 센싱 정보를 통해 센서(30) 자체의 에러 여부를 검출할 수 있다. 이러한 검출 결과를 통해 센서의 상태에 대한 정보를 센서 상태 정보로 정의할 수 있다. 전술한 센서(30)의 자체 고장 검출을 위해, 센서(30)는 프로세서(Processor)를 포함할 수 있으며, 이러한 프로세서는 적어도 하나의 코어를 포함할 수 있다. 또한, 프로세서가 복수 개의 코어를 포함한 경우, 적어도 하나의 코어는 락스텝(Lockstep) 코어를 포함할 수 있다. 일 예로, 프로세서는 MCU일 수 있다.
전자 제어 장치(20)는 주기적으로 제1 워치독 출력 정보를 MCU 고장 검출 장치(10)로 전송할 수 있다. 여기서, 제1 워치독 출력 정보는 전자 제어 장치(20)의 하트 비트(Heart beat), 센서(30) 이상 정보, 전자 제어 장치(20)의 리셋 요청 신호 등을 포함할 수 있다. 여기서, 하트 비트는 소정의 주기마다 MCU 고장 검출 장치(10)로 전송되며, MCU 고장 검출 장치(10)는 소정의 시간 동안 하트 비트를 수신하지 못한 경우, 전자 제어 장치(20)를 고장이라고 판단할 수 있다. MCU 고장 검출 장치(10)는 기본적으로 이러한 하트 비트를 기초로 전자 제어 장치(20)의 리셋 신호 전송 여부를 결정할 수 있다.
전자 제어 장치(20)는 전자 제어 유닛(Electronic Control Unit: ECU)으로 구현될 수 있다. 전자 제어 유닛은 하나 이상의 프로세서, 메모리, 저장부, 사용자 인터페이스 입력부 및 사용자 인터페이스 출력부 중 적어도 하나 이상의 요소를 포함할 수 있으며, 이들은 버스를 통해 서로 통신할 수 있다. 또한, 전자 제어 유닛은 네트워크에 접속하기 위한 네트워크 인터페이스를 또한 포함할 수 있다. 프로세서는 메모리 및/또는 저장소에 저장된 처리 명령어를 실행시키는 CPU 또는 반도체 소자일 수 있다. 메모리 및 저장부는 다양한 유형의 휘발성/비휘발성 기억 매체를 포함할 수 있다. 예를 들어, 메모리는 ROM 및 RAM을 포함할 수 있다.
또한, 본 개시의 전자 제어 장치(20)는 전술한 ECU에 포함된 MCU(Micro Controller Unit)으로 구현될 수 있다. 이렇게 MCU에 의해 구현된 전자 제어 장치(20)는 전술한 ECU와 같이, 그 구성과 기능이 동일할 수 있다.
MCU 고장 검출 장치(10)는 전자 제어 장치(20)에 포함될 수도 있고, 전자 제어 장치(20)와 독립되어 외부에 위치할 수 있다. 이하에서는, MCU 고장 검출 장치(10)가 전자 제어 장치(20)의 외부에 위치한다고 가정하여 설명하기로 한다. 그러나, 이에 한정되지는 않는다.
MCU 고장 검출 장치(10)는 전자 제어 장치(20)로부터 제1 워치독 출력 정보를 수신하고, 제1 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 그리고, 전자 제어 장치(20)가 고장이라고 판단된 경우, MCU 고장 검출 장치(10)는 전자 제어 장치(20)를 초기화하는 제1 리셋 신호를 전자 제어 장치(20)로 전송할 수 있다.
이하에서는, 도 2를 참조하여 MCU 고장 검출 장치(10)를 구체적으로 설명하도록 한다.
도 2는 본 개시의 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 장치(10)를 설명하기 위한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 본 개시의 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 장치(10)는 수신부(110), 판단부(120) 및 송신부(130) 등을 포함할 수 있다.
수신부(110)는 전자 제어 장치(20)로부터 제1 워치독 출력 정보를 수신할 수 있다.
도 3은 일 실시예에 따른, 수신부(110)가 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 3을 참조하면, 일 실시예에서, 제2 워치독 출력 정보는 전자 제어 장치(20)에서 출력된 제1 워치독 출력 정보와 센서(30)의 센서 상태 정보가 RTL(Resister Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 산출된 신호일 수 있다. 구체적으로, 센서(30)는 센서 상태 정보를 전자 제어 장치(20)로 전송할 수 있고, 추가적으로 MCU 고장 검출 장치(10)로 전송할 수 있다. 그리고, 전자 제어 장치(20)는 제1 워치독 출력 정보를 전자 제어 장치(20)로 전송할 수 있다. 여기서, MCU 고장 검출 장치(10)로 전송된 센서 상태 정보 및 제1 워치독 출력 정보는 수신부(110)에서 수신하기 전 RTL 로직에서 융합되어 제2 워치독 출력 정보로 산출될 수 있다. RTL 로직에 의해, MCU 고장 검출 장치(10)는 미리 설정된 RTL 로직에 따라 리셋 신호의 전송 주기가 조절될 수 있다. 예를 들면, 제1 RTL 로직은 센서 상태 정보에 포함된 에러와 워치독 출력 정보에 포함된 에러를 각각 카운팅(Counting)해서 소정의 횟수 이상인 경우, 고장 정보가 포함된 제2 워치독 출력 정보를 산출할 수 있다. 다른 예를 들면, 제1 RTL 로직은 제1 워치독 출력 정보에 포함된 센서 상태 정보와 센서(30)로부터 수신한 센서 상태 정보가 모두 센서(30)가 고장 상태임을 나타내고 있는 경우, 1회로 카운팅해서 소정의 횟수 이상인 경우, 고장 정보가 포함된 제2 워치독 출력 정보를 산출할 수 있다. 여기서 고장 정보는 센서가 자체 판단을 통해 센서 내부에서 에러가 발생하여 정상 상태가 아님을 내포하는 정보일 수 있다. 판단부(120)는 제2 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)가 고장이라고 판단하고, 제1 리셋 신호를 생성할 수 있다.
전술한 바에 따르면, MCU 고장 검출 장치(10)는 제2 워치독 출력 정보를 수신함으로써, 전자 제어 장치의 고장 검출을 보다 정확히 수행할 수 있다.
다시, 도 2를 참조하면, 판단부(120)는 제1 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 판단부(120)는 제1 워치독 출력 정보에 포함된 전자 제어 장치(20)의 상태 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 예를 들면, 제1 워치독 출력 정보는 전자 제어 장치(20)의 리셋 요청 신호가 포함되고, 이에 대응하여 고장이라고 판단할 수 있고, 전자 제어 장치(20) 및 센서(30)의 고장 여부가 대한 정보가 포함되어, 이를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 그리고, 판단부(120)는 워치독 출력 정보에 포함된 하트 비트 신호가 수신되지 않거나 신호가 강도가 변질된 경우 전자 제어 장치(20)를 고장이라고 판단할 수 있다.
MCU 고장 검출 장치(10)는 제1 리셋 신호를 전자 제어 장치(20)로 전송함에 있어, 워치독 타이머(Watch Dog Timer)로써 기능할 수 있고, 워치독 타이머의 카운트(Count) 리셋을 위해, 워치독 출력 정보는 워치독 타이머의 카운트 리셋 신호를 포함할 수 있다. 그리고, 워치독 출력 정보에 워치독 타이머의 카운터 리셋 신호가 포함되지 않는 경우, 판단부(120)는 전자 제어 장치(20)를 고장이라 판단하고 제1 리셋 신호를 생성할 수 있다.
또한, 판단부(120)는 센싱 정보에 포함된 센서 상태 정보를 기초로 센서(30)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 판단부(120)는 전자 제어 장치(20) 및 센서(30) 중 적어도 하나가 고장이라고 판단되면, 제1 리셋 신호를 생성할 수 있다.
MCU 고장 검출 장치(10)는 전술한 고장 검출 판단을 위해 적어도 하나의 코어가 포함된 프로세서를 포함할 수 있다. 일 예로 프로세서는 MCU일 수 있다.
전술한 바에 따르면, MCU 고장 검출 장치(10)는 워치독 출력 정보를 통해 전자 제어 장치(20)의 고장을 검출할 수 있다.
송신부(130)는 전자 제어 장치(20)가 고장이라고 판단된 경우, 전자 제어 장치(20)로 제1 리셋 신호를 전송할 수 있다.
전술한 수신부(110) 및 송신부(130)는 제1 리셋 신호, 제1 워치독 출력 정보, 제2 워치독 출력 정보 및 센서 상태 정보 등과 같은 데이터의 송수신을 위해, 하나의 포트나 통신 모듈을 공유하여 사용할 수 있다. 예를 들면, 수신부(110) 및 송신부(130)는 WDI(Watch Dog Input)(11), GPIO(General Purpose Input Output)/INT(12), SPI(Serial Peripheral Interface)/I2C(Inter Integrated Circuit)(13) 및 LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
도 4는 일 실시예에 따른, 제2 리셋 신호가 전자 제어 장치(20)로 전송되는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 4를 참조하면, 제1 리셋 신호는 센서(30)의 센서 상태 정보와 제2 RTL 로직에 의해 융합되어 제2 리셋 신호로 산출될 수 있다. 구체적으로, 제2 RTL 로직은 센서 상태 정보에 고장 정보가 포함되어 있고 제1 리셋 신호를 수신한 경우, 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 제2 리셋 신호를 산출할 수 있다. 수신부(110)가 수신하는 제1 워치독 출력 정보는 매우 짧은 주기로 수신되며, 제1 워치독 출력 정보를 기초로 고장 여부를 판단함에 있어, 1회의 에러 동작에 곧바로 제1 리셋 신호를 생성하는 것은 센서(30) 또는 전자 제어 장치(20)가 스스로의 에러를 해소하거나, MCU 고장 검출 방법에 대한 프로세스 플로우(Process flow) 및 데이터 플로우(Data flow)에서 에러가 발생할 수 있기 때문에 무조건 고장이라고 판단하는 것은 성급할 수 있다. 따라서, RTL 로직을 활용함으로써, 단순히 1회성으로 발생하는 에러는 제2 리셋 신호의 전송으로 대응하지 않고 계속적인 에러로 인해 매 주기마다 수신되는 워치독 출력 정보를 기초로 판단되어 전송되는 제1 리셋 신호의 누적으로 MCU 고장 검출 장치(10)는 보다 정확한 이상 동작을 검출할 수 있다.
전술한 바에 의하면, MCU 고장 검출 장치(10)는 제2 RTL 로직을 활용함으로써, 보다 정확한 전자 제어 장치(20)의 이상 동작을 검출할 수 있다.
도 5 및 도 6은 일 실시예에 따른, 워치독 출력 정보 및 센서 상태 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장을 판단하는 것을 설명하기 위한 도면이다.
도 5를 참조하면, 수신부(110)는 센서(30)로부터 센서 상태 정보를 더 수신할 수 있고, 판단부(120)는 제1 워치독 출력 정보 및 센서 상태 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 즉, 수신부(110)가 센서 상태 정보를 전자 제어 장치(20)와 센서(30) 양쪽에서 받음으로써, 판단부(120)는 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 보다 정확히 판단할 수 있다. 판단부(120)는 전자 제어 장치(20)에서 수신한 센서 상태 정보와 센서(30)에서 수신한 센서 상태 정보를 비교함으로써 전자 제어 장치(20)의 이상 동작 여부를 판단할 수 있다.
도 6을 참조하면, 판단부(120)는 센서 상태 정보를 기초로 센서(30)의 고장 여부를 판단하고, 송신부(130)는 센서(30)의 고장 검출 정보를 센서(30)로 전송할 수 있다. 예를 들면, MCU 고장 검출 장치(10)에 저장된 센서(30)의 고장 검출 정보를 센서(30)가 읽음(Read)동작을 수행으로써 센서 상태 정보에 대한 피드백을 받을 수 있다.
도 7은 일 실시예에 따른, MCU 고장 검출 시스템(1)의 연결 관계를 설명하기 위한 도면이다.
도 7을 참조하면, MCU 고장 검출 시스템(1)에 포함되어 있는 MCU 고장 검출 장치(10), 전자 제어 장치(20) 및 센서(30)는 서로 같은 통신 방식을 사용할 수 있다. 예를 들면, 센서(30)가 센싱 데이터를 LVDS(Low Voltage Differential Signaling)(311)를 통해 전자 제어 장치(20)로 전송한다면, 전자 제어 장치(20) 또한, LVDS(211)로 센싱 데이터를 수신할 수 있고, 센서(30)가 센서 상태 정보를 GPIO(General Purpose Input Output)/INT(312)를 통해 전자 제어 장치(20)로 전송한다면, 전자 제어 장치(20)는 GPIO/INT(212)를 통해 센서 상태 정보를 수신할 수 있다. 또한, MCU 고장 검출 장치(10)가 센서(30)로부터 센서 상태 정보를 수신하는 경우, 센서(30)의 GPIO/INT(312) 및 MCU 고장 검출 장치(10)의 GPIO/INT(11)를 통해 센서 상태 정보를 수신할 수 있다.
이렇듯, 센서(30)의 LVDS(311)는 전자 제어 장치(20)의 LVDS(211)와 연결될 수 있고, 센서(30)의 GPIO/INT(312)는 전자 제어 장치(20)의 GPIO/INT(212)로 연결될 수 있으며, 센서(30)의 SPI(Serial Peripheral Interface)/I2C(Inter Integrated Circuit)(313)는 전자 제어 장치(20)의 SPI/I2C(313)와 연결될 수 있다. 또한, 센서(30)가 센서 상태 정보를 MCU 고장 검출 장치(10)로 전송하는 경우, 센서(30)는 센서 상태 정보를 GPIO/INT로 전송할 수 있고, MCU 고장 검출 장치(10)는 GPIO/INT로 센서 상태 정보를 수신할 수 있다. 그리고, MCU 고장 검출 장치(10)가 센서 상태 정보를 기초로 센서의 고장 여부를 판단한 고장 검출 결과는 MCU 고장 검출 장치(10)의 SPI/I2C(13)를 통해 센서(30)로 전송할 수 있고, 센서는 센서의 SPI/I2C(313)를 통해 수신할 수 있다.
한편, MCU 고장 검출 장치(10)는 전자 제어 장치(20)로부터 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 경우, 전자 제어 장치(20)는 GPIO/INT(212)를 통해, MCU 고장 검출 장치(10)는 WDI(Watch Dog Input)(11)을 통해 전송하고, 수신할 수 있다. 그리고, MCU 고장 검출 장치(10)는 제1 리셋 신호를 GPIO/INT(12)를 통해 전자 제어 장치(20)로 전송할 수 있고, 전자 제어 장치(20)는 제1 리셋 신호를 GPIO/INT(212)를 통해 수신할 수도 있다. 이러한 신호는 MCU 고장 검출 장치(10)가 리셋(Reset)되도록 제어할 수 있다. 전술한 WDI(11)는 MCU 고장 검출 장치(10)의 GPIO/INT(12)의 입력단자로써 GPIO/INT(12)로 대체될 수 있다. 추가로, MCU 고장 검출 장치(10)는 SPI/I2C(13)를 통해 MCU 고장 검출 장치(10)에 대한 설정 정보를 전송하고, 마찬가지로, 전자 제어 장치(20)는 SPI/I2C(213)를 통해 설정 정보를 수신할 수 있다.
이하에서는 전술한 본 개시를 모두 수행할 수 있는 MCU 고장 검출 장치(10)를 이용하는 MCU 고장 검출 방법에 대해 설명하기로 한다.
도 8은 본 개시의 일 실시예에 따른 MCU 고장 검출 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 본 개시에 따른 MCU 고장 검출 방법은 전자 제어 장치(20)로부터 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 수신 단계(S810), 제1 워치독 출력 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단하는 고장 판단 단계(S820) 및 전자 제어 장치(20)가 고장이라고 판단된 경우, 전자 제어 장치(20)로 제1 리셋 신호를 전송하는 리셋 신호 송신 단계(S830)를 포함할 수 있다.
수신 단계(S810)는 센서(30)로부터 센서 상태 정보를 더 수신할 수 있다.
고장 판단 단계(S820)는 제1 워치독 출력 정보 및 센서 상태 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 고장 여부를 판단할 수 있다.
고장 판단 단계는 센서 상태 정보를 기초로 센서(30)의 고장 여부를 판단할 수 있다.
리셋 신호 송신 단계(S830)는 센서(30)에 대한 고장 판단 결과를 센서(30)로 전송할 수 있다.
센서 상태 정보는 센서(30)에 포함된 프로세서에 의해 센서(30)의 이상 여부가 판단된 결과일 수 있다.
제1 워치독 출력 정보는 전자 제어 장치(20)에서 수신한 센싱 정보를 기초로 전자 제어 장치(20)의 리셋 여부가 판단된 결과가 포함될 수 있다.
수신 단계(S810)는 제2 워치독 출력 정보를 더 수신할 수 있고, 제2 워치독 출력 정보는 센서(30)의 센서 상태 정보와 제1 워치독 출력 정보가 제1 RTL(Register Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 산출될 수 있다. 여기서, 제1 RTL 로직은 센서 상태 정보 및 제2 워치독 출력 정보 중 어느 하나가 고장 정보를 포함하고 있는 경우, 해당 정보를 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 제1 워치독 출력 정보를 산출할 수 있다.
제1 리셋 신호는 센서(30)의 센서 상태 정보와 제2 RTL(Register Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 제2 리셋 신호로 산출될 수 있다. 여기서, 제2 RTL 로직은 센서 상태 정보에 고장 정보가 포함되어 있고 제1 리셋 신호를 수신한 경우, 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 제2 리셋 신호를 산출할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 개시에 의하면, 고장 검출 장치 및 방법은 기본적인 WD(Watch Dog)에 MCU의 논리적을 연산 기능을 더하여 신뢰성이 높고 RESET 조절의 범위를 향상 시키고 잘못된 RESET을 미리 막아 줄 수 있다.
이상의 설명은 본 개시의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 기술 사상의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 실시예들은 본 개시의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 개시의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 개시의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
1: MCU 고장 검출 시스템 10: MCU 고장 검출 장치
20: 전자 제어 장치 30: 센서
110: 수신부 120: 검출부
130: 송신부

Claims (18)

  1. 전자 제어 장치로부터 고장 판단을 위한 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 수신부;
    상기 제1 워치독 출력 정보를 기초로 상기 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 판단부; 및
    상기 전자 제어 장치가 고장이라고 판단된 경우, 상기 전자 제어 장치로 제1 리셋 신호를 전송하는 송신부를 포함하는 MCU 고장 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 수신부는,
    센서로부터 센서 상태 정보를 더 수신하고,
    상기 판단부는,
    상기 제1 워치독 출력 정보 및 상기 센서 상태 정보를 기초로 상기 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 MCU 고장 검출 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 판단부는,
    상기 센서 상태 정보를 기초로 상기 센서의 고장 여부를 판단하고,
    상기 송신부는,
    상기 센서에 대한 고장 판단 결과를 상기 센서로 전송하는 MCU 고장 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 센서 상태 정보는,
    상기 센서에 포함된 프로세서에 의해 상기 센서의 이상 여부가 판단된 결과인 MCU 고장 검출 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 제1 워치독 출력 정보는,
    상기 전자 제어 장치에서 수신한 센싱 정보를 기초로 상기 전자 제어 장치의 리셋 여부가 판단된 결과가 포함되는 MCU 고장 검출 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 수신부는,
    제2 워치독 출력 정보를 더 수신하고,
    상기 제2 워치독 출력 정보는,
    상기 센서의 센서 상태 정보와 제1 워치독 출력 정보가 제1 RTL(Register Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 산출되는 MCU 고장 검출 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 제1 RTL 로직은,
    상기 센서 상태 정보 및 상기 전자 제어 장치의 상태 정보 중 어느 하나가 고장 정보를 포함하고 있는 경우, 해당 정보를 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 상기 워치독 출력 정보를 산출하는 MCU 고장 검출 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 리셋 신호는,
    상기 센서의 센서 상태 정보와 제2 RTL(Register Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 제2 리셋 신호로 산출되는 MCU 고장 검출 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제2 RTL 로직은,
    상기 센서 상태 정보에 고장 정보가 포함되어 있고 상기 제1 리셋 신호를 수신한 경우, 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 상기 제2 리셋 신호를 산출하는 MCU 고장 검출 장치.
  10. 전자 제어 장치로부터 제1 워치독 출력 정보를 수신하는 수신 단계;
    상기 제1 워치독 출력 정보를 기초로 상기 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 고장 판단 단계; 및
    상기 전자 제어 장치가 고장이라고 판단된 경우, 상기 전자 제어 장치로 제1 리셋 신호를 전송하는 리셋 신호 송신 단계를 포함하는 MCU 고장 검출 방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 수신 단계는,
    센서로부터 센서 상태 정보를 더 수신하고,
    상기 고장 판단 단계는,
    상기 제1 워치독 출력 정보 및 상기 센서 상태 정보를 기초로 상기 전자 제어 장치의 고장 여부를 판단하는 MCU 고장 검출 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 고장 판단 단계는,
    상기 센서 상태 정보를 기초로 상기 센서의 고장 여부를 판단하고,
    상기 리셋 신호 송신 단계는,
    상기 센서에 대한 고장 판단 결과를 상기 센서로 전송하는 MCU 고장 검출 방법.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 센서 상태 정보는,
    상기 센서에 포함된 프로세서에 의해 상기 센서의 이상 여부가 판단된 결과인 MCU 고장 검출 장치.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 제1 워치독 출력 정보는,
    상기 전자 제어 장치에서 수신한 센싱 정보를 기초로 상기 전자 제어 장치의 리셋 여부가 판단된 결과가 포함되는 MCU 고장 검출 방법.
  15. 제10항에 있어서,
    상기 수신 단계는,
    제2 워치독 출력 정보를 더 수신하고,
    상기 제2 워치독 출력 정보는,
    상기 센서의 센서 상태 정보와 제1 워치독 출력 정보가 제1 RTL(Register Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 산출되는 MCU 고장 검출 방법.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제1 RTL 로직은,
    상기 센서 상태 정보 및 상기 제2 워치독 출력 정보 중 어느 하나가 고장 정보를 포함하고 있는 경우, 해당 정보를 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 상기 제1 워치독 출력 정보를 산출하는 MCU 고장 검출 방법.
  17. 제10항에 있어서,
    상기 제1 리셋 신호는,
    상기 센서의 센서 상태 정보와 제2 RTL(Register Transfer Level) 로직에 의해 융합되어 제2 리셋 신호로 산출되는 MCU 고장 검출 방법.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 제2 RTL 로직은,
    상기 센서 상태 정보에 고장 정보가 포함되어 있고 상기 제1 리셋 신호를 수신한 경우, 1회로 카운팅(Counting)하여 미리 정해진 횟수 이상으로 카운팅되면, 상기 제2 리셋 신호를 산출하는 MCU 고장 검출 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4776610B2 (ja) * 2007-11-26 2011-09-21 三菱電機株式会社 監視制御回路を有する車載電子制御装置
JP5246230B2 (ja) * 2010-09-13 2013-07-24 株式会社デンソー 車両用電子制御装置
JP6132952B1 (ja) * 2016-04-07 2017-05-24 三菱電機株式会社 車載エンジン制御装置
US10137903B2 (en) * 2016-08-16 2018-11-27 Uber Technologies, Inc. Autonomous vehicle diagnostic system
EP3351905B1 (en) * 2017-01-19 2020-03-11 Melexis Technologies NV Sensor with self diagnostic function
US10489992B2 (en) * 2017-05-08 2019-11-26 Lear Corporation Vehicle communication network
WO2019176603A1 (ja) * 2018-03-13 2019-09-19 日立オートモティブシステムズ株式会社 異常診断システム及び異常診断方法
US11403158B2 (en) * 2020-07-23 2022-08-02 Fisher Controls International Llc Discrete logic safety systems for smart process control devices

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