KR20210014482A - 와전류 신호 특성을 이용한 전지의 저항용접 품질 평가 방법 - Google Patents

와전류 신호 특성을 이용한 전지의 저항용접 품질 평가 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 와전류 신호 특성을 이용한 전지의 저항용접 품질 평가 방법에 관한 것으로, 각 개별 전지의 물성 차이에 따른 오차로 인한 오류를 방지하여 높은 신뢰성을 제공할 수 있으며, 비파괴 방식을 적용하여 평가 과정이 간명하다.

Description

와전류 신호 특성을 이용한 전지의 저항용접 품질 평가 방법{METHOD FOR TESTING RESISTANCE WELDING PART OF BATTERY USING EDDY CURRENT SIGNAL}
본 발명은 전지의 저항용접 품질 평가 방법에 관한 것으로, 상세하게는 와전류 신호 특성을 이용하여 전지의 저항용접 품질을 평가하는 방법에 관한 것이다.
화석연료의 고갈에 의한 에너지원의 가격이 상승하고, 환경오염에 대한 관심이 증폭되면서 친환경 대체 에너지원에 대한 요구가 증가한다. 특히, 화석 연료를 사용하는 기존의 자동차는 공해 물질을 배출하고, 이는 환경 오염의 주요 원인으로 작용한다.
최근, 충방전이 가능한 이차전지는 와이어리스 모바일 기기의 에너지원으로 광범위하게 사용되고 있다. 또한, 이차전지는, 화석 연료를 사용하는 기존의 가솔린 차량, 디젤 차량 등의 대기오염 등을 해결하기 위한 방안으로 제시되고 있는 전기자동차(EV), 하이브리드 전기자동차(HEV) 등의 동력원으로서도 주목받고 있다.
이차전지 수요 증가에 따라 제품 출고전 전지 품질 평가의 중요성도 높아지고 있다. 특히, 용접에 의해 전지탭을 형성하는 전지의 경우에는, 용접부에서의 불량률이 상대적으로 높다. 예를 들어, 원통형 전지는 전지셀을 금속 케이스가 감싼 구조이며, 원통형 구조의 일측 단부에는 저항용접에 의해 전지탭이 형성된다. 그러나, 금속 케이스의 개별 물성 내지 용접 과정에서 유발되는 물성 변화는, 전지의 품질 평가시 오차의 원인이 되고 평가의 신뢰성을 저하시키는 원인이 된다.
따라서, 평가 공정이 간명하면서도 금속 케이스별 물성 차이로 인한 오차를 방지할 수 있는 신뢰성 높은 품질 평가 방법에 대한 필요성이 높은 실정이다.
한국공개특허 제10-2018-0035484호
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로서, 와전류 신호 특성을 이용하여 전지의 저항용접 품질을 평가하는 방법을 제공함을 목적으로 한다.
본 발명에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법은, 저항용접된 용접부를 포함하는 전지에 대한 저항용접 품질 평가 방법으로,
용접부를 포함하는 일 평면 상에서, 상기 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인을 따라 와전류 신호를 측정하는 단계; 및
측정된 와전류 신호를 분석하되, 용접부에서의 와전류 신호값과 용접부 외의 지점에서의 와전류 신호값을 대비하여 저항용접 품질을 판별하는 단계;를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 상기 용접부는 전지탭이 저항용접에 의해 접합된 지점이다. 본 발명의 구체적인 일 실시예에 따르면, 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 원통형 전지에서 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 수행한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 전지탭이 용접된 일 평면 상에서 수행하되, 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인은, 용접부를 경유하는 직선형태의 라인이거나 용접부를 기준으로 양쪽이 대칭인 곡선 형태의 라인이다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인을 따라 연속적 혹은 간헐적으로 수행한다. 구체적으로, 와전류 신호를 측정하는 단계에서, 와전류 신호를 측정하는 지점으로, 평면의 양측 단부 및 용접부를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법에서는, 용접부 외의 지점에서 측정된 와전류 신호의 피크값을 레퍼런스값으로 하고, 용접부에서 측정된 와전류 신호의 최소값을 물성값으로 하되,
저항용접 품질을 판별하는 단계는, 레퍼런스값과 물성값의 차를 산출하고, 산출된 수치가 미리 설정된 범위를 벗어나는 경우에는 불량으로 판정한다.
구체적으로, 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고, 레퍼런스값은, 양측 단부 인근에서 측정된 와전류 신호의 각 피크값의 평균치이다.
본 발명에서, 평가 대상이 되는 전지는 알루미늄 또는 그 합금으로 형성된 케이스를 갖는 원통형 전지인 경우를 포함한다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고,
와전류 신호를 측정하는 단계는, 원통형 전지에서 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 수행하되,
용접부를 경유하는 제1 라인 상에서 수행하는 제1 측정 단계; 및 용접부에서 상기 제1 라인과 교차하되, 상기 제1 라인과 중복되지 않는 제2 라인 상에서 수행하는 제2 측정 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법은, 각 개별 전지의 물성 차이에 따른 오차로 인한 오류를 방지하여 높은 신뢰성을 제공할 수 있으며, 비파괴 방식을 적용하여 평가 과정이 간명하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법을 수행하는 과정을 촬영한 사진이다.
도 2 내지 4는 각각 원통형 전지의 일측 단부에 용접 강도를 달리하여 전지탭이 형성하고, 각 시료별 용접 부위의 단면을 전자현미경으로 관찰한 결과들이다.
도 5는 전지탭을 부착하기 전 상태의 전지들에 대하여 와전류 신호를 측정한 결과를 나타낸 그래프이다.
도 6 및 7은 각각 본 발명의 일 실시예에 따른 방법으로 전지의 와전류 신호를 측정한 결과를 나타낸 그래프들이다.
도 8은 각 전지 샘플별로 레퍼런스값과 물성값을 차이를 산출한 결과를 나타낸 그래프이다.
도 9는 각 전지 샘플별로 물성값 측정 결과를 나타낸 그래프이다.
본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 안 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
본 발명에서 '용접'이란 고상의 두 금속에 열 및/또는 압력을 가하여 결합하는 공정을 총칭한다. 본 발명에서 '저항용접'이란, 다양한 용접 방식 중에서 용접부위에 전류와 압력을 가해 금속 자체에서 발생하는 저항열을 이용하여 용접하는 방식을 의미한다.
본 발명에서 '와전류(eddy current)'란, 도체에 걸린 자기장이 시간적으로 변화할 때 전자기 유도에 의해 도체에 생기는 소용돌이 형태의 전류이다. 또한, 본 발명에서 '와전류 신호'란, 여진 코일에 고주파전류를 흘려 피검사물체의 탐상부분에 와전류를 발생시키고, 결함에 의하여 와전류의 분포상태가 변화하는 것을 감지하는 비파괴 탐상법에 따른 신호를 의미한다.
와전류 신호를 측정하는 과정은 통상적으로 알려진 방법으로 수행 가능하다. 측정 원리를 개략적으로 설명하면, 다음과 같다. 공심(空芯) 때의 코일의 직류저항, 인덕턴스, 각 주파수를 R 0 , L 0 , ω라고 하면 코일의 임피던스 Z는, Z=R 0 +jωL 0 가 된다. 여진 코일을 피검사체에 접근시키면 여진 코일의 임피던스는 피검사체의 투자율 및 도전율에 의하여 변화한다. 여자 코일의 임피던스는 공심 때의 리액턴스 ωL 0 를 기준으로 정규화하여 R/ωL 0 , ωL/ωL 0 로 임피던스 평면상에 표시할 수 있기 때문에 이 임피던스도에서 결함의 분포상태를 구할 수 있다. 와전류 신호를 측정하는 과정은 상업적으로 입수 가능한 측정 장비를 통해 수행 가능하며, 예를 들어, 정안시스템社의 JAS-0100W 제품을 이용할 수 있다.
본 발명은 저항용접된 용접부를 포함하는 전지에 대한 저항용접의 품질을 평가하는 품질 평가 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법은,
용접부를 포함하는 일 평면 상에서, 상기 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인을 따라 와전류 신호를 측정하는 단계; 및
측정된 와전류 신호를 분석하되, 용접부에서의 와전류 신호값과 용접부 외의 지점에서의 와전류 신호값을 대비하여 저항용접 품질을 판별하는 단계;를 포함한다.
본 발명에 따른 평가 방법은, 용접부의 신호값을 측정하고 이를 미리 설정된 기준치와 단순히 비교하는 방법과는 차별화된다. 전지 제조시, 동일한 제조 공정 및 동일한 재질의 전지 케이스를 적용하더라도, 개별 전지 케이스 간에 물성 차이가 존재한다. 또한, 전지 케이스에 용접을 가하게 되면, 이는 전지 케이스의 물성 변화를 초래하게 된다. 특히, 저항 용접은 용접 과정에서 저항열이 발생하며, 개별 용접 공정에서 다양한 열 거동을 나타낸다. 이러한 전지 케이스의 물성 차이 및 용접시 열거동은 품질평가 과정에서 오차로 작용하게 된다. 본 발명에서는, 와전류 신호를 측정하는 단계에서, 용접부 및 용접부와 이격된 부위를 함께 평가하게 된다. 본 발명은, 와전류 신호를 측정하는 단계에서, 용접부 및 용접부와 이격된 부위의 물성을 함께 측정하고, 이들 간의 차이로부터 용접 품질을 평가하게 된다. 따라서, 본 발명에 따른 평가 방법은, 이러한 오차로 인한 오류를 방지하는 효과가 있다.
하나의 예에서, 상기 용접부는 전지탭이 저항용접에 의해 접합된 지점이다. 본 발명에 따른 평가 방법은, 저항용접 과정을 통해 용접된 전지탭 부위의 용접 품질을 평가하는 방법으로 적용 가능하다. 예를 들어, 원통형 전지의 경우에는, 원통형의 전지 케이스 일측 단면의 중심부에 전지탭을 형성하게 된다. 이러한 전지탭은 저항용접 과정을 통해 형성 가능하다. 따라서, 본 발명에 따른 평가 방법은, 원통형 전지에서 전지탭의 용접 품질을 평가하는 방법으로 활용 가능하다.
하나의 예에서, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 전지탭이 용접된 일 평면 상에서 수행한다. 또한, 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인은, 용접부를 경유하는 직선 형태의 라인이거나 용접부를 기준으로 양쪽이 대칭인 곡선 형태의 라인이다. 이 경우, 와전류 신호를 측정하는 단계는 용접부를 가로지르는 직선을 따라 수행하거나, 혹은 용접부를 기준으로 좌우 대칭인 직선이나 곡선 라인을 따라 수행할 수 있다. 이러한 과정은, 전지의 일 평면 상에서, 일측 단부로부터 용접부를 경유하여 반대측 단부까지의 물성을 연속적으로 검출하기 위한 것이다.
본 발명의 구체적인 예로서, 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이다. 이 경우, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 원통형 전지에서 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 수행한다. 원통형 전지는 원기둥 형상의 바디를 가지며, 원기둥 형상의 양측 단부의 중심에는 양극 또는 음극의 전극 탭이 각각 형성된다. 본 발명에서는, 평가 대사이 되는 전지가 원통형 전지인 경우, 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 와전류 신호를 측정하게 된다.
예를 들어, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인을 따라 연속적 혹은 간헐적으로 수행 가능하다. 본 발명에서 와전류를 '연속적'으로 측정한다는 것은, 측정 지점 간에 이격 거리 없이 지속적으로 와전류를 측정하는 것을 의미한다. 또한, 와전류를 '간헐적'으로 측정한다는 것은, 측정 지점 간에 일정한 이격 거리를 두고 정해진 라인을 따라 와전류를 측정하는 것을 의미한다.
와전류 신호를 측정하는 단계에서, 와전류 신호를 측정하는 지점으로, 평면의 양측 단부 및 용접부를 포함하는 것이 바람직하다. 와전류 신호를 측정하는 단계를 간헐적으로 수행 가능하는 경우에, 측정의 시작 지점이 되는 일측 단부, 중심 지점인 용접부, 및 측정의 끝 지점이 되는 반대측 단부는 필수 측정 지점들이다.
구체적으로, 본 발명에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법은, 용접부 외의 지점에서 측정된 와전류 신호의 피크값을 레퍼런스값으로 하고, 용접부에서 측정된 와전류 신호의 최소값을 물성값으로 한다. 또한, 저항용접 품질을 판별하는 단계는, 측정된 레퍼런스값과 물성값의 차를 산출하고, 이를 근거로 용접부의 불량 여부를 판정하게 된다. 산출된 레퍼런스값과 물성값의 차가 미리 설정된 범위를 벗어나는 경우에는 불량으로 판정한다.
하나의 예에서, 본 발명의 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고, 레퍼런스값은, 양측 단부 인근에서 측정된 와전류 신호의 각 피크값의 평균치이다. 통상적인 원통형 전지의 경우, 용접부에서의 신호는 물성값이 되고, 양측 단부에서의 신호는 레퍼런스값으로 작용한다. 즉, 원통형 전지에서는 용접부에서의 와전류 신호는 최저값을 보이고, 양측 단부 인근에서 측정된 와전류 신호는 피크를 보이는 경우가 많다. 이 때, 용접부에서 보이는 최저값이 물성값이 되고, 양 단부에서 보이는 피크들의 평균치가 레퍼런스값이 된다.
예를 들어, 평가 대상이 되는 전지가 원통형 전지인 경우, 상기 원통형 전지는 알루미늄 또는 그 합금으로 형성된 케이스를 갖는 구조일 수 있다. 이 경우, 알루미늄 또는 그 합금으로 형성된 원통형 케이스 바디에 동일 재질로 형성된 전지탭이 용접될 수 있다. 혹은 전지탭이 니켈 또는 그 합금으로 도금된 경우도 포함한다.
또 다른 하나의 예에서, 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고, 와전류 신호를 측정하는 단계는, 원통형 전지에서 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 수행하되, 용접부를 경유하는 제1 라인 상에서 수행하는 제1 측정 단계; 및 용접부에서 상기 제1 라인과 교차하되, 상기 제1 라인과 중복되지 않는 제2 라인 상에서 수행하는 제2 측정 단계를 포함한다. 이 경우는, 두개의 라인을 따라 와전류 신호를 측정하게 되며, 교차 측정을 통해 평가의 신뢰도를 높이기 위한 것이다. 위 예시에서는 제1 및 제2 라인을 따라 와전류 신호를 측정하는 단계를 수행하게 되나, 본 발명에서는 둘 이상의 라인을 따라 와전류 신호를 측정하는 경우를 배제하는 것은 아니다.
이하, 첨부된 실시예와 도면 등을 참조하여 본 발명의 구체적인 예를 상세히 설명하기로 한다. 본 명세서에 기재된 실시예 및 도면 등에 도시된 구성은 본 발명의 구체적인 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상에 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
이와 관련하여, 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전지의 저항용접 품질 평가 방법을 수행하는 과정을 촬영한 사진이다. 평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이다. 원통형 전지를 측정대 위에 세워 놓은 상태에서, 전지의 일측 단부면에 대하여 와전류 신호를 측정한다. 와전류 신호 측정은 위의 단부면 일측 끝단에서 시작하여 중심부를 지나 반대측 끝단까지 수행한다.
도 2 내지 4는 각각 용접 강도를 달리하여 전지탭을 용접하고, 각 용접된 시료의 단면을 전자현미경으로 관찰한 결과들이다. 도 2는 용접 강도가 약한 경우이며, 용접부 주변에 물성 변화가 거의 관찰되지 않는다. 이에 대해, 도 3은 용접 강도가 적절한 경우이며, 용접부 주변에 물성 변화가 관찰된다. 도 4는 용접 강도가 과도한 경우이며, 용접부 주변이 과도하게 변형된 것을 알 수 있다. 이 경우, 도 2 및 4의 경우는 불량품으로 판정되어야 하고, 도 3은 양품으로 판정되어야 한다. 통상적으로, 전지탭을 용접하는 경우에, 용접 강도가 약한 경우에는 사용중 전지탭이 분리되거나 전기적 연결이 끊어지는 하자가 발생하고, 용접 강도가 과도한 경우에는 공정 효율을 저하시키게 된다. 그러나, 평가 대상이 되는 전지에서, 용접부 단면을 관찰하는 것은 용이하지 않다. 이에, 본 발명은 비파괴 방식으로 용접부의 품질을 효과적으로 평가할 수 있는 방법을 제시한다.
도 5는 전지탭을 부착하기 위한 용접 과정을 거치기 않은 전지들에 대하여 와전류 신호를 측정한 결과를 나타낸 그래프이다. 구체적으로, 전지탭을 부착하지 않은 원통형 전지 샘플을 무작위로 5개 선정(Can 1 내지 5)하였고, 각 전지 샘플에 대하여 와전류 신호를 측정하였다. 도 5를 참조하면, 선정된 전지 샘플들은 동일한 제작 과정을 거쳐 제조되었음에도 불구하고, 물성 차이로 인해 데이터 쉬프트(shift)가 있음을 알 수 있다. 이러한 데이터 쉬프트는, 용접 품질 평가의 신뢰성을 저하시키는 원인이 된다.
실시예: 전지 샘플별 저항용접 품질 평가 수행
알루미늄으로 형성된 케이스를 갖는 원통형 전지 샘플에 대하여 저항용접을 실시하여 전지탭을 부착하였다. 이 때, 각 샘플 별로 용접 강도를 달리하였다. 구체적으로, 샘플 1 내지 3은 적정 수준의 용접 강도에서 저항용접을 수행하였고, 샘플 4 내지 6은 약한 수준의 용접 강도에서 저항용접을 수행하였다.
각 샘플에 대하여 와전류 신호값을 측정하였다. 와전류 신호값 측정은 전지탭이 부착된 면에 대하여 좌측 바깥 영역에서 우측 방향으로 연속적으로 1000회 이상 연속적으로 측정을 수행하였으며, 정안시스템社의 JAS-0100W 장비를 이용하여 수행하였다.
예를 들어, 샘플 1에 대한 와전류 신호값 측정 결과는 도 6에 도시하였고, 샘플 4에 대한 와전류 신호값 측정 결과는 도 7에 도시하였다. 도 6 및 7에서, A는 샘플의 좌측 끝단, B는 용접부인 중심 지점, 그리고 C는 샘플의 우측 끝단을 나타낸다. 샘플 1 내지 6에 대한 측정 결과를 도시한 그래프는, 모두 중심부에서의 수치가 작고 상기 중심부에서 좌측 및 우측으로 갈수록 수치가 증가하는 형태인 것을 확인하였다. 각 샘플별 측정 결과를 정리하면 하기 표 1과 같다.
표 1에서, 중심 지점(B)으로부터 그래프 좌측의 최고점에서의 수치는 '좌측 피크값', 중심 지점(B) 인근의 최저점에서의 수치는 '용접부 최소값', 그리고 중심 지점(B)으로부터 그래프 우측의 최고점에서의 수치는 '우측 피크값'으로 각각 표시하였다. 표 1에 도시하였다. 하기 표 1에서, 단위는 mV이다.
샘플 No. 좌측 피크값 용접부 최소값 우측 피크값
샘플 1 27.3214 26.7256 27.2289
샘플 2 27.2154 26.5283 27.2696
샘플 3 27.3874 26.5384 27.2382
샘플 4 27.1892 26.6803 26.9762
샘플 5 27.3867 27.1334 27.4335
샘플 6 27.3850 26.9509 27.3482
위 표 1의 결과에서, 좌측 피크값과 우측 피크값의 평균치를 산출하여 레퍼런스 값으로 표시하고 용접부 최소값을 물성값으로 표시하면, 하기 기 표 2와 같다.
샘플 No. 레퍼런스값 물성값 차이
샘플 1 27.2752 26.7256 0.5496
샘플 2 27.2425 26.5283 0.7142
샘플 3 27.3128 26.5384 0.7744
샘플 4 27.0827 26.6803 0.4024
샘플 5 27.4101 27.1334 0.2767
샘플 6 27.3666 26.9509 0.4157
표 2를 참조하면, 샘플 1 내지 3의 경우에는 래퍼런스값과 물성값의 차이가 0.5 이상이고, 샘플 4 내지 6의 경우에는 상기 차이가 0.5 미만인 것을 알 수 있다. 본 발명에서는, 위 표 2의 결과를 토대로, 샘플 1 내지 3은 정상 제품으로 판정하고, 샘플 4 내지 6은 불량 제품으로 판정하게 된다.
그러나, 단순히 용접부에서의 와전류 신호값인 물성값 만을 비교하게 되면, 불량 여부에 대한 판정이 용이하지 않다. 구체적으로, 샘플 1 내지 3의 물성값은 26.5283 내지 26.7256 사이이다. 이에 대해, 샘플 4의 물성값은 26.6803이고, 샘플 6의 물성값은 26.5909이다. 샘플 1 내지 3의 범위와 대비하여, 샘플 4의 물성값은 상기 범위와 중복되고, 샘플 6의 물성값은 상기 범위와 유사한 것으로 나타난다.
구체적으로, 도 8은 각 샘플별로 레퍼런스값과 물성값을 차이를 산출하고 그 결과를 나타낸 그래프이다. 도 8에서, 샘플 1 내지 3의 수치와 샘플 4 내지 6의 수치는 현저한 차이를 보이며, 이를 통해 정상 제품과 불량 제품 간의 구분이 명확하다. 이에 대해, 도 9는 각 샘플별로 물성값 측정 결과를 나타낸 그래프이다. 도 9에서, 샘플 1 내지 3과 대비하여, 샘플 4는 차이가 확인되지 않으며, 샘플 6은 유사한 수치를 보이고 있다.
따라서, 단순히 물성값 만을 비교하게 되면, 전지의 불량 여부에 대한 판정이 정확하지 않음을 알 수 있다. 본 발명은, 와전류 신호를 측정하는 단계에서, 용접부 및 용접부와 이격된 부위의 물성을 함께 측정하고, 이들 간의 차이를 비교함으로써, 정확한 용접 품질이 가능하다.

Claims (10)

  1. 저항용접된 용접부를 포함하는 전지에 대한 저항용접 품질 평가 방법으로,
    용접부를 포함하는 일 평면 상에서, 상기 평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인을 따라 와전류 신호를 측정하는 단계; 및
    측정된 와전류 신호를 분석하되, 용접부에서의 와전류 신호값과 용접부 외의 지점에서의 와전류 신호값을 대비하여 저항용접 품질을 판별하는 단계;를 포함하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 용접부는 전지탭이 저항용접에 의해 접합된 지점인 것을 특징으로 하는 저항용접 품질 평가 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고,
    와전류 신호를 측정하는 단계는, 원통형 전지에서 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 수행하는 것을 특징으로 하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    와전류 신호를 측정하는 단계는, 전지탭이 용접된 일 평면 상에서 수행하되,
    평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인은, 용접부를 경유하는 직선형태의 라인이거나 용접부를 기준으로 양쪽이 대칭인 곡선 형태의 라인인 것을 특징으로 하는 저항용접 품질 평가 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    와전류 신호를 측정하는 단계는,
    평면의 일측 단부에서 상기 용접부를 경유하여 반대편 단부를 연결하는 라인을 따라 연속적 혹은 간헐적으로 수행하는 것을 특징으로 하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    와전류 신호를 측정하는 단계에서,
    와전류 신호를 측정하는 지점으로, 평면의 양측 단부 및 용접부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    용접부 외의 지점에서 측정된 와전류 신호의 피크값을 레퍼런스값으로 하고,
    용접부에서 측정된 와전류 신호의 최소값을 물성값으로 하되,
    저항용접 품질을 판별하는 단계는,
    레퍼런스값과 물성값의 차를 산출하고, 산출된 수치가 미리 설정된 범위를 벗어나는 경우에는 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고,
    레퍼런스값은, 양측 단부 인근에서 측정된 와전류 신호의 각 피크값의 평균치인 것을 특징으로 하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    평가 대상이 되는 전지는 알루미늄 또는 그 합금으로 형성된 케이스를 갖는 원통형 전지인 것을 특징으로 하는 전지의 저항용접 품질 평가 방법.
  10. 제 1 항에 있어서,
    평가 대상이 되는 전지는 원통형 전지이고,
    와전류 신호를 측정하는 단계는,
    원통형 전지에서 전지탭이 용접된 일측 단부의 평면 상에서 수행하되,
    용접부를 경유하는 제1 라인 상에서 수행하는 제1 측정 단계; 및
    용접부에서 상기 제1 라인과 교차하되, 상기 제1 라인과 중복되지 않는 제2 라인 상에서 수행하는 제2 측정 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 저항용접 품질 평가 방법.
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