KR20190140743A

KR20190140743A - 광학 디바이스

Info

Publication number: KR20190140743A
Application number: KR1020180067624A
Authority: KR
Inventors: 이성민; 이영신; 전병건; 문인주
Original assignee: 주식회사 엘지화학
Priority date: 2018-06-12
Filing date: 2018-06-12
Publication date: 2019-12-20
Also published as: EP3809172A4; WO2019240414A1; JP2021514484A; JP7222170B2; CN111712746B; CN111712746A; US20210055463A1; EP3809172A1; US10996387B2; KR102171277B1

Abstract

본 출원은 광학 디바이스에 대한 것이다. 본 출원의 광학 디바이스는 투과율의 가변이 가능하고, 외관불량이 개선됨과 동시에 광 손실을 감소 시킬 수 있다. 이러한 광학 디바이스는, 선글라스나 AR(Argumented Reality) 또는 VR(Virtual Reality)용 아이웨어(eyewear) 등의 아이웨어류, 건물의 외벽이나 차량용 선루프 등의 다양한 용도에 사용될 수 있다.

Description

광학 디바이스{Optical Device}

본 출원은, 광학 디바이스에 관한 것이다.

액정 화합물을 이용하여 투과율을 가변 할 수 있도록 설계된 광학 디바이스는 다양하게 알려져 있다.

예를 들면, 호스트 물질(host material)과 이색성 염료 게스트(dichroic dye guest)의 혼합물을 적용한 소위 GH셀(Guest host cell)을 사용한 투과율 가변 장치가 알려져 있고, 상기 장치에서 호스트 물질로 주로 액정 화합물이 사용된다.

이러한 투과율 가변 장치는 선글라스나 안경 등의 아이웨어(eyewear), 건물 외벽 또는 차량의 선루프 등을 포함한 다양한 용도에 적용되고 있다.

본 출원은, 투과율 가변이 가능하고, 외관 불량이 개선됨과 동시에 광 손실을 감소시킬 수 있는 광학 디바이스를 제공한다.

본 출원은, 투과율의 조절이 가능한 광학 디바이스로서, 예를 들면, 적어도 투과 모드와 차단 모드 사이를 스위칭 할 수 있는 광학 디바이스에 대한 것이다.

상기 투과 모드는 광학 디바이스가 상대적으로 높은 투과율을 나타내는 상태이고, 차단 모드는 광학 디바이스가 상대적으로 낮은 투과율을 나타내는 상태이다.

일 예시에서 상기 광학 디바이스는, 상기 투과 모드에서의 투과율이 약 30% 이상, 35% 이상, 40% 이상, 45% 이상 또는 약 50% 이상일 수 있다. 또한, 상기 광학 디바이스는, 상기 차단 모드에서의 투과율이 약 20% 이하, 15% 이하 또는 약 10% 이하일 수 있다.

상기 투과 모드에서의 투과율은 수치가 높을수록 유리하고, 차단 모드에서의 투과율은 낮을수록 유리하기 때문에 각각의 상한과 하한은 특별히 제한되지 않는다. 일 예시에서 상기 투과 모드에서의 투과율의 상한은 약 100%, 95%, 90%, 85%, 80%, 75%, 70%, 65% 또는 약 60%일 수 있다. 상기 차단 모드에서의 투과율의 하한은 약 0%, 1%, 2%, 3%, 4%, 5%, 6%, 7%, 8%, 9% 또는 약 10%일 수 있다.

상기 투과율은 직진광 투과율일 수 있다. 용어 직진광 투과율은 소정 방향으로 광학 디바이스를 입사한 광 대비 상기 입사 방향과 동일한 방향으로 상기 광학 디바이스를 투과한 광(직진광)의 비율일 수 있다. 일 예시에서 상기 투과율은, 상기 광학 디바이스의 표면 법선과 평행한 방향으로 입사한 광에 대하여 측정한 결과(법선광 투과율)일 수 있다.

본 출원의 광학 디바이스에서 투과율이 조절되는 광은, UV-A 영역의 자외선, 가시광 또는 근적외선일 수 있다. 일반적으로 사용되는 정의에 따르면, UV-A 영역의 자외선은 320 nm 내지 380 nm의 범위 내의 파장을 가지는 방사선을 의미하는 것으로 사용되고, 가시광은 380 nm 내지 780 nm의 범위 내의 파장을 가지는 방사선을 의미하는 것으로 사용되며, 근적외선은 780 nm 내지 2000 nm의 범위 내의 파장을 가지는 방사선을 의미하는 것으로 사용된다.

본 출원의 광학 디바이스는 적어도 상기 투과 모드와 차단 모드의 사이를 스위칭 할 수 있도록 설계된다. 필요한 경우에 광학 디바이스는 상기 투과 모드 및 차단 모드 외에 다른 모드도 구현할 수 있도록 설계될 수 있다. 예를 들면, 상기 투과 모드 및 차단 모드의 투과율 사이에서 임의의 투과율을 나타낼 수 있는 제 3의 모드도 구현될 수 있도록 설계될 수 있다.

이와 같은 모드간의 스위칭은 예를 들어 광학 디바이스가 액정 소자를 포함함으로써 달성될 수 있다. 상기에서 액정 소자는, 적어도 2개 이상의 광축의 배향 상태, 예를 들면, 제 1 및 제 2 배향 상태의 사이를 스위칭 할 수 있는 액정 소자다. 상기에서 광축은 액정 소자에 포함되어 있는 액정 화합물이 막대(rod)형인 경우에는 그 장축 방향을 의미할 수 있고, 원반(discotic) 형태인 경우에는 상기 원반 평면의 법선 방향을 의미할 수 있다. 한편, 액정 소자가 임의의 배향 상태에서 서로 광축 방향이 다른 복수의 액정 화합물들을 포함하는 경우에 액정 소자의 광축은 평균 광축으로 정의될 수 있고, 이 경우 평균 광축은 상기 액정 화합물들의 광축의 벡터합을 의미할 수 있다.

상기와 같은 액정 소자에서 배향 상태는 에너지의 인가, 예를 들면, 전압의 인가에 의해 변경할 수 있다. 즉, 상기 액정 소자는 전압의 인가가 없는 상태에서 상기 제 1 및 제 2 배향 상태 중에서 어느 한 배향 상태를 가지고 있다가 전압이 인가되면 다른 배향 상태로 스위칭될 수 있다.

상기 제 1 및 제 2 배향 상태 중 어느 한 배향 상태에서 상기 차단 모드가 구현되고, 다른 배향 상태에서 상기 투과 모드가 구현될 수 있다. 편의상 본 명세서에서는 특별히 달리 언급하지 않는 한 상기 제 1 배향 상태에서 차단 모드가 구현되는 것으로 기술한다.

상기 액정 소자는 적어도 액정 화합물을 포함하는 액정층을 포함할 수 있다. 일 예시에서 상기 액정층은 소위 게스트 호스트 액정층으로서, 액정 화합물과 이색성 염료 게스트를 포함하는 액정층일 수 있다.

상기 액정층은, 소위 게스트 호스트 효과를 이용한 액정층으로서, 상기 액정 화합물(이하, 액정 호스트라 칭할 수 있다)의 배향 방향에 따라 상기 이색성 염료 게스트가 정렬되는 액정층이다. 상기 액정 호스트의 배향 방향은 전술한 외부 에너지의 인가 여부에 따라 조절할 수 있다.

액정층에 사용되는 액정 호스트의 종류는 특별히 제한되지 않고, 게스트 호스트 효과의 구현을 위해 적용되는 일반적인 종류의 액정 화합물이 사용될 수 있다.

예를 들면, 상기 액정 호스트로는, 스멕틱 액정 화합물, 네마틱 액정 화합물 또는 콜레스테릭 액정 화합물이 사용될 수 있다. 일반적으로는 네마틱 액정 화합물이 사용될 수 있다. 용어 네마틱 액정 화합물은, 액정 분자의 위치에 대한 규칙성은 없지만, 모두 분자축 방향으로 질서를 가지고 배열할 수 있는 액정 화합물을 의미하고, 이러한 액정 화합물은 막대(rod) 형태이거나 원반(discotic) 형태일 수 있다.

이러한 네마틱 액정 화합물은 예를 들면, 약 40℃ 이상, 50℃ 이상, 60℃ 이상, 70℃ 이상, 80℃ 이상, 90℃ 이상, 100℃ 이상 또는 약 110℃ 이상의 등명점(clearing point)를 가지거나, 상기 범위의 상전이점, 즉 네마틱상에서 등방상으로의 상전이점을 가지는 것이 선택될 수 있다. 일 예시에서 상기 등명점 또는 상전이점은 약 160℃ 이하, 150℃ 이하 또는 약 140℃ 이하일 수 있다.

상기 액정 화합물은 유전율 이방성이 음수 또는 양수일 수 있다. 상기 유전율 이방성의 절대값은 목적을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 예를 들면, 상기 유전율 이방성은 약 3 초과 또는 약 7 초과이거나, 약 -2 미만 또는 약 -3 미만일 수 있다.

액정 화합물은 또한 약 0.01 이상 또는 약 0.04 이상의 광학 이방성(△n)을 가질 수 있다. 액정 화합물의 광학 이방성은 다른 예시에서 약 0.3 이하 또는 약 0.27 이하일 수 있다.

게스트 호스트 액정층의 액정 호스트로 사용될 수 있는 액정 화합물은 본 기술 분야의 전문가들에게 공지되어 있으며, 그들로부터 자유롭게 선택될 수 있다.

액정층은 상기 액정 호스트와 함께 이색성 염료 게스트를 포함한다. 용어 염료는, 가시광 영역, 예를 들면, 380 nm 내지 780 nm 파장 범위 내에서 적어도 일부 또는 전체 범위 내의 광을 집중적으로 흡수 및/또는 변형시킬 수 있는 물질을 의미할 수 있고, 용어 이색성 염료 게스트는 상기 가시광 영역의 적어도 일부 또는 전체 범위에서 광의 흡수가 가능한 물질을 의미할 수 있다.

이색성 염료 게스트로는, 예를 들면, 액정 호스트의 정렬 상태에 따라 정렬될 수 있는 특성을 가지는 것으로 알려진 공지의 염료를 선택하여 사용할 수 있다. 예를 들면, 이색성 염료 게스트로는 아조 염료 또는 안트라퀴논 염료 등을 사용할 수 있고, 넓은 파장 범위에서의 광 흡수를 달성하기 위해서 액정층은 1종 또는 2종 이상의 염료를 포함할 수도 있다.

이색성 염료 게스트의 이색비(dichroic ratio)는 이색성 염료 게스트의 사용 목적을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 예를 들어, 상기 이색성 염료 게스트는 이색비가 약 5 이상 내지 약 20 이하일 수 있다. 용어 이색비는, 예를 들어, p형 염료인 경우, 염료의 장축 방향에 평행한 편광의 흡수를 상기 장축 방향에 수직하는 방향에 평행한 편광의 흡수로 나눈 값을 의미할 수 있다. 이색성 염료 게스트는 가시광 영역의 파장 범위 내, 예를 들면, 약 380 nm 내지 약 780 nm 또는 약 400 nm 내지 약 700 nm의 파장 범위 내에서 적어도 어느 한 파장, 일부 범위의 파장 또는 전 범위의 파장에서 상기 이색비를 가질 수 있다.

액정층 내에서의 이색성 염료 게스트의 함량은 이색성 염료 게스트의 사용 목적을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 예를 들어, 액정 호스트와 이색성 염료 게스트의 합계 중량을 기준으로 상기 이색성 염료 게스트의 함량은 약 0.1 내지 약 10 중량% 범위 내에서 선택될 수 있다. 이색성 염료 게스트의 비율은 목적하는 투과율과 액정 호스트에 대한 이색성 염료 게스트의 용해도 등을 고려하여 변경할 수 있다.

액정층은 상기 액정 호스트와 이색성 염료 게스트를 기본적으로 포함하고, 필요한 경우에 다른 임의의 첨가제를 공지의 형태에 따라 추가로 포함할 수 있다. 첨가제의 예로는 키랄 도펀트 또는 안정화제 등이 예시될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다.

상기 액정층은 약 0.5 이상의 이방성도(R)를 가질 수 있다. 상기 이방성도(R)는 액정 호스트의 배향 방향(alignment direction)에 평행하게 편광된 광선의 흡광도(E(p)) 및 액정 호스트의 배향 방향에 수직으로 편광된 광선의 흡광도(E(s))로부터 하기 수학식에 따라 측정한다.

<이방성도 수식>

이방성도(R) = [E(p)-E(s)] / [E(p) + 2*E(s)].

상기에서 사용되는 기준은 액정층 내에 염료를 함유하지 않는 다른 동일한 장치이다.

구체적으로 이방성도(R)는 염료 분자가 수평 배향된 액정층의 흡광도에 대한 값(E(p)) 및 염료 분자가 수직 배향된 동일한 액정층의 흡광도에 대한 값(E(s))으로부터 측정될 수 있다. 상기 흡광도를 염료를 전혀 함유하지 않지만 그 밖에는 동일한 구성을 가지는 액정층과 비교하여 측정한다. 이러한 측정은 진동면이 하나의 경우에는 배향 방향과 평행한 방향으로 진동(E(p))하고 후속 측정에서는 배향 방향과 수직인 방향으로 진동(E(s))하는 편광된 광선을 이용하여 수행될 수 있다. 액정층은 측정 도중에 스위칭되거나 회전되지 않고, 따라서 상기 E(p) 및 E(s)의 측정은 편광된 입사광의 진동면을 회전시킴으로써 수행될 수 있다.

상세한 절차의 일 예시는 하기에 기술된 바와 같다. E(p) 및 E(s)의 측정을 위한 스펙트럼은 퍼킨 엘머사의 람다 1050 UV 분광계(Perkin Elmer Lambda 1050 UV spectrometer) 등과 같은 분광계를 이용하여 기록할 수 있다. 분광계에는 측정용 빔 및 기준 빔 모두에서 약 250 nm 내지 약 2500 nm의 파장 범위용의 글랜-톰슨 편광자(Glan-Thompson polariser)가 장착되어 있다. 2개의 편광자는 스테핑 모터(stepping motor)에 의해 제어되며, 동일한 방향으로 배향된다. 편광자의 편광자 방향에 있어서의 변화, 예를 들면 0도 내지 90도의 전환은 측정용 빔 및 기준 빔에 대하여 항상 동기적으로 및 동일한 방향으로 수행된다. 개별 편광자의 배향은 뷔르츠부르크 대학교(University of Wurzburg)의 티. 카르스텐스(T. Karstens)의 1973년 학위 논문에 기술되어 있는 방법을 이용하여 측정할 수 있다.

이 방법에서, 편광자는 배향된 이색성 샘플에 대해 5도씩 단계적으로 회전되며, 흡광도는 예를 들면 최대 흡수 영역에서 고정된 파장에서 기록된다. 각각의 편광자 위치에 대해 새로운 기준선 영점(zero line)이 실행된다. 2개의 이색성 스펙트럼 E(p) 및 E(s)의 측정을 위하여, JSR 사의 폴리이미드 AL-1054 로 코팅된 역평행-러빙된 테스트 셀은 측정용 빔 및 기준 빔 내에 위치된다. 2개의 테스트 셀은 동일한 층 두께로 선택될 수 있다. 순수한 호스트(액정 화합물)를 함유하는 테스트 셀은 기준 빔 내에 위치된다. 액정 중에 염료의 용액을 함유하는 테스트 셀은 측정용 빔 내에 위치된다. 측정용 빔 및 기준 빔에 대한 2개의 테스트 셀은 동일한 배향 방향에서 음파 경로(ray path)내에 설치된다. 분광계의 최대로 가능한 정밀도를 보장하기 위하여, E(p)는 반드시 그의 최대 흡수 파장 범위, 예를 들면, 약 0.5 내지 약 1.5의 파장 범위 내에 있을 수 있다. 이는 30% 내지 5%의 투과도에 상응한다. 이는 층 두께 및/또는 염료 농도를 상응하게 조정함으로써 설정된다.

이방성도(R)는 문헌[참조: "Polarized Light in Optics and Spectroscopy", D. S. Kliger et al., Academic Press, 1990]에 나타나 있는 바와 같은 상기 수학식에 따라 E(p) 및 E(s)에 대한 측정값으로부터 계산될 수 있다.

상기 이방성도(R)는 다른 예시에서 약 0.55 이상, 0.6 이상 또는 약 0.65 이상일 수 있다. 상기 이방성도(R)는 예를 들면, 약 0.9 이하, 0.85 이하, 0.8 이하, 0.75 이하 또는 약 0.7 이하일 수 있다.

이러한 이방성도(R)는 액정층의 종류, 예를 들면, 액정 화합물(호스트)의 종류, 이색성 염료 게스트의 종류 및 비율 또는 액정층의 두께 등을 제어하여 달성할 수 있다.

상기 범위 내의 이방성도(R)를 통해 보다 저에너지를 사용하면서도, 투과 모드와 차단 모드에서의 투과율의 차이가 커져서 콘트라스트 비율이 높아지는 광학 디바이스의 제공이 가능할 수 있다.

상기 액정층의 두께는, 예를 들면, 목적하는 이방성도 등을 고려하여 적절히 선택될 수 있다. 일 예시에서 상기 액정층의 두께는, 약 0.01μm 이상, 0.05μm 이상, 0.1μm 이상, 0.5μm 이상, 1μm 이상, 1.5μm 이상, 2μm 이상, 2.5μm 이상, 3μm 이상, 3.5μm 이상, 4μm 이상, 4.5μm 이상, 5μm 이상, 5.5μm 이상, 6μm 이상, 6.5μm 이상, 7μm 이상, 7.5μm 이상, 8μm 이상, 8.5μm 이상, 9μm 이상 또는 약 9.5μm 이상일 수 있다. 이와 같이 두께를 제어함으로써, 투과 모드에서의 투과율과 차단 모드에서의 투과율의 차이가 큰 광학 디바이스, 즉 콘트라스트 비율이 큰 디바이스를 구현할 수 있다. 상기 두께는 두꺼울수록 높은 콘트라스트 비율의 구현이 가능하여 특별히 제한되는 것은 아니지만, 일반적으로 약 30 μm 이하, 25 μm 이하, 20 μm 이하 또는 약 15 μm 이하일 수 있다

상기 제 1 및 제 2 배향 상태는, 일 예시에서, 각각 수평 배향, 수직 배향, 트위스트 네마틱 배향 또는 콜레스테릭 배향 상태에서 선택될 수 있다. 예를 들면, 차단 모드에서 액정 소자 또는 액정층은 적어도 수평 배향, 트위스트 네마틱 배향 또는 콜레스테릭 배향이고, 투과 모드에서 액정 소자 또는 액정층은 수직 배향 또는 상기 차단 모드의 수평 배향과는 다른 방향의 광축을 가지는 수평 배향 상태일 수 있다. 액정 소자는 전압 무인가 상태에서 상기 차단 모드가 구현되는 통상 차단 모드(Normally Black Mode)의 소자이거나, 전압 무인가 상태에서 상기 투과 모드가 구현되는 통상 투과 모드(Normally Transparent Mode)를 구현할 수 있다.

액정층의 배향 상태에서 해당 액정층의 광축이 어떤 방향으로 형성되어 있는 것인지를 확인하는 방식은 공지이다. 예를 들면, 액정층의 광축의 방향은 광축 방향을 알고 있는 다른 편광판을 이용하여 측정할 수 있으며, 이는 공지의 측정 기기, 예를 들면, Jascp 사의 P-2000 등의 polarimeter를 사용하여 측정할 수 있다.

액정 호스트의 유전율 이방성 또는 액정 호스트를 배향시키는 후술하는 배향막의 배향 방향 등을 조절하여, 상기와 같은 통상 투과 모드 또는 차단 모드의 액정 소자를 구현하는 방식은 공지이다.

상기 액정 소자는 대향 배치되어 있는 2장의 기재 필름과 상기 2장의 기재 필름의 사이에 구비된 상기 액정층을 포함할 수 있다.

또한, 상기 액정 소자는 상기 2장의 기재 필름의 사이에서 상기 2장의 기재 필름의 간격을 유지하는 스페이서 및/또는 대향 배치된 2장의 기재 필름의 간격이 유지된 상태로 상기 기재 필름을 부착시키고 있는 실런트를 추가로 포함할 수 있다. 상기 스페이서 및/또는 실런트의 재료는 특별한 제한 없이 공지의 소재가 사용될 수 있다.

기재 필름으로는, 예를 들면, 유리 등의 무기 필름 또는 플라스틱 필름이 사용될 수 있다. 플라스틱 필름으로는, TAC(triacetyl cellulose) 필름; 노르보르넨 유도체 등의 COP(cyclo olefin copolymer) 필름; PMMA(poly(methyl methacrylate) 등의 아크릴 필름; PC(polycarbonate) 필름; PE(polyethylene) 필름; PP(polypropylene) 필름; PVA(polyvinyl alcohol) 필름; DAC(diacetyl cellulose) 필름; Pac(Polyacrylate) 필름; PES(poly ether sulfone) 필름; PEEK(polyetheretherketon) 필름; PPS(polyphenylsulfone) 필름; PEI(polyetherimide) 필름; PEN(polyethylenenaphthatlate) 필름; PET(polyethyleneterephtalate) 필름; PI(polyimide) 필름; PSF(polysulfone) 필름; PAR(polyarylate) 필름; 또는 불소 수지 필름 등이 사용될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다. 기재 필름에는 필요에 따라서 금; 은; 또는 이산화 규소 또는 일산화 규소 등의 규소 화합물의 코팅층이나, 반사 방지층 등의 기능층이 존재할 수도 있다.

기재 필름으로는, 소정 범위의 위상차를 가지는 필름이 사용될 수 있다. 일 예시에서 상기 기재 필름은 정면 위상차가 약 100 nm 이하일 수 있다. 상기 정면 위상차는 다른 예시에서 약 95 nm 이하, 90 nm 이하, 85 nm 이하, 80 nm 이하, 75 nm 이하, 70 nm 이하, 65 nm 이하, 60 nm 이하, 55 nm 이하, 50 nm 이하, 45 nm 이하, 40 nm 이하, 35 nm 이하, 30 nm 이하, 25 nm 이하, 20 nm 이하, 15 nm 이하 또는 약 10 nm 이하 일 수 있다. 상기 정면 위상차는 다른 예시에서 약 0 nm 이상, 1 nm 이상, 2 nm 이상, 3 nm 이상, 4 nm 이상, 5 nm 이상, 6 nm 이상, 7 nm 이상, 8 nm 이상, 9 nm 이상 또는 약 9.5 nm 이상일 수 있다.

기재 필름의 두께 방향 위상차의 절대값은, 예를 들면, 약 200 nm 이하일 수 있다. 상기 두께 방향 위상차의 절대값은 다른 예시에서 약 190 nm 이하, 180 nm 이하, 170 nm 이하, 160 nm 이하, 150 nm 이하, 140 nm 이하, 130 nm 이하, 120 nm 이하, 110 nm 이하, 100 nm 이하, 90 nm 이하, 85 nm 이하 또는 약 80 nm 이하일 수 있고, 약 0 nm 이상, 10 nm 이상, 20 nm 이상, 30 nm 이상, 40 nm 이상, 50 nm 이상, 60 nm 이상, 70 nm 이상 또는 약 75 nm 이상일 수 있다. 상기 두께 방향 위상차는 절대값이 상기 범위 내라면 음수이거나, 양수일 수 있으며, 예를 들면, 음수일 수 있다.

본 명세서에서 정면 위상차(Rin)는 하기 수식 1로 계산되는 수치이고, 두께 방향 위상차(Rth)는 하기 수식 2로 계산되는 수치이며, 특별히 달리 규정하지 않는 한, 상기 정면 및 두께 방향 위상차의 기준 파장은 약 550 nm이다.

[수식 1]

정면 위상차(Rin) = d × (nx - ny)

[수식 2]

두께 방향 위상차(Rth) = d × (nz - ny)

수식 1 및 2에서 d는 기재 필름의 두께이고, nx는 기재 필름의 지상축 방향의 굴절률이며, ny는 기재 필름의 진상축 방향의 굴절률이고, nz는 기재 필름의 두께 방향의 굴절률이다.

기재 필름이 광학 이방성인 경우에 대향 배치되어 있는 기재 필름들의 지상축들이 이루는 각도는, 예를 들면, 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내이거나 대략 평행할 수 있다.

또한, 상기 기재 필름의 지상축과 후술하는 편광자의 광 흡수축이 이루는 각도는, 예를 들면, 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내이거나 대략 평행할 수 있거나, 혹은 약 80도 내지 약 100도의 범위 내, 약 83도 내지 약 97도의 범위 내, 약 85도 내지 약 95도의 범위 내 또는 약 87도 내지 약 92도의 범위 내이거나 대략 수직일 수 있다.

상기와 같은 위상차 조절 또는 지상축의 배치를 통해서 광학적으로 우수하고 균일한 투과 모드 및 차단 모드의 구현이 가능할 수 있다.

기재 필름은 열팽창 계수가 약 100 ppm/K 이하일 수 있다. 상기 열팽창 계수는, 다른 예시에서 약 95 ppm/K 이하, 90 ppm/K 이하, 85 ppm/K 이하, 80 ppm/K 이하, 75 ppm/K 이하, 70 ppm/K 이하 또는 약 65 ppm/K 이하이거나, 약 10 ppm/K 이상, 20 ppm/K 이상, 30 ppm/K 이상, 40 ppm/K 이상, 50 ppm/K 이상 또는 약 55 ppm/K 이상일 수 있다. 기재 필름의 열팽창 계수는, 예를 들면, ASTM D696의 규정에 따르 측정할 수 있고, 해당 규격에서 제공하는 형태로 필름을 재단하고, 단위 온도당 길이의 변화를 측정하여 열팽창 계수를 계산할 수 있으며, TMA(ThermoMechanic Analysis) 등의 공지의 방식으로 측정할 수 있다.

기재 필름으로는, 파단 신율이 약 90% 이상인 기재 필름을 사용할 수 있다. 상기 파단 신율은 약 95% 이상, 100% 이상, 105% 이상, 110% 이상, 115% 이상, 120% 이상, 125% 이상, 130% 이상, 135% 이상, 140% 이상, 145% 이상, 150% 이상, 155% 이상, 160% 이상, 165% 이상, 170% 이상 또는 약 175% 이상일 수 있고, 약 1,000% 이하, 900% 이하, 800% 이하, 700% 이하, 600% 이하, 500% 이하, 400% 이하, 300% 이하 또는 약 200% 이하일 수 있다. 기재 필름의 파단 신율은 ASTM D882 규격에 따라 측정할 수 있고, 해당 규격에서 제공하는 형태로 필름을 재단하고, Stress-Strain curve를 측정할 수 있는 장비(힘과 길이를 동시에 측정할 수 있는)를 이용하여 측정할 수 있다.

기재 필름이 상기와 같은 열팽창 계수 및/또는 파단 신율을 가지도록 선택되는 것에 의해 보다 우수한 내구성의 광학 디바이스가 제공될 수 있다.

상기와 같은 기재 필름의 두께는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 약 50 μm 내지 약 200μm 정도의 범위 내일 수 있다.

본 명세서에서 언급하는 물성 중에서 측정 온도나, 압력이 결과에 영향을 미치는 경우에 특별히 달리 규정하지 않는 한, 해당 물성은 상온과 상압에서 측정한 것이다.

용어 상온은 가온하거나 감온하지 않은 자연 그대로의 온도로서, 일반적으로 약 10℃ 내지 약 30 ℃의 범위 내의 어느 한 온도, 약 23℃ 또는 약 25℃ 정도의 온도일 수 있다. 또한, 특별히 달리 규정하지 않는 한, 본 명세서에서 온도의 단위는 ℃이다.

용어 상압은 특별히 줄이거나, 높이지 않은 자연 그대로의 압력으로서, 일반적으로 대기압과 같은 약 1기압 정도의 압력을 의미한다.

액정 소자에서 상기 기재 필름의 일면, 예를 들면, 상기 액정층을 향하는 면상에는 도전층 및/또는 배향막이 존재할 수 있다.

기재 필름의 면상에 존재하는 도전층은, 액정층에 전압을 인가하기 위한 구성으로서, 특별한 제한 없이 공지의 도전층이 적용될 수 있다. 도전층으로는, 예를 들면, 전도성 고분자, 전도성 금속, 전도성 나노와이어 또는 ITO(Indium Tin Oxide) 등의 금속 산화물 등이 적용될 수 있다. 본 출원에서 적용될 수 있는 도전층의 예는 상기에 제한되지 않으며, 이 분야에서 액정 소자에 적용될 수 있는 것으로 알려진 모든 종류의 도전층이 사용될 수 있다.

일 예시에서 상기 기재 필름의 면상에는 배향막이 존재한다. 예를 들면, 기재 필름의 일면에 우선 도전층이 형성되고, 그 상부에 배향막이 형성될 수 있다.

배향막은 액정층에 포함되는 액정 호스트의 배향을 제어하기 위한 구성이고, 특별한 제한 없이 공지의 배향막을 적용할 수 있다. 업계에서 공지된 배향막으로는, 러빙 배향막이나 광배향막 등이 있고, 본 출원에서 사용될 수 있는 배향막은 상기 공지의 배향막이고, 이는 특별히 제한되지 않는다.

전술한 광축의 배향을 달성하기 위해서 상기 배향막의 배향 방향이 제어될 수 있다. 예를 들면, 대향 배치되어 있는 2장의 기재 필름의 각 면에 형성된 2개의 배향막의 배향 방향은 서로 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내의 각도, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내의 각도, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내의 각도 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 평행할 수 있다. 다른 예시에서 상기 2개의 배향막의 배향 방향은 약 80도 내지 약 100도의 범위 내의 각도, 약 83도 내지 약 97도의 범위 내의 각도, 약 85도 내지 약 95도의 범위의 각도 내 또는 약 87도 내지 약 92도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 수직일 수 있다.

이와 같은 배향 방향에 따라서 액정층의 광축의 방향이 결정되기 때문에, 상기 배향 방향은 액정층의 광축의 방향을 확인하여 알 수 있다.

상기와 같은 구성을 가지는 액정 소자의 형태는 특별히 제한되지 않고, 광학 디바이스의 적용 용도에 따라서 정해질 수 있으며, 일반적으로는 필름 또는 시트 형태이다.

광학 디바이스는, 상기 액정 소자와 함께 편광자를 추가로 포함할 수 있다. 상기 편광자로는, 예를 들면, 흡수형 선형 편광자, 즉 일방향으로 형성된 광흡수축과 그와는 대략 수직하게 형성된 광투과축을 가지는 편광자를 사용할 수 있다.

상기 편광자는, 상기 액정층의 제 1 배향 상태에서 상기 차단 상태가 구현된다고 가정하는 경우에 상기 제 1 배향 상태의 평균 광축(광축의 벡터합)과 상기 편광자의 광흡수축이 이루는 각도가 약 80도 내지 약 100도 또는 약 85도 내지 약 95도를 이루거나, 대략 수직이 되도록 광학 디바이스에 배치되어 있거나, 혹은 약 35도 내지 약 55도 또는 약 40도 내지 약 50도가 되거나 대략 45도가 되도록 광학 디바이스에 배치되어 있을 수 있다.

배향막의 배향 방향을 기준으로 할 때에, 전술한 것과 같이 대향 배치되어 있는 2장의 기재 필름의 각 면상에 형성된 배향막의 배향 방향이 서로 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내의 각도, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내의 각도, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내의 각도 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 평행한 경우에 상기 2개의 배향막 중에서 어느 하나의 배향막의 배향 방향과 상기 편광자의 광흡수축이 이루는 각도가 약 80도 내지 약 100도 또는 약 85도 내지 약 95도를 이루거나, 대략 수직이 될 수 있다.

다른 예시에서 상기 2개의 배향막의 배향 방향이 약 80도 내지 약 100도의 범위 내의 각도, 약 83도 내지 약 97도의 범위 내의 각도, 약 85도 내지 약 95도의 범위의 각도 내 또는 약 87도 내지 약 92도의 범위 내의 각도를 이루거나 서로 대략 수직인 경우에는 2장의 배향막 중에서 상기 편광자에 보다 가깝게 배치된 배향막의 배향 방향과 상기 편광자의 광흡수축이 이루는 각도가 약 80도 내지 약 100도 또는 약 85도 내지 약 95도를 이루거나, 대략 수직이 될 수 있다.

예를 들면, 도 1에 나타난 바와 같이 상기 액정 소자(10)와 상기 편광자(20)는 서로 적층된 상태에서 상기 액정 소자(10)의 제 1 배향 방향의 광축(평균 광축)과 상기 편광자(20)의 광 흡수축이 상기 관계가 되도록 배치될 수 있다.

본 출원의 광학 디바이스에서 적용될 수 있는 상기 편광자의 종류는 특별히 제한되지 않는다. 예를 들면, 편광자로는, 기존 LCD 등에서 사용되는 통상의 소재, 예를 들면, PVA(poly(vinyl alcohol)) 편광자 등이나, 유방성 액정(LLC: Lyotropic Liquid Cystal)이나, 반응성 액정(RM: Reactive Mesogen)과 이색성 색소(dichroic dye)를 포함하는 편광 코팅층과 같이 코팅 방식으로 구현한 편광자을 사용할 수 있다. 본 명세서에서 상기와 같이 코팅 방식으로 구현된 편광자는 편광 코팅층으로 호칭될 수 있다. 상기 유방성 액정으로는 특별한 제한 없이 공지의 액정을 사용할 수 있으며, 예를 들면, 이색비(dichroic ratio)가 약 30 내지 약 40 정도인 유방성 액정층을 형성할 수 있는 유방성 액정을 사용할 수 있다. 한편, 편광 코팅층이 반응성 액정(RM: Reactive Mesogen)과 이색성 염료(dichroic dye)를 포함하는 경우에 상기 이색성 염료로는 선형의 염료를 사용하거나, 혹은 디스코틱형의 염료(discotic dye)가 사용될 수도 있다.

본 출원의 광학 디바이스는 상기와 같은 액정 소자와 편광자를 각각 하나씩만 포함할 수 있다. 따라서, 상기 광학 디바이스는 오직 하나의 상기 액정 소자만을 포함하고, 오직 하나의 편광자만을 포함할 수 있다.

광학 디바이스는, 대향 배치되어 있는 2장의 외곽 기판을 포함한다. 본 명세서에서는 편의상 상기 2장의 외곽 기판 중에서 어느 하나를 제 1 외곽 기판으로 호칭하고, 다른 하나를 제 2 외곽 기판으로 호칭할 수 있으나, 상기 제 1 및 2의 표현이 외곽 기판의 선후 내지는 상하 관계를 규정하는 것은 아니다. 일 예시에서 상기 액정 소자와 함께 포함되는 편광자는 상기 2장의 외곽 기판의 사이에서 위치할 수 있다. 예를 들면, 도 2에 나타난 바와 같이 상기 대향 배치된 2장의 외곽 기판(30)의 사이에 상기 액정 소자(10)와 편광자(20)가 존재할 수 있다.

상기 외곽 기판으로는, 예를 들면, 글라스 등의 무기 기판 또는 플라스틱 기판이 사용될 수 있다. 플라스틱 기판으로는, TAC(triacetyl cellulose) 필름; 노르보르넨 유도체 등의 COP(cyclo olefin copolymer) 필름; PMMA(poly(methyl methacrylate) 등의 아크릴 필름; PC(polycarbonate) 필름; PE(polyethylene) 필름; PP(polypropylene) 필름; PVA(polyvinyl alcohol) 필름; DAC(diacetyl cellulose) 필름; Pac(Polyacrylate) 필름; PES(poly ether sulfone) 필름; PEEK(polyetheretherketon) 필름; PPS(polyphenylsulfone) 필름, PEI(polyetherimide) 필름; PEN(polyethylenemaphthatlate) 필름; PET(polyethyleneterephtalate) 필름; PI(polyimide) 필름; PSF(polysulfone) 필름; PAR(polyarylate) 필름 또는 불소 수지 필름 등이 사용될 수 있지만, 이에 제한되는 것은 아니다. 외곽 기판에는, 필요에 따라서 금; 은; 또는 이산화 규소 또는 일산화 규소 등의 규소 화합물의 코팅층이나, 반사 방지층 등의 기능층이 존재할 수도 있다.

외곽 기판으로는 소정 범위의 위상차를 가지는 기판이 사용될 수 있다. 일 예시에서 상기 외곽 기판은 정면 위상차가 약 100 nm 이하일 수 있다. 상기 정면 위상차는 다른 예시에서 약 95 nm 이하, 90 nm 이하, 85 nm 이하, 80 nm 이하, 75 nm 이하, 70 nm 이하, 65 nm 이하, 60 nm 이하, 55 nm 이하, 50 nm 이하, 45 nm 이하, 40 nm 이하, 35 nm 이하, 30 nm 이하, 25 nm 이하, 20 nm 이하, 15 nm 이하 또는 약 10 nm 이하일 수 있다. 상기 정면 위상차는 다른 예시에서 약 0 nm 이상, 1 nm 이상, 2 nm 이상, 3 nm 이상, 4 nm 이상, 5 nm 이상, 6 nm 이상, 7 nm 이상, 8 nm 이상, 9 nm 이상 또는 약 9.5 nm 이상일 수 있다.

외곽 기판의 두께 방향 위상차의 절대값은, 예를 들면, 약 200 nm 이하일 수 있다. 상기 두께 방향 위상차의 절대값은 다른 예시에서 약 190 nm 이하, 180 nm 이하, 170 nm 이하, 160 nm 이하, 150 nm 이하, 140 nm 이하, 130 nm 이하, 120 nm 이하, 110 nm 이하, 100 nm 이하, 90 nm 이하, 85 nm 이하 또는 약 80 nm 이하 일 수 있고, 약 0 nm 이상, 5 nm 이상, 10 nm 이상, 20 nm 이상, 30 nm 이상, 40 nm 이상, 50 nm 이상, 60 nm 이상, 70 nm 이상 또는 약 75 nm 이상일 수 있다. 상기 두께 방향 위상차는 절대값이 상기 범위 내라면 음수이거나, 양수일 수 있으며, 예를 들면, 음수일 수 있다.

상기 외곽 기판의 정면 위상차(Rin) 및 두께 방향 위상차(Rth)는 각각 상기 수식 1 및 2에서 기재 필름의 두께(d), 지상축 방향 굴절률(nx), 진상축 방향 굴절률(ny) 및 두께 방향의 굴절률(nz)을, 외곽 기판의 두께(d), 지상축 방향 굴절률(nx), 진상축 방향 굴절률(ny) 및 두께 방향의 굴절률(nz)로 대체하여 계산하는 것 외에는 동일하게 계산될 수 있다.

외곽 기판이 광학 이방성인 경우에 대향 배치되어 있는 외곽 기판들의 지상축들이 이루는 각도는, 예를 들면, 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내이거나 대략 평행할 수 있다.

또한, 상기 외곽 기판의 지상축과 전술한 기재 필름이 광학 이방성인 경우에 그 기재 필름의 지상축이 이루는 각도는, 예를 들면, 약 -10도 내지 약 10도의 범위 내, 약 -7도 내지 약 7도의 범위 내, 약 -5도 내지 약 5도의 범위 내 또는 약 -3도 내지 약 3도의 범위 내이거나 대략 평행할 수 있거나, 혹은 약 80도 내지 약 100도의 범위 내, 약 83도 내지 약 97도의 범위 내, 약 85도 내지 약 95도의 범위 내 또는 약 87도 내지 약 92도의 범위 내이거나 대략 수직일 수 있다.

외곽 기판으로는, 열팽창 계수가 약 100 ppm/K 이하인 것을 사용할 수 있다. 상기 열팽창 계수는, 다른 예시에서 약 95 ppm/K 이하, 90 ppm/K 이하, 85 ppm/K 이하, 80 ppm/K 이하, 75 ppm/K 이하, 70 ppm/K 이하, 65 ppm/K 이하, 60 ppm/K 이하, 50 ppm/K 이하, 40 ppm/K 이하, 30 ppm/K 이하, 20 ppm/K 이하 또는 약 15 ppm/K 이하이거나, 약 1 ppm/K 이상, 2 ppm/K 이상, 3 ppm/K 이상, 4 ppm/K 이상, 5 ppm/K 이상, 6 ppm/K 이상, 7 ppm/K 이상, 8 ppm/K 이상, 9 ppm/K 이상 또는 약 10 ppm/K 이상일 수 있다.

상기 외곽 기판의 열팽창 계수의 측정 방식은 전술한 기재 필름의 열팽창 계수의 측정 방식과 동일하다.

외곽 기판이 상기와 같은 열팽창 계수를 가지도록 선택되는 것에 의해 보다 우수한 내구성의 광학 디바이스가 제공될 수 있다.

상기와 같은 외곽 기판의 두께는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 약 0.3 mm 이상일 수 있다. 상기 두께는 다른 예시에서 약 0.5 mm 이상, 1 mm 이상, 1.5 mm 이상 또는 약 2 mm 이상 정도일 수 있고, 약 10 mm 이하, 9 mm 이하, 8 mm 이하, 7 mm 이하, 6 mm 이하, 5 mm 이하, 4 mm 이하 또는 약 3 mm 이하 정도일 수도 있다.

상기 외곽 기판은, 평편(flat)한 기판이거나, 혹은 곡면 형상을 가지는 기판일 수 있다. 예를 들면, 상기 2장의 외곽 기판은 동시에 평편한 기판이거나, 동시에 곡면 형상을 가지거나, 혹은 어느 하나는 평편한 기판이고, 다른 하나는 곡면 형상의 기판일 수 있다.

또한, 상기에서 동시에 곡면 형상을 가지는 경우에는 각각의 곡률 또는 곡률 반경은 동일하거나 상이할 수 있다.

본 명세서에서 곡률 또는 곡률 반경은, 업계에서 공지된 방식으로 측정할 수 있으며, 예를 들면, 2D Profile Laser Sensor (레이저 센서), Chromatic confocal line sensor (공초점 센서) 또는 3D Measuring Conforcal Microscopy 등의 비접촉식 장비를 이용하여 측정할 수 있다. 이러한 장비를 사용하여 곡률 또는 곡률 반경을 측정하는 방식은 공지이다.

또한, 상기 외곽 기판과 관련해서 예를 들어, 표면과 이면에서의 곡률 또는 곡률 반경이 다른 경우에는 각각 마주보는 면의 곡률 또는 곡률 반경, 즉 제 1 외곽 기판의 경우, 제 2 외곽 기판과 대향하는 면의 곡률 또는 곡률 반경과 제 2 외곽 기판의 경우 제 1 외곽 기판과 대향하는 면의 곡률 또는 곡률 반경이 기준이 될 수 있다. 또한, 해당 면에서의 곡률 또는 곡률 반경이 일정하지 않고, 상이한 부분이 존재하는 경우에는 가장 큰 곡률 또는 곡률 반경이 기준이 되거나, 가장 작은 곡률 또는 곡률 반경이 기준일 될 수 있고, 또는 평균 곡률 또는 평균 곡률 반경이 기준이 될 수 있다.

상기 2장의 외곽 기판은, 양자가 곡률 또는 곡률 반경의 차이가 약 10% 이내, 9% 이내, 8% 이내, 7% 이내, 6% 이내, 5% 이내, 4% 이내, 3% 이내, 2% 이내 또는 약 1% 이내일 수 있다. 상기 곡률 또는 곡률 반경의 차이는, 큰 곡률 또는 곡률 반경을 C_L이라고 하고, 작은 곡률 또는 곡률 반경을 C_S라고 할 때에 100×(C_L-C_S)/C_S로 계산되는 수치이다. 또한, 상기 곡률 또는 곡률 반경의 차이의 하한은 특별히 제한되지 않는다. 2장의 외곽 기판의 곡률 또는 곡률 반경의 차이는 동일할 수 있기 때문에, 상기 곡률 또는 곡률 반경의 차이는 약 0% 이상이거나, 약 0% 초과일 수 있다.

상기와 같은 곡률 또는 곡률 반경은, 후술하는 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름으로 액정 소자 및/또는 편광자를 봉지한 구조에 있어서 유용하다. 본 출원에서 용어 봉지(또는 캡슐화(encapsulation))는 접착 필름으로 액정 소자 및/또는 편광자의 전면을 피복하는 것을 의미할 수 있다.

제 1 및 제 2 외곽 기판이 모두 곡면인 경우에 양자의 곡률은 동일 부호일 수 있다. 다시 말하면, 상기 2개의 외곽 기판은 모두 동일한 방향으로 굴곡되어 있을 수 있다. 즉, 상기 경우는 제 1 외곽 기판의 곡률 중심과 제 2 외곽 기판의 곡률 중심이 모두 제 1 및 제 2 외곽 기판의 상부 및 하부 중에서 같은 부분에 존재하는 경우이다.

도 3은, 제 1 및 제 2 외곽 기판(30)의 사이에 액정 소자 등을 포함하는 봉지 부위(400)가 존재하는 광학 디바이스의 측면을 보여주는 예시적인 도면인데, 이 경우는 제 1 및 제 2 외곽 기판(30) 모두의 곡률 중심은 도면에서 하부에 존재하는 경우이다.

제 1 및 제 2 외곽 기판의 각각의 곡률 또는 곡률 반경의 구체적인 범위는 특별히 제한되지 않는다. 일 예시에서 상기 각각의 기판의 곡률 반경은, 약 100R 이상, 200R 이상, 300R 이상, 400R 이상, 500R 이상, 600R 이상, 700R 이상, 800R 이상 또는 약 900R 이상이거나, 약 10,000R 이하, 9,000R 이하, 8,000R 이하, 7,000R 이하, 6,000R 이하, 5,000R 이하, 4,000R 이하, 3,000R 이하, 2,000R 이하, 1,900R 이하, 1,800R 이하, 1,700R 이하, 1,600R 이하, 1,500R 이하, 1,400R 이하, 1,300R 이하, 1,200R 이하, 1,100R 이하 또는 약 1,050R 이하일 수 있다. 상기에서 R은 반지름이 1 mm인 원의 휘어진 정도를 의미한다. 따라서, 상기에서 예를 들어, 100R은 반지름이 100mm인 원의 휘어진 정도 또는 그러한 원에 대한 곡률 반경이다. 물론 기판이 평편한 경우에 곡률은 0이고, 곡률 반경은 무한대이다.

제 1 및 제 2 외곽 기판은 상기 범위에서 동일하거나 상이한 곡률 반경을 가질 수 있다. 일 예시에서 제 1 및 제 2 외곽 기판의 곡률이 서로 다른 경우에, 그 중에서 곡률이 큰 기판의 곡률 반경이 상기 범위 내일 수 있다.

일 예시에서 제 1 및 제 2 외곽 기판의 곡률이 서로 다른 경우에는 그 중에서 곡률이 큰 기판이 광학 디바이스의 사용 시에 보다 중력 방향으로 배치되는 기판일 수 있다.

기판간의 곡률 또는 곡률 반경을 위와 같이 제어하게 되면, 접착 필름에 의한 합착력이 떨어지게 되어도 복원력과 중력의 합인 알짜힘이 작용하여 벌어짐을 막아줄 수 있고, 오토클레이브(Autoclave)와 같은 공정 압력에도 잘 견딜 수 있다.

본 출원의 광학 디바이스는, 복수의 접착 필름을 포함한다. 상기 복수의 접착 필름은 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름일 수 있다.

본 출원에서 경화성 접착 필름이란 화학적 경화 반응을 유발할 수 있는 성분 또는 관능기를 포함하는 접착 필름을 의미하고, 비경화성 접착 필름이란 화학적 경화 반응을 유발할 수 있는 성분 또는 관능기를 포함하지 않는 접착 필름을 의미한다.

상기 경화성 접착 필름은 특별히 제한되지 않으며 공지의 경화성 접착 필름을 이용할 수 있다. 일예로 경화성 접착 필름은 에틸렌초산비닐 접착 필름이거나 에폭시 접착 수지, 아크릴레이트 접착 수지 또는 실리콘 접착 수지를 포함할 수 있다. 에틸렌초산비닐 접착 필름의 경우 경화 전에 상온에서 접착 필름 상태로 존재할 수 있으며, 소위 핫멜트(hot melt)형 접착 필름일 수 있다. 기타 에폭시 접착 수지, 아크릴레이트 접착 수지 또는 실리콘 접착 수지가 사용되어 상기 접착 필름이 형성되는 경우에 상기 수지를 포함하는 접착제는 상온에서 필름 형태일 수도 있고 액상일 수 있으며, 액상인 경우에 경화 후에 접착 필름을 형성할 수 있다.

상기 비경화성 접착 필름은 특별히 제한되지 않으며 공지의 비경화성 접착 필름을 이용할 수 있다. 일예로 비경화성 접착 필름은 열가소성 폴리우레탄 접착 필름 또는 폴리올레핀 접착 필름일 수 있다.

한편, 상기 비경화성 접착 필름은, 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 예를 들면, 약 50 nm 이하일 수 있다. 상기 절대값은 다른 예시에서 약 45 nm 이하, 40 nm 이하, 35 nm 이하, 30 nm 이하 또는 약 25 nm 이하일 수 있고, 약 0 nm 이상 또는 약 0 nm 초과일 수 있다.

상기 두께 방향 위상차는 절대값이 상기 범위 내라면 음수이거나, 양수일 수 있으며, 예를 들면, 음수일 수 있다.

상기 접착 필름의 두께 방향 위상차(Rth)는 상기 수식 2에서 기재 필름의 두께(d), 진상축 방향 굴절률(ny) 및 두께 방향의 굴절률(nz)을, 접착 필름의 두께(d), 진상축 방향 굴절률(ny) 및 두께 방향의 굴절률(nz)로 대체하여 계산하는 것 외에는 동일하게 계산될 수 있다.

접착 필름을 사용하여 고온 및 고압하에서 오토클레이브(Autoclave) 공정으로 액정 소자 및/또는 편광자를 접착 및/또는 봉지할 수 있다. 이때 접착 필름으로 복수의 경화성 접착 필름 또는 비경화성 접착 필름만을 사용하는 경우 광 손실이 발생되거나 또는 광학 디바이스 외관 불량이 발생될 수 있다.

일 구체 예에서 접착 필름으로 경화성 접착 필름(이하, 제 1 접착 필름이라 칭할 수 있다.)만을 사용하는 경우, 접착 필름 자체에 의한 광 손실이 발생될 수 있다. 일 구체예에서 경화성 접착 필름으로 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 100 nm 이상인 경우, 제 1 접착 필름을 통과하는 광은 복굴절되고, 상기 복굴절된 광이 광학 소자 또는 편광자를 통과하는 경우, 제 1 접착 필름에 의해 복굴절된 광 중에서 일부만이 광학 소자 또는 편광자를 통과할 수 있다. 따라서 제 1 접착 필름을 통과한 광 중에서 광학 소자 또는 편광자를 통과하지 못한 광 만큼 제 1 접착 필름 자체에 의한 광 손실이 발생될 수 있다.

한편, 접착 필름으로 비경화성 접착 필름(이하, 제 2 접착 필름이라 칭할 수 있다.)만을 사용하는 경우, 고온 및 고압에 의해 비경화성 접착 필름은 일부 재융해 될 수 있고, 이에 따라 외곽 기판과 접착 필름 사이가 벌어지거나 접착 필름에 주름 등이 생성되는 등 광학 디바이스에 외관 불량이 발생될 수 있다.

복수의 제 1 접착 필름 및 제 2 접착 필름을 혼합하여 사용하는 경우 상기 문제를 개선할 수 있다. 즉 제 1 접착 필름 및 제 2 접착 필름을 혼합 사용하여 광학 디바이스를 제조함으로써 광학 디바이스의 외관 불량 발생을 방지 할 수 있고 또한 광 손실을 감소 시킬 수 있다. 구체적으로 제 1 접착 필름을 사용하여 외곽 기판과 접착 필름 사이가 벌어지거나 접착 필름에 주름 등이 생성되는 등의 외관 불량을 방지하고, 제 1 접착 필름이 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 100 nm 이상인 경우라 하더라도 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 50 nm 이하인 제 2 접착 필름을 사용하여 접착 필름 자체에 의한 광 손실을 감소 시킬 수 있다.

본 출원의 광학 디바이스에서, 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름은 대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 위치할 수 있다.일예로, 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름은 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이에 위치할 수 있고, 제 2 외곽 기판과 액정 소자 사이에 위치할 수 있으며, 또는 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이 및 제 2 외곽 기판과 액정 소자 사이 모두에 위치할 수 있다.

다른예로, 도 4에 나타난 바와 같이 제 1 외곽 기판(30)과 액정 소자(10)의 사이에 제 1 접착 필름(40a)이 위치할 수 있고, 제 2 외곽 기판(30)과 액정 소자(10) 사이에 제 2 접착 필름(40b)이 위치할 수 있다.

또 다른 예로, 제 1 외곽 기판과 액정 소자의 사이에 제 1 접착 필름이 위치할 수 있고, 제 2 외곽 기판과 액정 소자 사이에 제 2 접착 필름이 위치 할 수 있으며, 상기 액정 소자의 측면, 적절하게는 모든 측면에 제 1 접착 필름; 제 2 접착 필름; 또는 제 1 접착 필름 및 제 2 접착 필름;이 위치할 수 있다. 일 구체예에서 도 5에 나타난 바와 같이 제 1 외곽 기판(30)과 액정 소자(10)의 사이에 제 1 접착 필름(40a)이 위치할 수 있고, 제 2 외곽 기판(30)과 액정 소자(10) 사이에 제 2 접착 필름(40b)이 위치 할 수 있으며, 상기 액정 소자(10)의 측면에 제 1 접착 필름(40a) 및 제 2 접착 필름(40b)이 위치할 수 있다.

상기 제 1 및 제 2 접착 필름은, 상기 제 1 외곽 기판(30)과 액정 소자(10), 액정 소자(10)와 제 2 외곽 기판(30)들을 서로 접착시킬 수 있으며, 제 1 및/또는 제 2 접착 필름은 상기 액정 소자(10)를 함께 봉지하고 있을 수 있다.

광학 디바이스에 전술한 편광자가 추가로 포함되어 있는 경우, 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름은 제 1 외곽 기판과 편광자 사이에 위치할 수 있고, 제 2 외곽 기판과 편광자 사이에 위치할 수 있으며, 또는 제 1 외곽 기판과 편광자 사이 및 제 2 외곽 기판과 편광자 사이 모두에 위치할 수 있다.

일예로, 도 6에 나타난 바와 같이 제 1 외곽 기판(30)과 액정 소자(10)의 사이 및 편광자(20)와 제 2 외곽 기판(30)의 사이에 제 1 접착 필름(40a)이 위치할 수 있고, 액정 소자(10)와 편광자(20)의 사이에 제 2 접착 필름(40b)이 위치할 수 있다.

다른예로, 제 1 외곽 기판과 액정 소자의 사이 및 편광자와 제 2 외곽 기판의 사이에 제 1 접착 필름이 위치할 수 있고, 액정 소자와 편광자의 사이에 제 2 접착 필름이 위치 할 수 있으며, 상기 액정 소자와 편광자의 측면, 적절하게는 모든 측면에 제 1 접착 필름; 제 2 접착 필름; 또는 제 1 접착 필름 및 제 2 접착 필름;이 위치할 수 있다. 일 구체 예에서 도 7에 나타난 바와 같이 제 1 외곽 기판(30)과 액정 소자(10)의 사이 및 편광자(20)와 제 2 외곽 기판(30)의 사이에 제 1 접착 필름(40a)이 위치할 수 있고, 액정 소자(10)와 편광자(20)의 사이에 제 2 접착 필름(40b)이 위치 할 수 있으며, 상기 액정 소자(10)와 편광자(20)의 측면에 제 1 접착 필름(40a)이 위치할 수 있다.

상기 제 1 및 제 2 접착 필름은, 상기 제 1 외곽 기판(30)과 액정 소자(10), 액정 소자(10)와 편광자(20) 및 편광자(20)와 제 2 외곽 기판(30)들을 서로 접착시킬 수 있으며, 제 1 및/또는 제 2 접착 필름은 상기 액정 소자(10)와 편광자(20)를 함께 봉지하고 있을 수 있다.

제 1 접착 필름(40a) 및 제 2 접착 필름(40b)을 상기와 같은 위치에 적층한 광학 디바이스는 보다 효율적으로 광학 디바이스의 외관 불량 발생을 방지할 수 있고, 또한 보다 효율적으로 광 손실을 감소 시킬 수 있다.

하나의 예시에서 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름은, 영률(Young’s modulus)이 각각 약 0.1 MPa 내지 약 100 MPa의 범위 내에 있는 것을 사용할 수 있다. 상기 영률은, 예를 들면, ASTM D882에 규정된 방식으로 측정할 수 있고, 해당 규격에서 제공하는 형태로 필름을 재단하고, Stress-Strain curve를 측정할 수 있는 장비(힘과 길이를 동시에 측정할 수 있는)를 이용하여 측정할 수 있다. 제 1 및 제 2 접착 필름이 각각 상기와 같은 영률을 가지도록 선택되는 것에 의해 보다 우수한 내구성의 광학 디바이스가 제공될 수 있다.

하나의 예시에서 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름의 두께는 특별히 제한되지 않으며, 예를 들면 제 1 및 제 2 접착 필름의 두께는 각각 약 200 μm 내지 약 1,270 μm 정도의 범위 내일 수 있다. 다른 예로 상기에서 제 1 접착 필름(40a)의 두께는 상기 외곽 기판(30)과 액정 소자(10)의 사이의 두께, 예를 들면 상기 양자간의 간격일 수 있고, 또는 편광자(20)와 외곽 기판(30)의 사이의 두께, 예를 들면 상기 양자간의 간격일 수 있다. 상기에서 제 2 접착 필름(40b)의 두께는 액정 소자(10)와 편광자(20)의 사이의 두께, 예를 들면 상기 양자간의 간격일 수 있다.

광학 디바이스는 또한, 버퍼층을 추가로 포함할 수 있다. 이러한 버퍼층은, 상기 액정 소자의 일면 또는 양면에 존재할 수 있다. 도 8는, 액정 소자(10)의 양측에 버퍼층(50)이 존재하는 구조를 나타내지만, 상기 버퍼층(50)은 액정 소자(10)의 일측에만 존재할 수도 있다.

상기와 같은 버퍼층은, 액정 소자가 제 1 및/또는 제 2 접착 필름에 의해 봉지되어 있는 구조에서 층간 열팽창 계수의 차이 등에 의해 발생하는 음압을 완화하고, 보다 내구성이 있는 디바이스가 구현될 수 있도록 할 수 있다.

하나의 예시에서 상기 버퍼층으로는, 영률(Young’s modulus)이 약 1 MPa 이하인 층을 사용할 수 있다. 상기 버퍼층의 영률은 다른 예시에서 약 0.9 MPa 이하, 0.8 MPa 이하, 0.7 MPa 이하, 0.6 MPa 이하, 0.5 MPa 이하, 0.4 MPa 이하, 0.3 MPa 이하, 0.2 MPa 이하, 0.1 MPa 이하, 0.09 MPa 이하, 0.08 MPa 이하, 0.07 MPa 이하 또는 약 0.06 MPa 이하일 수 있다. 상기 영률은 다른 예시에서 약 0.001 MPa 이상, 0.002 MPa 이상, 0.003 MPa 이상, 0.004 MPa 이상, 0.005 MPa 이상, 0.006 MPa 이상, 0.007 MPa 이상, 0.008 MPa 이상, 0.009 MPa 이상, 0.01 MPa 이상, 0.02 MPa 이상, 0.03 MPa 이상, 0.04 MPa 이상, 또는 약 0.045 MPa 이상일 수 있다. 상기에서 영률의 측정 방식은 전술한 접착 필름의 측정 방식과 같다.

버퍼층의 구체적인 종류로는, 특별한 제한 없이 전술한 영률을 나타내는 투명 소재가 사용될 수 있는데, 예를 들면, 아크릴레이트계, 우레탄계, 러버계 또는 규소계의 올리고머 또는 고분자 재료 등을 사용할 수 있다.

버퍼층의 두께는 특별히 제한되지 않고, 상기 범위의 영률을 나타내어 디바이스의 내부에서 발생하는 음압 등을 효과적으로 완화할 수 있는 범위에서 선택될 수 있다.

광학 디바이스는 상기 구성 외에도 필요한 임의 구성을 추가로 포함할 수 있고, 예를 들면, 위상차층, 광학 보상층, 반사 방지층 또는 하드코팅층 등의 공지의 구성을 적절한 위치에 포함할 수 있다.

본 출원 또한, 제 1 외곽 기판; 제 2 외과 기판; 상기 제 1 외곽 기판과 제 2 외곽 기판 사이에 위치하는 액정 소자; 상기 제 2 외곽 기판과 액정 소자 사이에 위치하는 편광자; 및 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에서 상기 액정 소자 및 편광자를 봉지하고 있는 복수의 접착 필름;을 포함하고, 상기 복수의 접착 필름은 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름을 포함하며, 상기 비경화성 접착 필름은 상기 액정 소자 및 편광자의 사이에 위치하는 광학 디바이스에 관한 것이다.

한편, 상기 비경화성 접착 필름(또는 제 2 접착 필름)은 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 50 nm 이하일 수 있다.

액정 소자와 편광자 사이에 50 nm 이하의 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값을 가지는 비경화성 접착 필름을 위치시킴으로써 접착 필름 자체에 의한 광 손실을 보다 효율적으로 감소 시킬 수 있다.

한편, 상기 경화성 접착 필름은 제 2 외곽 기판과 편광자 사이 및 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 장소에 위치할 수 있다.

비경화성 접착 필름(또는 제 2 접착 필름)은 고온 및 고압하에서 일부 재융해가 일어날 수 있고 따라서 제 2 접착 필름이 제 2 외곽 기판과 편광자 사이 및 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 장소에 위치하는 경우 외곽 기판과 접착 필름 사이가 벌어지거나 접착 필름에 주름 등이 생성되는 등 광학 디바이스에 외관 불량이 발생될 수 있다. 그러나 경화성 접착 필름(또는 제 1 접착 필름)은 고온 및 고압에 의해 재융해가 발생되지 않는다. 따라서 제 1 접착 필름이 제 2 외곽 기판과 편광자 사이 및 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 장소에 위치하는 경우, 광학 디바이스의 외관 불량 발생을 보다 효율적으로 방지 할 수 있다.

본 출원의 상기 광학 디바이스를 제조하는 방법은 특별히 제한되지 않는다. 일 예시에서 상기 광학 디바이스는, 대향 배치 되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판의 사이에 있는 액정 소자를 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름을 포함하는 복수의 접착 필름을 사용하여 접착하는 단계를 거쳐 제조될 수 있다.

상기 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름은 전술한 제 1 접착 필름 및 제 2 접착 필름일 수 있다.

상기에서 접착하는 방법은 특별히 제한되지 않고 공지의 접착하는 방법을 이용할 수 있다. 일예로, 상기 접착하는 방법은 오토클레이브(Autoclave) 공정을 이용할 수 있다.

상기 오토클레이브(Autoclave) 공정은, 외곽 기판의 사이에 목적하는 구조에 따라서 복수의 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름 그리고 액정 소자 및/또는 편광자를 배치하고, 가열/가압에 의해 수행할 수 있다.

예를 들어, 외곽 기판(30), 제 1 접착 필름(40a), 액정 소자(10), 제 2 접착 필름(40b) 및 외곽 기판(30)을 상기 순서로 배치한 적층체를 오토클레이브(Autoclave) 공정으로 가열/가압 처리하면, 도 4에 나타난 것과 같은 광학 디바이스가 형성될 수 있다. 또는 외곽 기판(30), 제 1 접착 필름(40a), 액정 소자(10), 제 2 접착 필름(40b) 및 외곽 기판(30)을 상기 순서로 배치하고, 액정 소자(10)의 측면에도 제 1 접착 필름(40a) 및 제 2 접착 필름(40b)을 배치한 적층체를 오토클레이브(Autoclave) 공정으로 가열/가압 처리하면, 도 5에 나타난 것과 같은 광학 디바이스가 형성될 수 있다.

다른 예를 들어, 외곽 기판(30), 제 1 접착 필름(40a), 액정 소자(10), 제 2 접착 필름(40b), 편광자(20), 제 1 접착 필름(40a) 및 외곽 기판(30)을 상기 순서로 배치한 적층체를 오토클레이브(Autoclave) 공정으로 가열/가압 처리하면, 도 6에 나타난 것과 같은 광학 디바이스가 형성될 수 있다. 또는, 외곽 기판(30), 제 1 접착 필름(40a), 액정 소자(10), 제 2 접착 필름(40b), 편광자(20), 제 1 접착 필름(40a) 및 외곽 기판(30)을 상기 순서로 배치하고, 액정 소자(10)와 편광자(20)의 측면에도 제 1 접착 필름(40a)을 배치한 적층체를 오토클레이브(Autoclave) 공정으로 가열/가압 처리하면, 도 7에 나타난 것과 같은 광학 디바이스가 형성될 수 있다.

상기 오토클레이브(Autoclave) 공정의 조건은 특별한 제한이 없고, 예를 들면, 적용된 제 1 및 제 2 접착 필름의 종류에 따라 적절한 온도 및 압력 하에서 수행할 수 있다. 통상의 오토클레이브(Autoclave) 공정의 온도는 약 80℃ 이상, 90℃ 이상 또는 약 100℃ 이상이며, 압력은 약 2기압 이상이나, 이에 제한되는 것은 아니다. 상기 공정 온도의 상한은 약 200℃ 이하, 190℃ 이하, 180℃ 이하 또는 약 170℃ 이하 정도일 수 있고, 공정 압력의 상한은 약 10기압 이하, 9기압 이하, 8기압 이하, 7기압 이하 또는 약 6기압 이하 정도일 수 있다.

광학 디바이스에서 제 1 접착 필름(40a) 및 제 2 접착 필름(40b)를 상기와 같은 위치에 적층하고 오토클레이브(Autoclave) 공정으로 광학 디바이스를 제조함으로써 광학 디바이스의 외관 불량 발생을 보다 효율적으로 방지할 수 있고 또한 광 손실을 보다 효율적으로 감소 시킬 수 있다. 상기와 같은 광학 디바이스는 다양한 용도로 사용될 수 있으며, 예를 들면, 선글라스나 AR(Argumented Reality) 또는 VR(Virtual Reality)용 아이웨어(eyewear) 등의 아이웨어류; 건물의 외벽; 또는 차량용 선루프 등에 사용될 수 있다.

하나의 예시에서 상기 광학 디바이스는, 그 자체로서 차량용 선루프일 수 있다.

예를 들면, 적어도 하나 이상의 개구부가 형성되어 있는 차체를 포함하는 자동차에 있어서 상기 개구부에 장착된 상기 광학 디바이스 또는 차량용 선루프를 장착하여 사용될 수 있다.

본 출원은 투과율의 가변이 가능하고, 외관불량이 개선됨과 동시에 광 손실을 감소시킬 수 있는 광학 디바이스를 제공할 수 있다. 이러한 광학 디바이스는, 선글라스나 AR(Argumented Reality) 또는 VR(Virtual Reality)용 아이웨어(eyewear) 등의 아이웨어류, 건물의 외벽이나 차량용 선루프 등의 다양한 용도에 사용될 수 있다.

도 1 내지 8은 본 출원의 광학 디바이스를 설명하기 위한 예시적인 도면이다.
도 9은 실시예 1 및 비교예 1의 결과를 보여주는 도면이다.

이하 실시예 1 및 비교예 1을 통해 본 출원을 구체적으로 설명하지만, 본 출원의 범위가 하기 실시예 1에 제한되는 것은 아니다.

외관 불량 측정 방법

외관 불량은 실시예 1 및 비교예 1에서 제조된 광학 디바이스를 고온 장기 내구성 테스트(100℃의 온도에서 약 168 시간 유지)에 적용하고, 광학 디바이스의 외관에 주름의 발생 여부로 광학 디바이스의 외관 불량을 측정 하였다.

실시예 1

액정 소자로서 게스트-호스트 액정 소자(셀갭: 약 12 μm, 기재 필름 종류: PET(poly(ethylene terephthalate) 필름), 액정/염료 혼합물 종류: Merck사의 MAT-16-969 액정과 이색성 염료 게스트(BASF사, X12)의 혼합물)와 PVA(polyvinylalcohol)계 편광자를 2장의 외곽 기판의 사이에서 경화성 접착 필름 및 비경화성 접착 필름으로 봉지하여 광학 디바이스를 제조하였다.

상기 경화성 접착 필름(제 1 접착 필름)은 에틸렌초산비닐 접착 필름(두께: 약 400 μm, 제조사: SKC사, 제품명: EF2N)을 이용하였으며, 상기 비경화성 접착 필름(제 2 접착 필름)은 두께 방향 위상차(Rth)의 절대값이 약 15 nm인 열가소성 폴리우렌탄 접착 필름(두께: 약 0.38 mm, 제조사: Argotec사, 제품명: ArgoFlex)을 이용하였다.

상기에서 외곽 기판으로는 두께가 약 3 mm 정도인 글라스 기판을 사용하였으며, 곡률 반경이 약 2,470R인 기판(제 1 외곽 기판)과 곡률 반경이 약 2,400R인 기판(제 2 외곽 기판)을 사용하였다.

상기 제 1 외곽 기판, 상기 제 1 접착 필름, 상기 액정 소자, 상기 제 2 접착 필름, 상기 편광자, 상기 제 1 접착 필름 및 상기 제 2 외곽 기판을 상기 순서로 적층하고, 액정 소자 및 편광자의 모든 측면에도 상기 제 1 접착 필름을 배치하여 적층체를 제조하였다.(제 1 외곽 기판에 비해서 제 2 외곽 기판이 중력 방향으로 배치)

그 후 약 100℃의 온도 및 2기압 정도의 압력으로 오토클레이브 (Autoclave) 공정을 수행하여 광학 디바이스를 제조하였다.

비교예 1

상기 제 1 외곽 기판과 상기 액정 소자 사이 및 상기 편광자와 제 2 외곽 기판 사이에 제 1 접착 필름 대신 제 2 접착 필름을 사용하였으며, 액정 소자 및 편광자의 모든 측면에도 제 1 접착 필름 대신 제 2 접착 필름을 사용한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일하게 광학 디바이스를 제조하였다.

도 9은, 상기 내구성 테스트 후의 디바이스의 사진으로, 좌측은 실시예1의 디바이스 사진이고, 우측은 비교예 1의 디바이스 사진이다. 실시예 1의 디바이스는 테두리부 주름 등의 외관불량이 발생됨이 없이 안정적으로 광학 디바이스가 제조된 것을 확인할 수 있고, 이와 대조적으로 비교예 1의 디바이스는 테두리부 주름 등의 외관불량이 발생된 것을 확인 할 수 있다.

10: 액정 소자
20: 편광자
30: 외곽 기판
40a: 제 1 접착 필름
40b: 제 2 접착 필름
400: 봉지 부위
50: 버퍼층

Claims

대향 배치되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판;
상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 위치하는 액정 소자; 및
상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에서 상기 액정 소자를 봉지하고 있는 복수의 접착 필름;을 포함하고,
상기 복수의 접착 필름은 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름을 포함하는 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 외곽 기판은 글라스 기판인 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 상기 제 1 및 제 2 외곽 기판의 곡률의 차이가 10% 이내인 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 액정 소자는 액정 호스트와 이색성 염료 게스트를 포함하고, 제 1 배향 상태와 제 2 배향 상태의 사이를 스위칭 할 수 있는 액정층을 가지는 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 액정 소자는 대향 배치되어 있는 2장의 기재 필름과 상기 2장의 기재 필름의 사이에 구비된 액정층을 포함하는 광학 디바이스.
제 5 항에 있어서, 기재 필름은 액정층을 향하는 면 상에 도전층 또는 배향막을 추가로 포함하는 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 경화성 접착 필름은, 에틸렌초산비닐 접착 필름이거나 에폭시 접착 수지, 아크릴레이트 접착 수지 또는 실리콘 접착 수지를 포함하는 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 비경화성 접착 필름은 열가소성 폴리우레탄 접착 필름 또는 폴리올레핀 접착 필름인 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 비경화성 접착 필름은 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 50 nm 이하인 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 경화성 접착 필름은 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이; 및 제 2 외곽 기판과 액정 소자 사이에 위치하는 광학 디바이스.
제 1 항에 있어서, 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에 위치하는 편광자를 추가로 포함하는 광학 디바이스.
제 1 외곽 기판;
제 2 외과 기판;
상기 제 1 외곽 기판과 제 2 외곽 기판 사이에 위치하는 액정 소자;
상기 제 2 외곽 기판과 액정 소자 사이에 위치하는 편광자; 및
상기 제 1 및 제 2 외곽 기판 사이에서 상기 액정 소자 및 편광자를 봉지하고 있는 복수의 접착 필름;을 포함하고,
상기 복수의 접착 필름은 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름을 포함하며,
상기 비경화성 접착 필름은 상기 액정 소자 및 편광자의 사이에 위치하는 광학 디바이스.
제 12 항에 있어서, 비경화성 접착 필름은 두께 방향 위상차(Rth)의 절대 값이 50 nm 이하인 광학 디바이스.
제 12 항에 있어서, 경화성 접착 필름은, 제 2 외곽 기판과 편광자 사이 및 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이로 이루어진 군에서 선택된 하나 이상의 장소에 위치하는 광학 디바이스.
제 14 항에 있어서, 액정 소자와 편광자 사이에 위치하는 비경화성 접착 필름; 및 제 2 외곽 기판과 편광자 사이에 위치하는 경화성 접착 필름이 함께 상기 편광자를 봉지하는 광학 디바이스.
제 14 항에 있어서, 액정 소자와 편광자 사이에 위치하는 비경화성 접착 필름; 및 제 1 외곽 기판과 액정 소자 사이에 위치하는 경화성 접착 필름은 함께 상기 액정 소자를 봉지하는 광학 디바이스.
대향 배치 되어 있는 제 1 및 제 2 외곽 기판의 사이에 있는 액정 소자를 경화성 접착 필름과 비경화성 접착 필름을 포함하는 복수의 접착 필름을 사용하여 접착하는 단계를 포함하는 광학 디바이스의 제조 방법.
하나 이상의 개구부가 형성되어 있는 차체; 및 상기 개구부에 장착된 제 1 항 내지 제 16 항의 광학 디바이스를 포함하는 자동차.