KR20210148244A - 일체화된 광센서를 가지는 비파괴 테스팅(ndt) 기반 셋업 - Google Patents
일체화된 광센서를 가지는 비파괴 테스팅(ndt) 기반 셋업 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20210148244A KR20210148244A KR1020217035213A KR20217035213A KR20210148244A KR 20210148244 A KR20210148244 A KR 20210148244A KR 1020217035213 A KR1020217035213 A KR 1020217035213A KR 20217035213 A KR20217035213 A KR 20217035213A KR 20210148244 A KR20210148244 A KR 20210148244A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- ndt
- inspection
- lighting
- destructive testing
- light
- Prior art date
Links
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 title claims abstract description 176
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 128
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 30
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 38
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 18
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 15
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 4
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 claims description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 3
- CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N Fe2+ Chemical compound [Fe+2] CWYNVVGOOAEACU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 2
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 238000004870 electrical engineering Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000011089 mechanical engineering Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 239000003208 petroleum Substances 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 238000013024 troubleshooting Methods 0.000 description 1
- 238000013316 zoning Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/33—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using ultraviolet light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8803—Visual inspection
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/91—Investigating the presence of flaws or contamination using penetration of dyes, e.g. fluorescent ink
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
Abstract
일체화된 광센서들을 가지는 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업을 구현하고 이용하기 위한 시스템 및 방법이 제공된다. 광센서들은 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 동안 (예를 들어, 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광과 관련된) 조명 관련 감지 데이터를 생성하도록 구성될 수 있으며, 상기 조명 관련 감지 데이터에 기초하여 검사가 관리 또는 제어될 수 있다.
Description
관련 출원들
이 국제출원은 2019년 4월 9일에 출원된 미국 특허출원 제16/379,449호(발명의 명칭: "NON-DESTRUCTIVE TESTING (NDT) BASED SETUPS WITH INTEGRATED LIGHT SENSORS")에 대해 우선권을 주장한다. 미국 특허출원 제16/379,449호의 전체 내용은 참조로 본 명세서에 포함된다.
비파괴 테스팅(non-destructive testing, NDT)은 피검사 항목을 손상시키거나 변경하지 않고 재료, 구성요소, 및/또는 시스템의 속성 및/또는 특성을 평가하는 데 사용된다. 비파괴 테스팅은 검사 중인 물품을 영구적으로 변경하지 않기 때문에 제품 평가, 고장 수리 및 연구에 사용될 때 비용 및/또는 시간을 절약할 수 있게 하는 매우 가치 있는 기술이다. 자주 사용되는 비파괴 테스팅 방법에는 자기 입자 검사(magnetic-particle inspections), 와전류 테스트(eddy-current testing), 액체(또는 염료) 침투 검사(penetrant inspection), 방사선 검사(radiographic inspection), 초음파 테스트(ultrasonic testing) 및 육안 테스트(visual testing)가 있다. 비파괴 테스팅(NDT)은 기계 공학, 석유 공학, 전기 공학, 시스템 공학, 항공 공학, 의학, 예술 등과 같은 분야에서 일반적으로 사용된다.
일부 경우에 전용 재료 및/또는 제품이 비파괴 테스팅에 사용될 수 있다. 예를 들어, 특정 유형의 물품에 대한 비파괴 테스팅은 테스트될 물품 또는 부품에 비파괴 테스팅을 수행하도록 구성된 재료를 (예를 들어, 뿌리기(spraying on), 붓기(pouring into), 통과시키기(passing through) 등에 의해) 적용하는 것을 수반할 수 있다. 이와 관련하여, 그러한 재료(이하 "NDT 재료" 또는 "NDT 제품"이라고 지칭됨)는 비파괴 테스팅에 적합한 - 예를 들어, 검사될 물품의 결함, 불규칙성 및/또는 불완전성(이하 집합적으로 "결함"으로 지칭됨)을 검출하도록 허용하는 - 특정 자기적, 시각적 등 특성을 갖는 것에 기반하여 선택 및/또는 제조될 수 있다.
NDT 기반 검사의 한 형태 또는 유형은 조명 기반(lighting-based) NDT 검사이다. 조명 기반 NDT 검사에서, 검사는 결함을 검사하기 위해 (예를 들어, 검사될 물품에 적용된 NDT 재료와 함께) 빛을 사용하여 시각적으로(visually) 수행될 수 있다. 이와 관련하여, 결함은, 예를 들어, 색상 대비(color contrast) 또는 일부 광 관련 거동(light-related behavior)에 기초하여 시각적으로 식별될 수 있다. 이러한 조명 기반 NDT 검사에 사용되는 빛은 이용가능한 주변광(ambient light)일 수 있다. 대안적으로 또는 추가적으로, 광원(예를 들어, 특수 램프)이 검사를 수행하기 위한 특정 기준을 충족하는 빛을 제공하기 위해 사용될 수 있다. 그러나 조명 기반 NDT 검사에는 고유한 일련의 문제가 있다.
종래 접근법들의 추가적인 제한 및 결점은, 그러한 접근법들과 도면들을 참조하여 본 개시의 나머지 부분에서 설명되는 본 방법 및 시스템의 일부 양태들과의 비교를 통해 이 기술분야의 통상의 기술자에게 명백해질 것이다.
본 개시의 양태는 제품 테스트 및 검사에 관한 것이다. 보다 구체적으로, 본 개시에 따른 다양한 구현은 실질적으로 도면들 중 적어도 하나에 의해 예시되거나 그와 관련하여 설명된 바와 같이, 그리고 청구범위에 더욱 완전하게 명시된 바와 같이, 일체화된(integrated) 광센서들을 가지는 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업을 구현 및 작동시키기 위한 방법 및 시스템에 관한 것이다.
본 개시의 이들 및 다른 이점, 양태 및 신규한 특징 뿐만 아니라, 그 예시된 구현의 세부사항들이 다음의 설명 및 도면으로부터 더욱 완전히 이해될 것이다.
도 1은 본 개시에 따른 작업을 위해 구성될 수 있는 예시적인 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 셋업을 도시한다.
도 2는 본 개시에 따라 일체화된 광센서들을 가지는 예시적인 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 셋업을 도시한다.
도 3은 본 개시의 양태들에 따라 일체화된 광센서들과 함께 검사 램프의 사용을 포함하는 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업에서 사용하기 위한 예시적인 컨트롤러를 도시한다.
도 4는 본 개시의 양태들에 따라 일체화된 광센서들을 가지는 NDT 검사 셋업에서 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT)을 수행하기 위한 예시적인 프로세스의 흐름도를 도시한다.
도 2는 본 개시에 따라 일체화된 광센서들을 가지는 예시적인 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 셋업을 도시한다.
도 3은 본 개시의 양태들에 따라 일체화된 광센서들과 함께 검사 램프의 사용을 포함하는 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업에서 사용하기 위한 예시적인 컨트롤러를 도시한다.
도 4는 본 개시의 양태들에 따라 일체화된 광센서들을 가지는 NDT 검사 셋업에서 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT)을 수행하기 위한 예시적인 프로세스의 흐름도를 도시한다.
본 개시에 따른 다양한 구현은, 특히 일체화된 광센서들을 가지는 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업을 구현 및 작동시킴으로써 개선되고 최적화된 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 제공하는 것에 관한 것이다. 이와 관련하여, 위에서 언급된 바와 같이, 조명 기반 NDT 검사에서 검사는, 전형적으로 결함을 검사하기 위해 (예를 들면, 검사될 물품에 적용되는 NDT 재료와 함께) 사용되는 빛을 사용하여 시각적으로 수행될 수 있다. 예를 들어, 결함은 색상 대비 또는 일부 광 관련 거동에 기반하는 것과 같이 특정의 고유하고 식별가능한 특성을 나타내는 것에 기반하여 시각적으로 식별될 수 있다. 그러나 조명 기반 NDT 검사에는 그 자체의 고유한 일련의 문제가 있다. 이와 관련하여, 기존의 솔루션은 조명 기반 NDT 검사의 효율성 및/또는 비용을 방해할 수 있는 특정 단점이 있다. 예를 들어, 기존의 솔루션은 검사에 영향을 미칠 수 있는 조명 조건(lighting conditions), 특히 검사 동안 존재할 수 있는(또는 요인이 될 수 있는) 조건을 고려하지 않을 수 있다 - 즉, 검사 시작 후에, 적어도 검사를 중단할 것을 요구하지 않거나 또는 아니면 검사 환경을 변경함. 따라서, 이러한 단점 중 적어도 일부를 극복하는 NDT 관련 기계 또는 시스템이 바람직할 수 있다.
따라서, 본 개시에 따른 구현은 현재의 조명 조건을 모니터링하고 고려하는 것을 허용하는 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업(setups)을 제공하는 것과 같은 방식에 의해 이러한 문제 및 단점을 해결한다.
본 명세서에서 사용된 용어 "회로(circuits)" 및 "회로부(circuitry)"는 물리적 전자 구성요소(예를 들어, 하드웨어), 및 하드웨어를 구성할 수 있고 하드웨어에 의해 실행될 수 있고, 또는 그 외 하드웨어와 연관될 수 있는 임의의 소프트웨어 및/또는 펌웨어("코드")를 지칭한다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, 예를 들어, 특정 프로세서 및 메모리(예를 들어, 휘발성 또는 비휘발성 메모리 디바이스, 일반적인 컴퓨터 판독가능 매체 등)는 코드의 제1 하나 이상의 라인을 실행할 때의 제1 "회로(circuit)"를 포함할 수 있고, 코드의 제2 하나 이상의 라인을 실행할 때의 제2 "회로(circuit)"를 포함할 수 있다. 부가적으로, 회로(circuit)는 아날로그 및/또는 디지털 회로부(circuitry)를 포함할 수 있다. 이러한 회로부는, 예를 들어, 아날로그 및/또는 디지털 신호로 작동할 수 있다. 회로는 단일의 디바이스 또는 칩에, 단일의 마더보드(motherboard) 상에, 단일의 섀시(chassis)에, 단일의 지리적 위치의 복수의 인클로저(enclosures)에, 복수의 지리적 위치에 걸쳐 분산된 복수 인클로저 등에 존재할 수 있다는 것이 이해되어야 한다. 유사하게, 용어 "모듈"은, 예를 들어, 물리적 전자 구성요소(예를 들어, 하드웨어) 및 하드웨어를 구성할 수 있고 하드웨어에 의해 실행될 수 있고, 및/또는 그 외 하드웨어와 연관될 수 있는 임의의 소프트웨어 및/또는 펌웨어("코드")를 지칭할 수 있다.
본 명세서에서 사용된 회로부 또는 모듈은 (예를 들어, 사용자-구성가능 설정, 공장 트림(trim) 등에 의해) 기능의 수행이 디스에이블되거나 인에이블되지 않았는지 여부와 관계없이, 회로부 또는 모듈이 상기 기능을 수행하는데 필요한 하드웨어 및 코드(필요한 경우)를 포함할 때마다 상기 기능을 수행하도록 "작동가능(operable)"하다.
본 명세서에서 사용된 "및/또는"은 "및/또는"에 의해 결합된 리스트의 항목들 중 임의의 하나 이상을 의미한다. 예를 들어, "x 및/또는 y"는 3개 원소의 집합 {(x), (y), (x, y)} 중 임의의 원소를 의미한다. 즉, "x 및/또는 y"는 "x 및 y 중 하나 또는 둘 다"를 의미한다. 다른 예로서, "x, y 및/또는 z"는 7개 원소의 집합 {(x), (y), (z), (x, y), (x, z), (y , z), (x, y, z)} 중 임의의 원소를 의미한다. 즉, "x, y 및/또는 z"는 "x, y 및 z 중 하나 이상"을 의미한다. 본 명세서에서 사용된 "예시적인(exemplary)"이라는 용어는 비제한적인 예(examples), 경우(instances), 실례(illustrations)로서 기능하는 것을 의미한다. 본 명세서에서 사용된 용어 "예를 들어(for example)" 및 "예를 들어(e.g.)"는 하나 이상의 비제한적인 예, 경우, 또는 실례의 리스트를 도입한다.
본 명세서에서 사용된 "검사 구성요소(inspection component)"는 물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 수행하거나 용이하게 하도록 구성된 기계 또는 장치의 임의의 구성요소를 포함한다. 예를 들어, "검사 구성요소"는, 기계 또는 장치 전체의 구조 또는 프레임 요소 및/또는 검사가 수행되는 셋업, 검사되는 물품을 고정(및 검사를 수행하기 위한 특정 방식으로 이를 배치)하도록 구성된 홀더 구성요소, (자화 기반 검사에서) 검사되는 물품을 자화하도록 구성된 자화 구성요소, (예를 들어, 침투 기반 검사에서) 비파괴 테스팅(NDT) 재료를 물품에 적용하도록 구성된 적용 구성요소, 검사 중에 빛을 방출하도록 구성된 광원, 등 중에서 임의의 하나를 포함할 수 있다.
본 개시에 따른 예시적인 비파괴 테스팅(NDT) 장치는 물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 수행하도록 구성된 하나 이상의 검사 구성요소; 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련된 감지 데이터(sensory data)를 생성하도록 구성된 하나 이상의 광센서; 및 하나 이상의 회로로서, 상기 감지 데이터를 프로세싱하고; 상기 프로세싱에 기초하여, 상기 물품이 검사되고 있는 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련된 조명 데이터를 생성하도록 구성된 하나 이상의 회로를 포함할 수 있다.
예시적인 구현에서, 장치는 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 동안 시스템의 조작자에게 피드백을 제공하도록 구성된 피드백 구성요소를 포함할 수 있다. 상기 피드백 구성요소는 시각적 출력 디바이스를 포함할 수 있다.
예시적인 구현에서, 피드백 구성요소는 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련된 상기 조명 데이터에 기초하여 조명 관련 피드백을 제공하도록 구성될 수 있다. 상기 조명 관련 피드백은 상기 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광 중 하나 또는 둘 모두의 광 강도(light intensity) 레벨을 포함할 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로는 상기 조명 데이터에 기초하여 상기 조명 관련 피드백을 생성하도록 구성될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 상기 피드백 구성요소에 포함될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나의 광센서는 시스템의 적어도 하나의 다른 구성요소로 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성될 수 있다. 상기 적어도 하나의 광센서는 유선 연결 및/또는 무선 연결을 통해 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 시스템의 적어도 하나의 다른 구성요소로 상기 감지 데이터 및/또는 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 유선 연결 및/또는 무선 연결을 통해 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 제어하도록 구성될 수 있고, 상기 제어는 특정 조명 관련 기준에 기초하여 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 중단하는 것을 포함할 수 있다. 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터에 기초하여 상기 조명 관련 기준을 평가하도록 구성될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나는 고정될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나는 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사의 시작 전에 시스템의 조작자가 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나를 적응적으로 및/또는 선택적으로 배치할 수 있게 하기 위해 이동가능할 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 상기 하나 이상의 광센서 중 하나에 포함될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 상기 하나 이상의 검사 구성요소 중 적어도 하나에 포함될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 검사 구성요소는 조명 기반 자기 입자 검사(magnetic particle inspection, MPI)를 수행하도록 구성될 수 있다.
예시적인 구현에서, 상기 하나 이상의 검사 구성요소는 조명 기반 액체 침투 검사(liquid penetrant inspection, LPI)를 수행하도록 구성될 수 있다.
본 개시에 따른 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 위한 예시적인 방법은, 물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 위해 물품을 설치(setting up)하는 단계 - 상기 설치는 특정 위치에 상기 물품을 고정하는 단계, 및 결함에 대응하는 상기 물품의 영역에서 하나 이상의 독특한 광 관련 특성을 나타내도록 구성된 비파괴 테스팅(NDT) 관련 재료를 상기 물품에 적용하는 단계를 포함함 -; 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광과 관련한 감지 데이터를 생성하도록 구성된 하나 이상의 광센서를 설치하는 단계 - 상기 설치는 배치(placing)하는 단계 및/또는 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나의 포지셔닝(positioning)을 조정하는 단계를 포함함 -; 및 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련한 조명 데이터에 기초하여 상기 물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 수행하는 단계 - 상기 조명 데이터는 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 동안 상기 하나 이상의 광센서에 의해 생성된 상기 감지 데이터에 기초하여 생성될 수 있음 - 를 포함할 수 있다.
도 1은 본 개시에 따른 작업을 위해 구성될 수 있는 예시적인 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 셋업(setup)을 도시한다. 조명 기반 NDT 검사를 수행하는 데 사용될 수 있는 NDT 셋업(100)이 도 1에 도시되어 있다.
NDT 셋업(100)은 특정 NDT 검사 방법론 및/또는 기술에 따라, 물품(예를 들어, 기계 부품 등)의 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 위해 구성된 다양한 구성요소를 포함할 수 있다. 구체적으로, NDT 셋업(100)은 조명 기반 NDT 검사를 위해 구성될 수 있다. 이와 관련하여, 조명 기반 NDT 검사에서 검사되는 물품의 결함은 특히 빛 - 예를 들어, 주변광 또는 검사되는 물품에 투사되는 광 - 을 사용하여 시각적으로 검출될 수 있다.
따라서, 일부 경우에 조명 기반 NDT 검사는 특정 방식으로 빛을 방출하도록 구성될 수 있는 특별히 설계된 광원(예를 들어, 램프)의 사용을 수반할 수 있다. 이와 관련하여, 상기 방출되는 빛은 백색 광(white light), 다른 유형의 광(예를 들어, 자외선(UV) 광), 또는 이들의 임의의 조합일 수 있다. 일부 경우에, 조명 기반 NDT 검사는 검사될 물품에 적용되는 NDT 재료의 사용을 수반할 수 있다. 이와 관련하여, 결함은, 예를 들어, 상기 적용된 NDT 재료에 의해 발생되거나 강화될 수 있는 색상 대비 또는 다른 광 관련 거동에 기초하여 시각적으로 식별될 수 있다.
다양한 조명 기반 NDT 검사 기술이 사용된다. 두 가지 주요 기술은 "자기 입자 검사(magnetic particle inspection)"(MPI) 기술과 "액체 침투 검사(liquid penetrant inspection)"(LPI) 기술로, MPI 기술은 일반적으로 철(ferrous) 재료에 사용되며 LPI 기술은 일반적으로 비철(non-ferrous) 재료(예를 들어, 알루미늄, 황동(brass) 등)에 사용된다. 두 기술 모두에서 목표는 상기 물품이 (예를 들어, 광원 아래에서) 시각적으로 검사될 때 결함을 가시적으로 만드는 것이다. 따라서, 다양한 구현들에서 NDT 셋업(100)은 MPI 기반 검사 및/또는 LPI 기반 검사를 수행하도록 구성될 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, NDT 셋업(100)은 광원(예를 들어, 램프)(110)을 포함하며, 이는 이들 물품 상에 램프(110)에 의해 방출되거나 투사되는 광을 사용하여 물품의 비파괴 테스팅(NDT) 검사에 사용될 수 있다. 램프(110)는 지지 구조체(120)에 부착되어 검사 표면(130) 상으로 하향으로 광을 투사할 수 있으며, 상기 램프(110)에 의해 투사되는 광을 이용하여 물품이 검사될 수 있도록, 상기 검사 표면 상에 물품(예를 들어, 기계 부품)(140)이 홀더(150)를 사용하는 것과 같은 방식으로 특정 위치에 고정되어 배치될 수 있다.
NDT 셋업(100)은 조명 기반 NDT 검사에서 단독으로 또는 백색 광(또는 가시광)과 조합하여, 자외선(UV)을 사용하도록 구성될 수 있다. 따라서, 램프(110)는 자외선(UV) 광을 생성 및/또는 투사하도록 구성될 수 있다. 일부 경우에, 램프(110)는 또한 백색 광(또는 가시광)을 방출할 수 있다. 대안으로 필요한 경우, 주변의 백색 광이 사용된다. 램프(110)는 임의의 적절한 광원일 수 있다. 일부 경우에, 램프(110)는 2018년 7월 30일에 출원된 미국 특허출원 제16/049,567호 (발명의 명칭: "Broad-Beam Ultraviolet (UV) Inspection Lamp For Use In Non-Destructive Testing (NDT)") 에 기술된 임의의 구현에 따라 구현될 수 있다.
성능을 향상시키기 위해(예를 들어, 결함을 검출하는 능력을 향상시키기 위해) 검사 인클로저(160)가 사용될 수 있다. 이와 관련하여, 검사 인클로저(160)는, 주변광을 차단하거나 그 외 제한하는 것과 같은 방식에 의해 검사를 위한 적절한 조명 환경에 사용될 수 있다. 이것은 NDT 셋업(110) 내의 대부분의 광이 램프(110)로부터 발생하는 것임을 보장하기 위해 수행될 수 있으며, 따라서 검사를 위한 제어된 조명 환경을 허용한다. 검사 인클로저(160)는, 예를 들어, 텐트형 구조체 또는 충분한 셰이딩(shading)을 제공하는 임의의 다른 구조체로서 구성될 수 있다. 또한, 검사 인클로저(160)는 - 예를 들어 사용자의 선호도, 주변 공간 등에 기반하여 - 조정가능할 수 있다.
일부 경우에, 조명 기반 NDT 검사의 성능은 특정 조명 관련 조건 및/또는 문제에 의해 부정적인 영향을 받을 수 있다. 예를 들어, 검사 인클로저(160)를 사용함에도 불구하고 (사용자에 의해 감지되지 않을 수도 있지만) 충분한 주변광이 검사 영역으로 누출될 수 있으며, 이는 그 안에서 수행되는 조명 기반 NDT 검사의 정확도 또는 신뢰도에 영향을 미칠 수 있다. 또한, 일부의 경우에 사용자에 의해 감지될 수 없는 광원(예를 들어, 램프(100))의 문제 또는 결함이 있을 수 있으며, 이는 그 안에서 수행되는 조명 기반 NDT 검사의 정확도 또는 신뢰도에 영향을 미칠 수 있다. 따라서, 조명 기반 NDT 검사는 이러한 조건을 처리하기 위한 조치를 포함함으로써 개선될 수 있다.
따라서, 본 개시에 따른 다양한 구현에서, 조명 기반 NDT 검사는 조명 조건을 모니터링하고, 사용자에게 통지하고 수정 조치를 취하는 등과 같이 그에 관련된 적절한 동작을 제공하기 위한 조치를 포함함으로써 개선될 수 있다.
일부 예시적인 구현에서, 이것은 NDT 셋업 내로 광센서를 편입함으로써 달성될 수 있다. 이러한 광센서는 고정(예를 들어, NDT 셋업에 존재하는 구성요소 중 일부에 빌트인(built-in)됨) 및/또는 이동가능하여, NDT 셋업 내에서 센서들을 배치할 위치를 결정함에 있어서 사용자 선호도, 검사(예를 들어, 검사되는 특정 물품)와 관련된 고유한 특성 등에 기초하는 것과 같이 사용자에게 약간의 유연성을 허용할 수 있다. 광센서는 검출된 조명 조건에 기초하여 감지 정보(sensory information)를 생성하도록 구성될 수 있다. 감지 정보는 그 다음 NDT 셋업 내에서 수행되는 조명 기반 NDT 검사를 개선시키는 데 사용될 수 있다.
예를 들어, 조명 관련 정보(예를 들어, 광 강도 데이터)는 감지 정보에 기초하여 획득될 수 있다. 상기 조명 관련 정보는 조명 기반 NDT 검사를 개선하는 데 사용될 수 있다. 예를 들어, 사용자가 신뢰할 수 있는 검사에 부합하는 광 조건(light conditions)을 확인할 수 있게 하기 위해 조명 관련 정보가 사용자에게 제공(예를 들어, 디스플레이)될 수 있다. 또한, 조명 관련 정보는 NDT 셋업(예를 들어, 램프) 내의 일부 다른 구성요소들을 제어하기 위한 제어 데이터로 사용될 수도 있다.
특정 예시적인 구현이 도 2와 관련하여 설명된다.
도 2는 본 개시에 따라 일체화된 광센서들을 가지는 예시적인 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 셋업을 도시한다. 도 2에는 조명 기반 NDT 검사를 수행하는 데 사용될 수 있는 NDT 셋업(200)이 도시되어 있다.
NDT 셋업(200)은 도 1과 관련하여 설명된 바와 같이 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 위해 구성된 다양한 구성요소를 포함할 수 있다. 이와 관련하여, NDT 셋업(200)은 MPI 조명 기반 검사 및/또는 LPI 조명 기반 검사를 수행하도록 구성될 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, NDT 셋업(200)은 검사되는 물품 상에 광을 방출 및/또는 투사하도록 구성될 수 있는 광원(예를 들어, 램프)(210)을 포함한다. 램프(210)는 도 1과 관련하여 설명된 램프(110)와 유사할 수 있다. 따라서, 램프(210)는 자외선(UV) 광을 생성 및 방출하도록 구성될 수 있다. 램프(210)는 검사 표면(230) 상으로 광을 방출 및/또는 투사하도록 NDT 셋업(200) 내에 배열될 수 있으며, 검사 표면 상에 물품(예를 들어, 기계 부품)(240)이 램프(210)에 의해 투사된 광을 이용하여 검사될 수 있도록 홀더(220)를 사용하는 것과 같은 방식으로 특정 위치에 고정되어 배치될 수 있다.
NDT 셋업(200)은 조명 조건을 모니터링하고, 자체적인 수정 조치 등을 취하면서 NDT 셋업(200)을 사용하는 조작자에게 조명 관련 피드백을 제공하는 것과 같이 그 안에서 수행되는 조명 기반 NDT 검사를 개선 및/또는 성능을 최적화하기 위해 그에 관련된 적절한 동작을 제공하도록 구성될 수 있다. 이와 관련하여, 도 1과 관련하여 설명된 바와 같이, 특정 조명 관련 조건 및/또는 문제는 조명 기반 NDT 검사, 특히 그의 신뢰도 및 정확도에 영향을 미칠 수 있다. 예를 들어, 주변광은 조명 기반 NDT 검사의 결과에 영향을 미칠 수 있다(예를 들면, 잘못된 합격 또는 불합격 판정을 초래함). 유사하게, 광원(예를 들어, 램프(210))에서 검출되지 않거나 발견된 문제 또는 결함은 또한 조명 기반 NDT 검사의 결과에 영향을 미칠 수 있다(예를 들어, 유사하게 잘못된 합격 또는 불합격 판정을 초래함).
예를 들어, 도 2에 도시된 예시적인 구현에 도시된 바와 같이, NDT 셋업(200)은 조명 기반 NDT 검사 동안 조명 조건을 모니터링하기 위해 NDT 셋업(200) 내에서 사용될 수 있는 하나 이상의 광센서(250)를 포함할 수 있으며, NDT 셋업(200)은 이러한 조명 기반 NDT 검사 동안 그러한 모니터링에 기초하여 획득된 정보를 사용하도록 구성된다.
각각의 광센서(250)는 광 및/또는 그에 관련된 특정 특성을 검출하고 대응하는 감지 정보를 생성하기 위한 (회로부를 포함하는) 적절한 하드웨어를 포함할 수 있다. 예를 들어, 각각의 광센서(250)는 특정 광 조건(예를 들어, 특정 문턱치보다 높은 세기를 갖는 주변광)에 응답하여 특정 방식(예를 들어, 재료의 화학적 변화, 전자기 특성의 변화 등)으로 반응하도록 구성된 적절한 하드웨어를 포함할 수 있다. 광센서(250)에 의해 생성된 "감지 정보"는 실제 정보 - 즉, 어떤 유형의 데이터 - 를 포함할 수 있다. 이와 관련하여 상기 감지 정보는 특정 상황이 발생했을 때를 단순히 표시하는 것만큼 기본적일 수 있다. 대안적으로, 감지 정보는 보다 복잡한 정보 - 예를 들어, 특정 조명 조건 또는 특성에 대응하는 실제 측정치(actual measurements), 상기 조건 또는 측정과 연관된 관련 데이터(예를 들어, 시간, 공간 등) 등 - 을 포함할 수 있다. 그럼에도 불구하고 본 개시는 그와 같이 제한되지 않는다. 따라서, 일부 구현에서, 감지 정보는 단순히 신호(예를 들어, 전기 펄스)일 수 있으며, 이는 특정 검출 조건이 충족될 때 트리거될 수 있고, 이(신호)는 그 신호를 수신하는 구성요소에 의해 - 예를 들어, 그 신호의 특정 특성(예를 들어, 진폭)에 기초하여 - "정보"로 해석될 수 있다.
일부 경우에, 광센서(250)는 고정된다. 이와 관련하여, 광센서(250)는 홀더(220), 검사 표면(230) 등과 같은 NDT 셋업(200)의 다른 구성요소들 중 하나에 내장(embedded)되거나 빌트인(built-in)되거나 아니면 영구적으로 부착될 수 있다.
그러나, 일부 구현에서, 광센서(250) 중 적어도 하나는 이동가능 및/또는 조정가능할 수 있다. 이러한 이동가능 및/또는 조정가능한 센서는 NDT 셋업 내에서 임시 배치 및/또는 위치 조정을 가능하게 하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 이동가능 및/또는 조정가능한 센서는 NDT 셋업(200)의 특정 지점에 그 부착을 가능하도록 하는 부착 요소(예를 들어, 클립형 구성요소)를 포함할 수 있다. 이것은, (예를 들어, 검사되는 물품, 검사 파라미터 등에 기초하여) 검사를 최적화하기 위해, (예를 들어, 센서가 검사를 방해하지 않도록 보장하기 위한) 사용자 선호도와 같은 것에 기초하여, NDT 셋업(200) 내에서 이동가능 및/또는 조정가능한 센서를 배치할 위치 및 방법을 결정함에 있어 사용자에게 약간의 유연성을 허용할 수 있다.
광센서(250)는 시스템의 적어도 하나의 다른 구성요소와 전달하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 광센서(250)는 지원되는 유선 및/또는 무선 연결을 위해 구성될 수 있다. 따라서, 각각의 광센서(250)는 이러한 연결, 및 이러한 연결을 이용한 통신을 용이하게 하기 위한 적절한 회로부를 포함할 수 있다.
광센서(250)는 이용가능한 연결(유선 및/또는 무선)을 사용하여 상기 감지 데이터를 시스템의 적어도 하나의 다른 구성요소로 전달하도록 구성될 수 있으며, 이들은 조명 기반 NDT 검사를 개선하기 위해 상기 감지 정보를 사용하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 상기 감지 정보는 검사가 수행되고 있는 영역(예를 들어, 광이 투사되는 곳) 및/또는 그 검사 영역 근처에 대응하는 조명 관련 정보(예를 들어, 백색 광(가시광) 및 자외선(UV) 광에 대응하는 광 강도 데이터)를 생성하거나 결정하는 것과 같이 프로세싱될 수 있다.
NDT 셋업(200)은 감지 정보 및/또는 그 프로세싱에 기초하여 취해진 특정 동작을 수행하도록 구성될 수 있으며, 이러한 동작은 조명 기반 NDT 검사를 개선하도록 구성된다. 예를 들어, 조명 관련 정보(또는 이에 기초한 데이터)는 사용자에게 제공될 수 있으며, 이는 사용자가 주변광 조건이 신뢰할 수 있는 검사 결과에 부합하는지를 확인할 수 있도록 한다. 조명 관련 정보는 또한 NDT 셋업(예를 들면, 램프(210))에서 다른 구성요소들 중 일부를 제어하기 위한 제어 데이터로 사용될 수 있다.
감지 정보의 프로세싱은 광센서(250) 이외의 구성요소에서 수행될 수 있다. 그러한 구성요소는 그러한 프로세싱을 처리하도록 구성될 수 있다. 이와 관련하여, 상기 구성요소는 필요한 프로세싱을 수행하기 위한 적절한 회로부를 포함할 수 있다. 예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이, NDT 셋업(200)은 컨트롤러(260)를 포함할 수 있으며, 컨트롤러(260)는 감지 정보의 프로세싱을 처리하고, 및/또는 감지 정보의 프로세싱에 기초하여 취해지는 임의의 동작을 수행 및/또는 제어하기 위한 적절한 회로부를 포함할 수 있다. 컨트롤러(260)는, 예를 들어, 광센서에 의해 획득된 감지 정보에 기초하여 계산된 광 강도 레벨을 디스플레이하는 데 사용될 수 있는 스크린 또는 디스플레이(270)를 포함할 수 있다. 그러나, 본 개시는 이에 제한되지 않으며, 그러한 다른 조합 또는 변형이 지원될 수 있다. 예를 들어, "컨트롤러"는 이미 포함된 컨트롤러 회로부(예를 들어, 램프(210)를 위한 컨트롤러 회로부)를 포함할 수 있으며, 이는 일부 필요한 프로세싱 기능을 수행하도록 구성될 수 있다. 또한, 일부 경우에, 상기 프로세싱의 적어도 일부는 광센서(250) 중 적어도 하나 내에서 수행될 수 있다. 그러한 구현에서, 그러한 광센서는 필요한 프로세싱을 처리하기 위한 적절한 회로부를 포함할 수 있다.
도 3은 본 개시의 양태에 따라 일체화된 광센서와 함께 검사 램프의 사용을 포함하는 비파괴 테스팅(NDT) 기반 셋업에 사용하기 위한 예시적인 컨트롤러를 도시한다. 도 3에는 컨트롤러 시스템(300)이 도시되어 있다.
컨트롤러 시스템(300)은 본 개시의 다양한 양태를 구현하기 위해, 특히 도 1과 관련하여 설명된 바와 같은 자기 습식 벤치(magnetic wet benches)에서 자동화된 샘플 수집을 지원하기 위해, 적절한 회로부를 포함할 수 있다. 이와 관련하여, 컨트롤러 시스템(300)은 도 2의 컨트롤러 유닛(260)의 예시적인 구현을 나타낼 수 있다. 따라서, 컨트롤러 시스템(300)은, 특히 일체화된 광센서 및 그 사용을 포함하는 셋업에서, 조명 기반 NDT 검사를 지원하도록 구성될 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러 시스템(300)은 광센서에 의해 생성된 감지 정보의 프로세싱 중 적어도 일부를 수행하고 - 예를 들어, 이용가능한 출력 디바이스(예를 들어, 디스플레이 또는 스크린)와 같은 것을 통하여 사용자에게 피드백을 제공하는 것을 포함하여 - 감지 정보에 기초하여 동작을 취하거나 취해지는 동작을 지원하도록 구성될 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 컨트롤러 시스템(300)은 프로세서(302)를 포함할 수 있다. 이와 관련하여, 예시적인 프로세서(302)는 임의의 제조자로부터의 임의의 범용 중앙 처리 장치(CPU)일 수 있다. 그러나 일부 예시적인 구현에서, 프로세서(302)는 ARM 코어를 갖는 RISC 프로세서, 그래픽 처리 유닛, 디지털 신호 프로세서, 및/또는 시스템-온-칩(SoC)과 같은 하나 이상의 특수 처리 유닛을 포함할 수 있다.
프로세서(302)는 프로세서(예를 들어, 포함된 캐시 또는 SoC)에 국부적으로, 랜덤 액세스 메모리(RAM)(306)(또는 다른 휘발성 메모리)에, 읽기 전용 메모리(ROM)(308)(또는 플래시 메모리와 같은 다른 비휘발성 메모리)에, 및/또는 대용량 스토리지 디바이스(310)에 저장될 수 있는 기계 판독가능 명령(304)을 실행한다. 예시적인 대용량 스토리지 디바이스(310)는 하드 드라이브, 솔리드 스테이트 스토리지 드라이브, 하이브리드 드라이브, RAID 어레이, 및/또는 기타 대용량 데이터 스토리지 디바이스일 수 있다.
버스(312)는 프로세서(302), RAM(306), ROM(308), 대용량 스토리지 디바이스(310), 네트워크 인터페이스(314), 및/또는 입력/출력(I/O) 인터페이스(316) 사이의 통신을 가능하게 한다.
예시적인 네트워크 인터페이스(314)는 컨트롤러 시스템(300)을 인터넷과 같은 통신 네트워크(318)에 연결하기 위한 하드웨어, 펌웨어, 및/또는 소프트웨어를 포함한다. 예를 들어, 네트워크 인터페이스(314)는 통신을 송신 및/또는 수신하기 위해 IEEE 202.X를 따르는 무선 및/또는 유선 통신 하드웨어를 포함할 수 있다.
도 3의 예시적인 I/O 인터페이스(316)는 프로세서(302)에 입력을 제공하고 및/또는 프로세서(302)로부터의 출력을 제공하기 위한 하나 이상의 사용자 인터페이스 디바이스(320)를 프로세서(302)에 연결하기 위해 하드웨어, 펌웨어, 및/또는 소프트웨어를 포함한다. 예를 들어, I/O 인터페이스(316)는 디스플레이 디바이스와 인터페이싱하기 위한 그래픽 처리 유닛, 하나 이상의 USB를 따르는(USB-compliant) 디바이스와 인터페이싱하기 위한 범용 직렬 버스 포트, 파이어와이어(FireWire), 필드 버스, 및/또는 기타 유형의 인터페이스를 포함할 수 있다.
예시적인 컨트롤러 시스템(300)은 I/O 인터페이스(316)에 연결된 사용자 인터페이스 디바이스(324)를 포함한다. 사용자 인터페이스 디바이스(324)는 키보드, 키패드, 물리적 버튼, 마우스, 트랙볼, 포인팅 디바이스, 마이크로폰, 오디오 스피커, 광학 미디어 드라이브(optical media drive), 멀티-터치 터치스크린, 제스처 인식 인터페이스, 및/또는 입력 및/또는 출력 디바이스(들)의 다른 유형 또는 입력 및/또는 출력 디바이스(들) 유형의 조합 중 하나 이상을 포함할 수 있다. 본 명세서에서 상기 예들은 사용자 인터페이스 디바이스(324)를 지칭하지만, 이러한 예들은 단일의 사용자 인터페이스 디바이스(324)로서 임의의 수의 입력 및/또는 출력 디바이스를 포함할 수 있다. 다른 예시적인 I/O 디바이스(들)(320)은 광학 미디어 드라이브, 주변 디바이스(예를 들어, 스캐너, 프린터 등), 및/또는 기타 유형의 입력 및/또는 출력 디바이스를 포함한다.
예시적인 컨트롤러 시스템(300)은 I/O 인터페이스(316) 및/또는 I/O 디바이스(들)(320)를 통해 비일시적 기계 판독가능 매체(322)에 액세스할 수 있다. 도 3의 기계 판독가능 매체(322)의 예로는 광학 디스크(예를 들어, 컴팩트 디스크(CD), 디지털 다목적/비디오 디스크(DVD), 블루레이(Blu-ray) 디스크 등), 자기 매체(예를 들어, 플로피 디스크), 휴대용 저장 매체(예를 들어, 휴대용 플래시 드라이브, 보안 디지털(SD) 카드 등), 및/또는 기타 유형의 착탈식(removable) 및/또는 설치된(installed) 기계 판독가능 매체가 포함된다.
도 4는 본 개시의 양태들에 따른, 일체화된 광센서들을 가지는 NDT 검사 셋업에서 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT)을 수행하기 위한 예시적인 프로세스의 흐름도를 도시한다. 도 4에는 본 개시에 따른 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 제공하기 위해 적절한 시스템(예를 들어, 도 2의 셋업(200))에서 수행될 수 있는 복수의 예시적인 단계들(블록(402-412)으로 표시됨)을 포함하는 흐름도(400)가 도시되어 있다.
시작 단계(402)에서, 조명 기반 NDT 검사 셋업이 검사를 위해 준비된다(예를 들어, 구성요소의 전원 켜기, 인클로저 영역 설정 등).
단계(404)에서, 검사되는 물품이 물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 위해 설치(setup)될 수 있다. 물품을 설치하는 단계는, 예를 들어, 물품을 특정 위치에 고정하는 단계, 상기 물품에 (예를 들어, 특정 조명 관련 특성을 나타내기 위해) 임의의 필요한 비파괴 테스팅(NDT) 관련 재료를 적용하는 단계 등을 포함할 수 있다.
단계(406)에서, 일체화된 광센서가 검사를 위해 설치될 수 있다. 이는 임의의 이동가능한 광센서들을 배치하는 단계 및/또는 이동가능한 광센서들의 포지셔닝을 조정하는 단계를 포함할 수 있다. 이 점에서, 일체화된 광센서들은 검사 환경에 대한 변경이 필요없이(예를 들어, 검사 인클로저를 개방할 필요가 없거나 또는 아니면 검사 인클로저 내의 조명 조건을 변경하지 않고서) 검사 동안 조명 관련 모니터링을 제공하도록 구성된다.
단계(408)에서, 검사 인클로저 내의 물품의 조명 기반 NDT 검사가 개시될 수 있다.
단계(410)에서, 광센서들은 검사 동안 감지 정보를 생성한다. 필요한 경우, 상기 감지 정보 또는 이에 기초하여 획득된 데이터는 광센서들로부터 셋업의 다른 검사 구성요소들로 전달될 수 있다.
단계(412)에서, 감지 정보가 (예를 들어, 광센서들 내에서, 셋업 내의 다른 검사 구성요소들에서, 또는 이들의 임의의 조합에서) 프로세싱된다. 상기 프로세싱은 유용한 조명 관련 데이터 - 예를 들어, 검사 인클로저 내의 광 및/또는 광원과 관련된 조명 데이터 - 를 얻을 수 있게 한다.
단계(414)에서, 조명 기반 NDT 검사는 조명 데이터에 기반하여 - 예를 들어, 검사의 신뢰도를 평가하는 것을 가능하게 하기 위해 조명 조건에 관한 피드백을 사용자에게 제공하는 것과 같은 방식에 의해 - 관리될 수 있다.
본 개시에 따른 다른 구현은 비일시적 컴퓨터 판독가능 매체 및/또는 저장 매체, 및/또는 비일시적 기계 판독가능 매체 및/또는 저장 매체를 제공할 수 있으며, 이들은 그 위에 기계 및/또는 컴퓨터에 의해 실행가능한 적어도 하나의 코드 섹션을 갖는 기계 코드 및/또는 컴퓨터 프로그램이 저장되어 있으며, 이에 의해 기계 및/또는 컴퓨터가 본 명세서에 기술된 바와 같은 프로세스를 수행하게 한다.
따라서, 본 개시에 따른 다양한 구현들은 하드웨어, 소프트웨어, 또는 하드웨어와 소프트웨어의 조합으로 실현될 수 있다. 본 개시는 적어도 하나의 컴퓨팅 시스템에서 중앙 집중 방식으로, 또는 상이한 요소들이 여러 상호 연결된 컴퓨팅 시스템에 걸쳐 분산된 분산 방식으로 실현될 수 있다. 본 명세서에 설명된 방법들을 수행하도록 구성된 임의의 종류의 컴퓨팅 시스템 또는 기타 장치가 적합하다. 전형적인 하드웨어와 소프트웨어의 조합은 로딩되어 실행될 때 본 명세서에 설명된 방법들을 수행하도록 컴퓨팅 시스템을 제어하는 프로그램 또는 기타 코드를 갖는 범용 컴퓨팅 시스템일 수 있다. 다른 전형적인 구현은 애플리케이션 특정 집적회로(application specific integrated circuit) 또는 칩을 포함할 수 있다.
본 개시에 따른 다양한 구현은 또한 본 명세서에 설명된 방법들의 구현을 가능하게 하는 모든 특징을 포함하고 컴퓨터 시스템에 로딩될 때 이러한 방법들을 수행할 수 있는 컴퓨터 프로그램 제품에 내장될 수 있다. 본 맥락에서 컴퓨터 프로그램은 정보 처리 능력을 가진 시스템이 직접적으로, 또는 a) 다른 언어, 코드 또는 기호로의 변환, b) 상이한 물질적 형태로 복제(reproduction) 중 하나 또는 둘 모두 후에, 특정 기능을 수행하도록 하기 위한 일련의 명령에 대한 임의의 언어, 코드 또는 기호(notation)로 된 임의의 표현을 의미한다.
본 개시가 특정 구현을 참조하여 설명되었지만, 본 개시의 범위를 벗어나지 않고 다양한 변경이 이루어질 수 있고 균등물은 대체될 수 있다는 것이 이 분야의 기술자에 의해 이해될 것이다. 예를 들어, 개시된 예들의 블록 및/또는 구성요소들은 결합, 분할, 재배열 및/또는 기타 수정될 수 있다. 또한, 그 범위를 벗어나지 않으면서 본 개시의 교시에 특정 상황 또는 재료를 적용하기 위해 많은 수정이 이루어질 수도 있다. 따라서, 본 개시는 개시된 특정 구현에 제한되지 않고, 본 개시는 첨부된 청구범위의 범위 내에 속하는 모든 구현을 포함할 것으로 의도된다.
Claims (20)
- 비파괴 테스팅(non-destructive testing, NDT)에 사용하기 위한 시스템으로서,
물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 수행하도록 구성된 하나 이상의 검사 구성요소;
자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련된 감지 데이터(sensory data)를 생성하도록 구성된 하나 이상의 광센서; 및
하나 이상의 회로로서,
상기 감지 데이터를 프로세싱하고;
상기 프로세싱에 기초하여, 상기 물품이 검사되고 있는 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련된 조명 데이터를 생성하도록 구성된 상기 하나 이상의 회로
를 포함하는, 비파괴 테스팅(non-destructive testing, NDT)에 사용하기 위한 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 동안, 상기 시스템의 조작자에게 피드백을 제공하도록 구성된 피드백 구성요소를 포함하는, 시스템. - 제2 항에 있어서,
상기 피드백 구성요소는 시각적 출력 디바이스를 포함하는, 시스템. - 제2 항에 있어서,
상기 피드백 구성요소는 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광 중 하나 또는 둘 모두에 관련된 상기 조명 데이터에 기초하여 조명 관련 피드백을 제공하도록 구성되는, 시스템. - 제4 항에 있어서,
상기 조명 관련 피드백은 상기 검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광 중 하나 또는 둘 모두의 광 강도(light intensity) 레벨을 포함하는, 시스템. - 제4 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로는 상기 조명 데이터에 기초하여 상기 조명 관련 피드백을 생성하도록 구성되는, 시스템. - 제2 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는 상기 피드백 구성요소에 통합되는, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나의 광센서는, 상기 시스템의 적어도 하나의 다른 구성요소에 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성되는, 시스템. - 제8 항에 있어서,
상기 하나 이상의 광센서 중 상기 적어도 하나의 광센서는, 유선 연결 및/또는 무선 연결을 통해 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성되는, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는, 상기 시스템의 적어도 하나의 다른 구성요소에 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성되는, 시스템. - 제10 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는, 유선 연결 및/또는 무선 연결을 통해 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터를 전달하도록 구성되는, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는, 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 제어하도록 구성되고, 상기 제어하는 것은, 특정 조명 관련 기준에 기초하여 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 중단하는 것을 포함하는, 시스템. - 제12 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는, 상기 감지 데이터 및/또는 상기 감지 데이터에 기초하여 생성된 데이터에 기초하여 상기 조명 관련 기준을 평가(assess)하도록 구성된, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나는 고정된 것인, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나는, 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사의 시작 전에, 상기 시스템의 조작자가 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나를 적응적으로 및/또는 선택적으로 배치할 수 있게 하기 위해 이동가능한(movable) 것인, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는, 상기 하나 이상의 광센서 중 하나에 통합되는, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 회로 중 적어도 하나의 회로는, 상기 하나 이상의 검사 구성요소 중 적어도 하나에 통합되는, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 검사 구성요소는, 조명 기반 자기 입자 검사(magnetic particle inspection, MPI)를 수행하도록 구성된, 시스템. - 제1 항에 있어서,
상기 하나 이상의 검사 구성요소는, 조명 기반 액체 침투 검사(liquid penetrant inspection, LPI)를 수행하도록 구성된, 시스템. - 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT)을 위한 방법으로서,
물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 위해 물품을 설치(set up)하는 단계 - 상기 설치하는 단계는,
특정 위치에 상기 물품을 고정하는 단계; 및
결함들에 대응하는 상기 물품의 영역들에서 하나 이상의 독특한(distinctive) 광 관련 특성을 나타내도록 구성된 비파괴 테스팅(NDT) 관련 재료를 상기 물품에 적용하는 단계를 포함함 -;
자외선(UV) 광 및/또는 백색 광과 관련한 감지 데이터를 생성하도록 구성된 하나 이상의 광센서를 설치하는 단계 - 상기 설치하는 단계는, 배치(placing)하는 단계 및/또는 상기 하나 이상의 광센서 중 적어도 하나의 광센서의 포지셔닝(positioning)을 조정하는 단계를 포함함 -; 및
검사 영역 내에서 및/또는 그 근처에서 자외선(UV) 광 및/또는 백색 광에 관련한 조명 데이터에 기초하여, 상기 물품의 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사를 수행하는 단계 - 상기 조명 데이터는, 상기 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT) 검사 동안 상기 하나 이상의 광센서에 의해 생성된 상기 감지 데이터에 기초하여 생성됨 -
를 포함하는, 조명 기반 비파괴 테스팅(NDT)을 위한 방법.
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US16/379,449 US20200326275A1 (en) | 2019-04-09 | 2019-04-09 | Non-destructive testing (ndt) based setups with integrated light sensors |
| US16/379,449 | 2019-04-09 | ||
| PCT/US2020/017463 WO2020209931A1 (en) | 2019-04-09 | 2020-02-10 | Non-destructive testing (ndt) based setups with integrated light sensors |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20210148244A true KR20210148244A (ko) | 2021-12-07 |
Family
ID=69780334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020217035213A KR20210148244A (ko) | 2019-04-09 | 2020-02-10 | 일체화된 광센서를 가지는 비파괴 테스팅(ndt) 기반 셋업 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20200326275A1 (ko) |
| EP (1) | EP3953688A1 (ko) |
| JP (1) | JP2022528935A (ko) |
| KR (1) | KR20210148244A (ko) |
| CN (1) | CN113994198A (ko) |
| CA (1) | CA3135828A1 (ko) |
| MX (1) | MX2021011865A (ko) |
| WO (1) | WO2020209931A1 (ko) |
Family Cites Families (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3907732A1 (de) * | 1989-03-10 | 1990-09-13 | Isotopenforschung Dr Sauerwein | Verfahren zum ueberwachen einer vorrichtung zum automatischen feststellen und auswerten von oberflaechenrissen |
| DE19645377C2 (de) * | 1996-11-04 | 1998-11-12 | Tiede Gmbh & Co Risspruefanlagen | Rißprüfanlage für Werkstücke nach dem Farbeindringverfahren und Verfahren zur automatischen Rißerkennung |
| CN100428277C (zh) * | 1999-11-29 | 2008-10-22 | 奥林巴斯光学工业株式会社 | 缺陷检查系统 |
| US6750466B2 (en) * | 2001-02-09 | 2004-06-15 | Wintriss Engineering Corporation | Web inspection system |
| GB2514180A (en) * | 2013-05-17 | 2014-11-19 | Nanomex Ltd | An optical inspection system |
| JP6303352B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2018-04-04 | 株式会社デンソーウェーブ | 外観検査システム |
| WO2015168768A1 (en) * | 2014-05-05 | 2015-11-12 | Sanuvox Technologies Inc. | Room decontamination system, method and controller |
| CN105021563A (zh) * | 2015-07-14 | 2015-11-04 | 河南科技大学 | 一种基于近红外光谱的烟叶信息采集装置 |
| DE102015118175A1 (de) * | 2015-10-23 | 2017-04-27 | Marc Breit | Vorrichtung zur Emission elektromagnetischer Strahlung, insbesondere UV-Strahlung |
| CN109476993B (zh) * | 2016-03-11 | 2022-03-04 | 伊利诺斯工具制品有限公司 | 磷光铁磁性颗粒制剂及采用其的无损测试方法 |
| CN106404680A (zh) * | 2016-11-10 | 2017-02-15 | 赣州市检验检疫科学技术研究院 | 用于柑橘黄龙病田间快速现场检测的装置和方法 |
| JP6889572B2 (ja) * | 2017-02-24 | 2021-06-18 | 株式会社キーエンス | 外観検査装置及び外観検査用照明装置 |
| CN107991271A (zh) * | 2017-10-24 | 2018-05-04 | 华南农业大学 | 一种无损检测茶叶含水量的虚拟仪器系统 |
| CN207472814U (zh) * | 2017-12-07 | 2018-06-08 | 广东工业大学 | 一种缺陷的无损检测系统 |
-
2019
- 2019-04-09 US US16/379,449 patent/US20200326275A1/en not_active Abandoned
-
2020
- 2020-02-10 CA CA3135828A patent/CA3135828A1/en not_active Abandoned
- 2020-02-10 MX MX2021011865A patent/MX2021011865A/es unknown
- 2020-02-10 CN CN202080024855.1A patent/CN113994198A/zh active Pending
- 2020-02-10 EP EP20710381.3A patent/EP3953688A1/en not_active Withdrawn
- 2020-02-10 WO PCT/US2020/017463 patent/WO2020209931A1/en unknown
- 2020-02-10 JP JP2021559896A patent/JP2022528935A/ja active Pending
- 2020-02-10 KR KR1020217035213A patent/KR20210148244A/ko unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2020209931A1 (en) | 2020-10-15 |
| MX2021011865A (es) | 2021-10-13 |
| US20200326275A1 (en) | 2020-10-15 |
| CN113994198A (zh) | 2022-01-28 |
| CA3135828A1 (en) | 2020-10-15 |
| JP2022528935A (ja) | 2022-06-16 |
| EP3953688A1 (en) | 2022-02-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20190317650A1 (en) | Methods and systems for providing on-screen technical sheets during non-destructive testing (ndt) | |
| JP2007148027A5 (ko) | ||
| US10215695B1 (en) | Inspection system and method for detecting defects at a materials interface | |
| TW201508456A (zh) | 風扇模組測試方法及系統 | |
| US11867774B2 (en) | Systems and methods to use customized quality control tasks for non-destructive testing | |
| KR20070012597A (ko) | 시스템 보드 검사 장치 및 방법 | |
| KR20210148244A (ko) | 일체화된 광센서를 가지는 비파괴 테스팅(ndt) 기반 셋업 | |
| CN103218277A (zh) | 服务器环境的自动检测方法与装置 | |
| CA3135829C (en) | Methods and systems for vision system assisted inspections | |
| KR20210022278A (ko) | 적외선 카메라를 이용한 불량 부품 검출 장치 및 방법 | |
| TWI664426B (zh) | 檢測系統、檢測方法以及程式 | |
| DE59502783D1 (de) | Automatische fehlererkennungsanlage für rissprüfung | |
| US11016059B2 (en) | Magnetic wet benches with automated sample collection | |
| US10557825B2 (en) | Apparatus, controller, and method for inspecting a part | |
| JP2007171038A (ja) | 集積回路測定方法及び装置 | |
| KR20230028469A (ko) | 트레이닝된 인공 지능 기반 프로세싱을 통한 비파괴 테스트(ndt)를 위한 방법들 및 시스템들 | |
| JP2002022483A (ja) | ナビゲーションシステムの試験評価装置 | |
| CN113720847A (zh) | 图像重制装置及其检测方法 | |
| KR20160102698A (ko) | 터치 패널의 검사 방법 및 검사 장치 |