KR20220009304A - 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치 - Google Patents
홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220009304A KR20220009304A KR1020200138562A KR20200138562A KR20220009304A KR 20220009304 A KR20220009304 A KR 20220009304A KR 1020200138562 A KR1020200138562 A KR 1020200138562A KR 20200138562 A KR20200138562 A KR 20200138562A KR 20220009304 A KR20220009304 A KR 20220009304A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- sensor
- mirror
- holographic optical
- unit
- optical element
- Prior art date
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 185
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims abstract description 92
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 45
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 28
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 40
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 32
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 claims description 17
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 230000003252 repetitive effect Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 238000001093 holography Methods 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 238000013441 quality evaluation Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/04—Processes or apparatus for producing holograms
- G03H1/0486—Improving or monitoring the quality of the record, e.g. by compensating distortions, aberrations
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H1/00—Holographic processes or apparatus using light, infrared or ultraviolet waves for obtaining holograms or for obtaining an image from them; Details peculiar thereto
- G03H1/22—Processes or apparatus for obtaining an optical image from holograms
- G03H1/2202—Reconstruction geometries or arrangements
- G03H2001/2244—Means for detecting or recording the holobject
- G03H2001/2247—Means for detecting or recording the holobject for testing the hologram or holobject
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2222/00—Light sources or light beam properties
- G03H2222/10—Spectral composition
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03H—HOLOGRAPHIC PROCESSES OR APPARATUS
- G03H2240/00—Hologram nature or properties
- G03H2240/50—Parameters or numerical values associated with holography, e.g. peel strength
- G03H2240/53—Diffraction efficiency [DE]
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
Abstract
본 명세서는 홀로그래픽 광학소자의 품질을 정량적으로 평가할 수 있는 장치를 개시한다. 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치는, 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시키는 측정대; 광원에서 나온 빛을 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시키는 거울; 상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울을 회전시키는 거울 회전부; 상기 측정대를 기준으로 상기 거울 및 상기 거울 회전부를 제1 축 방향으로 이동시키는 거울 이동부; 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시키는 제1 센서 고정대; 및 상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 분석부;를 포함할 수 있다.
Description
본 발명은 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 홀로그래픽 제작을 위해 사용되는 홀로그래픽 광학소자(HOE: Holographic Optical Element)의 정량적 품질 평가를 수행하기 위한 장치에 관한 것이다.
홀로그램은 빛의 간섭현상에 의해 입체 영상이 구현되는 것이다.
도 1은 홀로그램 광학소자를 이용하여 홀로그램을 제작하는 과정의 참고도이다.
도 1을 참조하면, 홀로그램을 제작하는 방법은 광원인 레이저에서 나온 빛을 빔스플리터를 통해 2개로 나누고, 하나는 반사경에 다른 하나는 피사체에 쏘아서 피사체에 난반사된 빛(물체광)과 반사경에서 반사된 빛(참조광)이 겹쳐지면 빛의 간섭 현상이 일어난다. 이 간섭 무늬를 홀로그램 매질에 기록한다.
도 2는 홀로그램 광학소자를 이용하여 홀로그램을 재현하는 과정의 참고도이다.
도 2를 참조하면, 홀로그램을 재현하는 방법은 간섭 무늬가 기록된 홀로그램 매질에 제작시 사용했던 참조광을 다시 비추는 것이다.
간섭무늬를 기록하는 매질에 따라서 아날로그와 디지털 방식이 있다. 아날로그 방식은 간섭 무늬를 기록하여 정지 입체 이미지를 만드는 것으로 흔히 보는 올록볼록한 3D 이미지가 지폐의 위조방지 표식에서 볼 수 있다. 디지털 방식은 수학적 계산과 처리를 통해 간섭 무늬를 만들고 데이터로 기록하여 3D 영상을 재생한다. 홀로그래픽 광학소자(Holographic Optical Element, HOE)는 볼륨형 홀로그램 매질에 렌즈로부터 굴절된 빛의 변조된 위상을 기록함으로써 제작될 수 있다.
한편, 홀로그래픽 광학소자는 재현시 광학 렌즈와 같이 빛을 통과, 반사, 회절시키는 특성을 가지고 있다. 따라서 홀로그램의 품질은 홀로그래픽 광학소자의 특성에 따라 좌우될 수 있다. 그럼에도 불구하고, 홀로그래픽 광학소자의 품질을 평가할 수 있는 기준 또는 가이드가 없다.
일부, 상용 광학부품(예: 렌즈)의 평가 방법을 그대로 적용하여 홀로그래픽 광학소자에 대한 평가가 일부 이루어지고 있으나, 홀로그램으로서 완벽하게 기록이 되었다 한들, 광학 부품을 재현하기 위해 만들어진 소자이기 때문에 일반 상용렌즈와 다르게 평가할 필요가 있다.
본 명세서는 홀로그래픽 광학소자의 품질을 정량적으로 평가할 수 있는 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 명세서는 상기 언급된 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치는, 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시키는 측정대; 광원에서 나온 빛을 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시키는 거울; 상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울을 회전시키는 거울 회전부; 상기 측정대를 기준으로 상기 거울 및 상기 거울 회전부를 제1 축 방향으로 이동시키는 거울 이동부; 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시키는 제1 센서 고정대; 및 상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 분석부;를 포함할 수 있다.
상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서는, 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러 중 어느 하나일 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치는, 상기 측정대를 기준으로 상기 제1 센서 고정대의 반대 반향에 위치하고, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빛을 센싱하는 광파워검출센서를 고정시키는 후면 센서 고정대;를 더 포함할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치는, 상기 후면 센서 고정대를 회전시키는 후면 센서 회전부;를 더 포함할 수 있다.
본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치는, 상기 제1 축과 수직인 제2 축 방향으로 상기 후면 센서 고정대 및 상기 후면 센서 회전부를 이동시키는 후면 센서 이동부;를 더 포함할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치는, 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시키는 측정대; 상기 측정대를 회전시키는 측정대 회전부; 광원에서 나온 빛을 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시키는 거울; 상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울을 회전시키는 거울 회전부; 상기 측정대를 기준으로 상기 거울 및 상기 거울 회전부를 제1 축 방향으로 이동시키는 거울 이동부; 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시키는 제1 내지 제3 센서 고정대; 상기 측정대를 기준으로 상기 제1 내지 제3 센서 고정대의 반대 반향에 위치하고, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빛을 센싱하는 광파워검출센서를 고정시키는 후면 센서 고정대; 상기 후면 센서 고정대를 회전시키는 후면 센서 회전부; 상기 제1 축과 수직인 제2 축 방향으로 상기 후면 센서 고정대 및 상기 후면 센서 회전부를 이동시키는 후면 센서 이동부; 및 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 분석부;를 포함할 수 있다.
상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서는, 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러일 수 있다.
한편, 상기 분석부는 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에 각각 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 수 있다.
또한, 상기 분석부는 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 제어 신호를 출력할 수 있다.
나아가, 상기 분석부는 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서 중 광파워검출센서에 빛이 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부 및 상기 후면 센서 이동부에 제어 신호를 출력할 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법은 측정대, 거울, 거울 회전부, 거울 이동부, 제1 센서 고정대 및 분석부;를 포함하는 장치를 이용한 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법으로서, (a) 상기 제1 센서 고정대에 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러 중 어느 하나를 고정시키는 단계; (b) 상기 분석부가 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 제어 신호를 출력하는 단계; 및 (c) 상기 분석부가 상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 단계;를 포함할 수 있다.
한편, 상기 장치는, 후면 센서 고정대, 후면 센서 회전부 및 후면 센서 이동부;를 더 포함하고, 상기 (a) 단계는 상기 제1 센서 고정대에 광파워검출센서를 고정시키는 단계이고, 상기 (b) 단계는 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부 및 상기 후면 센서 이동부에 제어 신호를 더 출력하는 단계일 수 있다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법은 측정대, 측정대 회전부, 거울, 거울 회전부, 거울 이동부, 제1 내지 제3 센서 고정대, 후면 센서 고정대, 후면 센서 회전부, 후면 센서 이동부 및 분석부;를 포함하는 장치를 이용한 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법으로서, (a) 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러를 고정시키는 단계; (b) 상기 분석부가 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에 각각 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 제어 신호를 출력하는 단계; 및 (c) 상기 분석부가 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 단계;를 포함할 수 있다.
상기 (b) 단계는, 상기 분석부가 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서 중 광파워검출센서에 빛이 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부 및 상기 후면 센서 이동부에 제어 신호를 더 출력하는 단계일 수 있다.
본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 명세서의 일 측면에 따르면, 홀로그래픽 광학소자의 성능을 회절 효율 성능, 파장 스펙트럼, 빔 프로파일 성능으로 정량적으로 측정할 수 있다. 이를 통해 홀로그램의 품질 평가 역시 가능하다.
본 명세서의 다른 측면에 따르면, 홀로그래픽 광학소자에 따른 최적의 재현 조건을 찾아낼 수 있다. 이상적으로 홀로그램 제작시 사용한 참조광과 동일한 참조광이 재현시에 사용되어야 하지만 현실적으로 제약될 경우, 재현 환경에서 최적의 품질로 홀로그램을 재현할 수 있는 조건을 찾아낼 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급된 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 홀로그램 광학소자를 이용하여 홀로그램을 제작하는 과정의 참고도이다.
도 2는 홀로그램 광학소자를 이용하여 홀로그램을 재현하는 과정의 참고도이다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치의 구성도이다.
도 4는 회절 효율 특성 측정에 대한 참고도이다.
도 5는 회절 파장 특성 측정에 대한 참고도이다.
도 6은 필-팩터 특성 측정에 대한 참고도이다.
도 7은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치의 구성도이다.
도 8은 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대한 흐름도이다.
도 9는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대한 흐름도이다.
도 2는 홀로그램 광학소자를 이용하여 홀로그램을 재현하는 과정의 참고도이다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치의 구성도이다.
도 4는 회절 효율 특성 측정에 대한 참고도이다.
도 5는 회절 파장 특성 측정에 대한 참고도이다.
도 6은 필-팩터 특성 측정에 대한 참고도이다.
도 7은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치의 구성도이다.
도 8은 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대한 흐름도이다.
도 9는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대한 흐름도이다.
본 명세서에 개시된 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 명세서가 이하에서 개시되는 실시예들에 제한되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 명세서의 개시가 완전하도록 하고, 본 명세서가 속하는 기술 분야의 통상의 기술자(이하 '당업자')에게 본 명세서의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 명세서의 권리 범위는 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 명세서의 권리 범위를 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
명세서 전체에 걸쳐 동일한 도면 부호는 동일한 구성 요소를 지칭하며, "및/또는"은 언급된 구성요소들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다. 비록 "제1", "제2" 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 명세서가 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명한다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치의 구성도이다.
도 3을 참조하면, 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(100)는 측정대(110), 거울(120), 거울 회전부(121), 거울 이동부(122), 제1 센서 고정대(131) 및 분석부(140)를 포함할 수 있다.
상기 측정대(110)는 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시킬 수 있다. 설명의 편의상, 상기 측정대(110)에 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자가 고정된 것으로 가정하겠다.
상기 거울(120)은 광원에서 나온 빛을 상기 측정대(110)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시킬 수 있다. 상기 광원은 단일색 레이저일 수 있고, 도면에 도시된 것과 같이, 3원색 레이저(R, G, B)로 구성될 수도 있다. 상기 광원과 거울(120) 사이에는 상기 광원에서 나온 빛이 상기 거울(120)의 한 점, 바람직하게 거울의 중심에 모이도록 광학 소자(미러, 필터 등)가 구비될 수 있다.
상기 거울 회전부(121)는 상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울(120)을 회전시킬 수 있다. 상기 거울 회전부(121)는 사용자의 수동 조작에 의해 회전될 수 있고, 모터 및 구동 기어 등으로 구성된 거울 회전부 구동부(도면 미도시)에 전력 및 제어신호가 인가되어 회전될 수도 있다.
상기 거울 이동부(122)는 상기 측정대(110)를 기준으로 상기 거울(120) 및 상기 거울 회전부(121)를 제1 축 방향으로 이동시킬 수 있다. 본 명세서에서는 설명의 편의상, 도면에 도시된 바와 같이, 가로 방향(X축)을 제1 축 방향으로 설정하고 설명하겠다. 상기 거울 이동부(122)는 상기 거울(120) 및 거울 회전부(121)가 원활하게 이동할 수 있도록 바퀴 및 이동 가이드 레일(도면 미도시)의 형태로 구현될 수 있다. 상기 거울(120) 및 거울 회전부(121)는 사용자의 수동 조작에 의해 이동될 수 있고, 모터 및 구동 기어 등으로 구성되어 전력 및 제어신호가 인가되어 이동될 수도 있다.
상기 제1 센서 고정대(131)는 상기 측정대(110)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시킬 수 있다.
상기 분석부(140)는 상기 제1 센서 고정대(131)에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대(110)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석할 수 있다. 이를 위해, 상기 분석부(140)와 상기 제1 센서 고정대(131)에 고정된 센서는 신호를 송수신할 수 있도록 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 분석부(140)는 상기 제1 센서 고정대(131)에 고정된 센서의 종류에 따라 분석할 수 있는 홀로그래픽 광학 소자의 특성이 달라질 수 있다.
상기 제1 센서 고정대(131)에 고정된 센서는 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러 중 어느 하나가 될 수 있다. 광파워검출센서는 홀로그래픽 광학 소자의 회절 효율을 측정/평가할 수 있다. 스펙트럼분석센서는 홀로그래픽 광학 소자의 회절 파장 특성을 측정/평가할 수 있다. 빔프로파일러는 홀로그래픽 광학 소자의 필-팩터(fill-factor)를 측정/평가할 수 있다. 이하, 센서가 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서, 빔프로파일러인 순서대로 설명하겠다.
도 4는 회절 효율 특성 측정에 대한 참고도이다.
홀로그램 기록시 참조광과 물체광으로 홀로그램 매질에 간섭패턴을 만든다. 제작된 홀로그래픽 광학 소자에 기록할 때 쓰였던 참조광과 동일한 방향으로 빛을 조사하게 되고, 홀로그래픽광학소자로부터 회절되어 나온 빛이 초점에 모이게 된다. 이 초점에서 빛의 파워를 계산하여 회절광세기라 부르며, 회절을 위해 조사되는 참조광의 빔 세기를 참조광세기라고 한다. 그리고, 회절되지 못한 채, 참조광으로부터 매질을 그대로 투과하여 나가는 빛의 파워를 투과광세기라고 부른다. 회절광세기를 측정하기 위해 센서 1이 필요하고, 투고광세기를 측정하기 위해 센서 2가 필요하다. 그리고 회절 효율은 아래 수식을 통해 정량적으로 평가될 수 있다.
따라서 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(100)는 후면 센서 고정대(150)를 더 포함할 수 있다. 상기 후면 센서 고정대(150)는 상기 측정대(110)를 기준으로 상기 제1 센서 고정대(131)의 반대 반향에 위치하고, 상기 측정대(110)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빛을 센싱하는 광파워검출센서를 고정시킬 수 있다. 상기 후면 센서 고정대(150)에 고정된 광파워검출센서는 상기 분석부(140)에 투과광세기에 대한 신호를 출력할 수 있다. 이 때, 상기 분석부(140)는 상기 제1 센서 고정대(131)에 고정된 광파워검출센서와 상기 후면 센서 고정대(150)에 고정된 광파워검출센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 수식에 따라 회절 효율을 정량적으로 평가할 수 있다.
또한, 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(100)는 상기 후면 센서 고정대(150)를 회전시키는 후면 센서 회전부(151) 및 상기 제1 축과 수직인 제2 축 방향으로 상기 후면 센서 고정대(150) 및 상기 후면 센서 회전부(151)를 이동시키는 후면 센서 이동부(152)를 더 포함할 수 있다. 상기 후면 센서 회전부(151)는 사용자의 수동 조작에 의해 회전될 수 있고, 모터 및 구동 기어 등으로 구성된 후면 센서 회전 구동부(도면 미도시)에 전력 및 제어신호가 인가되어 회전될 수도 있다. 상기 제2 축 방향은 상기 제1 방향과 수직인바, 본 명세서에서는 설명의 편의상, 도면에 도시된 바와 같이, 세로 방향(Y축)을 제2 축 방향으로 설정하고 설명하겠다. 상기 후면 센서 이동부(152)는 상기 후면 센서 고정대(150) 및 후면 센서 회전부(151)가 원활하게 이동할 수 있도록 바퀴 및 이동 가이드 레일(도면 미도시)의 형태로 구현될 수 있다. 상기 후면 센서 고정대(150) 및 후면 센서 회전부(151)는 사용자의 수동 조작에 의해 이동될 수 있고, 모터 및 구동 기어 등으로 구성되어 전력 및 제어신호가 인가되어 이동될 수도 있다. 바람직하게, 상기 후면 센서 이동부(152) 및 상기 후면 센서 회전부(151)는 상기 후면 센서 고정대(150)에 고정된 광파워검출센서가 상기 거울(120)을 마주보도록 이동 및 회전될 수 있다. 즉, 상기 후면 센서 이동부(152) 및 상기 후면 센서 회전부(151)는 상기 후면 센서 고정대(150)에 고정된 광파워검출센서가 상기 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 광이 가장 세게 측정되는 지점으로 이동하고 가장 세게 측정되는 각도를 가지도록 이동 및 회전될 수 있다.
도 5는 회절 파장 특성 측정에 대한 참고도이다.
홀로그래픽 매질은 빛에 반응하는 감광물질로써, 특정 파장으로 기록된 매질은 그 파장의 레이저로부터 만들어진 참조광에만 정확한 기능을 재현한다. 예를 들면, 그림3과 같이 녹색파장(532nm)을 사용하여 기록된 홀로그래픽 광학 소자에 똑같은 기록조건의 광을 재현하되, 파장을 적색파장(633nm)을 사용하여 복원하다고 하면, 도 5의 렌즈3에 의해 결정되었던 렌즈로써의 기능과 다른 결과를 가져올 수 있다(초점거리가 달라짐, 수차가 발생, 효율이 떨어짐 등) 따라서, Full-color를 만들기 위해 사용되는 각각의 특정 파장들로 제작된 홀로그래픽 광학 소자가 같은 조건에서 렌즈 기능을 재현할 때, 나오는 스펙트럼을 분석하여 홀로그래픽 광학 소자로써 특정 파장에 회절특성이 잘 일어나는지 분석할 수 있다.
도 6은 필-팩터 특성 측정에 대한 참고도이다.
기존 상용 볼록렌즈를 사용하여 평행광을 입사할 경우, 변조되어 나오는 광은 일정 초점거리에서 초점으로 모이게 된다. 이 때, 렌즈의 경우 모든 수차를 최적화하여 상용화되어 나왔기 대문에 초점면에서의 빛의 세기 분포가 고르게 분포되어 있다. 그러나 홀로그래픽 광학 소자를 사용할 경우, 굴곡의 볼록렌즈의 기능을 평면의 필름형 소자가 대신하기 때문에 각종 수차와, 고르지 않은 세기 분포로 이상적인 형상과 세기의 광을 변조하기 어렵다. 따라서 홀로그래피를 사용하여 제작되는 광학소자의 초점면에서의 광특성 분석은 반드시 필요로 되어야 한다.
도 7은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치의 구성도이다.
도 7을 참조하면, 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(200)는 측정대(210), 측정대 회전부(220), 거울(220), 거울 회전부(221), 거울 이동부(222), 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233), 후면 센서 고정대(250), 후면 센서 회전부(251), 후면 센서 이동부(252) 및 분석부(240)를 포함할 수 있다.
상기 측정대(210)는 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시킬 수 있다. 상기 측정대(210)는 도 3에 도시된 측정대(110)와 동일할 수 있다.
상기 측정대 회전부(220)는 상기 측정대(210)를 회전시킬 수 있다. 상기 측정대 회전부(220)는 도 3에는 없는 구성이다. 상기 측정대 회전부(220)는 사용자의 수동 조작에 의해 회전될 수 있고, 모터 및 구동 기어 등으로 구성된 측정대 회전부 구동부(도면 미도시)에 전력 및 제어신호가 인가되어 회전될 수도 있다.
상기 거울(220)은 광원에서 나온 빛을 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시킬 수 있다. 상기 거울(220)은 도 3에 도시된 거울(120)과 동일할 수 있다.
상기 거울 회전부(221)는 상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울(220)을 회전시킬 수 있다. 상기 거울 회전부(221)는 도 3에 도시된 거울 회전부(121)와 동일할 수 있다.
상기 거울 이동부(222)는 상기 측정대(210)를 기준으로 상기 거울(220) 및 상기 거울 회전부(221)를 제1 축 방향으로 이동시킬 수 있다. 상기 거울 이동부(222)는 도 3에 도시된 거울 이동부(122)와 동일할 수 있다.
상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)는 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시킬 수 있다. 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)는 도 3에 도시된 제1 센서 고정대(131)와 동일 또는 유사할 수 있으며, 차이점은 개수의 차이이다.
상기 후면 센서 고정대(250)는 상기 측정대(210)를 기준으로 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)의 반대 반향에 위치하고, 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빛을 센싱하는 광파워검출센서를 고정시킬 수 있다. 상기 후면 센서 고정대(250)는 도 3에 도시된 후면 센서 고정대(150)와 동일할 수 있다.
상기 후면 센서 회전부(251)는 상기 후면 센서 고정대(250)를 회전시킬 수 있다. 상기 후면 센서 회전부(251)는 도 3에 도시된 후면 센서 회전부(151)와 동일할 수 있다.
상기 후면 센서 이동부(252)는 상기 제1 축과 수직인 제2 축 방향으로 상기 후면 센서 고정대(250) 및 상기 후면 센서 회전부(251)를 이동시킬 수 있다. 상기 후면 센서 이동부(252)는 도 3에 도시된 후면 센서 이동부(152)와 동일할 수 있다.
상기 분석부(240)는 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석할 수 있다. 상기 분석부(240)는 도 3에 도시된 분석부(240)와 동일할 수 있다.
본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(200)의 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서는 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러일 수 있다. 상기 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러를 통해 각각의 특성을 측정하는 방법에 대해서는 도 4 내지 도 6을 통해 설명하였으므로 반복적인 설명은 생략한다.
본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(200)와 도 3에 도시된 실시예와의 차이점은 광학적 특성을 측정하기 위해 센서를 교체하지 않고, 광원에서 나온 빛이 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서에 각각 검출되도록 거울 등을 적절하게 조정할 수 있는 편의성이다. 이를 위해, 상기 분석부(240)는 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서에 각각 센싱되도록 상기 측정대 회전부(220)에 제어 신호를 출력할 수 있다. 또한, 상기 분석부(240)는 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부(221) 및 상기 거울 이동부(222)에 제어 신호를 출력할 수 있다.
한편, 상기 후면 센서 고정대(250)에 고정된 광파워검출센서는 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233) 중 광파워검출센서가 고정된 위치와 연동되어 각도 및 위치를 잡아야 한다. 따라서, 상기 분석부(240)는 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서 중 광파워검출센서에 빛이 센싱되도록 상기 측정대 회전부(220)에 제어 신호를 출력할 때, 상기 거울 회전부(221) 및 상기 거울 이동부(222)에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부(251) 및 상기 후면 센서 이동부(252)에 제어 신호를 출력할 수 있다. 다시 말해서, 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서 중 광파워검출센서와 상기 후면 센서 고정대(250)에 고정된 광파워검출센서가 서로 마주보도록 또는 투과된 빛의 강도가 가장 센 지점에 위치하도록 상기 분석부(240)는 제어 신호를 출력할 수 있다.
이하, 본 명세서에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대해서 설명하겠다. 다만, 본 명세서에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법은 도 3 또는 도 7에 도시된 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치를 이용한 방법이다. 먼저, 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(100)를 이용한 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대해서 설명하겠다. 다만, 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(100)에 대해서는 앞서 설명하였으므로 반복적인 설명은 생략하도록 하겠다.
도 8은 본 명세서의 일 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대한 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 먼저 단계 S110에서 제1 센서 고정대(131)에 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러 중 어느 하나를 고정시킬 수 있다. 설명의 편의상 광파워검출센서를 먼저 고정한 것으로 가정하겠다.
다음 단계 S120에서, 상기 분석부(140)는 상기 측정대(110)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부(121) 및 상기 거울 이동부(122)에 제어 신호를 출력할 수 있다. 이 경우, 상기 분석부(140)는 상기 거울 회전부(121) 및 상기 거울 이동부(122)에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부(151) 및 상기 후면 센서 이동부(152)에 제어 신호를 더 출력할 수 있다.
다음 단계 S130에서 상기 분석부(140)는 상기 제1 센서 고정대(131)에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대(110)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석할 수 있다.
다음 단계 S140에서 모든 측정이 완료되었는지 판단할 수 있다. 현 시점에서 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러에 대한 측정이 완료되지 않았으므로, 단계 S110으로 되돌아가서 상기 제1 센서 고정대(131)에 광파원검출센서를 제거하고 상기 스펙트럼분석센서 또는 빔프로파일러를 고정시키고 다시 단계 S120 내지 S140을 이행할 수 있다. 그리고 모든 측정이 완료되면, 단계를 종료할 수 있다.
다음 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(200)를 이용한 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대해서 설명하겠다. 다만, 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치(200)에 대해서는 앞서 설명하였으므로 반복적인 설명은 생략하도록 하겠다.
도 9는 본 명세서의 다른 실시예에 따른 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법에 대한 흐름도이다.
도 9를 참조하면, 먼저 단계 S210에서 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러를 고정시킬 수 있다.
다음 단계 S220에서 상기 분석부(240)는 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서에 각각 센싱되도록 상기 측정대 회전부(220)에 제어 신호를 출력할 때, 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부(221) 및 상기 거울 이동부(222)에 제어 신호를 출력할 수 있다. 물론, 상기 단계 S220은 서로 다른 시간에 각각 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서에 도달하게 된다. 한편, 상기 단계 S220에서, 상기 분석부(240)는 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서 중 광파워검출센서에 빛이 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 거울 회전부(221) 및 상기 거울 이동부(222)에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부(251) 및 상기 후면 센서 이동부(252)에 제어 신호를 더 출력할 수 있다.
다은 단계 S230에서 상기 분석부(240)는 상기 제1 내지 제3 센서 고정대(231, 232, 233)에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대(210)에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석할 수 있다.
한편, 본 명세서에 따른 분석부(240)는 상기 측정대(210)에 고정된 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 직접적으로 측정하는 것 외에 주어진 광원 환경에서 최적의 광원 입사각 또는 광원과 홀로그래픽 광학 소자 사이의 거리를 산출할 수도 있다. 홀로그래픽을 생성하고 재생하는 과정에서 동일한 광원이 참조광으로 사용되는 것이 가장 이상적이다. 그러나 광원으로 사용된 장치의 특성이 모든 환경에서 동일하지 않는 것이 현실이다. 예를 들어, 홀로그래픽을 생성할 때에는 녹색파장(532nm)을 사용하여 기록하였으나, 재생환경에서는 파장을 적색파장(633nm)을 사용하여 복원하는 상황을 가정해보겠다. 이 경우, 초점거리차이, 수차 발생, 효율 저하 등 홀로그래픽 광학 소자의 렌즈로써의 기능이 전혀 다른 결과를 가져올 수 있다. 따라서, 보다 고품질의 홀로그래픽을 재생하기 위해 각각의 특정 파장들로 제작된 홀로그래픽 광학 소자가 같은 조건에서 렌즈 기능을 재현할 때, 나오는 스펙트럼을 분석하여 홀로그래픽 광학 소자에 어떠한 초점거리 또는 어떠한 입사각으로 광원을 조사해야 하는지 상기 분석부(140, 240)에서 수치적으로 측정된 값을 이용하여 산출할 수 있다.
상기 분석부(140, 240)는, 산출 및 다양한 제어 로직을 실행하기 위해 본 발명이 속한 기술분야에 알려진 프로세서, ASIC(application-specific integrated circuit), 다른 칩셋, 논리 회로, 레지스터, 통신 모뎀, 데이터 처리 장치 등을 포함할 수 있다. 또한, 상술한 제어 로직이 소프트웨어로 구현될 때, 상기 분석부(140, 240)는 프로그램 모듈의 집합으로 구현될 수 있다. 이 때, 프로그램 모듈은 메모리에 저장되고, 프로세서에 의해 실행될 수 있다.
상기 컴퓨터프로그램은, 상기 컴퓨터가 프로그램을 읽어 들여 프로그램으로 구현된 상기 방법들을 실행시키기 위하여, 상기 컴퓨터의 프로세서(CPU)가 상기 컴퓨터의 장치 인터페이스를 통해 읽힐 수 있는 C/C++, C#, JAVA, Python, 기계어 등의 컴퓨터 언어로 코드화된 코드(Code)를 포함할 수 있다. 이러한 코드는 상기 방법들을 실행하는 필요한 기능들을 정의한 함수 등과 관련된 기능적인 코드(Functional Code)를 포함할 수 있고, 상기 기능들을 상기 컴퓨터의 프로세서가 소정의 절차대로 실행시키는데 필요한 실행 절차 관련 제어 코드를 포함할 수 있다. 또한, 이러한 코드는 상기 기능들을 상기 컴퓨터의 프로세서가 실행시키는데 필요한 추가 정보나 미디어가 상기 컴퓨터의 내부 또는 외부 메모리의 어느 위치(주소 번지)에서 참조되어야 하는지에 대한 메모리 참조관련 코드를 더 포함할 수 있다. 또한, 상기 컴퓨터의 프로세서가 상기 기능들을 실행시키기 위하여 원격(Remote)에 있는 어떠한 다른 컴퓨터나 서버 등과 통신이 필요한 경우, 코드는 상기 컴퓨터의 통신 모듈을 이용하여 원격에 있는 어떠한 다른 컴퓨터나 서버 등과 어떻게 통신해야 하는지, 통신 시 어떠한 정보나 미디어를 송수신해야 하는지 등에 대한 통신 관련 코드를 더 포함할 수 있다.
상기 저장되는 매체는, 레지스터, 캐쉬, 메모리 등과 같이 짧은 순간 동안 데이터를 저장하는 매체가 아니라 반영구적으로 데이터를 저장하며, 기기에 의해 판독(reading)이 가능한 매체를 의미한다. 구체적으로는, 상기 저장되는 매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피디스크, 광 데이터 저장장치 등이 있지만, 이에 제한되지 않는다. 즉, 상기 프로그램은 상기 컴퓨터가 접속할 수 있는 다양한 서버 상의 다양한 기록매체 또는 사용자의 상기 컴퓨터상의 다양한 기록매체에 저장될 수 있다. 또한, 상기 매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장될 수 있다.
이상, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 명세서의 실시예를 설명하였지만, 본 명세서가 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 제한적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
100, 200 : 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치
110, 210 : 측정대
220 : 측정대 회전부
120, 220 : 거울
121, 221 : 거울 회전부
122, 222 : 거울 이동부
131, 231 : 제1 센서 고정대
232 : 제2 센서 고정대
233 : 제3 센서 고정대
140, 240 : 분석부
150, 250 : 후면 센서 고정대
151, 251 : 후면 센서 회전부
152, 252 : 후면 센서 이동부
110, 210 : 측정대
220 : 측정대 회전부
120, 220 : 거울
121, 221 : 거울 회전부
122, 222 : 거울 이동부
131, 231 : 제1 센서 고정대
232 : 제2 센서 고정대
233 : 제3 센서 고정대
140, 240 : 분석부
150, 250 : 후면 센서 고정대
151, 251 : 후면 센서 회전부
152, 252 : 후면 센서 이동부
Claims (14)
- 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시키는 측정대;
광원에서 나온 빛을 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시키는 거울;
상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울을 회전시키는 거울 회전부;
상기 측정대를 기준으로 상기 거울 및 상기 거울 회전부를 제1 축 방향으로 이동시키는 거울 이동부;
상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시키는 제1 센서 고정대; 및
상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 분석부;를 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 1에 있어서,
상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서는, 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 2에 있어서,
상기 측정대를 기준으로 상기 제1 센서 고정대의 반대 반향에 위치하고, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빛을 센싱하는 광파워검출센서를 고정시키는 후면 센서 고정대;를 더 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 3에 있어서,
상기 후면 센서 고정대를 회전시키는 후면 센서 회전부;를 더 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 4에 있어서,
상기 제1 축과 수직인 제2 축 방향으로 상기 후면 센서 고정대 및 상기 후면 센서 회전부를 이동시키는 후면 센서 이동부;를 더 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 고정시키는 측정대;
상기 측정대를 회전시키는 측정대 회전부;
광원에서 나온 빛을 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사시키는 거울;
상기 광원에서 나온 빛의 반사각도를 조절하도록 상기 거울을 회전시키는 거울 회전부;
상기 측정대를 기준으로 상기 거울 및 상기 거울 회전부를 제1 축 방향으로 이동시키는 거울 이동부;
상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛을 센싱하는 센서를 고정시키는 제1 내지 제3 센서 고정대;
상기 측정대를 기준으로 상기 제1 내지 제3 센서 고정대의 반대 반향에 위치하고, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자를 투과한 빛을 센싱하는 광파워검출센서를 고정시키는 후면 센서 고정대;
상기 후면 센서 고정대를 회전시키는 후면 센서 회전부;
상기 제1 축과 수직인 제2 축 방향으로 상기 후면 센서 고정대 및 상기 후면 센서 회전부를 이동시키는 후면 센서 이동부; 및
상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 분석부;를 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 6에 있어서,
상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서는, 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러인 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 7에 있어서,
상기 분석부는, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에 각각 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 8에 있어서,
상기 분석부는, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 청구항 9에 있어서,
상기 분석부는,
상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서 중 광파워검출센서에 빛이 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부 및 상기 후면 센서 이동부에 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치. - 측정대, 거울, 거울 회전부, 거울 이동부, 제1 센서 고정대 및 분석부;를 포함하는 장치를 이용한 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법으로서,
(a) 상기 제1 센서 고정대에 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러 중 어느 하나를 고정시키는 단계;
(b) 상기 분석부가 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 제어 신호를 출력하는 단계; 및
(c) 상기 분석부가 상기 제1 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 단계;를 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법. - 청구항 11에 있어서,
상기 장치는, 후면 센서 고정대, 후면 센서 회전부 및 후면 센서 이동부;를 더 포함하고,
상기 (a) 단계는 상기 제1 센서 고정대에 광파워검출센서를 고정시키는 단계이고,
상기 (b) 단계는 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부 및 상기 후면 센서 이동부에 제어 신호를 더 출력하는 단계인 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법. - 측정대, 측정대 회전부, 거울, 거울 회전부, 거울 이동부, 제1 내지 제3 센서 고정대, 후면 센서 고정대, 후면 센서 회전부, 후면 센서 이동부 및 분석부;를 포함하는 장치를 이용한 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법으로서,
(a) 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 광파워검출센서, 스펙트럼분석센서 및 빔프로파일러를 고정시키는 단계;
(b) 상기 분석부가 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 반사된 빛이 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에 각각 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자에 입사하는 빛의 입사각도를 조절하도록 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 제어 신호를 출력하는 단계; 및
(c) 상기 분석부가 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서에서 출력된 신호를 이용하여 상기 측정대에 고정된 평가 대상 홀로그래픽 광학 소자의 특성을 정량적인 수치로 분석하는 단계;를 포함하는 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법. - 청구항 13에 있어서,
상기 (b) 단계는, 상기 분석부가 상기 제1 내지 제3 센서 고정대에 고정된 센서 중 광파워검출센서에 빛이 센싱되도록 상기 측정대 회전부에 제어 신호를 출력할 때, 상기 거울 회전부 및 상기 거울 이동부에 출력한 제어 신호에 대응하여 상기 후면 센서 회전부 및 상기 후면 센서 이동부에 제어 신호를 더 출력하는 단계인 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 방법.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR20200087255 | 2020-07-15 | ||
| KR1020200087255 | 2020-07-15 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220009304A true KR20220009304A (ko) | 2022-01-24 |
| KR102522950B1 KR102522950B1 (ko) | 2023-04-19 |
| KR102522950B9 KR102522950B9 (ko) | 2023-08-04 |
Family
ID=80049976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020200138562A KR102522950B1 (ko) | 2020-07-15 | 2020-10-23 | 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102522950B1 (ko) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008175536A (ja) * | 2007-01-16 | 2008-07-31 | Pulstec Industrial Co Ltd | ホログラム記録媒体評価装置及びホログラム記録媒体評価方法 |
| JP2008287077A (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Canon Inc | 光情報記録再生装置 |
| KR20160032296A (ko) | 2014-09-15 | 2016-03-24 | 전자부품연구원 | 서브-호겔 단위로 홀로그래픽 파면을 기록하는 홀로그래픽 프린터 |
| KR101682654B1 (ko) * | 2015-10-01 | 2016-12-05 | 주식회사 미래기술연구소 | 단일 광원을 이용하여 홀로그램을 기록하고 기록된 홀로그램의 회절효율을 측정할 수 있는 방법 |
| KR101865330B1 (ko) * | 2017-01-19 | 2018-06-07 | 충북대학교 산학협력단 | 홀로그램의 광특성 측정 및 분석을 위한 방법 및 시스템 |
-
2020
- 2020-10-23 KR KR1020200138562A patent/KR102522950B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008175536A (ja) * | 2007-01-16 | 2008-07-31 | Pulstec Industrial Co Ltd | ホログラム記録媒体評価装置及びホログラム記録媒体評価方法 |
| JP2008287077A (ja) * | 2007-05-18 | 2008-11-27 | Canon Inc | 光情報記録再生装置 |
| KR20160032296A (ko) | 2014-09-15 | 2016-03-24 | 전자부품연구원 | 서브-호겔 단위로 홀로그래픽 파면을 기록하는 홀로그래픽 프린터 |
| KR101682654B1 (ko) * | 2015-10-01 | 2016-12-05 | 주식회사 미래기술연구소 | 단일 광원을 이용하여 홀로그램을 기록하고 기록된 홀로그램의 회절효율을 측정할 수 있는 방법 |
| KR101865330B1 (ko) * | 2017-01-19 | 2018-06-07 | 충북대학교 산학협력단 | 홀로그램의 광특성 측정 및 분석을 위한 방법 및 시스템 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR102522950B9 (ko) | 2023-08-04 |
| KR102522950B1 (ko) | 2023-04-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3829219A (en) | Shearing interferometer | |
| KR101634170B1 (ko) | 디지털 홀로그래피 현미경 및 디지털 홀로그램 영상 생성 방법 | |
| KR101858082B1 (ko) | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 | |
| KR20170120462A (ko) | 개선된 홀로그래픽 복원 장치 및 방법 | |
| JP4667965B2 (ja) | 光ビーム測定装置 | |
| US7379172B2 (en) | Method and apparatus for inspection of optical component | |
| CN118091999A (zh) | 一种自参考衍射法的纯相位液晶空间光调制器标定系统及方法 | |
| KR102522950B1 (ko) | 홀로그래픽 광학소자 성능 평가 장치 | |
| KR20190072020A (ko) | 결함 검출 방법 및 장치 | |
| KR20170023363A (ko) | 디지털 홀로그래피 마이크로스코프를 이용한 고단차 측정 방법 | |
| JP4921775B2 (ja) | 記録媒体変形測定装置、変形量解析装置及び記録媒体変形測定方法 | |
| CN112611548B (zh) | 一种基于数字全息的透镜焦距测量装置及方法 | |
| CN111708258B (zh) | 一种全息光栅扫描光刻曝光量监测装置及调整方法 | |
| CN212931344U (zh) | 单次干涉读取相位的相位编码及相位解码装置 | |
| CN1088681A (zh) | 实时一步双波长全息干涉检测装置 | |
| JP4731314B2 (ja) | 光学部品の検査方法及び検査装置 | |
| CN218158571U (zh) | 非干涉、非迭代式复振幅读取光学系统 | |
| US20160336034A1 (en) | Optical information reproducing device and reference beam adjusting method | |
| JP5048075B2 (ja) | ホログラム記録媒体の収縮率測定方法 | |
| JP7503972B2 (ja) | 形状測定装置 | |
| JP6554411B2 (ja) | ホログラム記録装置および方法 | |
| JP4068307B2 (ja) | 領域特定方法、収差計測方法及び収差計測装置 | |
| JP5817211B2 (ja) | 形状検査装置 | |
| JPH05157532A (ja) | 測定用計算機ホログラム及びそれを用いた計測方法 | |
| TW202336416A (zh) | 光學量測方法及光學量測系統 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E90F | Notification of reason for final refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| G170 | Re-publication after modification of scope of protection [patent] |