KR20220001471A - Substrate processing apparatus and substrate processing method - Google Patents
Substrate processing apparatus and substrate processing method Download PDFInfo
- Publication number
- KR20220001471A KR20220001471A KR1020210078603A KR20210078603A KR20220001471A KR 20220001471 A KR20220001471 A KR 20220001471A KR 1020210078603 A KR1020210078603 A KR 1020210078603A KR 20210078603 A KR20210078603 A KR 20210078603A KR 20220001471 A KR20220001471 A KR 20220001471A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- substrate
- unit
- substrate processing
- moving
- holding
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67706—Mechanical details, e.g. roller, belt
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
- B05B—SPRAYING APPARATUS; ATOMISING APPARATUS; NOZZLES
- B05B13/00—Machines or plants for applying liquids or other fluent materials to surfaces of objects or other work by spraying, not covered by groups B05B1/00 - B05B11/00
- B05B13/02—Means for supporting work; Arrangement or mounting of spray heads; Adaptation or arrangement of means for feeding work
- B05B13/0221—Means for supporting work; Arrangement or mounting of spray heads; Adaptation or arrangement of means for feeding work characterised by the means for moving or conveying the objects or other work, e.g. conveyor belts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/6715—Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/6838—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
Abstract
Description
본 개시는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법에 관한 것이다.The present disclosure relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method.
특허문헌 1에는, 기판의 반송방향으로 연장되는 2개의 가이드부를 따라서 기판을 반송하고, 기판에 기능액의 액적을 토출하는 것이 개시되어 있다.Patent Document 1 discloses transporting a substrate along two guide portions extending in the transport direction of the substrate and discharging droplets of a functional liquid to the substrate.
본 개시는 기판 반송에 있어서의 오차를 저감하는 기술을 제공한다.The present disclosure provides a technique for reducing errors in substrate transport.
본 개시의 일 태양에 의한 기판 처리 장치는 가이드부와, 반송 장치와, 가공부를 구비한다. 가이드부는 기판의 반송방향을 따라서 연장된다. 반송 장치는 기판을 반송방향을 따라서 반송한다. 가공부는 반송방향을 따라서 반송되는 기판에 가공 처리를 실시한다. 반송 장치는 보지부와, 이동부와, 조정부를 구비한다. 보지부는 기판을 보지한다. 이동부는 보지부를 지지하면서, 가이드부를 따라서 이동한다. 조정부는 반송방향에 직교하는 방향에 있어서의 이동부의 위치를 조정하며, 적어도 일부가 이동부와 동일한 수평면에 마련된다.A substrate processing apparatus according to an aspect of the present disclosure includes a guide unit, a conveying device, and a processing unit. The guide portion extends along the transport direction of the substrate. A conveying apparatus conveys a board|substrate along a conveyance direction. The processing unit processes the substrate to be conveyed along the conveyance direction. A conveying apparatus is provided with a holding|maintenance part, a moving part, and an adjustment part. The holding part holds the board. The moving part moves along the guide part while supporting the holding part. The adjustment part adjusts the position of the moving part in the direction orthogonal to a conveyance direction, and at least one part is provided in the same horizontal plane as a moving part.
본 개시에 의하면, 기판 반송에 있어서의 오차를 저감할 수 있다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this indication, the error in board|substrate conveyance can be reduced.
도 1은 실시형태에 따른 기판 처리 장치의 일부를 도시하는 개략 평면도이다.
도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ 단면에 있어서의 개략 단면도이다.
도 3은 실시형태에 따른 기판 처리를 설명하는 흐름도이다.
도 4는 실시형태에 따른 반송 장치의 조정 방법을 설명하는 도면이다.
도 5는 변형예에 따른 기판 처리 장치의 반송 장치의 일부를 도시하는 개략 단면도이다.1 is a schematic plan view showing a part of a substrate processing apparatus according to an embodiment.
Fig. 2 is a schematic cross-sectional view taken along the II-II section of Fig. 1;
3 is a flowchart for explaining substrate processing according to the embodiment.
It is a figure explaining the adjustment method of the conveyance apparatus which concerns on embodiment.
5 is a schematic cross-sectional view illustrating a part of a transfer apparatus of a substrate processing apparatus according to a modification.
이하, 첨부 도면을 참조하여, 본원이 개시하는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법의 실시형태를 상세하게 설명한다. 또한, 이하에 나타내는 실시형태에 의해 개시되는 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법이 한정되는 것은 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of the substrate processing apparatus and substrate processing method which this application discloses with reference to an accompanying drawing is described in detail. In addition, the substrate processing apparatus and substrate processing method disclosed by embodiment shown below are not limited.
이하 참조하는 각 도면에서는, 설명을 알기 쉽게 하기 위해, 서로 직교하는 X축방향, Y축방향 및 Z축방향을 규정하고, Z축 정방향을 연직 상향방향으로 하는 직교 좌표계를 나타낸다.In each drawing referenced below, in order to make the description easy to understand, the X-axis direction, the Y-axis direction, and the Z-axis direction orthogonal to each other are defined, and the Cartesian coordinate system in which the positive Z-axis direction is the vertically upward direction is shown.
또한, 여기에서는, Y축 정방향을 전방으로 하고, Y축 부방향을 후방으로 하는 전후방향을 규정하고, X축 부방향을 우측으로 하고, X축 정방향을 좌측으로 하는 좌우방향을 규정한다. 또한, Z축 정방향을 상방으로 하고, Z축 부방향을 하방으로 하는 상하방향을 규정한다. 기판 처리 장치(1)는 기판(S)을 후방으로부터 전방을 향하여 전후방향을 따라서 반송하면서 처리를 실행한다. 즉, 기판 처리 장치(1)는 후방으로부터 전방으로의 방향인 반송방향을 따라서 기판(S)을 반송하면서 처리를 실행한다.Here, the front-back direction with the positive Y-axis direction as the front and the negative Y-axis direction as the rear is defined, and the left-right direction with the negative X-axis direction to the right and the positive X-axis direction to the left is defined. Further, a vertical direction with the positive Z-axis direction as upward and the negative Z-axis direction as downward is defined. The substrate processing apparatus 1 performs a process while conveying the board|substrate S along the front-back direction toward the front from back. That is, the substrate processing apparatus 1 performs a process while conveying the board|substrate S along the conveyance direction which is a direction from back to front.
<전체 구성><Entire configuration>
실시형태에 따른 기판 처리 장치(1)에 대해 도 1을 참조하여 설명한다. 도 1은 실시형태에 따른 기판 처리 장치(1)의 일부를 도시하는 개략 평면도이다. 기판 처리 장치(1)는 워크인 기판(S)을 수평방향으로 반송하면서, 잉크젯 방식으로 기판(S)에 묘화를 실행한다. 기판(S)은 예를 들면, 플랫 패널 디스플레이에 이용되는 기판이다.A substrate processing apparatus 1 according to an embodiment will be described with reference to FIG. 1 . 1 is a schematic plan view showing a part of a substrate processing apparatus 1 according to an embodiment. The substrate processing apparatus 1 draws on the board|substrate S by an inkjet method, conveying the board|substrate S which is a workpiece|work-in in a horizontal direction. The board|substrate S is a board|substrate used for a flat panel display, for example.
기판 처리 장치(1)는 부상 스테이지(2)(스테이지부의 일 예)와, 한쌍의 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)과, 복수의 반송 장치(4)와, 복수의 도포부(5)와, 메인터넌스부(6)와, 제어 장치(7)를 구비한다.The substrate processing apparatus 1 includes a floating stage 2 (an example of a stage part), a pair of guide rails 3 (an example of a guide part), a plurality of conveying
부상 스테이지(2)는 다수의 분출구를 갖는다. 부상 스테이지(2)는 압축된 가스(예를 들면, 공기)를 분출구로부터 기판(S)의 하면을 향해 불어넣어, 기판(S)에 대해 상방으로 작용하는 힘(이하, 부상력이라 칭함)을 부여한다. 부상 스테이지(2)는 부상력을 부여하는 것에 의해, 반송 장치(4)의 보지부(14)에 보지된 기판(S)의 부상고를 조정한다. 즉, 부상 스테이지(2)는 반송 장치(4)의 보지부(14)에 보지된 기판(S)에 대해 하방으로부터 가스를 불어넣어, 기판(S)의 부상고를 조정한다.The
부상 스테이지(2)는 기판(S)이 반입되는 반입 스테이지, 및 기판(S)이 반출되는 반출 스테이지를 포함한다. 반입 스테이지는 기판 처리 장치(1)의 후방측에 마련된다. 반출 스테이지는 기판 처리 장치(1)의 전방측에 마련된다.The
또한, 부상 스테이지(2)는 반송방향을 따라서 복수 마련되어도 좋다. 도포부(5)의 하방에 위치하는 부상 스테이지(2)에 있어서의 기판(S)의 부상고의 범위는, 다른 부상 스테이지(2)에 있어서의 기판(S)의 부상고의 범위보다 좁다. 예를 들면, 도포부(5)의 하방에 위치하는 부상 스테이지(2)에 있어서의 기판(S)의 부상고의 범위는 30㎛ 내지 60㎛이다. 다른 부상 스테이지(2)에 있어서의 기판(S)의 부상고의 범위는 200㎛ 내지 2000㎛이다.In addition, two or more floating
예를 들면, 도포부(5)의 하방에 위치하는 부상 스테이지(2)에서는, 압축된 공기를 기판(S)의 하면을 향하여 토출하는 동시에, 기판(S)과 부상 스테이지(2) 사이의 공기를 흡인하는 것에 의해, 기판(S)의 부상고를 조정하여도 좋다.For example, in the
가이드 레일(3)은 반송방향을 따라서 연장되도록 마련된다. 한쌍의 가이드 레일(3)은 좌우방향으로 나란하게 배치된다. 구체적으로는, 한쌍의 가이드 레일(3)은 좌우방향에 있어서, 부상 스테이지(2)를 사이에 두도록 배치된다. 한쌍의 가이드 레일(3)은 예를 들면, 그라나이트에 의해 구성된다. 반송방향에 직교하는 가이드 레일(3)의 단면은 직사각 형상이다.The
반송 장치(4)는 기판(S)을 반송방향을 따라서 반송한다. 반송 장치(4)는 예를 들면, 기판(S)의 네 모서리를 지지하며, 기판(S)을 반송하도록 4개 마련된다. 반송 장치(4)는 1개의 가이드 레일(3)에 대해, 2개 마련된다. 반송 장치(4)는 기판(S)을 지지하면서, 가이드 레일(3)을 따라서 기판(S)을 반송방향으로 반송한다. 반송 장치(4)는 부상 스테이지(2)(스테이지부의 일 예)에 의해 부상고가 조정된 기판(S)을 반송방향을 따라서 이동시킨다. 또한, 반송 장치(4)의 수는 이것으로 한정되는 일은 없다. 반송 장치(4)의 상세에 대해서는 후술한다.The conveying
도포부(5)(가공부의 일 예)는, 반송방향을 따라서 반송되는 기판(S)에 가공 처리를 실시한다. 구체적으로는, 도포부(5)는 기판(S)에 기능액을 도포한다. 기능액은 잉크이다. 도포부(5)는 부상 스테이지(2)(스테이지부의 일 예)에 의해 부상고가 조정된 기판(S)에 기능액을 도포한다. 구체적으로는, 도포부(5)는 기판(S)에 기능액을 토출하는 것에 의해, 기능액을 기판(S)에 도포한다. 도포부(5)는 좌우방향을 따라서 복수 배치된다. 도 1에서는, 좌우방향을 따라서 7개의 도포부(5)가 배치된 상태를 도시하지만, 도포부(5)의 수는 이것으로 한정되는 일은 없다. 도포부(5)는 기능액을 토출하는 복수의 헤드를 가지며, 각 헤드로부터 기능액을 기판(S)에 토출한다.The application part 5 (an example of a processing part) processes the board|substrate S conveyed along a conveyance direction. Specifically, the
도포부(5)는 전후방향으로 나란하게 마련되는 한쌍의 레일(8)을 따라서 이동 가능하다. 한쌍의 레일(8)은 좌우방향으로 연장되도록 마련된다. 한쌍의 레일(8)은 예를 들면, 부상 스테이지(2)에 대해 우측으로 연장되도록 마련된다. 부상 스테이지(2)의 우측에 있어서의 한쌍의 레일(8) 사이에는, 메인터넌스부(6)가 마련된다. 도포부(5)는 메인터넌스부(6)의 상방이 되는 위치와, 기판(S)에 기능액을 토출하는 위치 사이를 이동한다. 도포부(5)는 구동 장치, 예를 들면, 리니어 모터에 의해, 한쌍의 레일(8)을 따라서 좌우방향으로 이동한다. 복수의 도포부(5)는 독립하여 좌우방향으로 이동하여도 좋으며, 일체로 좌우방향으로 이동하여도 좋다.The
메인터넌스부(6)는 도포부(5)의 헤드의 메인터넌스를 실행하여, 도포부(5)의 헤드의 토출 불량 등을 해소, 또는 방지한다. 또한, 메인터넌스부(6)는 부상 스테이지(2)의 상방에 마련되어도 좋다.The maintenance unit 6 performs maintenance of the head of the
제어 장치(7)는 예를 들면, 컴퓨터이며, 제어부(7A)와 기억부(7B)를 구비한다. 기억부(7B)에는, 기판 처리 장치(1)에서 실행되는 각종 처리를 제어하는 프로그램이 격납된다. 제어부(7A)는 기억부(7B)에 기억된 프로그램을 판독하고 실행하는 것에 의해 기판 처리 장치(1)의 동작을 제어한다.The
또한, 이러한 프로그램은 컴퓨터에 의해 판독 가능한 기억 매체에 기록되어 있던 것으로서, 기억 매체로부터 제어 장치(7)의 기억부(7B)에 인스톨된 것이어도 좋다. 컴퓨터에 의해 판독 가능한 기억 매체로서는, 예를 들어, 하드 디스크(HD), 플렉시블 디스크(FD), 콤팩트 디스크(CD), 마그넷 옵티컬 디스크(MO), 메모리 카드 등이 있다.In addition, such a program may be recorded in a computer-readable storage medium, and may be installed in the
상세한 설명은 생략하지만, 기판 처리 장치(1)는 도포부(5)에 의한 기능액의 토출 상태를 검출하는 검출 기구를 구비한다. 검출 기구는 도포부(5)로부터 필름부에 토출된 기능액을 카메라 등의 촬상 장치에 의해 촬영하여, 도포부(5)에 의한 기능액의 토출 상태를 검출한다.Although detailed description is abbreviate|omitted, the substrate processing apparatus 1 is equipped with the detection mechanism which detects the discharge state of the functional liquid by the
<반송 장치><Transfer device>
다음에, 반송 장치(4)에 대해 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한다. 도 2는 도 1의 Ⅱ-Ⅱ 단면에 있어서의 개략 단면도이다.Next, the conveying
반송 장치(4)는 이동부(10)와, 복수의 조정부(11a, 11b)와, 구동부(12)와, 복수의 부상 패드(13a 내지 13c)와, 보지부(14)와, 회동부(15)를 구비한다.The conveying
이동부(10)는 문형(門型)이며, 한쌍의 측벽부(10a, 10b)와, 상벽부(10c)를 구비한다. 한쌍의 측벽부(10a, 10b)는 좌우방향에 있어서 가이드 레일(3)을 사이에 두도록 마련한다. 즉, 한쌍의 측벽부(10a, 10b)는 좌우방향(반송방향에 직교하는 방향의 일 예)에 있어서의 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)의 한쌍의 측면(3a, 3b)을 마주보도록 마련된다. 구체적으로는, 측벽부(10a)는 가이드 레일(3)의 측면(3a)을 마주본다. 측벽부(10b)는 가이드 레일(3)의 측면(3b)을 마주본다. 상벽부(10c)는 한쌍의 측벽부(10a, 10b)의 상단을 연결한다. 이동부(10)는 보지부(14)를 지지하면서, 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)을 따라서 이동한다.The moving
조정부(11a, 11b)는 한쌍의 측면(3a, 3b)과 한쌍의 측벽부(10a, 10b) 사이에 각각 마련된다. 구체적으로는, 조정부(11a)는 가이드 레일(3)의 측면(3a)과, 이동부(10)의 측벽부(10a) 사이에 마련된다. 조정부(11b)는 가이드 레일(3)의 측면(3b)과, 이동부(10)의 측벽부(10b) 사이에 마련된다. 즉, 조정부(11a, 11b)는 좌우방향에 있어서, 가이드 레일(3)의 양측에 마련된다.The adjusting
조정부(11a, 11b)는 이동부(10)를 좌우방향으로 이동시키는 액추에이터이다. 조정부(11a, 11b)는 예를 들면, 압전 소자이며, 공급되는 전압에 따라서 좌우방향으로 변위된다. 조정부(11a, 11b)는 예를 들면, 리니어 모터여도 좋다. 조정부(11a, 11b)는 좌우방향(반송방향에 직교하는 방향의 일 예)에 있어서의 이동부(10)의 위치를 조정한다. 조정부(11a, 11b)는 적어도 일부가 이동부(10)와 동일 수평면에 마련된다. 구체적으로는, 조정부(11a, 11b)는 이동부(10)의 한쌍의 측벽부(10a, 10b)와 동일 수평면에 마련된다.The adjusting
구동부(12)는 이동부(10)를 전후방향으로 이동시킨다. 구동부(12)는 예를 들면, 리니어 모터이다. 구동부(12)는 이동부(10)에 접속되는 아암(12a)을 구비한다. 구동부(12)는 아암(12a)을 전후방향으로 이동시키는 것에 의해, 이동부(10)를 전후방향으로 이동시킨다. 아암(12a)은 상하방향을 따라서 연장되며, 상단측이 조정부(11a)에 접속된다. 즉, 구동부(12)는 조정부(11a)를 거쳐서 이동부(10)에 접속된다. 아암(12a)은 상하방향(높이방향의 일 예)에 있어서 이동부(10)와 중복된다. 아암(12a)은 조정부(11a)와 부상 패드(13a)에 협지된다. 이와 같이, 구동부(12)는 이동부(10)에 접속되는 아암(12a)을 가지며, 아암(12a)을 거쳐서 이동부(10)를 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)을 따라서 이동시킨다.The driving
부상 패드(13a)는 가이드 레일(3)의 측면(3a)과, 구동부(12)의 아암(12a) 사이에 마련된다. 부상 패드(13a)는 아암(12a)에 장착된다. 부상 패드(13a)는 압축된 가스(예를 들면, 공기)를 가이드 레일(3)의 측면(3a)을 향해 불어넣어, 가이드 레일(3)에 대해, 이동부(10)를 좌우방향에 있어서 비접촉 상태로 지지한다. 부상 패드(13a)는 가이드 레일(3)의 측면(3a)과, 부상 패드(13a)의 거리를 미리 설정된 거리로 유지하면서, 가이드 레일(3)에 대해 이동부(10)를 비접촉 상태로 좌우방향으로 지지한다.The floating
부상 패드(13b)는 가이드 레일(3)의 측면(3b)과, 조정부(11b) 사이에 마련된다. 부상 패드는 조정부(11b)에 장착된다. 부상 패드(13b)는 압축된 가스(예를 들면, 공기)를 가이드 레일(3)의 측면(3b)을 향해 불어넣어, 가이드 레일(3)에 대해, 이동부(10)를 좌우방향에 있어서 비접촉 상태로 지지한다. 부상 패드(13b)는 가이드 레일(3)의 측면(3b)과, 부상 패드(13b)의 거리를 미리 설정된 거리로 유지하면서, 가이드 레일(3)에 대해 이동부(10)를 비접촉 상태로 좌우방향으로 지지한다.The floating
부상 패드(13c)는 가이드 레일(3)의 상면(3c)과, 이동부(10)의 상벽부(10c) 사이에 마련된다. 부상 패드(13c)는 이동부(10) 상벽부(10c)에 장착된다. 부상 패드(13c)는, 압축된 가스(예를 들면, 공기)를 가이드 레일(3)의 상면(3c)을 향해 불어넣어, 가이드 레일(3)에 대해, 이동부(10)를 상하방향에 있어서 비접촉 상태로 지지한다. 부상 패드(13c)는 가이드 레일(3)의 상면(3c)과, 부상 패드(13c)의 거리를 미리 설정된 거리로 유지하면서, 가이드 레일(3)에 대해 이동부(10)를 비접촉 상태로 상하방향으로 지지한다.The floating
보지부(14)는 기판(S)을 보지한다. 보지부(14)는 복수의 흡착 패드(14a)를 구비한다. 복수의 흡착 패드(14a)는 전후방향으로 나란하게 마련된다. 예를 들면, 보지부(14)에는 3개의 흡착 패드(14a)가 전후방향으로 나란하게 마련된다. 또한, 흡착 패드(14a)의 수는 이것으로 한정되는 일이 없으며, 보지부(14)에 대해 1개 마련되어도 좋다. 보지부(14)는 복수의 흡착 패드(14a)에 의해, 기판(S)의 하면을 흡착하여 기판(S)을 보지한다. 보지부(14)는 회동부(15)를 거쳐서 이동부(10)에 지지된다.The holding
회동부(15)는 이동부(10)의 상벽부(10c)에 마련된다. 회동부(15)는 예를 들면 베어링이며, 축부(15a)와, 받이부(15b)를 구비한다. 축부(15a)는 보지부(14)에 장착된다. 받이부(15b)는 이동부(10)의 상벽부(10c)에 장착되며, 축부(15a)를 회동 가능하게 지지한다. 즉, 회동부(15)는 보지부(14)를 이동부(10)에 대해 회동 가능하게 지지한다.The
복수의 반송 장치(4)는 전후방향, 및 좌우방향에 있어서, 이동부(10)의 위치가 각각 조정된다. 이동부(10)는 구동부(12)에 의해 전후방향의 위치가 조정된다. 또한, 이동부(10)는 조정부(11a, 11b)에 의해 좌우방향의 위치가 조정된다. 예를 들면, 이동부(10)를 좌측으로 이동시키는 경우에는, 조정부(11a)에 의한 변위량을 감소시켜, 조정부(11b)에 의한 변위량을 증가시킨다. 이에 의해, 이동부(10)는 가이드 레일(3)에 대해 좌측으로 이동한다.As for the some conveying
반송 장치(4)는 회동부(15)를 거쳐서, 보지부(14)가 이동부(10)에 대해 회동 가능하게 지지되어 있다. 그 때문에, 이동부(10)의 위치가 전후방향, 및 좌우방향으로 조정되는 것에 의해, 보지부(14)의 흡착 패드(14a)에 의해 흡착되어 있는 기판(S)은 반송방향에 대한 방향이 조정된다. 즉, 반송 장치(4)는 구동부(12), 조정부(11a, 11b), 및 회동부(15)에 의해 반송방향에 대한 기판(S)의 방향을 조정한다.As for the conveying
기판 처리 장치(1)는 전후방향, 및 좌우방향에 있어서, 복수의 반송 장치(4)의 이동부(10)의 위치를 각각 조정하는 것에 의해, 반송방향에 대한 기판(S)의 방향을 조정한다.The substrate processing apparatus 1 adjusts the direction of the board|substrate S with respect to a conveyance direction by respectively adjusting the position of the moving
<기판 처리><Substrate processing>
다음에, 기판 처리에 대해 도 3을 참조하여 설명한다. 도 3은 실시형태에 따른 기판 처리를 설명하는 흐름도이다.Next, substrate processing will be described with reference to FIG. 3 . 3 is a flowchart for explaining substrate processing according to the embodiment.
기판 처리 장치(1)는 보지 공정을 실행한다(S100). 기판 처리 장치(1)는, 부상 스테이지(2)에 반송된 기판(S)을 복수의 반송 장치(4)에 의해 보지한다. 구체적으로는, 기판 처리 장치(1)는 기판(S)의 네 모서리를, 보지부(14)의 흡착 패드(14a)에 의해 흡착하여 기판(S)을 보지한다.The substrate processing apparatus 1 performs a holding process (S100). The substrate processing apparatus 1 holds the board|substrate S conveyed by the floating
기판 처리 장치(1)는 조정 공정을 실행한다(S101). 기판 처리 장치(1)는 반송방향에 대한 기판(S)의 방향을 조정한다. 기판 처리 장치(1)는 보지부(14)에 보지되는 기판(S)의 형상에 변화를 주지 않도록, 기판(S)의 방향을 조정한다. 또한, 조정 공정은 보지 공정을 실행하기 전에 실행되어도 좋다.The substrate processing apparatus 1 performs an adjustment process (S101). The substrate processing apparatus 1 adjusts the direction of the substrate S with respect to the conveyance direction. The substrate processing apparatus 1 adjusts the orientation of the substrate S so as not to change the shape of the substrate S held by the holding
구체적으로는, 기판 처리 장치(1)는 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 전후방향에 있어서의 위치를 정렬한다. 기판 처리 장치(1)는 예를 들면, 각 가이드 레일(3)의 전단측에 각각 마련된 레이저 간섭계에 의해, 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 전후방향에 있어서의 거리를 계측한다. 그리고, 기판 처리 장치(1)는, 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 전후방향에 있어서의 위치를 조정하여, 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 전후방향에 있어서의 위치를 정렬한다.Specifically, the substrate processing apparatus 1 aligns the positions in the front-back direction of the two
또한, 기판 처리 장치(1)는 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 좌우방향에 있어서의 거리가 미리 설정된 거리가 되도록, 2개의 반송 장치(4)의 조정부(11a, 11b)에 의해, 2개의 반송 장치(4)의 좌우방향에 있어서의 위치를 조정한다.Moreover, the substrate processing apparatus 1 is adjusted by the
또한, 기판 처리 장치(1)는 후방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 좌우방향에 있어서의 위치를 조정한다. 기판 처리 장치(1)는 도 4에 도시하는 바와 같이, 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)를 연결하는 가상선(A1)과, 1개의 가이드 레일(3)에 마련된 2개의 반송 장치(4)를 연결하는 가상선(A2)이 직교하도록, 후방측에 마련된 반송 장치(4)의 위치를 조정한다. 가상선(A1)은 전방측에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 회동부(15)의 축부(15a)에 있어서의 축심을 접속하는 선이다. 가상선(A2)은 1개의 가이드 레일(3)에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 회동부(15)의 축부(15a)에 있어서의 축심을 접속하는 선이다. 도 4는 실시형태에 따른 반송 장치(4)의 조정 방법을 설명하는 도면이다.Moreover, the substrate processing apparatus 1 adjusts the position in the left-right direction of the two
또한, 기판 처리 장치(1)는 1개의 가이드 레일(3)에 마련된 2개의 반송 장치(4)의 전후방향에 있어서의 거리가 미리 설정된 거리가 되도록, 2개의 반송 장치(4)의 전후방향에 있어서의 위치를 조정한다.In addition, the substrate processing apparatus 1 is in the front-back direction of the two
도 3으로 복귀하여, 기판 처리 장치(1)는 반송 공정을 실행한다(S102). 기판 처리 장치(1)는 4개의 반송 장치(4)의 보지부(14)에 의해 보지된 기판(S)을, 반송방향을 따라서 반송한다. 또한, 기판 처리 장치(1)는 기판(S)의 반송 중에 조정 공정을 실행하여도 좋다.Returning to FIG. 3 , the substrate processing apparatus 1 executes a conveyance process (S102). The substrate processing apparatus 1 conveys the board|substrate S held by the holding
기판 처리 장치(1)는 도포 공정을 실행한다(S103). 기판 처리 장치(1)는, 반송방향을 따라서 반송하는 기판(S)에 도포부(5)로부터 기능액을 토출하여, 기판(S)에 기능액을 도포한다. 기능액이 도포된 기판(S)은 부상 스테이지(2)로부터 반출된다.The substrate processing apparatus 1 performs a coating process (S103). The substrate processing apparatus 1 discharges the functional liquid from the
<효과><Effect>
실시형태에 따른 반송 장치(4)를 갖지 않는 비교예에 따른 기판 처리 장치에서는, 예를 들면, 좌우방향에 있어서의 보지부의 위치를 조정하는 조정 기구가, 이동부의 상방에 마련된다. 그 때문에, 비교예에 따른 기판 처리 장치는 상하방향에 있어서, 이동부로부터 기판까지의 거리가 길어져, 이동부의 전후방향에 있어서의 위치를 조정하는 기구에 의해 생긴 오차에 기인하는 기판의 위치 편차가 커진다. 즉, 비교예에 따른 기판 처리 장치는, 기판 반송에 있어서의 오차가 커진다.In the substrate processing apparatus according to the comparative example which does not have the
기판 처리 장치(1)는 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)과, 반송 장치(4)와, 도포부(5)(가공부의 일 예)를 구비한다. 가이드 레일(3)은 기판(S)의 반송방향을 따라서 연장된다. 반송 장치(4)는 기판(S)을 반송방향을 따라서 반송한다. 도포부(5)는 반송방향을 따라서 반송되는 기판(S)에 가공 처리를 실시한다. 구체적으로는, 도포부(5)는 기판(S)에 기능액을 도포한다. 반송 장치(4)는 보지부(14)와, 이동부(10)와, 조정부(11a, 11b)를 구비한다. 보지부(14)는 기판(S)을 보지한다. 이동부(10)는 보지부(14)를 지지하면서, 가이드 레일(3)을 따라서 이동한다. 조정부(11a, 11b)는 반송방향으로 좌우방향(직교하는 방향의 일 예)에 있어서의 이동부(10)의 위치를 조정하며, 적어도 일부가 이동부(10)와 동일한 수평면에 마련된다.The substrate processing apparatus 1 is equipped with the guide rail 3 (an example of a guide part), the
이에 의해, 기판 처리 장치(1)는 상하방향에 있어서, 이동부(10)로부터 기판(S)까지의 거리를 짧게 할 수 있어서, 구동부(12)로부터 기판(S)까지의 거리를 짧게 할 수 있다. 그 때문에, 기판 처리 장치(1)는 구동부(12)에 있어서의 오차에 기인하는 기판(S)의 위치 편차를 억제할 수 있다. 즉, 기판 처리 장치(1)는 기판 반송에 있어서의 오차를 저감할 수 있다. 또한, 기판 처리 장치(1)는 장치 전체의 높이를 낮게 할 수 있다.Accordingly, the substrate processing apparatus 1 can shorten the distance from the moving
또한, 기판 처리 장치(1)는 기판(S)의 근방, 예를 들면, 기판(S)의 바로 아래에 조정부(11a, 11b)가 배치되는 것을 방지할 수 있어서, 조정부(11a, 11b)의 발열에 의한 기판(S)으로의 영향을 억제할 수 있다. 그 때문에, 기판 처리 장치(1)는, 조정부(11a, 11b)의 발열에 의해 기판(S)의 상태가 변화하는 것을 억제하여, 기판 반송에 있어서의 오차를 저감할 수 있다.In addition, the substrate processing apparatus 1 can prevent the
반송 장치(4)는 구동부(12)를 구비한다. 구동부(12)는 이동부(10)에 접속되는 아암(12a)을 가지며, 아암(12a)을 거쳐서 이동부(10)를 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)을 따라서 이동시킨다. 아암(12a)은 상하방향(높이방향의 일 예)에 있어서 이동부(10)와 중복된다.The conveying
이에 의해, 기판 처리 장치(1)는 상하방향에 있어서, 아암(12a)과 이동부(10)가 중복되는 개소에서 아암(12a)과 이동부(10)를 접속할 수 있다. 그 때문에, 기판 처리 장치(1)는 아암(12a)과 이동부(10)의 접속에 의해, 구동부(12)로부터 이동부(10)까지의 높이가 높아지는 것을 억제할 수 있다. 즉, 기판 처리 장치(1)는 이동부(10)로부터 기판(S)까지의 거리를 짧게 할 수 있어서, 기판(S)의 위치 편차를 억제할 수 있다. 따라서, 기판 처리 장치(1)는 기판 반송에 있어서의 오차를 저감할 수 있다.Thereby, the substrate processing apparatus 1 can connect the
이동부(10)는 한쌍의 측벽부(10a, 10b)를 구비한다. 한쌍의 측벽부(10a, 10b)는 좌우방향(반송방향에 직교하는 방향의 일 예)에 있어서의 가이드 레일(3)(가이드부의 일 예)의 한쌍의 측면(3a, 3b)을 마주본다. 조정부(11a, 11b)는 한쌍의 측면(3a, 3b)과, 한쌍의 측벽부(10a, 10b) 사이에 각각 마련된다.The moving
이에 의해, 기판 처리 장치(1)는 좌우방향에 있어서의 이동부(10)의 위치를 각 조정부(11a, 11b)에 의해 조정할 수 있으며, 좌우방향에 있어서의 이동부(10)의 위치, 즉, 기판(S)의 위치를 정밀도 양호하게 조정할 수 있다.Thereby, the substrate processing apparatus 1 can adjust the position of the moving
반송 장치(4)는 회동부(15)를 구비한다. 회동부(15)는 보지부(14)를 이동부(10)에 대해 회동 가능하게 지지한다. 반송 장치(4)는 이동부(10), 조정부(11a, 11b), 및 회동부(15)에 의해 반송방향에 대한 기판(S)의 방향을 조정한다.The conveying
이에 의해, 기판 처리 장치(1)는 구동부(12)에 의해 전후방향에 있어서의 이동부(10)의 위치를 조정하여, 조정부(11a, 11b)에 의해 좌우방향에 있어서의 이동부(10)의 위치를 조정하는 것에 의해, 반송방향에 대한 기판(S)의 방향을 조정할 수 있다.Thereby, the substrate processing apparatus 1 adjusts the position of the moving
기판 처리 장치(1)는 부상 스테이지(2)(스테이지부의 일 예)를 구비한다. 부상 스테이지(2)는 보지부(14)에 의해 보지된 기판(S)에 대해 하방으로부터 가스를 불어넣어, 기판(S)의 부상고를 조정한다. 반송 장치(4)는 부상 스테이지(2)에 의해 부상고가 조정된 기판(S)을 반송방향을 따라서 이동시킨다. 도포부(5)는 부상 스테이지(2)에 의해 부상고가 조정된 기판(S)에 기능액을 도포한다.The substrate processing apparatus 1 is provided with the floating stage 2 (an example of a stage part). The floating
이에 의해, 기판 처리 장치(1)는 부상 스테이지(2)에 의해 기판(S)의 부상고를 조정하고, 도포부(5)에 의해 기판(S)에 기능액을 도포하는 경우에, 기판(S)에 대한 기능액의 도포 정밀도를 향상시킬 수 있다.Accordingly, the substrate processing apparatus 1 adjusts the floating height of the substrate S by the floating
또한, 기판 처리 장치(1)는 부상 스테이지(2)에 의해 기판(S)의 부상고를 조정하고, 반송 장치(4)에 의해 기판(S)을 반송하는 것에 의해, 예를 들면, 기판(S)의 하면 전체를 그라나이트로 지지하지 않고, 기판(S)을 반송할 수 있다. 그 때문에, 기판 처리 장치(1)는 대형 그라나이트를 이용하지 않고 기판(S)을 반송할 수 있어서, 비용을 저감할 수 있다.Moreover, the substrate processing apparatus 1 adjusts the floating height of the board|substrate S with the floating
도포부(5)는 기판(S)에 기능액을 토출하는 것에 의해, 기능액을 상기 기판(S)에 도포한다.The
이에 의해, 기판 처리 장치(1)는 잉크젯 방식에 의해 기판(S)에 잉크를 도포하는 경우에, 기판(S)에 대한 잉크의 도포 정밀도를 향상시킬 수 있다.Thereby, when apply|coating ink to the board|substrate S by the inkjet method, the substrate processing apparatus 1 can improve the application|coating precision of the ink with respect to the board|substrate S.
<변형예><Modified example>
변형예에 따른 기판 처리 장치(1)는 도 5에 도시하는 바와 같이, 보지부(14)에 단차부(14b)를 마련하고, 단차부(14b)에 흡착 패드(14a)를 마련하여도 좋다. 도 5는 변형예에 따른 기판 처리 장치(1)의 반송 장치(4)의 일부를 도시하는 개략 단면도이다. 단차부(14b)는 회동부(15)의 축부(15a)가 장착되는 개소보다 높이가 낮아지도록 형성된다. 이에 의해, 변형예에 따른 기판 처리 장치(1)는 축부(15a)의 장착 높이를 확보하면서, 구동부(12)로부터 기판(S)까지의 거리를 짧게 할 수 있다. 그 때문에, 변형예에 따른 기판 처리 장치(1)는, 구동부(12)에 있어서의 오차에 기인하는 기판(S)의 위치 편차를 억제할 수 있어서, 기판 반송에 있어서의 오차를 저감할 수 있다.In the substrate processing apparatus 1 according to the modification, as shown in FIG. 5 , the
상기 실시형태에서는, 기판 처리 장치(1)가 도포부(5)를 구비하고 있으며, 도포부(5)가 잉크젯 방식으로 기판(S)에 묘화를 실행하는 예에 대해 설명했지만, 기판(S)에 대한 가공 처리는 이것으로 한정되지 않는다. 예를 들면, 기판(S)에 대해 광을 조사하는 처리나 제거액을 토출하는 처리를 실행하는 것에 의해, 기판(S)의 표면을 개질 또는 표층의 막을 제거하는 등, 각종 가공 처리를 실행하는 경우에 있어서도, 본 개시의 기술은 적용 가능하다.Although the said embodiment demonstrated the example in which the substrate processing apparatus 1 is equipped with the
또한, 금회 개시된 실시형태는 모든 점에서 예시이며, 제한적인 것은 아니라고 고려되어야 한다. 예를 들면, 상기한 실시형태는 다양한 형태로 구현될 수 있다. 또한, 상기의 실시형태는 첨부의 청구범위 및 그 취지를 일탈하는 일이 없이, 여러가지 형태로 생략, 치환, 변경되어도 좋다.In addition, it should be considered that embodiment disclosed this time is an illustration in every point, and is not restrictive. For example, the above-described embodiment may be implemented in various forms. In addition, said embodiment may abbreviate|omit, substitute, and change in various forms, without deviating from the attached claim and the meaning.
1: 기판 처리 장치
2: 부상 스테이지(스테이지부)
3: 가이드 레일(가이드부)
3a, 3b: 측면
4: 반송 장치
5: 도포부
6: 메인터넌스부
7: 제어 장치
10: 이동부
11a, 11b: 조정부
12: 구동부
12a: 아암
13a 내지 13c: 부상 패드
14: 보지부
14a: 흡착 패드
15: 회동부
10a, 10b: 측벽부
10c: 상벽부1: substrate processing apparatus 2: floating stage (stage part)
3: guide rail (guide part) 3a, 3b: side
4: conveying device 5: applicator
6: Maintenance unit 7: Control device
10: moving
12:
13a to 13c: injury pad 14: holding part
14a: suction pad 15: rotating part
10a, 10b:
Claims (8)
상기 기판을 상기 반송방향을 따라서 반송하는 반송 장치와,
상기 반송방향을 따라서 반송되는 상기 기판에 가공 처리를 실시하는 가공부를 구비하며,
상기 반송 장치는,
상기 기판을 보지하는 보지부와,
상기 보지부를 지지하면서, 상기 가이드부를 따라서 이동하는 이동부와,
상기 반송방향에 직교하는 방향에 있어서의 상기 이동부의 위치를 조정하고, 적어도 일부가 상기 이동부와 동일한 수평면에 마련되는 조정부를 구비하는
기판 처리 장치.a guide portion extending along the transport direction of the substrate;
a transport device for transporting the substrate along the transport direction;
and a processing unit for processing the substrate conveyed along the conveyance direction;
The conveying device is
a holding part for holding the substrate;
a moving part moving along the guide part while supporting the holding part;
and an adjustment unit for adjusting a position of the moving unit in a direction orthogonal to the conveying direction, at least a part of which is provided on the same horizontal plane as the moving unit;
substrate processing equipment.
상기 이동부는 상기 직교하는 방향에 있어서의 상기 가이드부의 한쌍의 측면을 마주보는 한쌍의 측벽부를 구비하고,
상기 조정부는 상기 한쌍의 측면과 상기 한쌍의 측벽부 사이에 각각 마련되는
기판 처리 장치.The method of claim 1,
The moving part is provided with a pair of side wall parts facing the pair of side surfaces of the guide part in the orthogonal direction,
The adjustment unit is provided between the pair of sidewalls and the pair of sidewalls, respectively.
substrate processing equipment.
상기 반송 장치는, 상기 이동부에 접속되는 아암을 가지며, 상기 아암을 거쳐서 상기 이동부를 상기 가이드부를 따라서 이동시키는 구동부를 구비하고,
상기 아암은 높이방향에 있어서 상기 이동부와 중복되는
기판 처리 장치.3. The method according to claim 1 or 2,
The conveying device includes an arm connected to the moving unit, and a driving unit configured to move the moving unit along the guide unit via the arm;
The arm overlaps the moving part in the height direction.
substrate processing equipment.
상기 반송 장치는, 상기 보지부를 상기 이동부에 대해 회동 가능하게 지지하는 회동부를 구비하고,
상기 반송 장치는 상기 구동부, 상기 조정부, 및 상기 회동부에 의해 상기 반송방향에 대한 상기 기판의 방향을 조정하는
기판 처리 장치.4. The method of claim 3,
The conveying apparatus is provided with a rotation part which rotatably supports the said holding part with respect to the said moving part,
The conveying apparatus adjusts the direction of the substrate with respect to the conveying direction by the driving unit, the adjusting unit, and the rotating unit.
substrate processing equipment.
상기 가공부는 상기 기판에 기능액을 도포하는 도포부를 포함하는
기판 처리 장치.5. The method according to any one of claims 1 to 4,
The processing unit includes an applicator for applying a functional liquid to the substrate
substrate processing equipment.
상기 보지부에 의해 보지된 상기 기판에 대해 하방으로부터 가스를 불어넣어, 상기 기판의 부상고를 조정하는 스테이지부를 구비하고,
상기 반송 장치는, 상기 스테이지부에 의해 상기 부상고가 조정된 상기 기판을 상기 반송방향을 따라서 이동시키고,
상기 도포부는, 상기 스테이지부에 의해 상기 부상고가 조정된 상기 기판에 상기 기능액을 도포하는
기판 처리 장치.6. The method of claim 5,
a stage unit for adjusting the floating height of the substrate by blowing gas from below with respect to the substrate held by the holding unit;
The conveying apparatus moves the board|substrate whose floating height is adjusted by the said stage part along the said conveyance direction,
The application unit applies the functional liquid to the substrate whose floating height is adjusted by the stage unit.
substrate processing equipment.
상기 도포부는 상기 기판에 상기 기능액을 토출하는 것에 의해, 상기 기능액을 상기 기판에 도포하는
기판 처리 장치.7. The method according to claim 5 or 6,
The application unit applies the functional liquid to the substrate by discharging the functional liquid to the substrate.
substrate processing equipment.
상기 기판의 반송방향을 따라서 연장되는 가이드부를 따라서 이동하며, 또한, 상기 보지부를 지지하는 이동부의 위치를, 적어도 일부가 상기 이동부와 동일한 수평면에 마련되는 조정부에 의해, 상기 반송방향에 직교하는 방향으로 조정하는 조정 공정과,
상기 반송방향을 따라서 반송되는 상기 기판에 가공 처리를 실시하는 가공 공정을 포함하는
기판 처리 방법.A holding step of holding the substrate by a holding unit;
A direction orthogonal to the conveying direction by an adjustment part which moves along a guide part extending along the conveyance direction of the board|substrate, and supports the said holding|maintenance part, at least partly by the adjustment part provided in the same horizontal plane as the said moving part. an adjustment process to adjust with
and a processing step of subjecting the substrate to be transported along the transport direction.
Substrate processing method.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2020-111972 | 2020-06-29 | ||
JP2020111972A JP2022011083A (en) | 2020-06-29 | 2020-06-29 | Substrate processing device and substrate processing method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220001471A true KR20220001471A (en) | 2022-01-05 |
Family
ID=79274271
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020210078603A KR20220001471A (en) | 2020-06-29 | 2021-06-17 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2022011083A (en) |
KR (1) | KR20220001471A (en) |
CN (1) | CN113926615A (en) |
TW (1) | TW202220090A (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023156645A (en) * | 2022-04-13 | 2023-10-25 | 東京エレクトロン株式会社 | Droplet discharge device, droplet discharge method, and storage medium |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018126718A (en) | 2017-02-10 | 2018-08-16 | 東京エレクトロン株式会社 | Application device and application method |
-
2020
- 2020-06-29 JP JP2020111972A patent/JP2022011083A/en active Pending
-
2021
- 2021-06-16 TW TW110121889A patent/TW202220090A/en unknown
- 2021-06-17 KR KR1020210078603A patent/KR20220001471A/en unknown
- 2021-06-22 CN CN202110691128.7A patent/CN113926615A/en active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018126718A (en) | 2017-02-10 | 2018-08-16 | 東京エレクトロン株式会社 | Application device and application method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2022011083A (en) | 2022-01-17 |
TW202220090A (en) | 2022-05-16 |
CN113926615A (en) | 2022-01-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4652351B2 (en) | Substrate support apparatus and substrate support method | |
JP2007150280A (en) | Substrate supporting apparatus, substrate supporting method, substrate processing apparatus, substrate processing method, and method of manufacturing display apparatus constitutional member | |
JP4349528B2 (en) | Substrate transport device, substrate control method, color filter manufacturing method, electronic circuit manufacturing method | |
JP2008147291A (en) | Substrate supporting apparatus, substrate supporting method, substrate working apparatus, substrate working method, and manufacturing method of display device component | |
TWI743614B (en) | Substrate processing device and substrate processing method | |
JP5386238B2 (en) | Panel substrate transfer device and display panel module assembly device | |
JP2009295950A (en) | Scan exposure equipment and scan exposure method | |
KR20070102933A (en) | Substrate processing apparatus | |
KR20220001471A (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
CN108701635B (en) | Substrate floating and conveying device | |
JP4494910B2 (en) | Surface mount equipment | |
JP2022188851A (en) | Substrate transport device, coating processing device, substrate transport method, and substrate transport program | |
JPH11227943A (en) | Substrate transfer device | |
CN216039273U (en) | Scribing device | |
WO2022210940A1 (en) | Substrate conveying device, coating processing device, and substrate conveying method | |
JP5028195B2 (en) | Substrate processing apparatus and substrate processing method | |
JP2023074620A (en) | Substrate processing apparatus, substrate processing method and substrate processing program | |
JP2023172594A (en) | Substrate conveyance device, substrate conveyance method, and storage medium | |
WO2023199749A1 (en) | Droplet discharge device, droplet discharge method, and storage medium | |
TW202301531A (en) | Substrate transfer device, coating processing device, substrate transfer method, and substrate transfer program | |
JP2011033953A (en) | Substrate conveying device and display panel module assembling device | |
JP2024034622A (en) | Droplet discharge device, droplet discharge method, and storage medium | |
JP2008147292A (en) | Substrate supporting apparatus, substrate supporting method, substrate working apparatus, substrate working method, and manufacturing method of display device component | |
CN111822234B (en) | Coating device and coating method | |
JP2012002994A (en) | Display panel assembling apparatus |