KR20060069138A - 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치에 관한 것으로, 종래에는 특정 소자의 시간 지연이나 시간차(Time Gap)를 조정하기 위해서는 해당 소자별로 측정 장치의 단자에 연결한 후 세팅해야 하므로 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다. 이러한 문제점을 감안한 본 발명은 다수 소자들의 타이밍 특성에 관한 모듈 스펙이 설정된 테스트 모듈을 연결할 수 있는 커넥터와, 상기의 각 소자에 대한 타이밍 특성의 기준값을 저장하며, 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성과 기준값의 차이에 따른 클럭제어신호를 발생시키는 소프트웨어 칩과, 상기 클럭제어신호에 따라 소정 클럭 개수를 가지는 클럭 신호를 발생시키는 클럭 단자와, 상기 소자가 테스트 중임을 점등 상태로 표시하는 제 1 발광 다이오드부 및 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성과 기준값의 차이를 밝기 레벨로 표시하는 제 2 발광 다이오드부를 포함하는 발광 다이오드부와, 상기 클럭 신호의 따라 상기 제 1 발광 다이오드에 전류 전송 여부를 결정하고, 제 2 발광 다이오드에 전류량을 조절하여 전송하는 전하 펌프로 구성되어 테스트 모듈의 타이밍 특성을 간편하게 측정할 수 있는 효과가 있다.
Description
도 1은 본 발명에 의한 타이밍 특성 측정 장치의 구성도.
도 2는 본 발명에 의한 테스트 모듈의 타이밍 특성을 최적화하는 방법을 보여주는 흐름도.
**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**
10: 소프트웨어 칩 20: 발광 다이오드
30: 전하 펌프 40: 클럭 단자
50: 전원 단자 60: 커넥터
본 발명은 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치에 관한 것으로, 특히 발광 다이오드의 밝기 레벨로 테스트 모듈의 타이밍 특성이 기준값과 어느 정도 일치하는지 여부를 확인할 수 있게 한 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치에 관한 것이다.
휴대 단말기에서 동작하는 신호들은 모두 수 ns에서 수 ms로 구현되므로, 휴 대 단말기 각 소자의 동작 및 그에 관련된 성능이 클럭 시간지연(Clock Delay)에 따라 크게 좌우된다. 따라서, 각 소자에서 요구하는 최적화된 시간 지연 및 시간차를 구하는 일은 매우 중요하다.
일반적으로 소자의 시간 지연을 조정하기 위하여, 오실로스코프 등의 측정 장치를 이용하여 휴대 단말기를 구성하는 각 소자의 실제 시간 지연을 측정한 후, 해당 모듈에서 요구되는 기준값에 맞게 재조정하여 최적화하는 방법을 사용한다.
상기와 같은 종래 기술에 있어서, 타이밍 특성을 테스트 하고자 하는 소자의 시간 지연나 시간차(Time Gap) 등을 조정하기 위해서는 기준값을 만족할 때까지 해당 소자를 측정 장치의 단자에 연결한 후 세팅하는 과정을 반복해야 하므로 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 창안한 것으로, 테스트 대상이 되는 메인보드(main board)의 각 소자로 입력되는 신호를 받아서 각 소자에서 요구하는 시간지연이나 시간차 등의 타이밍 특성이 기준값을 충족시키는지 여부를 외부 발광 다이오드를 이용하여 확인할 수 있도록 한 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치를 제공함에 그 목적이 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 다수 소자들의 타이밍 특성에 관한 모듈 스펙이 설정된 테스트 모듈을 연결할 수 있는 커넥터와, 상기의 각 소자에 대한 타이밍 특성의 기준값을 저장하며, 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성 과 기준값의 차이에 따른 클럭제어신호를 발생시키는 소프트웨어 칩과, 상기 클럭제어신호에 따라 소정 클럭 개수를 가지는 클럭 신호를 발생시키는 클럭 단자와, 상기 소자가 테스트 중임을 점등 상태로 표시하는 제 1 발광 다이오드부 및 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성과 기준값의 차이를 밝기 레벨로 표시하는 제 2 발광 다이오드부를 포함하는 발광 다이오드부와, 상기 클럭 신호의 따라 상기 제 1 발광 다이오드에 전류 전송 여부를 결정하고, 제 2 발광 다이오드에 전류량을 조절하여 전송하는 전하 펌프로 구성한 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 따른 실시 예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명에 의한 타이밍 특성 측정 장치의 구성도로서, 이에 도시한 바와 같이 그 내부는 소프트웨어 칩(10), 발광 다이오드(Light Emitting Diode)(20), 전하 펌프(Charge Pump)(30), 클럭단자(40) 및 전원단자(50)로 구성하고, 그 외부에 테스트 모듈을 연결할 수 있는 커넥터(60)를 장착한다.
상기 소프트웨어 칩(10)은, 테스트 모듈이 신호를 측정하고 감지하는 경우에 있어서의 시간 지연, 시간차 등의 타이밍 특성에 대한 기준값을 다운로드 받아 저장하며, 테스트 모듈의 실제 타이밍 특성과 상기 기준값을 비교한다. 상기 기준값은, 각 신호에 대한 지연 타이밍(delay timing) 등이 모두 다르기 때문에 각 케이스에 맞는 측정 단위 또는 기준이 되는 상승, 하강 에지 등이 포함한다.
상기 발광 다이오드(이하, 'LED'라 약칭함)(20)는 LED1~LED5(21~25)로 구성하고, LED1~LED4(21~24)는 타이밍 특성을 측정하기 위한 테스트 모듈의 소자들 중 어느 소자의 타이밍 특성을 측정하고 있는지 점등 상태로 표시하며, LED5(25)는 측정하고 있는 소자의 타이밍 특성이 기준값과 어느 정도 차이가 있는지 밝기 레벨로 표시한다.
상기 전하 펌프(30)는, 입력되는 클럭 신호에 따라 상기 LED1~LED4(21~24)에 전류 전송 여부와 상기 LED5(25)에 전송할 전류량을 결정하여, LED1~LED4(21~24)의 점등/소등 및 LED5(25)의 밝기 레벨을 조절한다.
상기 클럭 단자(40)는, 상기 전하 펌프(30)에 LED1~LED4(21~24)의 점등/소등 및 LED5(25)의 밝기 레벨을 알려주는 클럭 신호를 전송한다.
상기와 같이 구성된 타이밍 특성 측정 장치의 동작 과정을 상세히 설명하면 다음과 같다.
상기 소프트웨어 칩(10)에는 상기 테스트 모듈을 구성하는 각 소자의 지연 시간에 대해 데이터 시트(data sheet)에서 요구하는 기준값이 저장되어 있으므로, 테스트 모듈로 들어오는 클럭 신호의 상승 및 하강 에지(rising/falling edge)를 비롯한 지연 시간을 측정한 후 상기 기준값과 비교하여, 그에 따른 클럭 제어 신호를 상기 클럭 단자(40)로 전송한다.
이어서, 상기 클럭 단자(40)는 전하 펌프(30)에 클럭 신호를 전송한다. 보통, 클럭 단자(40)는 0~16까지의 클럭 개수를 가지는 클럭 신호를 전하 펌프(30)로 전송하므로, 전하 펌프(30)의 레벨도 16단계로 변화한다.
그 다음, 전하 펌프(30)는 입력되는 클럭 신호에 따라 LED1~LED4(21~24) 중 타이밍 특성을 측정하고 있는 소자에 해당하는 LED에 전류를 공급하며, 예컨대, 카 메라 칩의 타이밍 특성을 측정하는 경우 LED1(21)을 점등하고, LCD의 타이밍 특성을 측정하고 있는 경우 LED2(22)을 점등하도록 설정할 수 있다. 이 때, LED5(25)에도 전류를 공급하며, 소프트웨어 칩에(10) 저장된 기준값과 실제 측정한 타이밍 특성과의 차이가 적을수록 다량의 전류를 공급한다. 따라서, 카메라 칩의 타이밍 특성이 기준값에 일치하면, LED1(21)은 점등시키고 LED5(25)는 최고 레벨의 밝기 레벨로 발광시킨다.
이 때, 클럭 신호의 길이가 매우 짧기 때문에 소정 시간만큼의 시간 간격을 두어 LED가 점등되도록 한다. 예를 들어, 어느 클럭 신호의 상승 에지를 찾았다면, 그 시간으로부터 100배 또는 1000배 정도의 시간 간격을 둔 후 LED를 점등한다. 마찬가지로, 하나의 신호와 또 다른 하나의 신호 사이의 시간차도 상기와 같이 시간 간격을 두어 특정 레벨을 갖는 LED 밝기로 표현할 수 있다.
카메라 칩과 LCD의 지연 시간을 측정하는 경우의 예를 들면, 우선 소프트웨어 칩(10)에는 각 카메라 칩와 LCD의 데이터 시트에서 제공하는 타이밍 특징인 지연 시간, 상승/하강 에지 등의 기준값을 입력한다. 그리고, 테스트 모듈을 연결하면, 카메라 칩의 지연 시간을 측정하는 경우 LED1(21)을 점등하고 소프트웨어 칩(10)에 다운로드 된 기준값과 실제 지연시간을 비교하여 그 차이만큼을 LED5(25)의 밝기 레벨로 표시한다. 마찬가지로 LCD의 지연 시간을 측정하는 경우 LED2(22)를 점등하고 이 때 소프트웨어 칩(10)에 다운로드 된 기준값과 실제 지연시간을 비교하여 그 차이만큼을 LED5(25)의 밝기 레벨로 표시한다.
도 2는 본 발명에 의한 테스트 모듈의 타이밍 특성을 최적화하는 방법을 보 여주는 흐름도로서, 도 1의 구성도를 참조하여 설명하면 측정 장치를 구성하는 소프트웨어 칩에 타이밍 특성의 기준값을 입력하는 단계(S101)와, 테스트 모듈에 상기 기준값과 대응되는 모듈 스펙을 입력하는 단계(S102)와, 상기 테스트 모듈을 측정 장치의 커넥터에 연결하는 단계(S103)와, 상기 측정 장치에 장착된 각 LED(LED1~LED5)를 확인하는 단계(S104)와, 상기 LED5의 밝기가 레벨 10인지 판단하는 단계(S105)와, 상기 판단 결과 LED5의 밝기가 레벨 10(밝기 레벨은 0부터 10까지 있으며, 밝기 레벨 10일 때 가장 밝다고 가정한다.)이면 그 때의 테스트 모듈에 입력한 모듈 스펙을 측정하는 단계(S106)와, 상기 판단 결과 LED5의 밝기가 레벨 10이 아니면 다시 테스트 모듈에 모듈 스펙을 입력하는 일련의 과정을 반복하는 단계(S102~S105)로 이루어진다.
먼저, 소프트웨어 칩에는 지연 시간, 상승 및 하강 에지 등의 타이밍 특성들의 기준값을 입력하고, 테스트 모듈에도 상기 기준값과 대응되는 모듈 스펙을 입력한 후 상기 소프트웨어 칩을 포함하는 측정 장치의 커넥터에 상기 테스트 모듈을 연결한다(S101~S103).
이상적인 경우라면 상기 테스트 모듈을 구성하는 각종 소자의 모듈 스펙은 소프트웨어 칩에 입력하는 기준값과 동일해야 하나, 그와 같은 모듈 스펙으로 소자를 구성했을 때의 실제 타이밍 특성에 변화가 생긴다.
따라서, 테스트 중인 소자를 점등 상태로 나타내는 LED와, 밝기 레벨로 테스트 중인 소자의 타이밍 특성이 기준값과 어느 정도 일치하는지를 표시하는 LED5를 확인한다(S104~S105).
그리고, 상기 판단 결과 LED5의 밝기가 레벨 10이면 해당 소자의 타이밍 특성이 기준값과 일치한다는 것을 뜻하므로, 그 때의 모듈 스펙을 측정하고(S106), 레벨 10이 아니라면 LED5의 밝기가 더 밝아질 수 있도록 모듈 스펙을 재조정하여 상기와 같은 과정을 반복한다(S102~S105).
이상에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 측정 장치를 이용하여 각 칩의 타이밍 특성을 기준값과 일치하도록 손쉽게 조절할 수 있으며, 그에 따라 칩 개발 후의 테스트 단계에서 해당 칩에 대한 지식을 갖지 않는 사람도 데이터 시트에서 요구하는 기준값를 만족하는지 여부를 육안으로 확인할 수 있는 효과가 있다.
Claims (4)
- 다수 소자들의 타이밍 특성에 관한 모듈 스펙이 설정된 테스트 모듈을 연결할 수 있는 커넥터와,상기의 각 소자에 대한 타이밍 특성의 기준값을 저장하며, 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성과 기준값의 차이에 따른 클럭제어신호를 발생시키는 소프트웨어 칩과,상기 클럭제어신호에 따라 소정 클럭 개수를 가지는 클럭 신호를 발생시키는 클럭 단자와,상기 소자가 테스트 중임을 점등 상태로 표시하는 제 1 발광 다이오드부 및 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성과 기준값의 차이를 밝기 레벨로 표시하는 제 2 발광 다이오드부를 포함하는 발광 다이오드부와,상기 클럭 신호의 따라 상기 제 1 발광 다이오드에 전류 전송 여부를 결정하고, 제 2 발광 다이오드에 전류량을 조절하여 전송하는 전하 펌프로 구성한 것을 특징으로 하는 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 발광 다이오드부는, 타이밍 특성을 측정하고자 하는 테스트 모듈의 소자 개수만큼의 발광 다이오드로 구성된 것을 특징으로 하는 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 타이밍 특성은 클럭의 지연 시간(delay time), 시간 차(time gap), 상승 에지(rising edge) 및 하강 에지(falling edge)로 구성한 것을 특징으로 하는 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 클럭제어신호는, 테스트 중인 소자의 실제 타이밍 특성이 기준값과 일치할수록 상기 클럭 단자가 더 많은 클럭 개수를 가지는 클럭신호를 발생시키도록 제어하는 것을 특징으로 하는 휴대 단말기 각 모듈의 지연 시간 측정 장치.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR1020040108238A KR20060069138A (ko) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| KR1020040108238A KR20060069138A (ko) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치 |
Publications (1)
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| KR20060069138A true KR20060069138A (ko) | 2006-06-21 |
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ID=37163340
Family Applications (1)
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| KR1020040108238A KR20060069138A (ko) | 2004-12-17 | 2004-12-17 | 테스트 모듈의 타이밍 특성 측정 장치 |
Country Status (1)
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| KR (1) | KR20060069138A (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11067619B2 (en) | 2019-12-24 | 2021-07-20 | Silicon Works Co., Ltd. | Integrated circuit having trim function for component |
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2004
- 2004-12-17 KR KR1020040108238A patent/KR20060069138A/ko not_active Application Discontinuation
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|---|---|---|---|---|
| US11067619B2 (en) | 2019-12-24 | 2021-07-20 | Silicon Works Co., Ltd. | Integrated circuit having trim function for component |
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