KR20210081583A - 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 내부에 구성된 아날로그 컴포넌트 또는 디지털 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로를 개시하며, 상기 집적 회로는 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기; 디지털 컴포넌트와 아날로그 컴포넌트 중 선택되며, 상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 측정값을 제공하는 측정 대상; 외부로부터 제공되는 기준값을 기준으로 상기 측정값을 판단하고, 상기 측정값이 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및 상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 한다.

Description

컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로{INTEGRATED CIRCUIT WITH TRIMMING FUNCTION FOR COMPONENTS}
본 발명은 집적 회로에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 내부에 구성된 아날로그 컴포넌트 또는 디지털 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로에 관한 것이다.
집적 회로는 다양한 용도로 설계되고 있으며 반도체 공정을 통하여 칩으로 제작된다.
집적 회로는 시스템 온 칩으로 제작될 수 있으며, 시스템 온 칩은 아날로그 컴포넌트와 디지털 컴포넌트가 혼합된 구조를 갖는다.
상기한 집적 회로의 아날로그 컴포넌트와 디지털 컴포넌트는 제조 공정의 여러 환경의 영향에 의해서 설계와 다른 출력 특성을 가질 수 있다.
아날로그 컴포넌트의 일예로 밴드갭 기준전압 생성기가 예시될 수 있다. 밴드갭 기준전압 생성기는 제조 공정의 여러 환경의 영향에 의해서 설계된 레벨보다 높거나 낮은 밴드갭 기준 전압을 출력하도록 제조될 수 있다.
디지털 컴포넌트의 일예로 오실레이터가 예시될 수 있다. 오실레이터는 제조 공정의 여러 환경의 영향에 의해서 설계된 레벨보다 높거나 낮은 주파수로 출력 신호를 제공하도록 제조될 수 있다.
일반적으로, 제조 공정에 의해 발생하는 집적 회로의 특성 변화는 테스트 공정에서 측정된 후 교정될 수 있다.
상기한 테스트 공정을 위하여, 집적 회로는 테스트를 위한 복수 개의 입력 단자와 측정 단자를 갖도록 설계되어야 한다. 그러므로, 집적 회로는 내부 회로의 설계 및 레이아웃 상 불편함과 불이익을 갖는다.
그리고, 테스트 공정에는 정밀도가 높은 고가의 측정 장비를 필요로 한다. 그러나, 측정 장비로 테스트할 수 있는 집적 회로의 수가 제한된다. 그러므로, 집적 회로의 생산성이 제한되는 문제점이 있다.
그리고, 일반적인 집적 회로는 상기한 테스트 결과 얻어진 테스트 결과를 내부의 메모리에 저장하기 위한 동작이 부수적으로 요구된다.
상기한 이유로, 일반적인 집적 회로는 생산성이 제한되며 테스트에 동반되는 부수적인 오퍼레이션이 요구되는 문제점이 있다.
본 발명의 목적은 내부에 트리밍을 위한 간단한 회로를 구비하며 트리밍 결과 얻어진 측정값을 내장된 저장부에 저장함으로써, 설계 및 레이아웃 상 유리한 이점을 가지며, 테스트 공정을 위한 외부 접속이나 고가의 측정 장치가 불필요하고, 그리고 생산성을 개선할 수 있는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로를 제공함에 있다.
본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로는, 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기; 디지털 컴포넌트와 아날로그 컴포넌트 중 선택되며, 상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 측정값을 제공하는 측정 대상; 상기 측정값을 외부로부터 제공되는 기준값을 기준으로 판단하고, 상기 측정값이 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및 상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 한다.
본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로는, 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기; 상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 주파수를 갖는 측정값을 제공하는 디지털 컴포넌트; 상기 측정값의 주파수를 외부로부터 제공되는 기준 신호의 기준 주파수를 기준으로 판단하고, 상기 측정값의 주파수가 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및 상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 한다.
본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로는, 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기; 상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 아날로그 레벨을 갖는 측정값을 제공하는 아날로그 컴포넌트; 상기 측정값의 상기 아날로그 레벨을 외부로부터 제공되는 기준 신호의 기준 레벨을 기준으로 판단하고, 상기 측정값의 상기 아날로그 레벨이 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및 상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 한다.
본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로는 트리밍 기능을 위하여 외부로부터 기준 신호의 입력을 위한 단자만 요구되므로 설계 및 레이아웃 상 유리한 이점을 가질 수 있다.
또한, 본 발명의 집적 회로는 트리밍을 위해서 간단한 부품들을 구비함으로써 테스트 공정을 위한 외부 접속이나 고가의 측정 장치가 불필요하고 간단히 테스트 공정을 수행할 수 있는 이점을 가질 수 있다.
또한, 본 발명의 집적 회로는 간단히 테스트 공정을 수행할 수 있으므로 많은 수에 대한 테스트 공정을 동시에 진행할 수 있고, 트리밍 결과 얻어진 측정값을 내장된 저장부에 저장함으로써 테스트 공정 후의 부수적인 오퍼레이션이 불필요하므로, 생산성이 향상되는 이점을 가질 수 있다.
도 1은 본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로의 바람직한 실시예를 나타내는 블록도.
도 2는 본 발명의 구체적인 일 실시예를 나타내는 블록도.
도 3은 도 2의 카운터의 동작을 설명하기 위한 블록도.
도 4는 본 발명의 구체적인 다른 실시예를 나타내는 블록도.
도 5는 도 4의 비교기의 동작을 설명하기 위한 블록도.
본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로는 마이크로 컴퓨터나 마이크로 프로세서와 같이 아날로그 컴포넌트나 디지털 컴포넌트를 포함하거나 이들이 혼합된 구성을 갖는 것으로 이해될 수 있다.
디지털 컴포넌트는 오실레이터와 같이 디지털 로직을 위한 주파수 특성을 갖거나 디지털값을 갖는 출력 신호를 제공하는 것으로 이해될 수 있다. 본 발명에 대한 구체적인 일예는 오실레이터에 대해 구성된 도 2를 참조하여 후술한다.
그리고, 아날로그 컴포넌트는 밴드갭 기준전압 발생기와 같이 전압이나 전류와 같은 아날로그 레벨을 갖는 출력 신호를 제공하는 것으로 이해될 수 있다. 본 발명에 대한 구체적인 다른 일예는 밴드갭 기준전압 생성부에 대해 구성된 도 4를 참조하여 후술한다.
먼저, 도 1을 참조하면, 본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로(100)는 트림값 생성기(10), 측정 대상(30), 판단부(50) 및 저장부(70)를 포함한다.
트림값 생성기(10)는 가변되는 트림값 TV를 제공하도록 구성된다. 트림값 생성기(10)는 트림값 TV를 디지털 값으로 제공하도로 구성될 수 있으며, 이를 위하여 다수의 비트를 병렬로 제공하도록 구성된다.
예시적으로, 트림값 TV는 "0000", "0001", "0010", ..., "1111"의 순으로 비트들의 값을 순서대로 제공되거나, 상기한 순서의 역순으로 제공되거나, 또는 랜덤하게 제공될 수 있다.
본 발명의 실시예에서, 예시적으로 트림값 TV는 "0000", "0001", "0010", ..., "1111"의 순으로 제공되는 것으로 설명한다.
측정 대상(30)은 디지털 컴포넌트와 아날로그 컴포넌트 중 선택된 하나로 이해될 수 있다.
측정 대상(30)은 트림값 생성기(10)에서 제공되는 트림값 TV에 대응한 내부 동작을 수행하며, 내부 동작의 결과로서 측정값 MV를 제공한다.
측정 대상(30)이 디지털 컴포넌트인 오실레이터의 경우, 측정값 MV는 트림값 TV에 대응하여 오실레이터에서 출력되는 주파수를 갖는 구형파 신호로 이해될 수 있다. 그리고, 측정 대상(30)이 아날로그 컴포넌트인 밴드갭 기준전압인 경우, 측정값 MV는 트립값 TV에 대응하여 밴드갭 기준전압 생성부에서 출력되는 기준 전압으로 이해될 수 있다.
판단부(50)는 외부로부터 제공되는 기준값 RS와 측정 대상(30)의 측정값 MV를 수신하도록 구성된다.
판단부(50)는 기준값을 기준으로 측정값을 판단하고, 측정값이 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호 DS를 제공하도록 구성된다. 판단부(50)는 예시적으로 트림 제어 신호 DS를 트림값 생성기(10)로 제공하도록 구성될 수 있다.
여기에서, 목표치는 측정값이 도달할 일정한 값이나 일정한 범위로 설정될 수 있다. 상기한 목표치는 후술하는 도 2 및 도 4의 구체적인 예시들을 참조하여 이해될 수 있다.
트림값 생성기(10)는 트림 제어 신호 DS가 수신되는 경우, 측정값 MV에 대응하는 현재의 트림값 TV을 측정 결과값 STV로서 저장부(70)에 제공한다.
저장부(70)는 측정 결과값 STV를 저장한다. 저장부(70)는 다양한 메모리 소자를 이용하여 구성될 수 있으며, 예시적으로 비휘발성 메모리를 이용하여 구성될 수 있다.
저장부(70)는 측정 결과값 STV를 측정 대상(30)의 내부 동작을 위한 것으로 세팅할 수 있다.
본 발명의 실시예에서, 측정 대상(30)의 제조 공정에 의해 발생하는 특성 변화는 저장부(70)에 세팅된 측정 결과값 STV에 의해 교정될 수 있다.
그러므로, 양산 후 집적 회로(100)가 동작하는 경우, 측정 대상(30)은 저장부(70)에 세팅된 측정 결과값을 반영하여 내부 동작을 수행하며 제조 공정에 의한 특성 변화없이 설계된 수준의 특성을 구현할 수 있다.
도 2는 측정 대상(10)이 디지털 컴포넌트로 예시된 구체적인 실시예를 나타낸 것이다. 도 2의 부품들 중 도 1과 동일한 부품의 중복된 구성 및 동작 설명은 생략한다.
도 2는 도 1과 비교하여, 측정 대상(30)에 디지털 컴포넌트인 오실레이터(32)가 포함된 점과 판단부(50)에 카운터(52) 및 비교부(54)가 포함된 점에 차이가 있다. 오실레이터(32)는 디지털 컴포넌트를 대표하여 구성된 것이므로, 이하 설명되는 오실레이터(32)의 구성 및 동작은 디지털 컴포넌트의 구성 및 동작으로 이해될 수 있다.
오실레이터(32)는 트림값 생성기(10)에서 제공되는 트립값 TV를 수신하며, 트림값 TV에 대응한 내부 동작을 수행하고, 내부 동작의 결과로서 주파수를 갖는 측정값 MVF를 제공한다.
오실레이터(32)는 내부 동작으로서 발진 동작을 수행하고, 트림값 TV의 변화가 "0000", "0001", "0010", ..., "1111"의 순으로 점차 증가하는 값을 갖도록 변화하는 경우, 입력되는 비트들의 값이 증가하는 것에 대응하여 점차 높은 주파수를 갖도록 측정값 MVF를 제공할 수 있다. 이때, 측정값 MVF는 펄스 파형을 갖는 신호로 이해될 수 있다.
판단부(50)는 외부로부터 제공되는 기준 신호 RSF의 기준 주파수를 기준으로 측정값 MVF의 주파수를 판단하고, 측정값 MVF의 주파수가 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호 DS를 제공한다.
이를 위하여, 판단부(50)는 카운터(52) 및 비교부(54)를 포함한다.
카운터(52)는 외부로부터 제공되는 기준 신호 RSF와 오실레이터(32)에서 제공되는 측정값 MVF를 수신하며, 기준 신호 RSF의 기준 주파수를 기준으로 측정값 MVF의 주파수를 판단한다.
도 3을 참조하면, 기준 신호 RSF의 기준 주파수는 측정값 MVF와 대비하여 낮은 주파수를 갖도록 설정될 수 있다.
설명의 편의를 위하여, 오실레이터(32)는 측정값 MVF를 8MHz의 수준으로 출력하도록 설계된 것으로 예시하고, 기준 신호 RSF는 8KHz 수준으로 제공되는 것으로 예시한다. 측정값 MVF는 기준 신호 RSF보다 1000배 높은 주파수를 갖는 것으로 예시한다.
오실레이터(32)가 제조 공정에 의해 발생하는 특성 변화가 없이 설계된 수준으로 측정값 MVF를 출력하는 경우, 한 주기의 기준 신호 RSF 내에 1000 주기의 측정값 MVF가 포함된다.
오실레이터(32)는 제조 공정에 의해 발생하는 특성 변화에 의해 8MHz보다 낮은 주파수의 측정값 MVF를 제공할 수 있다.
카운터(52)는 기준 신호 RSF의 미리 설정된 주기 예시적으로 반 주기 또는 한 주기 동안 측정값 MVF가 몇 주기 포함되었는지 카운트하고, 카운트 결과 FC를 비교부(54)에 제공한다.
비교부(54)는 카운트 결과 FC의 목표치를 예시적으로 "1000"으로 설정할 수 있으며, 카운트 결과 FC가 목표치에 도달하지 않는 경우, 피드백에 의해서 트림값 생성기(10)의 트림값 TV를 점차 증가시킨다.
상기한 비교부(54)의 피드백에 의해, 트림값 TV이 증가되면, 오실레이터(32)는 점차 증가된 주파수의 측정값 MVF를 제공한다.
비교부(54)는 상기한 과정에서 카운트 결과 FC가 목표치에 도달하면, 트림 제어 신호 DS를 트림값 생성기(10)에 제공한다.
상기한 설명에서 비교부(54)가 트림값 생성기(10)에 피드백을 위하여 로우 레벨의 트림 제어 신호 DS를 제공하고, 카운트 결과 FC가 목표치에 도달하면 트림값 생성기(10)에 하이 레벨의 트림 제어 신호 DS를 제공하는 것으로 이해될 수 있다.
트림값 생성기(10)는 카운트 결과 FC가 목표치에 도달한 것에 대응하는 트림 제어 신호 DS가 수신되는 경우, 측정값 MVF에 대응하는 현재의 트림값 TV을 측정 결과값 STV로서 저장부(70)에 제공하며, 저장부(70)는 측정 결과값 STV를 오실레이티(32)의 내부 동작을 위한 것으로 세팅할 수 있다.
도 2의 실시예도 도 1에서 설명한 바와 같이, 디지털 컴포넌트인 오실레이터(32)의 제조 공정에 의해 발생하는 특성 변화는 저장부(70)에 세팅된 측정 결과값 STV에 의해 교정될 수 있다.
그러므로, 양산 후 집적 회로(100)가 동작하는 경우, 오실레이터(32)는 저장부(70)에 세팅된 측정 결과값을 반영하여 내부 동작을 수행하며 제조 공정에 의한 특성 변화없이 설계된 수준의 특성을 구현할 수 있다.
도 4는 측정 대상(10)이 아날로그 컴포넌트로 예시된 구체적인 실시예를 나타낸 것이다. 도 4의 부품들 중 도 1과 동일한 부품의 중복된 구성 및 동작 설명은 생략한다.
도 4는 도 1과 비교하여, 측정 대상(30)에 디지털 컴포넌트인 밴드갭 기준전압 생성부(34) 및 특성 가변부(36)가 포함된 점과 판단부(50)에 비교기(56)가 포함된 점에 차이가 있다. 밴드갭 기준전압 생성부(34)는 아날로그 컴포넌트를 대표하여 구성된 것이므로, 이하 설명되는 밴드갭 기준전압 생성부(34)의 구성 및 동작은 아날로그 컴포넌트의 구성 및 동작으로 이해될 수 있다.
밴드갭 기준전압 생성부(34)는 특성 가변부(36)의 부하를 제공받도록 구성될 수 있다.
밴드갭 기준전압 생성부(34)의 경우, 제조 공정에 의해 발생하는 특성 변화는 밴드갭 기준전압 생성부(34)의 내부에 구성된 트랜지스터들의 특성 변화 또는 이들 트랜지스터들의 입력 전압, 구동 전압 및 바이어스 전압을 위한 특성 가변부(36)의 부하 특성의 변화를 유발할 수 있다.
밴드갭 기준전압 생성부(34)는 특성 가변부(36)의 부하를 조절함으로써 설계된 레벨의 밴드갭 기준전압 즉 측정값 MVV를 구하도록 트리밍될 수 있다.
상기한 바에 의해, 특성 가변부(36)는 트림값 생성기(10)로부터 가변되는 트림값 TV를 수신하며, 가변되는 트림값 TV에 대응하여 가변되는 부하를 밴드갭 기준전압 생성부(34)에 제공한다.
밴드갭 기준전압 생성부(34)는 특성 가변부(36)의 부하에 대응하여 내부 동작을 수행하며, 내부 동작 결과로서 아날로그 레벨을 갖는 측정값 MVV 즉 밴드갭 기준 전압을 비교기(56)에 제공할 수 있다.
판단부(50)로서 구성되는 비교기(56)는 외부로부터 제공되는 기준 신호 RSV 및 밴드갭 기준전압 생성부(34)의 측정값 MVV을 수신하고, 기준 신호 RSV의 기준 레벨을 기준으로 측정값 RSV의 아날로그 레벨을 판단한다.
도 5를 참조하면, 기준 신호 RSV의 기준 레벨은 미리 설정된 일정할 레벨을 가지며, 측정값 MVV의 아날로그 레벨은 변화되는 트림값 TV에 대응하여 점차 높아진다.
비교기(56)는 기준 신호 RSV의 기준 레벨을 목표치로 설정하고, 측정값 MVV의 아날로그 레벨을 기준 신호 RSV의 기준 레벨과 비교한다.
비교기(56)는 비교 결과 측정값 MVV의 레벨이 기준 신호 RSV의 기준 레벨에 미달하는 경우 피드백에 의해서 트림값 생성기(10)의 트림값 TV를 점차 증가시킨다.
상기한 비교기(56)의 피드백에 의해 트림값 TV이 증가되면, 밴드갭 기준전압 생성부(34)는 점차 증가된 레벨의 측정값 MVV를 제공한다.
비교기(56)는 상기한 과정에서 비교 결과 측정값 MVV가 목표치인 기준 신호 RSV의 기준 레벨에 도달하면(도5의 TD 시점) 트림 제어 신호 DS를 트림값 생성기(10)에 제공한다.
상기한 설명에서 비교기(56)는 트림값 생성기(10)에 피드백을 위하여 로우 레벨의 트림 제어 신호 DS를 제공하고, 비교 결과가 목표치에 도달하면 트림값 생성기(10)에 하이 레벨의 트림 제어 신호 DS를 제공하는 것으로 이해될 수 있다.
트림값 생성기(10)는 측정값 MVV가 목표치인 기준 신호 RSV의 기준 레벨에 도달한 것에 대응하는 트림 제어 신호 DS가 수신되는 경우, 측정값 MVV에 대응하는 현재의 트림값 TV를 측정 결과값 STV로서 저장부(70)에 제공하며, 저장부(70)는 측정 결과값 STV를 밴드갭 기준전압 생성부(34)의 내부 동작을 위한 것으로 세팅할 수 있다.
도 4의 실시예도 도 1에서 설명한 바와 같이, 아날로그 컴포넌트인 밴드갭 기준전압 생성부(34)의 제조 공정에 의해 발생하는 특성 변화는 저장부(70)에 세팅된 측정 결과값 STV에 의해 교정될 수 있다.
그러므로, 양산 후 집적 회로(100)가 동작하는 경우, 밴드갭 기준전압 생성부(34)는 저장부(70)에 세팅된 측정 결과값을 반영하여 내부 동작을 수행하며 제조 공정에 의한 특성 변화없이 설계된 수준의 특성을 구현할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로는 트리밍 기능을 위하여 외부로부터 기준 신호의 입력을 위한 단자만 요구되므로 설계 및 레이아웃 상 유리한 이점을 가질 수 있다.
또한, 본 발명의 집적 회로는 트리밍을 위해서 간단한 부품들을 구비함으로써 테스트 공정을 위한 외부 접속이나 고가의 측정 장치가 불필요하고 간단히 테스트 공정을 수행할 수 있는 이점을 가질 수 있다.
또한, 본 발명의 집적 회로는 간단히 테스트 공정을 수행할 수 있으므로 많은 수에 대한 테스트 공정을 동시에 진행할 수 있고, 트리밍 결과 얻어진 측정값을 내장된 저장부에 저장함으로써 테스트 공정 후의 부수적인 오퍼레이션이 불필요하므로, 생산성이 향상되는 이점을 가질 수 있다.

Claims (15)

  1. 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기;
    디지털 컴포넌트와 아날로그 컴포넌트 중 선택되며, 상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 측정값을 제공하는 측정 대상;
    외부로부터 제공되는 기준값을 기준으로 상기 측정값을 판단하고, 상기 측정값이 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및
    상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 트림값 생성기는 디지털 값을 상기 트림값으로 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 트림값 생성기는 상기 트림 제어 신호를 수신하며, 상기 트림 제어 신호에 대응하여 상기 저장부에 현재의 상기 트림값을 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 측정 결과값은 상기 측정 대상의 내부 동작을 위하여 세팅되고; 그리고,
    상기 측정 대상은 상기 측정 결과값이 세팅된 후 상기 측정 결과값을 반영하여 상기 내부 동작을 수행하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  5. 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기;
    상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 주파수를 갖는 측정값을 제공하는 디지털 컴포넌트;
    외부로부터 제공되는 기준 신호의 기준 주파수를 기준으로 상기 측정값의 주파수를 판단하고, 상기 측정값의 주파수가 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및
    상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 트림값 생성기는 디지털 값을 상기 트림값으로 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  7. 제5 항에 있어서, 상기 판단부는,
    상기 측정값의 주파수보다 낮은 상기 주파수를 갖는 상기 기준 신호를 기준으로 상기 측정값을 카운트하는 카운터; 및
    상기 카운터의 카운트 결과가 상기 목표치에 해당하는 경우 상기 트림 제어 신호를 제공하는 비교부;를 포함하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 카운터는 상기 기준 신호의 미리 설정된 주기 내에 포함되는 상기 측정값의 주기를 카운트하며; 그리고,
    상기 판단부는 상기 카운트 결과가 상기 목표치에 해당하는 경우, 상기 트림 제어 신호를 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  9. 제5 항에 있어서,
    상기 트림값 생성기는 상기 트림 제어 신호를 수신하면 상기 저장부에 현재의 상기 트림값을 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  10. 제5 항에 있어서,
    상기 디지털 컴포넌트는 오실레이터를 구비하며,
    상기 오실레이터에 대한 상기 측정 결과값은 상기 오실레이터의 내부 동작을 위하여 세팅되고,
    상기 오실레이터는 상기 측정 결과값이 세팅된 후 상기 측정 결과값을 반영하여 상기 내부 동작을 수행하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  11. 가변되는 트림값을 제공하는 트림값 생성기;
    상기 트림값에 대응한 내부 동작의 결과로서 아날로그 레벨을 갖는 측정값을 제공하는 아날로그 컴포넌트;
    외부로부터 제공되는 기준 신호의 기준 레벨을 기준으로 상기 측정값의 상기 아날로그 레벨을 판단하고, 상기 측정값의 상기 아날로그 레벨이 미리 설정된 목표치에 해당하는 경우 트림 제어 신호를 제공하는 판단부; 및
    상기 트림 제어 신호에 대응하여 현재의 상기 트림값을 측정 결과값으로 저장하는 저장부;를 포함함을 특징으로 하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 트림값 생성기는 디지털 값을 상기 트림값으로 제공하고;
    상기 아날로그 컴포넌트는 상기 측정값을 위한 부하로 작용하는 특성 가변부를 포함하며; 그리고,
    상기 특성 가변부는 가변되는 상기 트림값에 대응하여 가변되는 상기 부하를 상기 아날로그 컴포넌트에 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  13. 제11 항에 있어서,
    상기 판단부는 비교기를 포함하고,
    상기 비교기는 상기 측정값의 상기 아날로그 레벨을 상기 기준 신호의 일정한 상기 기준 레벨과 비교하고 비교 결과가 상기 목표치에 해당하는 경우 상기 트림 제어 신호를 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  14. 제11 항에 있어서,
    상기 트림값 생성기는 상기 트림 제어 신호를 수신하면 상기 저장부에 현재의 상기 트림값을 제공하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
  15. 제5 항에 있어서,
    상기 아날로그 컴포넌트는 밴드갭 기준전압 생성부를 구비하며,
    상기 측정 결과값은 상기 밴드갭 기준전압 생성부의 내부 동작을 위하여 세팅되고,
    상기 밴드갭 기준전압 생성부는 상기 측정 결과값이 세팅된 후 상기 측정 결과값을 반영하여 상기 내부 동작을 수행하는 컴포넌트에 대한 트리밍 기능을 갖는 집적 회로.
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