KR20190052822A - Electroluminescent Display Device - Google Patents

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Abstract

According to the present invention, each pixel placed in an n-th horizontal pixel line (n is a natural number) in an electroluminescent display device comprises: a driving element in which a gate electrode is connected to a node N1 and a first electrode and a second electrode are connected to a node N2 and a node N3, respectively, and which generates driving currents according to gate-source voltages; a capacitor Cb of which one side electrode is connected to the node N1; a switch element ST2 which is connected between the other electrode of the capacitor Cb and a data line; a switch element ST3 which is connected between the node N2 and a first power line; and a light emitting element which is connected between the node N2 and an input end of a low level potential power voltage, and emits light according to the driving currents. While the switch element ST2 turns on, the switch element ST3 turns on. The present invention provides an electroluminescent display device which changes a compensating circuit applied in each pixel to improve data transmission rates, and enhances accuracy of threshold voltage compensation and uniformity of an image quality.

Description

전계 발광 표시장치{Electroluminescent Display Device}[0001] Electroluminescent Display Device [0002]

본 명세서는 전계 발광 표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to an electroluminescent display device.

전계 발광 표시장치는 발광층의 재료에 따라 무기 발광 표시장치와 유기 발광 표시장치로 대별된다. 이 중에서, 액티브 매트릭스 타입(active matrix type)의 유기발광 표시장치는 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode: 이하, "OLED"라 함)를 포함하며, 응답속도가 빠르고 발광효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있다.An electroluminescent display device is classified into an inorganic light emitting display device and an organic light emitting display device depending on the material of the light emitting layer. Among them, an active matrix type organic light emitting display device includes an organic light emitting diode (OLED) that emits light by itself, has a high response speed, There is an advantage of a large viewing angle.

유기발광 표시장치는 OLED를 각각 포함한 화소들을 매트릭스 형태로 배열하고 영상 데이터의 계조에 따라 화소들의 휘도를 조절한다. 화소들 각각은 게이트-소스 간 전압에 따라 OLED에 흐르는 구동전류를 제어하는 구동 TFT(Thin Film Transistor)와, 구동 TFT의 게이트-소트 간 전압을 프로그래밍하기 위한 하나 이상의 스위치 TFT를 포함하며, 구동전류에 비례하는 OLED의 발광량으로 표시 계조(휘도)를 조절한다.The organic light emitting display device arranges pixels each including an OLED in a matrix form and adjusts the brightness of the pixels according to the gradation of the image data. Each of the pixels includes a driving TFT (Thin Film Transistor) for controlling the driving current flowing in the OLED according to the gate-source voltage, and at least one switch TFT for programming the gate-to-source voltage of the driving TFT, The display gradation (luminance) is adjusted by the amount of light emitted by the OLED.

화소들 간 휘도, 색감 차이 없는 균일한 화질을 구현하기 위해서는 구동 TFT의 문턱 전압과 같은 화소의 구동 특성이 모든 화소들에서 동일해야 한다. 하지만, 공정 편차에 의해 화소들 간 구동 특성에 편차가 있을 수 있다. 또한, 표시장치의 구동 시간에 따라 화소들 간의 열화 진행 속도가 다르게 되어 화소들 간에 구동 특성에서 차이가 커질 수 있다. 이러한, 구동 특성 편차에 의해 OLED로 흐르는 구동 전류량이 변화될 수 있고, 그 결과 화소들 간에 화질의 불균일이 생길 수 있다.In order to realize a uniform image quality without luminance and color difference between pixels, the driving characteristic of a pixel equal to the threshold voltage of the driving TFT must be the same in all pixels. However, there may be variations in driving characteristics between pixels due to process variations. In addition, the deterioration progress speed between the pixels may be different according to the driving time of the display device, so that the difference in driving characteristics between the pixels may be large. Such a driving characteristic deviation can change the amount of driving current flowing to the OLED, resulting in non-uniformity of image quality among the pixels.

이에 표시장치의 화질과 수명을 개선하기 위하여 화소들 간의 구동 특성 차이를 보상하기 위한 내부 보상 회로가 유기발광 표시장치에 적용되고 있다. 내부 보상 회로는 화소 내에 적용될 수 있다. 유기 발광 표시장치는 화소 내의 보상 회로를 이용하여 구동 TFT의 문턱전압에 따라 변하는 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압을 샘플링하고 샘플링된 전압으로 구동 TFT의 문턱전압 변화를 보상한다.Accordingly, an internal compensation circuit for compensating a driving characteristic difference between pixels is applied to the OLED display in order to improve image quality and lifetime of the display device. The internal compensation circuit can be applied within the pixel. The organic light emitting display uses a compensation circuit in the pixel to sample the gate-source voltage of the driving TFT which changes according to the threshold voltage of the driving TFT and compensates the threshold voltage change of the driving TFT with the sampled voltage.

그런데, 화소 내에 보상 회로가 적용된 종래 전계 발광 표시장치는 다음과 같은 문제가 있다.However, the conventional electroluminescent display device to which the compensation circuit is applied in the pixel has the following problems.

첫째, 종래 전계 발광 표시장치에서, 구동 TFT의 게이트전극에 데이터전압이 기입될 때 구동 TFT의 소스전극 전위가 변하여 데이터 전달율이 저하될 수 있다. 데이터 전달율은 데이터전압의 변화량이 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압의 변화량에 미치는 비율을 나타낸다. 데이터 전달율이 낮으면 데이터전압을 출력하는 소스 드라이버의 출력 전압 범위를 넓혀야 하므로, 소비전력이 증대될 수 있다.First, in the conventional electroluminescent display device, when the data voltage is written to the gate electrode of the driving TFT, the potential of the source electrode of the driving TFT is changed and the data transmission rate may be lowered. The data transfer rate represents the ratio of the amount of change of the data voltage to the amount of change of the gate-source voltage of the driving TFT. When the data transfer rate is low, the output voltage range of the source driver that outputs the data voltage must be widened, so that the power consumption can be increased.

둘째, 종래 전계 발광 표시장치는 데이터 전달율을 높이기 위해 구동 TFT의 소스전극에 병렬 접속된 스토리지 커패시터와 추가 커패시터를 구비한다. 추가 커패시터는 구동 TFT의 소스전극과 고전위 전원전압 사이에 접속되어, 구동 TFT의 게이트전극에 데이터전압이 기입될 때 구동 TFT의 소스전위 변화량을 최소화한다. 추가 커패시터는 공정 조건에 따라 화소별로 편차가 생길 수 있다. 이러한 화소 구조에서는 추가 커패시터의 편차에 따라 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압과 구동 전류량이 민감하게 변할 수 있어, 화질의 균일성을 얻기가 어렵다.Second, the conventional electroluminescent display device has a storage capacitor and an additional capacitor connected in parallel to the source electrode of the driving TFT to increase the data transmission rate. The additional capacitor is connected between the source electrode of the driving TFT and the high potential power supply voltage to minimize the source potential change of the driving TFT when the data voltage is written to the gate electrode of the driving TFT. Additional capacitors may have pixel-to-pixel variations depending on process conditions. In such a pixel structure, the gate-source voltage and the driving current amount of the driving TFT can be sensitively changed according to the deviation of the additional capacitor, and it is difficult to obtain uniformity of image quality.

셋째, 종래 전계 발광 표시장치는 샘플링 기간에서 구동 TFT의 문턱전압을 구동 TFT의 소스전극에 저장하기 때문에, 샘플링 기간에 이은 데이터 기입 기간에서 구동 TFT가 턴 온 될 때 구동 TFT의 소스전위 변화에 의해 구동 TFT의 문턱전압 손실이 불가피하여 보상의 정확도가 떨어진다.Third, since the conventional electroluminescent display device stores the threshold voltage of the driving TFT in the sampling period in the source electrode of the driving TFT, when the driving TFT is turned on in the data writing period subsequent to the sampling period, The threshold voltage loss of the driving TFT is inevitable and the accuracy of compensation is reduced.

따라서, 본 명세서는 각 화소 내에 적용된 보상 회로를 변경하여 데이터 전달율을 개선하고 문턱전압 보상의 정확도와 화질 균일성을 향상시킬 수 있도록 한 전계 발광 표시장치를 제공한다.Accordingly, the present invention provides an electroluminescent display device capable of improving the data transmission rate and improving the accuracy of threshold voltage compensation and image quality uniformity by changing a compensation circuit applied to each pixel.

본 명세서에 따른 전계 발광 표시장치는 데이터전압이 공급되는 데이터라인과 기준 전압이 공급되는 제1 전원라인과 고전위 전원전압이 공급되는 제2 전원라인에 복수의 화소들이 연결된 표시패널을 구비한다. 상기 화소들 중에서 제n 수평 화소 라인(n은 자연수)에 배치된 각 화소는, 노드 N1에 게이트전극이 접속되고, 노드 N2 및 노드 N3에 각각 제1 전극 및 제2 전극이 접속되며, 게이트-소스 간 전압에 따른 구동 전류를 생성하는 구동 소자; 상기 노드 N1에 일측 전극이 접속된 커패시터 Cb; 상기 커패시터 Cb의 타측 전극과 상기 데이터라인 사이에 접속된 스위치 소자 ST2; 상기 노드 N2와 상기 제1 전원라인 사이에 접속된 스위치 소자 ST3; 및 상기 노드 N2와 저전위 전원전압의 입력단 사이에 접속되며, 상기 구동 전류에 따라 발광하는 발광 소자를 포함하고, 상기 스위치 소자 ST2가 턴 온 되는 동안 상기 스위치 소자 ST3가 턴 온 된다.An electroluminescent display device according to the present invention includes a display panel to which a plurality of pixels are connected to a data line to which a data voltage is supplied, a first power source line to which a reference voltage is supplied, and a second power source line to which a high- In each of the pixels arranged in the nth horizontal pixel line (n is a natural number) of the pixels, the gate electrode is connected to the node N1, the first electrode and the second electrode are connected to the node N2 and the node N3, A driving device for generating a driving current according to a voltage between sources; A capacitor Cb having one electrode connected to the node N1; A switch element ST2 connected between the other electrode of the capacitor Cb and the data line; A switch element ST3 connected between the node N2 and the first power supply line; And a light emitting element which is connected between the node N2 and an input terminal of a low potential power supply voltage and emits light in accordance with the driving current, and the switch element ST3 is turned on while the switching element ST2 is turned on.

상기 제n 수평 화소 라인에 배치된 각 화소에서, 상기 스위치 소자 ST2의 턴 온에 의해 상기 데이터전압이 상기 노드 N1의 전위에 반영되는 동안, 상기 노드 N2의 전위는 상기 스위치 소자 ST3의 턴 온에 의해 상기 기준 전압으로 고정된다.In each pixel disposed in the nth horizontal pixel line, while the data voltage is reflected to the potential of the node N1 by the turn-on of the switch element ST2, the potential of the node N2 is turned on To the reference voltage.

상기 제n 수평 화소 라인에 배치된 각 화소는, 상기 노드 N1과 상기 노드 N3 사이에 접속된 스위치 소자 ST1; 상기 노드 N1과 상기 노드 N2 사이에 접속된 커패시터 Cst; 및 상기 제2 전원라인과 상기 노드 N3 사이에 접속된 스위치 소자 ET를 더 포함한다.Each pixel disposed in the nth horizontal pixel line includes a switch element ST1 connected between the node N1 and the node N3; A capacitor Cst connected between the node N1 and the node N2; And a switch element ET connected between the second power supply line and the node N3.

1 프레임 기간은, 상기 구동 소자의 문턱전압을 샘플링하는 샘플링 기간; 상기 샘플링 기간에 이어 상기 데이터전압을 상기 노드 N1의 전위에 반영하는 데이터 기입 기간; 및 상기 데이터 기입 기간에 이어 상기 문턱전압이 보상된 상기 구동전류에 따라 상기 발광 소자를 발광시키는 발광 기간을 포함한다.One frame period includes a sampling period for sampling a threshold voltage of the driving element; A data writing period in which the data voltage is reflected to the potential of the node N1 after the sampling period; And a light emitting period for causing the light emitting element to emit light in accordance with the driving current in which the threshold voltage is compensated following the data writing period.

상기 샘플링 기간 동안 상기 구동 소자의 문턱전압은 샘플링되어 상기 노드 N1에 저장된다.During the sampling period, the threshold voltage of the driving device is sampled and stored in the node N1.

상기 스위치 소자 ST1은 제n-1 스캔신호1에 따라 스위칭되고, 상기 스위치 소자 ST2는 상기 제n-1 스캔신호1에 비해 온 구간의 위상이 늦은 제n 스캔신호1에 따라 스위칭되고, 상기 스위치 소자 ST3은 상기 제n-1 스캔신호1 및 상기 제n 스캔신호1와 온 구간이 중첩되는 제n 스캔신호2에 따라 스위칭되고, 상기 스위치 소자 ET는 상기 제n 스캔신호2와 온 구간의 위상이 반대되는 제n 에미션신호에 따라 스위칭된다.The switch element ST1 is switched according to the n-1 scan signal 1, and the switch element ST2 is switched according to the n-th scan signal 1 having a slower on period than the n-1 scan signal 1, The element ST3 is switched according to the nth scan signal 2 overlapping the ON period with the nth scan signal 1 and the nth scan signal 1, and the switch element ET is switched between the nth scan signal 2 and the ON period Lt; / RTI > is switched in accordance with the opposite n-th emission signal.

상기 제n-1 스캔신호1은 상기 샘플링 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 데이터 기입 기간과 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고, 상기 제n 스캔신호1은 상기 샘플링 기간 동안 오프 레벨로 입력되고 상기 데이터 기입 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고, 상기 제n 스캔신호2는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고, 상기 제n 에미션신호는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 오프 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 온 레벨로 입력된다.The nth scan signal 1 is input to the on level during the sampling period and is input to the off level during the data write period and the light emission period, The n-th scan signal is input at an ON level during the sampling period and the data writing period and is input at an OFF level during the light emitting period, The nth emission signal is input at an off level during the sampling period and the data write period and is input to the on level during the light emission period.

상기 스위치 소자 ST1은 제n-1 스캔신호에 따라 스위칭되고, 상기 스위치 소자 ST2와 상기 스위치 소자 ST3은 상기 제n-1 스캔신호에 비해 온 구간의 위상이 늦은 제n 스캔신호에 따라 스위칭되고, 상기 스위치 소자 ET는 상기 제n 스캔신호와 온 구간의 위상이 반대되는 제n 에미션신호에 따라 스위칭된다.The switch element ST1 is switched according to the (n-1) th scan signal, and the switch element ST2 and the switch element ST3 are switched according to the n-th scan signal having a slower on period than the (n-1) The switch element ET is switched according to the n-th emission signal and the n-th emission signal whose phase is opposite to that of the n-th scan signal.

상기 제n 스캔신호의 온 구간은 상기 제n-1 스캔신호의 온 구간과 일부가 중첩된다.The on period of the n-th scan signal is partially overlapped with the on period of the (n-1) th scan signal.

상기 제n-1 스캔신호는 상기 샘플링 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 데이터 기입 기간과 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고, 상기 제n 스캔신호는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고, 상기 제n 에미션신호는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 오프 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 온 레벨로 입력된다.And the nth scan signal is input to the on level during the sampling period and the off period during the data write period and the light emission period, And the nth emission signal is input at an off level during the sampling period and the data write period and is input to the on level during the light emission period.

상기 커패시터 Cb의 용량은 상기 커패시터 Cst의 용량보다 크다.The capacitance of the capacitor Cb is larger than the capacitance of the capacitor Cst.

상기 커패시터 Cb의 용량은 상기 커패시터 Cst의 용량보다 2배 내지 6배 크다.The capacitance of the capacitor Cb is 2 to 6 times larger than the capacitance of the capacitor Cst.

상기 데이터 기입 기간 동안, 상기 데이터전압에 앞서 초기화전압이 상기 데이터라인에 인가된다. During the data write period, an initialization voltage is applied to the data line before the data voltage.

본 명세서의 전계 발광 표시장치에 따르면, 각 화소 내에 적용된 보상 회로를 변경하여 데이터 전달율을 개선하고 문턱전압 보상의 정확도와 화질 균일성을 향상시킬 수 있다.According to the electroluminescence display device of the present invention, the compensation circuit applied to each pixel can be changed to improve the data transmission rate and improve the accuracy of the threshold voltage compensation and the image quality uniformity.

본 명세서에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.The effects according to the present specification are not limited by the contents exemplified above, and a more various effects are included in the specification.

도 1은 본 명세서의 실시예에 따른 전계 발광 표시장치를 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시장치의 화소 어레이를 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2에 도시된 화소의 일 등가회로를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3의 화소에 입력되는 구동 신호들을 나타낸 파형도이다.
도 5a는 도 4의 샘플링 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다.
도 5b는 도 4의 데이터 기입 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다.
도 5c는 도 4의 발광 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다.
도 6은 도 4의 샘플링 기간, 및 데이터 기입 기간에 대응되는 화소의 특정 노드들의 전위와 게이트-소스간 전압을 나타낸 도표이다.
도 7은 본 명세서에 따른 문턱전압 변화에 따른 구동 전류 편차를 종래 기술과 비교한 시뮬레이션 결과이다.
도 8은 본 명세서에 따른 커패시터 Cb 편차에 따른 구동 전류 편차를 종래 기술과 비교한 시뮬레이션 결과이다.
도 9 및 도 10은 Cb/Cst에 따른 데이터 전달율과 게이트-소스 간 전압의 변화 추이를 보여주는 시뮬레이션 결과이다.
도 11은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시장치의 화소 어레이를 나타낸 도면이다.
도 12는 도 11에 도시된 화소의 일 등가회로를 나타낸 도면이다.
도 13은 도 12의 화소에 입력되는 구동 신호들을 나타낸 파형도이다.
도 14a는 도 12의 샘플링 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다.
도 14b는 도 12의 데이터 기입 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다.
도 14c는 도 12의 발광 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다.
1 is a block diagram illustrating an electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention.
2 is a view illustrating a pixel array of an electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram showing one equivalent circuit of the pixel shown in Fig.
4 is a waveform diagram showing driving signals input to the pixel of FIG.
5A is an equivalent circuit diagram showing the operation of a pixel during the sampling period of FIG.
5B is an equivalent circuit diagram showing the operation of the pixel during the data write period of FIG.
5C is an equivalent circuit diagram showing the operation of the pixel during the light emission period of FIG.
6 is a graph showing potentials and gate-source voltages of specific nodes of a pixel corresponding to the sampling period and the data writing period of FIG.
7 is a simulation result in which the driving current deviation according to the threshold voltage change according to the present invention is compared with the prior art.
FIG. 8 is a simulation result in which the driving current deviation according to the capacitor Cb deviation according to the present invention is compared with the conventional technique.
FIGS. 9 and 10 are simulation results showing the data transfer rate and the change in gate-source voltage according to Cb / Cst.
11 is a view showing a pixel array of an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention.
12 is a diagram showing one equivalent circuit of the pixel shown in Fig.
13 is a waveform diagram showing driving signals input to the pixel of FIG.
14A is an equivalent circuit diagram showing the operation of a pixel during the sampling period of FIG.
14B is an equivalent circuit diagram showing the operation of the pixel during the data write period of FIG.
14C is an equivalent circuit diagram showing the operation of the pixel during the light emission period of FIG.

본 명세서의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 명세서는 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 명세서의 개시가 완전하도록 하며, 본 명세서가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명세서의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 본 명세서의 권리 범위는 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. Brief Description of the Drawings The advantages and features of the present disclosure, and how to accomplish them, will become apparent with reference to the embodiments described in detail below with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the description is not limited to the embodiments disclosed herein but is to be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein, To fully inform the category of the specification. The scope of the present disclosure is defined only by the scope of the claims.

본 명세서의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 명세서가 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 명세서를 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다. 본 명세서 상에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 ' ~ 만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다. The shapes, sizes, ratios, angles, numbers and the like disclosed in the drawings for describing the embodiments of the present invention are illustrative, and thus the present invention is not limited thereto. Like reference numerals refer to like elements throughout the specification. In the following description of the present invention, a detailed description of known related arts will be omitted when it is determined that the gist of the present specification may be unnecessarily obscured. Where the terms "comprises", "having", "done", and the like are used in this specification, other portions may be added unless "only" is used. Unless the context clearly dictates otherwise, including the plural unless the context clearly dictates otherwise.

구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.In interpreting the constituent elements, it is construed to include the error range even if there is no separate description.

위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, ' ~ 상에', ' ~ 상부에', ' ~ 하부에', ' ~ 옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다. In the case of a description of the positional relationship, for example, if the positional relationship between two parts is described as 'on', 'on top', 'under', and 'next to' Or " direct " is not used, one or more other portions may be located between the two portions.

비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 명세서의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.Although the first, second, etc. are used to describe various components, these components are not limited by these terms. These terms are used only to distinguish one component from another. Therefore, the first component mentioned below may be the second component within the technical concept of the present specification.

명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Like reference numerals refer to like elements throughout the specification.

본 명세서의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하며, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시 가능할 수도 있다.It is to be understood that each of the features of the various embodiments of the present disclosure may be combined or combined with each other, partially or wholly, and technically various interlocking and driving are possible, and that the embodiments may be practiced independently of each other, It is possible.

본 명세서에서 표시패널의 기판 상에 형성되는 화소 회로는 N 타입 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) 구조의 TFT로 구현될 수 있으나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되지 않는다. TFT는 게이트(gate), 소스(source) 및 드레인(drain)을 포함한 3 전극 소자이다. 소스는 캐리어(carrier)를 트랜지스터에 공급하는 전극이다. TFT 내에서 캐리어는 소스로부터 흐르기 시작한다. 드레인은 TFT에서 캐리어가 외부로 나가는 전극이다. 즉, MOSFET에서의 캐리어의 흐름은 소스로부터 드레인으로 흐른다. N 타입 TFT (NMOS)의 경우, 캐리어가 전자(electron)이기 때문에 소스에서 드레인으로 전자가 흐를 수 있도록 소스 전압이 드레인 전압보다 낮은 전압을 가진다. N 타입 TFT에서 전자가 소스로부터 드레인 쪽으로 흐르기 때문에 전류의 방향은 드레인으로부터 소스 쪽으로 흐른다. 한편, P 타입 TFT(PMOS)의 경우, 캐리어가 정공(hole)이기 때문에 소스로부터 드레인으로 정공이 흐를 수 있도록 소스 전압이 드레인 전압보다 높다. P 타입 TFT에서 정공이 소스로부터 드레인 쪽으로 흐르기 때문에 전류가 소스로부터 드레인 쪽으로 흐른다. MOSFET의 소스와 드레인은 고정된 것이 아니라는 것에 주의하여야 한다. 예컨대, MOSFET의 소스와 드레인은 인가 전압에 따라 변경될 수 있다. 따라서, 본 명세서의 실시예에 대한 설명에서는 소스와 드레인 중 어느 하나를 제1 전극, 소스와 드레인 중 나머지 하나를 제2 전극으로 기술한다. In this specification, the pixel circuit formed on the substrate of the display panel can be realized by the TFT of the N type MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) structure, but the technical idea of the present invention is not limited thereto. A TFT is a three-electrode element including a gate, a source, and a drain. The source is an electrode that supplies a carrier to the transistor. In the TFT, carriers begin to flow from the source. The drain is an electrode in which the carrier exits from the TFT. That is, the flow of carriers in the MOSFET flows from the source to the drain. In the case of an N-type TFT (NMOS), since the carrier is an electron, the source voltage has a voltage lower than the drain voltage so that electrons can flow from the source to the drain. In an N-type TFT, the direction of the current flows from the drain to the source because electrons flow from the source to the drain. On the other hand, in the case of the P-type TFT (PMOS), since the carrier is a hole, the source voltage is higher than the drain voltage so that holes can flow from the source to the drain. In a P-type TFT, the current flows from the source to the drain because the holes flow from the source to the drain. It should be noted that the source and drain of the MOSFET are not fixed. For example, the source and drain of the MOSFET may be changed depending on the applied voltage. Therefore, in the description of the embodiments, one of the source and the drain is referred to as a first electrode, and the other of the source and the drain is referred to as a second electrode.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소 명칭은 명세서 작성의 용이함을 고려하여 선택된 것으로서, 실제 제품의 부품 명칭과는 상이할 수 있다. 이하의 실시예에서, 전계 표시장치는 유기발광 물질을 포함한 유기발광 표시장치를 중심으로 설명한다. 하지만, 본 발명의 기술적 사상은 유기발광 표시장치에 국한되지 않고, 무기발광 물질을 포함한 무기발광 표시장치에 적용될 수 있다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The component names used in the following description are selected in consideration of easiness of specification, and may be different from the parts names of actual products. In the following embodiments, an electric field display device will be described mainly with respect to an organic light emitting display device including an organic light emitting material. However, the technical idea of the present invention is not limited to the organic light emitting display, but can be applied to an inorganic light emitting display device including an inorganic light emitting material.

도 1은 본 명세서의 실시예에 따른 전계 발광 표시장치이다. 1 is an electroluminescent display according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 명세서에 따른 전계 발광 표시장치는 화소들(PXL)이 구비된 표시패널(10), 화소들(PXL)에 연결된 신호라인들을 구동하는 표시패널 구동회로(12,13), 및 표시패널 구동회로(12,13)를 제어하는 타이밍 콘트롤러(11)를 포함한다.1, an electroluminescent display device according to the present invention includes a display panel 10 having pixels PXL, display panel driving circuits 12 and 13 for driving signal lines connected to the pixels PXL, And a timing controller 11 for controlling the display panel drive circuits 12 and 13. [

표시패널 구동회로(12,13)는 표시패널(10)의 화소들(PXL)에 입력 영상 데이터(DATA)를 기입한다. 표시패널 구동회로(12,13)는 화소들(PXL)에 연결된 데이터라인들(14)을 구동하는 소스 드라이버(12)와, 화소들(PXL)에 연결된 게이트라인들(15)을 구동하는 게이트 드라이버(13)를 포함한다. The display panel drive circuits 12 and 13 write the input image data (DATA) to the pixels PXL of the display panel 10. [ The display panel driving circuits 12 and 13 include a source driver 12 for driving the data lines 14 connected to the pixels PXL and a gate driver 15 for driving the gate lines 15 connected to the pixels PXL. And a driver 13.

표시패널(10)은 화소 어레이(Pixel array)가 구비된 액티브 영역(AA)과, 액티브 영역(AA) 바깥의 비 표시영역을 포함할 수 있다. 액티브 영역(AA)에는 다수의 데이터 라인들(14)과 다수의 게이트 라인들(15)이 교차되고, 화소들(PXL)이 매트릭스 형태로 배치된다. 화소들(PXL)은 OLED를 포함할 수 있다. 자발광 소자인 OLED는 애노드전극 및 캐소드전극과, 이들 사이에 형성된 유기 화합물층을 포함한다. 유기 화합물층은 정공주입층(Hole Injection layer, HIL), 정공수송층(Hole Transport Layer, HTL), 발광층(Emission Layer, EML), 전자수송층(Electron Transport Layer, ETL) 및 전자주입층(Electron Injection Layer, EIL)으로 이루어진다. 애노드전극과 캐소드전극에 전원전압이 인가되면 정공수송층(HTL)을 통과한 정공과 전자수송층(ETL)을 통과한 전자가 발광층(EML)으로 이동되어 여기자를 형성하고, 그 결과 발광층(EML)이 가시광을 발생하게 된다.The display panel 10 may include an active area AA having a pixel array and a non-display area outside the active area AA. In the active area AA, a plurality of data lines 14 and a plurality of gate lines 15 are crossed, and the pixels PXL are arranged in a matrix form. The pixels PXL may include an OLED. The OLED, which is a self-luminous element, includes an anode electrode, a cathode electrode, and an organic compound layer formed therebetween. The organic compound layer includes a hole injection layer (HIL), a hole transport layer (HTL), an emission layer (EML), an electron transport layer (ETL), and an electron injection layer EIL). When a power source voltage is applied to the anode electrode and the cathode electrode, holes passing through the HTL and electrons passing through the ETL are transferred to the EML to form excitons. As a result, the light emitting layer (EML) Thereby generating visible light.

화소들(PXL) 각각은 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소, 및 백색 화소 중 어느 하나일 수 있다. 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소, 및 백색 화소는 컬러 구현을 위하여 하나의 단위 화소를 구성할 수 있다. 단위 화소에서 구현되는 컬러는 적색 화소, 녹색 화소, 청색 화소, 및 백색 화소의 발광 비율에 따라 결정될 수 있다. 한편, 단위 화소에서 백색 화소는 생략될 수 있다.Each of the pixels PXL may be any one of a red pixel, a green pixel, a blue pixel, and a white pixel. The red pixel, the green pixel, the blue pixel, and the white pixel may constitute one unit pixel for color implementation. The color implemented in the unit pixel may be determined according to the emission ratio of the red pixel, the green pixel, the blue pixel, and the white pixel. On the other hand, a white pixel in a unit pixel can be omitted.

화소들(PXL) 각각은 구동 소자와 발광 소자와 내부 보상회로를 포함한다. 내부 보상회로는 복수의 스위치 소자들과 복수의 커패시터들로 구현될 수 있다. 화소들(PXL) 각각은 데이터 전달율을 개선하고 커패시터 편차에 둔감하며 구동 소자의 문턱전압 보상이 충분히 이뤄질 수 있도록 도 3 또는 도 12와 같이 구성될 수 있다. Each of the pixels PXL includes a driving element, a light emitting element, and an internal compensation circuit. The internal compensation circuit may be implemented with a plurality of switch elements and a plurality of capacitors. Each of the pixels PXL may be configured as shown in FIG. 3 or 12 so as to improve the data transmission rate, be insensitive to the capacitor deviation, and sufficiently compensate the threshold voltage of the driving device.

도 3 또는 도 12와 같은 화소(PXL)의 경우, 구동 소자의 게이트전극에 데이터전압이 기입되는 동안에 구동 소자의 소스전극 전위가 기준 전압으로 고정되므로, 데이터 전달율이 개선될 수 있다. 데이터 전달율은 데이터전압의 변화량이 구동 소자의 게이트-소스 간 전압의 변화량에 미치는 비율을 나타낸다. 데이터 전달율이 개선되면 데이터전압을 출력하는 소스 드라이버(12)의 출력 전압 범위를 넓히지 않아도 되므로, 소비전력을 줄이는 데 효과적이다.In the case of the pixel PXL shown in FIG. 3 or 12, since the source electrode potential of the driving element is fixed to the reference voltage while the data voltage is written to the gate electrode of the driving element, the data transfer rate can be improved. The data transfer rate represents the ratio of the amount of change of the data voltage to the amount of change of the gate-source voltage of the driving element. If the data transmission rate is improved, the output voltage range of the source driver 12 for outputting the data voltage need not be widened, which is effective for reducing power consumption.

도 3 또는 도 12와 같은 화소(PXL)의 경우, 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압과 구동 전류량이 커패시터 Cb의 편차에 민감하게 영향 받지 않도록 하는 커패시터 접속 구성을 갖는다.In the case of the pixel PXL as shown in Fig. 3 or 12, it has a capacitor connecting structure which prevents the gate-source voltage and the driving current amount of the driving TFT from being sensitively affected by the deviation of the capacitor Cb.

도 3 또는 도 12와 같은 화소(PXL)의 경우, 샘플링 기간에서 구동 소자의 문턱전압을 구동 소자의 게이트전극에 저장하기 때문에, 샘플링 기간에 이은 데이터 기입 기간에서 구동소자가 턴 온 될 때 구동 소자의 소스전위가 변화되더라도 구동 소자의 문턱전압 왜곡이 억제될 수 있다.In the case of the pixel PXL shown in FIG. 3 or 12, since the threshold voltage of the driving element is stored in the gate electrode of the driving element in the sampling period, when the driving element is turned on in the data writing period subsequent to the sampling period, The threshold voltage distortion of the driving element can be suppressed even if the source potential of the driving transistor is changed.

타이밍 콘트롤러(11)는 호스트 시스템으로부터 입력 영상의 디지털 데이터(DATA)와, 그와 동기되는 타이밍 신호를 수신한다. 타이밍 신호는 수직 동기신호(Vsync), 수평 동기신호(Hsync), 도트 클럭 신호(DCLK) 및 데이터 인에이블신호(DE) 등을 포함한다. 호스트 시스템은 TV(Television) 시스템, 셋톱박스, 네비게이션 시스템, DVD 플레이어, 블루레이 플레이어, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 폰 시스템(Phone system) 중 어느 하나일 수 있다.The timing controller 11 receives digital data (DATA) of an input image from the host system and a timing signal synchronized with the digital data (DATA). The timing signal includes a vertical synchronization signal Vsync, a horizontal synchronization signal Hsync, a dot clock signal DCLK, and a data enable signal DE. The host system may be any one of a TV system, a set-top box, a navigation system, a DVD player, a Blu-ray player, a personal computer (PC), a home theater system, and a phone system.

타이밍 콘트롤러(11)는 입력 프레임 주파수를 i(i는 0 보다 큰 양의 정수)배 체배하여 입력 프레임 주파수×i Hz의 프레임 주파수로 표시패널 구동회로(12,13)의 동작 타이밍을 제어할 수 있다. 입력 프레임 주파수는 NTSC(National Television Standards Committee) 방식에서 60Hz이며, PAL(Phase-Alternating Line) 방식에서 50Hz이다. The timing controller 11 multiplies the input frame frequency by i (i is a positive integer larger than 0) times and controls the operation timing of the display panel driving circuits 12 and 13 at the frame frequency of the input frame frequency x i Hz have. The input frame frequency is 60 Hz in the National Television Standards Committee (NTSC) system and 50 Hz in the PAL (Phase-Alternating Line) system.

타이밍 콘트롤러(11)는 호스트 시스템으로부터 수신된 타이밍 신호(Vsync, Hsync, DE)를 바탕으로서 소스 드라이버(12)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 타이밍 제어 신호(DDC)와, 게이트 드라이버(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 타이밍 제어 신호(GDC)를 생성한다. The timing controller 11 generates a data timing control signal DDC for controlling the operation timing of the source driver 12 based on the timing signals Vsync, Hsync and DE received from the host system, And generates a gate timing control signal GDC for controlling the operation timing.

데이터 타이밍 제어신호(DDC)는 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock), 및 소스 출력 인에이블신호(Source Output Enable) 등을 포함한다. 소스 스타트 펄스는 소스 드라이버(12)의 샘플링 스타트 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭은 데이터 샘플링 타이밍을 쉬프트시키는 클럭이다. 타이밍 콘트롤러(11)와 소스 드라이버(12)사이의 신호 전송 인터페이스가 mini LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 인터페이스라면, 소스 스타트 펄스와 소스 샘플링 클럭은 생략될 수 있다.The data timing control signal DDC includes a source start pulse, a source sampling clock, and a source output enable signal. The source start pulse controls the sampling start timing of the source driver 12. [ The source sampling clock is a clock for shifting the data sampling timing. If the signal transfer interface between the timing controller 11 and the source driver 12 is a mini LVDS (Low Voltage Differential Signaling) interface, the source start pulse and the source sampling clock may be omitted.

게이트 타이밍 제어신호(GDC)는 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블신호(Gate Output Enable) 등을 포함한다. GIP 회로의 경우에, 게이트 출력 인에이블신호(Gate Output Enable)는 생략될 수 있다. 게이트 스타트 펄스는 매 프레임 기간마다 프레임 기간의 초기에 발생되어 게이트 드라이버(13) 각각의 쉬프트 레지스터에 입력된다. 게이트 스타트 펄스는 매 프레임 기간 마다 스캔 신호(SC(1)~SC(4))와 에미션 신호들(EM1(1)~EM1(4),EM2(1)~EM2(4))가 출력되는 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭은 게이트 드라이버(13)의 쉬프트 레지스터에 입력되어 게이트 신호의 쉬프트 타이밍(shift timing)을 제어한다. The gate timing control signal GDC includes a gate start pulse, a gate shift clock, a gate output enable signal, and the like. In the case of the GIP circuit, the gate output enable signal (Gate Output Enable) may be omitted. The gate start pulse is generated at the beginning of the frame period every frame period and is input to the shift register of each gate driver 13. [ The gate start pulse is a signal for outputting the scan signals SC (1) to SC (4) and the emission signals EM1 (1) to EM1 (4), EM2 (1) Controls the start timing. The gate shift clock is input to the shift register of the gate driver 13 to control the shift timing of the gate signal.

소스 드라이버(12)는 매 프레임 마다 타이밍 콘트롤러(11)로부터 수신되는 입력 영상 데이터(DATA)를 데이터 전압(Vdata)으로 변환한 후, 그 데이터 전압(Vdata)을 데이터 라인들(14)에 공급한다. 소스 드라이버(12)는 입력 영상 데이터(DATA)를 감마 보상 전압으로 변환하는 디지털 아날로그 컨버터(Digital to Analog Converter)를 이용하여 데이터 전압(Vdata)을 출력한다. The source driver 12 converts the input video data DATA received from the timing controller 11 every frame into a data voltage Vdata and supplies the data voltage Vdata to the data lines 14 . The source driver 12 outputs the data voltage Vdata using a digital to analog converter that converts the input image data DATA to a gamma compensation voltage.

소스 드라이버(12)와 표시패널(10)의 데이터 라인들(14) 사이에는 멀티플렉서(미도시)가 더 배치될 수 있다. 멀티플렉서는 소스 드라이버(12)에서 하나의 출력 채널을 통해 출력되는 데이터 전압을 복수개의 데이터라인들로 분배함으로써, 데이터라인의 개수 대비 소스 드라이버(12)의 출력 채널 개수를 줄일 수 있다. 멀티플렉서는 표시장치의 해상도, 용도에 따라 생략 가능하다.A multiplexer (not shown) may be further disposed between the source driver 12 and the data lines 14 of the display panel 10. [ The multiplexer can reduce the number of output channels of the source driver 12 to the number of data lines by distributing the data voltages output through one output channel from the source driver 12 to the plurality of data lines. The multiplexer can be omitted depending on the resolution and usage of the display device.

소스 드라이버(12)는 전원 생성부를 더 포함할 수 있다. 전원 생성부는 초기화 전압을 생성하여 데이터라인(14)에 공급하고, 기준 전압(Vref)을 생성하여 기준 전원 라인(16)에 공급하고, 고전위 전원 전압(EVDD)을 생성하여 고전위 전원 라인(17)에 공급할 수 있다. 전원 생성부는 저전위 전원 전압(EVSS)을 더 생성할 수 있다. 한편, 전원 생성부는 소스 드라이버(12) 외부에 장착된 후에 도전성 필름 등을 통해 소스 드라이버(12)에 전기적으로 연결될 수도 있다. 샘플링 기간 및 데이터 기입 기간 동안에 불필요한 OLED의 발광이 방지되도록, 기준 전압(Vref)은 OLED의 동작점 전압보다 충분히 낮은 전압 범위 내에서 설정될 수 있다.The source driver 12 may further include a power generator. The power generation unit generates an initialization voltage and supplies the generated initialization voltage to the data line 14 to generate a reference voltage Vref and supply it to the reference power supply line 16 to generate a high potential power supply voltage EVDD, 17). The power generation section may further generate the low potential power supply voltage EVSS. The power generator may be electrically connected to the source driver 12 through a conductive film or the like after being mounted outside the source driver 12. The reference voltage Vref can be set within a voltage range sufficiently lower than the operating point voltage of the OLED so that unnecessary emission of the OLED is prevented during the sampling period and the data writing period.

게이트 드라이버(13)는 스캔 신호를 생성하는 스캔 구동부와 에미션 신호를 생성하는 에미션 구동부를 포함할 수 있다. 스캔 구동부와 에미션 구동부는 화소 구조에 따라 다양한 변형이 가능하다.The gate driver 13 may include a scan driver for generating a scan signal and an emission driver for generating an emission signal. The scan driver and the emission driver can be variously modified depending on the pixel structure.

스캔 구동부는 복수의 스테이지들을 가지며, 타이밍 콘트롤러(11)의 제어 하에 온 구간이 순차 쉬프트되는 스캔 신호들을 게이트 라인들에 출력할 수 있다. 스캔 구동부는 쉬프트 레지스터(Shift register)로 구현되고 다수의 출력 노드들을 통해 게이트 라인들에 연결될 수 있다. The scan driver may have a plurality of stages and may output scan signals sequentially shifted in on-duration to the gate lines under the control of the timing controller 11. The scan driver may be implemented as a shift register and may be connected to the gate lines through a plurality of output nodes.

에미션 구동부는 복수의 스테이지들을 가지며, 타이밍 콘트롤러(11)의 제어 하에 온 구간이 순차 쉬프트되는 에미션 신호들을 게이트 라인들에 출력할 수 있다. 에미션 구동부는 쉬프트 레지스터(Shift register)로 구현되고 다수의 출력 노드들을 통해 게이트 라인들에 연결될 수 있다.The emission driving unit has a plurality of stages and can output emission signals to the gate lines under the control of the timing controller 11 in which the ON periods are sequentially shifted. The emission driver may be implemented as a shift register and may be connected to the gate lines through a plurality of output nodes.

게이트 드라이버(13)는 GIP(Gate-driver In Panel) 공정으로 화소 어레이와 함께 표시패널(10)의 비 표시영역 상에 직접 형성될 수 있으나 그에 한정되지 않는다. 게이트 드라이버(13)는 IC 타입으로 제작된 후 도전성 필름을 통해 표시패널(10)에 접합될 수도 있다. The gate driver 13 may be formed directly on the non-display region of the display panel 10 together with the pixel array in a gate-driver In Panel (GIP) process, but is not limited thereto. The gate driver 13 may be manufactured in an IC type and then bonded to the display panel 10 through a conductive film.

도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 전계 발광 표시장치의 화소 어레이를 나타낸 도면이다.2 is a view illustrating a pixel array of an electroluminescent display device according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 액티브 영역(AA)의 화소 어레이(Pixel array)에는 다수의 수평 화소 라인들(HL1~HL4)이 구비되며, 각 수평 화소 라인(L1~L4) 상에는 수평으로 이웃하며 게이트 라인들(15a,15b,15c)에 공통으로 연결된 다수의 화소들(PXL)이 배치된다. 여기서, 수평 화소 라인들(L1~L4) 각각은 물리적인 신호 라인이 아니라, 수평으로 이웃한 화소들(PXL)에 의해 구현되는 1라인 분량의 화소 집합을 의미한다. 화소 어레이에는 기준 전압(Vref)을 화소들(PXL)에 공급하는 기준 전원라인(16), 고전위 전원 전압(EVDD)을 화소들(PXL)에 공급하는 고전위 전원라인(17)이 포함될 수 있다. 또한, 화소들(PXL)은 저전위 전원 전압(EVSS)에 연결될 수 있다.Referring to FIG. 2, a plurality of horizontal pixel lines HL1 to HL4 are provided in a pixel array of the active area AA. Horizontal pixel lines HL1 to HL4 are horizontally adjacent to the horizontal pixel lines L1 to L4, A plurality of pixels PXL connected in common to the pixels 15a, 15b and 15c are arranged. Here, each of the horizontal pixel lines L1 to L4 is not a physical signal line but a pixel group of one line which is implemented by horizontally neighboring pixels PXL. The pixel array may include a reference power supply line 16 for supplying a reference voltage Vref to the pixels PXL and a high potential power supply line 17 for supplying a high potential power supply voltage EVDD to the pixels PXL have. Further, the pixels PXL may be connected to the low potential power supply voltage EVSS.

액티브 영역(AA)에 포함된 게이트 라인들(15) 각각은 스캔 신호1(SC1)이 공급되는 제1 게이트 라인(15a), 스캔 신호2(SC2)가 공급되는 제2 게이트 라인(15b), 및 에미션 신호(EM)가 공급되는 제3 게이트 라인(15c)을 포함한다. 제n 수평 화소 라인(L(n))에 배치된 각 화소(PXL)에는 제n 수평 화소 라인(L(n))에 할당된 제n 스캔 신호1,2(SC1(n), SC2(n))와 제n 에미션 신호(EM (n)) 이외에 제n-1 수평 화소 라인(L(n-1))에 할당된 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))이 더 공급될 수 있다. Each of the gate lines 15 included in the active area AA includes a first gate line 15a to which the first scan signal SC1 is supplied, a second gate line 15b to which the second scan signal SC2 is supplied, And a third gate line 15c to which the emission signal EM is supplied. (N), SC2 (n), SC2 (n), and SC2 (n) are assigned to each pixel PXL arranged in the nth horizontal pixel line L 1) th scan signal 1 (SC1 (n-1)) assigned to the (n-1) th horizontal pixel line L (n-1) in addition to the nth emission signal EM Can be supplied.

제n 수평 화소라인(Ln)의 화소들(PXL)에 인가되는 3개의 스캔신호들을 제n-1 스캔신호1(SC1(n-1))과 제n 스캔신호1(SC1(n))과 제n 스캔신호2(SC2(n))로 구성하면, 2개의 게이트 구동부로 제n 수평 화소라인(Ln)의 화소들(PXL)을 구동시킬 수 있으므로, 게이트 드라이버(13)의 구성을 간소화할 수 있는 이점이 있다. 이 경우, 제n 스캔 신호1(SC1(n))와 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))는 단일의 게이트 구동부에서 연속적으로 출력되는 게이트 신호이기 때문에 펄스 폭은 동일하고 위상이 서로 다를 수 있다. 1 scan signal 1 (SC1 (n-1)) and the nth scan signal 1 (SC1 (n)) to the three scan signals applied to the pixels PXL of the nth horizontal pixel line Ln, And the nth scan signal 2 (SC2 (n)), the two gate drivers can drive the pixels PXL of the nth horizontal pixel line Ln, so that the configuration of the gate driver 13 can be simplified There is an advantage to be able to. In this case, since the n-th scan signal SC1 (n) and the n-1 scan signal SC1 (n-1) are gate signals successively output from a single gate driver, May be different.

도 3은 도 2에 도시된 화소의 일 등가회로이다. 3 is an equivalent circuit of the pixel shown in Fig.

도 3을 참조하면, 본 명세서의 일 실시예에 따른 화소(PXL)는, OLED, 다수의 TFT들(Thin Film Transistor)(ST1~ST3, DT, ET) 및 커패시터들(Cst,Cb)을 포함한다. TFT들(ST1~ST3, DT, ET)은 NMOS형 LTPS TFT로 구현될 수 있고, 이를 통해 빠른 응답 특성을 확보할 수 있다. 다만, 본 명세서의 기술적 사상은 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 스위치 TFT들(ST1~ST3, ET) 중에서 적어도 하나의 TFT는 오프 커런트 특성이 좋은 NMOS형 옥사이드 TFT로 구현될 수도 있다. 3, a pixel PXL according to an embodiment of the present invention includes an OLED, a plurality of thin film transistors (ST1 to ST3, DT, ET), and a plurality of capacitors Cst and Cb do. The TFTs (ST1 to ST3, DT, ET) can be implemented as an NMOS type LTPS TFT, and fast response characteristics can be ensured through this. However, the technical idea of the present specification is not limited thereto. For example, at least one TFT among the switch TFTs (ST1 to ST3, ET) may be implemented as an NMOS type oxide TFT having good off-current characteristics.

이하, 제n 수평 화소 라인 상에 배치된 일 화소(PXL)의 접속 구성을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a connection configuration of one pixel PXL arranged on the nth horizontal pixel line will be described in detail.

OLED는 구동 TFT(DT)에 흐르는 구동 전류에 따라 발광하는 발광 소자이다. OLED의 애노드 전극은 노드 N2에 연결되고, OLED의 캐소드 전극은 저전위 전원전압(EVSS)의 입력단에 연결된다. 애노드 전극과 캐소드 전극 사이에는 유기 화합물층이 구비된다. The OLED is a light emitting element that emits light in accordance with a driving current flowing in the driving TFT DT. The anode electrode of the OLED is connected to the node N2, and the cathode electrode of the OLED is connected to the input terminal of the low potential power supply voltage (EVSS). An organic compound layer is provided between the anode electrode and the cathode electrode.

구동 TFT(DT)는 게이트-소스 간 전압에 따라 OLED에 인가되는 구동 전류를 조절하는 구동 소자이다. 구동 TFT(DT)는 노드 N1에 접속된 게이트 전극, 노드 N2에 접속된 제1 전극(소스 전극), 및 노드 N3에 접속된 제2 전극(드레인 전극)을 포함한다. The driving TFT DT is a driving element for adjusting a driving current applied to the OLED according to a gate-source voltage. The driving TFT DT includes a gate electrode connected to the node N1, a first electrode (source electrode) connected to the node N2, and a second electrode (drain electrode) connected to the node N3.

제1 스위치 TFT(ST1)는 노드 N1과 노드 N3 사이에 접속되며, 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제1 스위치 TFT(ST1)는 도 4의 샘플링 기간(①) 동안 턴 온 되어 구동 TFT(DT)를 다이오드 연결(diode connection) 시킨다. 구동 TFT(DT)의 다이오드 연결에 의해 구동 TFT(DT)의 문턱전압이 샘플링되어 노드 N1에 저장된다. 제1 스위치 TFT(ST1)의 게이트 전극은 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))이 인가되는 n-1번째 제1 게이트라인(15a(n-1))에 접속되고, 제1 스위치 TFT(ST1)의 제1 전극은 노드 N3에 접속되며, 제1 스위치 TFT(ST1)의 제2 전극은 노드 N1에 접속된다.The first switch TFT ST1 is a switch element connected between the node N1 and the node N3 and operated according to the (n-1) th scan signal 1 (SC1 (n-1)). The first switch TFT (ST1) is turned on during the sampling period (1) of Fig. 4 to diode-connect the drive TFT (DT). The threshold voltage of the driving TFT DT is sampled by the diode connection of the driving TFT DT and stored in the node N1. The gate electrode of the first switch TFT ST1 is connected to the (n-1) th first gate line 15a (n-1) to which the n-1 scan signal 1 (SC1 The first electrode of the first switch TFT (ST1) is connected to the node N3, and the second electrode of the first switch TFT (ST1) is connected to the node N1.

제1 커패시터(Cst)는 노드 N1과 노드 N2 사이에 접속된다. 제1 커패시터(Cst)는 도 4의 발광 기간(③) 동안 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압을 유지시킨다.The first capacitor Cst is connected between the node N1 and the node N2. The first capacitor Cst maintains the gate-source voltage of the driving TFT DT during the light emission period (3) in Fig.

제2 커패시터(Cb)의 일측 전극은 노드 N1에 접속되고, 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극은 제2 스위치 TFT(ST2)에 접속된다. 제2 커패시터(Cb)는 도 4의 데이터 기입 기간(②) 동안 제2 스위치 TFT(ST2)를 통해 인가되는 초기화 전압(Vin)과 데이터전압(Vdata)을 노드 N1의 전위에 반영한다.One electrode of the second capacitor Cb is connected to the node N1 and the other electrode of the second capacitor Cb is connected to the second switch TFT ST2. The second capacitor Cb reflects the initial voltage Vin and the data voltage Vdata applied through the second switch TFT ST2 to the potential of the node N1 during the data writing period (2) in Fig.

제2 스위치 TFT(ST2)는 데이터라인(14)과 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극 사이에 접속되며, 제n 스캔 신호1(SC1(n))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제2 스위치 TFT(ST2)는 도 4의 데이터 기입 기간(②) 동안 턴 온 되어 초기화 전압(Vin)과 데이터전압(Vdata)을 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 인가한다. 제2 스위치 TFT(ST2)의 게이트 전극은 제n 스캔 신호1(SC1(n))가 인가되는 n번째 제1 게이트라인(15a(n))에 접속되고, 제1 스위치 TFT(ST1)의 제1 전극은 데이터라인(14)에 접속되며, 제1 스위치 TFT(ST1)의 제2 전극은 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 접속된다.The second switch TFT ST2 is a switch element connected between the data line 14 and the other electrode of the second capacitor Cb and operated in accordance with the n-th scan signal SC1 (n). The second switch TFT ST2 is turned on during the data write period (2) of Fig. 4 to apply the initialization voltage Vin and the data voltage Vdata to the other electrode of the second capacitor Cb. The gate electrode of the second switch TFT ST2 is connected to the nth first gate line 15a (n) to which the nth scan signal 1 (SC1 (n)) is applied and the gate electrode of the first switch TFT One electrode is connected to the data line 14 and the second electrode of the first switch TFT ST1 is connected to the other electrode of the second capacitor Cb.

제3 스위치 TFT(ST3)는 기준 전원라인(16)과 노드 N2 사이에 접속되며, 제n 스캔 신호2(SC2(n))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제3 스위치 TFT(ST3)는 도 4의 샘플링 기간(①)과 데이터 기입 기간(②) 동안 턴 온 되어 노드 N2에 기준 전압(Vref)을 인가한다. 제3 스위치 TFT(ST3)의 게이트 전극은 제n 스캔 신호2(SC2(n))가 인가되는 n번째 제2 게이트라인(15b(n))에 접속되고, 제3 스위치 TFT(ST3)의 제1 전극은 기준 전원라인(16)에 접속되며, 제3 스위치 TFT(ST3)의 제2 전극은 노드 N2에 접속된다.The third switch TFT ST3 is a switch element connected between the reference power supply line 16 and the node N2 and operated in accordance with the nth scan signal 2 (SC2 (n)). The third switch TFT (ST3) is turned on during the sampling period (1) and the data write period (2) in Fig. 4 to apply the reference voltage (Vref) to the node N2. The gate electrode of the third switch TFT ST3 is connected to the nth second gate line 15b (n) to which the nth scan signal 2 (SC2 (n)) is applied, and the gate of the third switch TFT ST3 One electrode is connected to the reference power supply line 16, and the second electrode of the third switch TFT (ST3) is connected to the node N2.

제4 스위치 TFT(ET)는 고전위 전원라인(17)과 노드 N3 사이에 접속되며, 제n 에미션 신호(EM(n))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제4 스위치 TFT(ET)는 도 4의 샘플링 기간(①)과 데이터 기입 기간(②) 동안 턴 오프 되어 노드 N3에 인가되는 고전위 전원전압(EVDD)을 차단하고, 도 4의 발광 기간(③) 동안 턴 온 되어 노드 N3에 고전위 전원전압(EVDD)을 인가한다. 제4 스위치 TFT(ET)의 게이트 전극은 제n 에미션 신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제3 게이트라인(15c(n))에 접속되고, 제4 스위치 TFT(ET)의 제1 전극은 고전위 전원라인(17)에 접속되며, 제4 스위치 TFT(ET)의 제2 전극은 노드 N3에 접속된다.The fourth switch TFT ET is a switch element connected between the high potential power supply line 17 and the node N3 and operated in accordance with the nth emission signal EM (n). The fourth switch TFT ET is turned off during the sampling period (1) and the data writing period (2) in FIG. 4 to block the high potential power supply voltage EVDD applied to the node N3, ) To apply a high potential power supply voltage (EVDD) to the node N3. The gate electrode of the fourth switch TFT ET is connected to the nth third gate line 15c (n) to which the nth emission signal EM (n) is applied, One electrode is connected to the high potential power supply line 17, and the second electrode of the fourth switch TFT ET is connected to the node N3.

제4 스위치 TFT(ET)의 동작을 제어하는 제n 에미션 신호(EM(n))는 도 4의 발광 기간(③) 동안 계속해서 온 레벨로 입력될 수도 있고, 발광 기간(③) 내에서 미리 정해진 시간 동안 오프 레벨로 입력될 수도 있다. 이를 통해, 제n 에미션 신호(EM(n))는 미리 설정된 PWM(Pulse Width Modulation) 듀티비(duty ratio)로 제4 스위치 TFT(ET)의 온/오프를 스위칭할 수 있다. 발광 기간(③) 동안 제n 에미션 신호(EM(n))에 의해 화소들(PXL)이 20% 내지 90% 정도의 듀티비 범위내에서, 예컨대 50% 정도의 듀티비로 점등 및 소등을 반복하면 플리커와 잔상을 최소화할 수 있다. 본 발명의 기술적 사상은 특정 듀티비에 제한되지 않는다.The nth emission signal EM (n) for controlling the operation of the fourth switch TFT ET may be continuously input at the ON level during the light emission period (3) in FIG. 4, And may be input at an off level for a predetermined time. Thus, the nth emission signal EM (n) can switch ON / OFF of the fourth switch TFT ET at a predetermined PWM (Pulse Width Modulation) duty ratio. The pixels PXL are repeatedly turned on and off with a duty ratio of about 50% within a duty ratio range of about 20% to 90% by the nth emission signal EM (n) during the light emission period (3) The flicker and the afterimage can be minimized. The technical idea of the present invention is not limited to a specific duty ratio.

한편, 제4 스위치 TFT(ET)는 생략될 수 있다. 이 경우, 고전위 전원전압(EVDD)은 2 레벨로 공급될 수 있다. 도 4의 샘플링 기간(①)과 데이터 기입 기간(②) 동안 오프 레벨로 공급되고, 도 4의 발광 기간(③) 동안 온 레벨로 공급될 수 있다.On the other hand, the fourth switch TFT (ET) may be omitted. In this case, the high-potential power supply voltage EVDD can be supplied at two levels. Is supplied at the off level during the sampling period (1) and the data write period (2) in FIG. 4, and can be supplied at the on level during the light emission period (3) in FIG.

도 4는 도 3의 화소에 입력되는 구동 신호들을 나타낸 파형도이다. 도 5a, 도5b, 및 도 5c는 각각 도 4의 샘플링 기간, 데이터 기입 기간, 및 발광 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다. 그리고, 도 6은 도 4의 샘플링 기간, 및 데이터 기입 기간에 대응되는 화소의 특정 노드들의 전위와 게이트-소스간 전압을 나타낸 도표이다.4 is a waveform diagram showing driving signals input to the pixel of FIG. 5A, 5B and 5C are equivalent circuit diagrams showing the operation of the pixels during the sampling period, the data writing period, and the light emitting period, respectively, in FIG. 6 is a graph showing potentials and gate-source voltages of specific nodes of a pixel corresponding to the sampling period and the data writing period of FIG.

도 4를 참조하면, 제n 수평 화소 라인(Ln) 상에 배치된 각 화소(PXL)를 구동하기 위한 1 프레임 기간은 샘플링 기간(①), 샘플링 기간(①)에 이은 데이터 기입 기간(②), 및 데이터 기입 기간(②)에 이은 발광 기간(③)을 포함할 수 있다.4, one frame period for driving each pixel PXL disposed on the nth horizontal pixel line Ln is divided into a sampling period ①, a data writing period ② following the sampling period ➀, , And a light emitting period (3) following the data writing period (2).

도 4를 참조하면, 제n 스캔 신호1(SC1(n))는 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))에 비해 온 구간의 위상이 늦다. 제n 스캔 신호2(SC2(n))는 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1)) 및 제n 스캔 신호1(SC1(n))과 온 구간이 중첩된다. 제n 에미션 신호(EM(n))는 제n 스캔 신호2(SC2(n))와 온 구간의 위상이 반대된다.Referring to FIG. 4, the n-th scan signal SC1 (n) has a slower on-duration than the n-1 scan signal SC1 (n-1). The nth scan signal 2 (SC2 (n)) is overlapped with the nth scan signal 1 (SC1 (n-1)) and the nth scan signal 1 (SC1 (n)). The n-th emission signal EM (n) is opposite in phase to the n-th scan signal 2 (SC2 (n)).

도 4를 참조하면, 샘플링 기간(①)에서, 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))와 제n 스캔 신호2(SC2(n))는 온 레벨(ON)로 입력되고, 제n 스캔 신호1(SC1(n))와 제n 에미션 신호(EM(n))는 오프 레벨(OFF)로 입력된다. 샘플링 기간(①)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압을 샘플링하기 위한 것이다.Referring to FIG. 4, the n-1 scan signal 1 (SC1 (n-1)) and the nth scan signal 2 (SC2 (n) The nth scan signal 1 (SC1 (n)) and the nth emission signal EM (n) are inputted at the off level (OFF). The sampling period (1) is for sampling the threshold voltage of the driving TFT DT.

도 5a를 참조하면, 샘플링 기간(①) 동안 온 레벨(ON)의 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))에 응답하여 제1 스위치 TFT(ST1)가 턴 온 되고, 온 레벨(ON)의 제n 스캔 신호2(SC2(n))에 응답하여 제3 스위치 TFT(ST3)가 턴 온 된다. Referring to FIG. 5A, the first switch TFT ST1 is turned on in response to the n-1 scan signal 1 (SC1 (n-1)) of the on level (ON) during the sampling period The third switch TFT (ST3) is turned on in response to the n-th scan signal 2 (SC2 (n)) of the first switch TFT (ON).

샘플링 기간(①) 동안 제1 스위치 TFT(ST1)가 턴 온에 의해 구동 TFT(DT)의 게이트전극과 드레인전극이 서로 쇼트되어 구동 TFT(DT)가 다이오드처럼 동작하게 된다. 즉, 구동 TFT(DT)의 게이트전극과 드레인전극이 서로 쇼트되어 구동 TFT(DT)가 다이오드 연결된다. 이때, 제3 스위치 TFT(ST3)의 턴 온에 의해 노드 N2에 기준 전압(Vref)이 인가되면, 다이오드로 동작하는 구동 TFT(DT)에 의해 노드 N1 및 노드 N3의 전압이 “Vref+Vth”가 된다. 여기서 “Vth”는 구동 TFT(DT)의 문턱전압이다. 따라서, 도 6과 같이 샘플링 기간(①) 동안 노드 N1의 전위는 “Vref+Vth”이 되고, 노드 N2의 전위는 “Vref”가 되며, 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)이 된다. 이러한 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)은 노드 N1에 저장된다.During the sampling period (1), the first switch TFT (ST1) is turned on, so that the gate electrode and the drain electrode of the drive TFT DT are shorted to each other, and the drive TFT DT operates as a diode. That is, the gate electrode and the drain electrode of the driving TFT DT are short-circuited, and the driving TFT DT is diode-connected. At this time, if the reference voltage Vref is applied to the node N2 by turning on the third switch TFT ST3, the voltage of the node N1 and the node N3 becomes "Vref + Vth" by the drive TFT DT operating as a diode, . Here, " Vth " is the threshold voltage of the driving TFT DT. 6, the potential of the node N1 becomes "Vref + Vth", the potential of the node N2 becomes "Vref", and the gate-source voltage Vgs of the drive TFT DT becomes " Becomes the threshold voltage Vth of the driving TFT DT. The threshold voltage Vth of the driving TFT DT is stored in the node N1.

한편, 샘플링 기간(①) 동안 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)이 정확히 샘플링될 수 있도록 오프 레벨(OFF)의 제n 스캔 신호1(SC1(n))에 응답하여 제2 스위치 TFT(ST2)가 턴 오프 되고 오프 레벨(OFF)의 제n 에미션 신호(EM(n))에 응답하여 제4 스위치 TFT(ET)가 턴 오프 된다.On the other hand, the second switch TFT (n) is turned on in response to the n-th scan signal 1 (SC1 (n)) of the off level (OFF) so that the threshold voltage Vth of the drive TFT DT can be accurately sampled during the sampling period The fourth switch TFT ET is turned off in response to the n-th emission signal EM (n) of OFF level (OFF).

도 4를 참조하면, 데이터 기입 기간(②)에서, 제n 스캔 신호1(SC1(n))와 제n 스캔 신호2(SC2(n))는 온 레벨(ON)로 입력되고, 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))와 제n 에미션 신호(EM(n))는 오프 레벨(OFF)로 입력된다. 데이터 기입 기간(②)은 데이터전압(Vdata)을 노드 N1의 전위에 반영하기 위한 것이다.4, the nth scan signal 1 (SC1 (n)) and the nth scan signal 2 (SC2 (n)) are inputted to the ON level (ON) in the data writing period 1 scan signal 1 (SC1 (n-1)) and the nth emission signal EM (n) are input at OFF level (OFF). The data writing period (2) is for reflecting the data voltage (Vdata) to the potential of the node N1.

도 5b를 참조하면, 데이터 기입 기간(②) 동안 온 레벨(ON)의 제n 스캔 신호1(SC1(n))에 응답하여 제2 스위치 TFT(ST2)가 턴 온 되고, 온 레벨(ON)의 제n 스캔 신호2(SC2(n))에 응답하여 제3 스위치 TFT(ST3)가 온 상태를 유지한다. 그리고, 데이터 기입 기간(②) 동안 오프 레벨(OFF)의 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))에 응답하여 제1 스위치 TFT(ST1)가 턴 오프 되고, 오프 레벨(OFF)의 제n 에미션 신호(EM(n))에 응답하여 제4 스위치 TFT(ET)가 오프 상태를 유지한다.5B, the second switch TFT ST2 is turned on and the on-level (ON) is turned on in response to the n-th scan signal 1 (SC1 (n)) of the on level (ON) The third switch TFT (ST3) maintains the on state in response to the nth scan signal 2 (SC2 (n)). The first switch TFT ST1 is turned off in response to the n-1 scan signal 1 (SC1 (n-1)) of the OFF level (OFF) during the data writing period (2) The fourth switch TFT ET maintains the OFF state in response to the nth emission signal EM (n)

데이터 기입 기간(②) 내에서 데이터라인(14)에는 데이터전압(Vdata)에 앞서 일정 시간(XX) 동안 초기화 전압(Vin)이 인가되어, 데이터라인(14)과 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극 전위를 리셋시킨다. 이렇게 리셋 동작을 수행하는 이유는 문턱전압 보상 및 계조 표현의 오류를 최소화하기 위함이다. The initializing voltage Vin is applied to the data line 14 for a predetermined period of time XX before the data voltage Vdata in the data writing period ② and the initializing voltage Vin is applied to the other side of the data line 14 and the second capacitor Cb Thereby resetting the electrode potential. The reason for performing the reset operation is to minimize errors in threshold voltage compensation and gradation representation.

데이터 기입 기간(②) 동안 제2 스위치 TFT(ST2)의 턴 온에 의해 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 초기화 전압(Vin)과 데이터전압(Vdata)이 연속해서 인가된다. 데이터전압(Vdata)이 인가될 때 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극 전위는 “C'(Vdata-Vin)”이 된다. 여기서, C'는 “CB/(CB+CST)”이다. CB는 제2 커패시터(Cb)의 정전 용량이고, CST는 제1 커패시터(Cst)의 정전 용량이다.The initialization voltage Vin and the data voltage Vdata are successively applied to the other electrode of the second capacitor Cb by the turn-on of the second switch TFT ST2 during the data writing period (2). When the data voltage Vdata is applied, the potential of the other electrode of the second capacitor Cb becomes "C '(Vdata-Vin)". Here, C 'is "CB / (CB + CST)". CB is the capacitance of the second capacitor Cb, and CST is the capacitance of the first capacitor Cst.

이때, 노드 N1은 제1 스위치 TFT(ST1)의 턴 오프에 의해 플로팅된 상태로 제2 커패시터(Cb)에 커플링되어 있으므로, 도 6과 같이 노드 N1의 전위가 “Vref+Vth+C'(Vdata-Vin)”으로 변하게 된다. At this time, since the node N1 is coupled to the second capacitor Cb in a floating state by the turn-off of the first switch TFT (ST1), the potential of the node N1 becomes "Vref + Vth + C Vdata-Vin) ".

데이터 기입 기간(②) 동안에도 제3 스위치 TFT(ST3)는 온 상태를 유지한다. 따라서, 데이터 기입 기간(②) 동안 노드 N1의 전위 변화에도 불구하고, 노드 N2의 전위는 도 6과 같이 “Vref”로 고정된다. 구동 TFT(DT)의 게이트전극에 데이터전압(Vdata)이 기입되는 동안에 구동 TFT(DT)의 소스전극 전위가 기준 전압(Vref)으로 고정되므로, 데이터 전달율이 개선될 수 있다. 데이터 기입 기간(②) 동안 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 도 6과 같이 “Vth+C'(Vdata-Vin)”으로 프로그래밍되며, 이 프로그래밍된 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 제1 커패시터(Cst)에 저장된다. The third switch TFT (ST3) remains on even during the data writing period (2). Therefore, in spite of the potential change of the node N1 during the data writing period (2), the potential of the node N2 is fixed to " Vref " The source electrode potential of the driving TFT DT is fixed to the reference voltage Vref while the data voltage Vdata is written to the gate electrode of the driving TFT DT so that the data transmission rate can be improved. The gate-source voltage Vgs of the driving TFT DT during the data writing period (2) is programmed to be "Vth + C '(Vdata-Vin)" as shown in FIG. 6 and the programmed gate- Vgs are stored in the first capacitor Cst.

도 4를 참조하면, 발광 기간(③)에서, 제n-1 스캔 신호1(SC1(n-1))와 제n 스캔 신호1(SC1(n))와 제n 스캔 신호2(SC2(n))는 오프 레벨(OFF)로 입력되고, 제n 에미션 신호(EM(n))는 온 레벨(ON)로 입력된다. 발광 기간(③)은 구동 TFT(DT)에 흐르는 구동 전류에 따라 OLED를 발광시키기 위한 것이다.Referring to FIG. 4, in the light emission period (3), the n-1 scan signal 1 (SC1 (n-1)), the nth scan signal 1 (SC1 ) Is input to the off level (OFF), and the nth emission signal EM (n) is input to the ON level (ON). The light emitting period (3) is for causing the OLED to emit light in accordance with the driving current flowing in the driving TFT DT.

도 5c를 참조하면, 발광 기간(③) 동안 온 레벨(ON)의 제n 에미션 신호(EM(n))에 응답하여 제4 스위치 TFT(ET)가 턴 온 되고, 오프 레벨의 스캔신호들(SC1(n-1), SC1(n), SC2(n))에 응답하여 제1 내지 제3 스위치 TFT들(ST1~ST3)이 턴 오프 된다.Referring to FIG. 5C, the fourth switch TFT ET is turned on in response to the n-th emission signal EM (n) of the on level ON during the light emission period (3) The first to third switch TFTs ST1 to ST3 are turned off in response to the scan signals SC1 (n-1), SC1 (n), and SC2 (n).

발광 기간(③) 동안 제4 스위치 TFT(ET)의 턴 온에 의해 노드 N3에 고전위 전원전압(EVDD)이 인가된다. 발광 기간(③) 동안 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 제1 커패시터(Cst)에 의해 “Vth+C'(Vdata-Vin)”을 유지한다. 따라서, 발광 기간(③) 동안 구동 TFT(DT)에는 게이트-소스 간 전압(Vgs)에서 문턱전압(Vth)을 뺀 값, 즉 “C'(Vdata-Vin)”의 제곱에 비례하는 구동전류가 흐른다. 발광 기간(③) 동안 OLED에 흐르는 구동 전류(Ioled)는 수학식 1과 같이 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)에 무관한 함수가 된다. 이를 통해, 문턱전압(Vth) 변화가 구동전류(Ioled)에 미치는 영향이 제거되는 것이다.During the light emission period (3), the high-potential power supply voltage EVDD is applied to the node N3 by the turn-on of the fourth switch TFT (ET). During the light emission period (3), the gate-source voltage Vgs of the driving TFT DT is maintained at "Vth + C" (Vdata-Vin) by the first capacitor Cst. Therefore, a driving current proportional to the square of the value obtained by subtracting the threshold voltage Vth from the gate-source voltage Vgs, that is, "C '(Vdata-Vin)" is applied to the driving TFT DT during the light emission period Flows. The driving current Ioled flowing through the OLED during the light emission period (3) is a function irrespective of the threshold voltage (Vth) of the driving TFT (DT) as shown in Equation (1). Thus, the influence of the change in the threshold voltage Vth on the drive current Ioled is eliminated.

[수학식 1][Equation 1]

Figure pat00001
Figure pat00001

Figure pat00002
Figure pat00002

Figure pat00003
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여기서, K는 구동 TFT(DT)의 이동도, 채널비, 기생 용량 등에 의해 결정되는 상수값이다. Here, K is a constant value determined by the mobility of the driving TFT DT, the channel ratio, the parasitic capacitance, and the like.

도 7은 본 명세서에 따른 문턱전압 변화에 따른 구동 전류 편차를 종래 기술과 비교한 시뮬레이션 결과이다.7 is a simulation result in which the driving current deviation according to the threshold voltage change according to the present invention is compared with the prior art.

전술한 바와 같이, 본 발명은 샘플링 기간에서 구동 소자의 문턱전압을 종래 기술과 같이 구동 소자의 노드 N2에 연결된 소스전극에 저장하는 것이 아니라 노드 N1에 연결된 게이트전극에 저장한다. 따라서, 본 발명은 데이터 기입 기간에서 구동소자가 턴 온 될 때 구동 소자의 소스전위가 변화되더라도 구동 소자의 문턱전압 왜곡을 억제할 수 있고, 문턱전압을 정확히 보상할 수 있다. 다시 말해, 본 발명에 따르면, 문턱전압 보상의 정확도가 향상되고, 도 7과 같이 문턱전압 변화에 따른 구동 전류 편차가 종래 기술에 비해 획기적으로 줄어들게 된다. As described above, in the present invention, the threshold voltage of the driving device in the sampling period is not stored in the source electrode connected to the node N2 of the driving device, but is stored in the gate electrode connected to the node N1. Therefore, the present invention can suppress the threshold voltage distortion of the driving element even when the source potential of the driving element is changed when the driving element is turned on in the data writing period, and can accurately compensate the threshold voltage. In other words, according to the present invention, the accuracy of the threshold voltage compensation is improved, and the driving current deviation according to the threshold voltage change is drastically reduced as compared with the prior art as shown in FIG.

도 8은 본 명세서에 따른 커패시터 Cb 편차에 따른 구동 전류 편차를 종래 기술과 비교한 시뮬레이션 결과이다.FIG. 8 is a simulation result in which the driving current deviation according to the capacitor Cb deviation according to the present invention is compared with the conventional technique.

전술한 바와 같이, 본 발명은 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압과 구동 전류량이 제2 커패시터(Cb)의 공정 편차에 민감하게 영향 받지 않도록 하는 커패시터 접속 구성을 갖는다. 제2 커패시터(Cb)의 공정 편차에 따른 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압의 변화량(ΔVgs)은 “CB/(CB+CST)*Vdata”이다. 여기서, CB는 제2 커패시터(Cb)의 정전 용량이고, CST는 제1 커패시터(Cst)의 정전 용량이다. 게이트-소스 간 전압의 변화량(ΔVgs) 수식에서 분모와 분자 모두에 CB가 포함되어 있으므로 CB 편차에 따른 게이트-소스 간 전압의 변화량(ΔVgs)과 구동 전류 변화량(ΔIoled)은 도 8과 같이 종래 기술에 비해 획기적으로 줄어들게 된다.As described above, the present invention has a capacitor connecting structure that prevents the gate-source voltage and the driving current amount of the driving TFT from being sensitively affected by the process variation of the second capacitor Cb. The change amount? Vgs of the gate-source voltage of the drive TFT in accordance with the process variation of the second capacitor Cb is "CB / (CB + CST) * Vdata". Here, CB is the capacitance of the second capacitor Cb, and CST is the capacitance of the first capacitor Cst. Since the CB is included in both the denominator and the molecule in the equation of the change amount of the gate-source voltage (? Vgs), the change amount? Vgs of the gate-source voltage and the drive current variation amount? Compared to the previous year.

도 9 및 도 10은 Cb/Cst에 따른 데이터 전달율과 게이트-소스 간 전압의 변화 추이를 보여주는 시뮬레이션 결과이다.FIGS. 9 and 10 are simulation results showing the data transfer rate and the change in gate-source voltage according to Cb / Cst.

도 9 및 도 10을 참조하면, 제1 및 제2 커패시터(Cst,Cb) 간의 비율, Cb/Cst에 따라 데이터 전달율과 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압(Vgs)이 바뀐다. 데이터 전달율을 개선하기 위해서는 제2 커패시터(Cb)의 용량을 제1 커패시터(Cst)의 용량보다 크게 설계하는 것이 바람직하다. 다만 화소의 개구율을 고려할 때 제2 커패시터(Cb)의 용량을 너무 크게 설계하기는 어렵다. 실험에 의하면, 제2 커패시터(Cb)의 용량을 제1 커패시터(Cst)의 용량보다 2배 내지 6배 크게 설계하는 것이 바람직함을 알 수 있었다. 이 경우, 화소 개구율을 크게 저하시키지 않으면서 데이터 전달율이 개선될 수 있었다.9 and 10, the data transfer rate and the gate-source voltage Vgs of the driving TFT are changed according to the ratio between the first and second capacitors Cst and Cb, Cb / Cst. In order to improve the data transfer rate, it is desirable to design the capacitance of the second capacitor Cb to be larger than that of the first capacitor Cst. However, it is difficult to design the capacitance of the second capacitor Cb too large in consideration of the aperture ratio of the pixel. According to the experiment, it is preferable that the capacity of the second capacitor Cb is designed to be 2 to 6 times larger than the capacity of the first capacitor Cst. In this case, the data transmission rate could be improved without significantly lowering the pixel aperture ratio.

도 11은 본 명세서의 다른 실시예에 따른 전계 발광 표시장치의 화소 어레이를 나타낸 도면이다.11 is a view showing a pixel array of an electroluminescent display device according to another embodiment of the present invention.

도 11을 참조하면, 액티브 영역(AA)의 화소 어레이(Pixel array)에는 다수의 수평 화소 라인들(HL1~HL4)이 구비되며, 각 수평 화소 라인(L1~L4) 상에는 수평으로 이웃하며 게이트 라인들(15a,15b)에 공통으로 연결된 다수의 화소들(PXL)이 배치된다. 화소 어레이에는 기준 전압(Vref)을 화소들(PXL)에 공급하는 기준 전원라인(16), 고전위 전원 전압(EVDD)을 화소들(PXL)에 공급하는 고전위 전원라인(17)이 포함될 수 있다. 또한, 화소들(PXL)은 저전위 전원 전압(EVSS)에 연결될 수 있다.Referring to FIG. 11, a plurality of horizontal pixel lines HL1 to HL4 are provided in a pixel array of the active area AA, horizontally neighboring pixels of the horizontal pixel lines L1 to L4, A plurality of pixels PXL connected in common to the pixels 15a and 15b are disposed. The pixel array may include a reference power supply line 16 for supplying a reference voltage Vref to the pixels PXL and a high potential power supply line 17 for supplying a high potential power supply voltage EVDD to the pixels PXL have. Further, the pixels PXL may be connected to the low potential power supply voltage EVSS.

액티브 영역(AA)에 포함된 게이트 라인들(15) 각각은 스캔 신호(SC)가 공급되는 제1 게이트 라인(15a), 에미션 신호(EM)가 공급되는 제2 게이트 라인(15b)을 포함한다. 제n 수평 화소 라인(L(n))에 배치된 각 화소(PXL)에는 제n 수평 화소 라인(L(n))에 할당된 제n 스캔 신호(SC(n))와 제n 에미션 신호 (EM(n)) 이외에 제n-1 수평 화소 라인(L(n-1))에 할당된 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))가 더 공급될 수 있다. Each of the gate lines 15 included in the active area AA includes a first gate line 15a to which a scan signal SC is supplied and a second gate line 15b to which an emission signal EM is supplied do. Each of the pixels PXL disposed in the nth horizontal pixel line L (n) is supplied with an nth scan signal SC (n) and an nth emission signal SC (n) 1 scan signal SC (n-1) allocated to the (n-1) th horizontal pixel line L (n-1) other than the scan signal EM (n).

제n 스캔 신호(SC(n))의 온 구간과 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))의 온 구간을 부분적으로 중첩시키면 화소들(PXL)에 인가되는 스캔 신호를 3개에서 2개로 줄일 수 있다. 그리고, 제n 수평 화소라인(Ln)의 화소들(PXL)에 인가되는 2개의 스캔신호들을 제n-1 스캔신호(SC(n-1))과 제n 스캔신호(SC(n))로 구성하면, 1개의 게이트 구동부로 제n 수평 화소라인(Ln)의 화소들(PXL)을 구동시킬 수 있으므로, 게이트 드라이버(13)의 구성을 간소화할 수 있는 이점이 있다. 이 경우, 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))와 제n 스캔 신호(SC(n))는 단일의 게이트 구동부에서 연속적으로 출력되는 게이트 신호이기 때문에 펄스 폭은 동일하고 위상이 서로 다를 수 있다. If the ON period of the n-th scan signal SC (n) and the ON period of the (n-1) th scan signal SC (n-1) are partially overlapped, the scan signals applied to the pixels PXL Can be reduced to two. The two scan signals applied to the pixels PXL of the nth horizontal pixel line Ln are divided into an n-1 scan signal SC (n-1) and an nth scan signal SC (n) It is possible to drive the pixels PXL of the nth horizontal pixel line Ln with one gate driving unit, which is advantageous in that the configuration of the gate driver 13 can be simplified. In this case, since the (n-1) th scan signal SC (n-1) and the n th scan signal SC (n) are gate signals successively output from a single gate driver, can be different.

도 12는 도 11에 도시된 화소의 일 등가회로를 나타낸 도면이다. 12 is a diagram showing one equivalent circuit of the pixel shown in Fig.

도 12를 참조하면, 본 명세서의 다른 실시예에 따른 화소(PXL)는 도 3의 화소(PXL)와 비교하여 제2 및 제3 스위치 TFT들(ST2,ST3)을 동일한 제n 스캔 신호(SC(n))로 제어하는 것과 제4 스위치 TFT(ET)의 게이트전극이 n번째 제2 게이트라인(15b(n))에 접속되는 것만 다르고, 나머지는 도 3의 화소(PXL)와 실질적으로 동일하다.12, the pixel PXL according to another embodiment of the present invention has the same structure as the pixel PXL of FIG. 3 except that the second and third switch TFTs ST2 and ST3 are connected to the same n-th scan signal SC (n)) and that the gate electrode of the fourth switch TFT ET is connected to the n-th second gate line 15b (n), and the remainder is substantially the same as the pixel PXL of Fig. 3 Do.

제2 스위치 TFT(ST2)는 데이터라인(14)과 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극 사이에 접속되며, 제n 스캔 신호(SC(n))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제2 스위치 TFT(ST2)는 도 13의 샘플링 기간(①)과 데이터 기입 기간(②) 동안 턴 온 되어 초기화 전압(Vin)과 데이터전압(Vdata)을 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 인가한다. 제2 스위치 TFT(ST2)의 게이트 전극은 제n 스캔 신호(SC(n))가 인가되는 n번째 제1 게이트라인(15a(n))에 접속되고, 제1 스위치 TFT(ST1)의 제1 전극은 데이터라인(14)에 접속되며, 제1 스위치 TFT(ST1)의 제2 전극은 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 접속된다.The second switch TFT ST2 is a switch element connected between the data line 14 and the other electrode of the second capacitor Cb and operated in accordance with the nth scan signal SC (n). The second switch TFT ST2 is turned on during the sampling period (1) and the data write period (2) in FIG. 13 to apply the initialization voltage Vin and the data voltage Vdata to the other electrode of the second capacitor Cb do. The gate electrode of the second switch TFT ST2 is connected to the nth first gate line 15a (n) to which the nth scan signal SC (n) is applied, and the first switch TFT (ST1) The electrode is connected to the data line 14 and the second electrode of the first switch TFT ST1 is connected to the other electrode of the second capacitor Cb.

제3 스위치 TFT(ST3)는 기준 전원라인(16)과 노드 N2 사이에 접속되며, 제n 스캔 신호(SC(n))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제3 스위치 TFT(ST3)는 도 13의 샘플링 기간(①)과 데이터 기입 기간(②) 동안 턴 온 되어 노드 N2에 기준 전압(Vref)을 인가한다. 제3 스위치 TFT(ST3)의 게이트 전극은 제n 스캔 신호(SC(n))가 인가되는 n번째 제1 게이트라인(15a(n))에 접속되고, 제3 스위치 TFT(ST3)의 제1 전극은 기준 전원라인(16)에 접속되며, 제3 스위치 TFT(ST3)의 제2 전극은 노드 N2에 접속된다.The third switch TFT ST3 is a switch element connected between the reference power supply line 16 and the node N2 and operated in accordance with the n-th scan signal SC (n). The third switch TFT (ST3) is turned on during the sampling period (1) and the data writing period (2) in FIG. 13 and applies the reference voltage Vref to the node N2. The gate electrode of the third switch TFT ST3 is connected to the nth first gate line 15a (n) to which the nth scan signal SC (n) is applied, and the gate electrode of the third switch TFT (ST3) The electrode is connected to the reference power supply line 16, and the second electrode of the third switch TFT (ST3) is connected to the node N2.

제4 스위치 TFT(ET)는 고전위 전원라인(17)과 노드 N3 사이에 접속되며, 제n 에미션 신호(EM(n))에 따라 동작되는 스위치 소자이다. 제4 스위치 TFT(ET)는 도 4의 샘플링 기간(①)과 데이터 기입 기간(②) 동안 턴 오프 되어 노드 N3에 인가되는 고전위 전원전압(EVDD)을 차단하고, 도 4의 발광 기간(③) 동안 턴 온 되어 노드 N3에 고전위 전원전압(EVDD)을 인가한다. 제4 스위치 TFT(ET)의 게이트 전극은 제n 에미션 신호(EM(n))가 인가되는 n번째 제2 게이트라인(15b(n))에 접속되고, 제4 스위치 TFT(ET)의 제1 전극은 고전위 전원라인(17)에 접속되며, 제4 스위치 TFT(ET)의 제2 전극은 노드 N3에 접속된다.The fourth switch TFT ET is a switch element connected between the high potential power supply line 17 and the node N3 and operated in accordance with the nth emission signal EM (n). The fourth switch TFT ET is turned off during the sampling period (1) and the data writing period (2) in FIG. 4 to block the high potential power supply voltage EVDD applied to the node N3, ) To apply a high potential power supply voltage (EVDD) to the node N3. The gate electrode of the fourth switch TFT ET is connected to the nth second gate line 15b (n) to which the nth emission signal EM (n) is applied, One electrode is connected to the high potential power supply line 17, and the second electrode of the fourth switch TFT ET is connected to the node N3.

도 13은 도 12의 화소에 입력되는 구동 신호들을 나타낸 파형도이다. 도 14a, 도 14b, 및 도 14c는 각각 도 13의 샘플링 기간, 데이터 기입 기간, 및 발광 기간 동안 화소의 동작을 나타낸 등가 회로도이다. 13 is a waveform diagram showing driving signals input to the pixel of FIG. 14A, 14B and 14C are equivalent circuit diagrams showing the operation of the pixels during the sampling period, the data writing period, and the light emitting period in FIG. 13, respectively.

도 13을 참조하면, 제n 수평 화소 라인(Ln) 상에 배치된 각 화소(PXL)를 구동하기 위한 1 프레임 기간은 샘플링 기간(①), 샘플링 기간(①)에 이은 데이터 기입 기간(②), 및 데이터 기입 기간(②)에 이은 발광 기간(③)을 포함할 수 있다.13, one frame period for driving each pixel PXL disposed on the nth horizontal pixel line Ln is a data writing period (2) following the sampling period (1), the sampling period (1) , And a light emitting period (3) following the data writing period (2).

도 13을 참조하면, 제n 스캔 신호(SC(n))는 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))에 비해 온 구간의 위상이 늦다. 제n 스캔 신호(SC(n))의 온 구간은 는 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))의 온 구간과 일부가 중첩된다. 제n 에미션 신호(EM(n))는 제n 스캔 신호(SC(n))와 온 구간의 위상이 반대된다.Referring to FIG. 13, the n-th scan signal SC (n) has a slower on-period phase than the n-1-th scan signal SC (n-1). The ON period of the nth scan signal SC (n) is partially overlapped with the ON period of the (n-1) th scan signal SC (n-1). The nth emission signal EM (n) is opposite in phase to the nth scan signal SC (n) and the ON period.

도 13을 참조하면, 샘플링 기간(①)에서, 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))와 제n 스캔 신호(SC(n))는 온 레벨(ON)로 입력되고, 제n 에미션 신호(EM(n))는 오프 레벨(OFF)로 입력된다. 샘플링 기간(①)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압을 샘플링하기 위한 것이다.13, the n-1 scan signal SC (n-1) and the nth scan signal SC (n) are input to the on level (ON) in the sampling period (1) The emission signal EM (n) is input to the off level (OFF). The sampling period (1) is for sampling the threshold voltage of the driving TFT DT.

도 14a를 참조하면, 샘플링 기간(①) 동안 온 레벨(ON)의 제n-1 스캔 신호 (SC(n-1))에 응답하여 제1 스위치 TFT(ST1)가 턴 온 되고, 온 레벨(ON)의 제n 스캔 신호(SC(n))에 응답하여 제2 및 제3 스위치 TFT들(ST2, ST3)이 턴 온 된다. 14A, the first switch TFT ST1 is turned on in response to the n-1th scan signal SC (n-1) of the ON level ON during the sampling period (1) The second and third switch TFTs ST2 and ST3 are turned on in response to the n-th scan signal SC (n).

샘플링 기간(①) 동안 제1 스위치 TFT(ST1)가 턴 온에 의해 구동 TFT(DT)의 게이트전극과 드레인전극이 서로 쇼트되어 구동 TFT(DT)가 다이오드처럼 동작하게 된다. 즉, 구동 TFT(DT)의 게이트전극과 드레인전극이 서로 쇼트되어 구동 TFT(DT)가 다이오드 연결된다. 이때, 제3 스위치 TFT(ST3)의 턴 온에 의해 노드 N2에 기준 전압(Vref)이 인가되면, 다이오드로 동작하는 구동 TFT(DT)에 의해 노드 N1 및 노드 N3의 전압이 “Vref+Vth”가 된다. 여기서 “Vth”는 구동 TFT(DT)의 문턱전압이다. 따라서, 도 6과 같이 샘플링 기간(①) 동안 노드 N1의 전위는 “Vref+Vth”이 되고, 노드 N2의 전위는 “Vref”가 되며, 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)이 된다. 이러한 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)은 노드 N1에 저장된다.During the sampling period (1), the first switch TFT (ST1) is turned on, so that the gate electrode and the drain electrode of the drive TFT DT are shorted to each other, and the drive TFT DT operates as a diode. That is, the gate electrode and the drain electrode of the driving TFT DT are short-circuited, and the driving TFT DT is diode-connected. At this time, if the reference voltage Vref is applied to the node N2 by turning on the third switch TFT ST3, the voltage of the node N1 and the node N3 becomes "Vref + Vth" by the drive TFT DT operating as a diode, . Here, " Vth " is the threshold voltage of the driving TFT DT. 6, the potential of the node N1 becomes "Vref + Vth", the potential of the node N2 becomes "Vref", and the gate-source voltage Vgs of the drive TFT DT becomes " Becomes the threshold voltage Vth of the driving TFT DT. The threshold voltage Vth of the driving TFT DT is stored in the node N1.

한편, 샘플링 기간(①) 동안 제2 스위치 TFT(ST2)의 턴 온에 의해 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 제n-1 수평 화소 라인(Ln-1)에 기입될 데이터전압이 인가된다. 샘플링 기간(①) 동안 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)이 정확히 샘플링될 수 있도록 오프 레벨(OFF)의 제n 에미션 신호(EM(n))에 응답하여 제4 스위치 TFT(ET)가 턴 오프 된다.On the other hand, the data voltage to be written to the (n-1) th horizontal pixel line Ln-1 is applied to the other electrode of the second capacitor Cb by the turn-on of the second switch TFT ST2 during the sampling period . The fourth switch TFT ET is turned on in response to the off-level nth emission signal EM (n) so that the threshold voltage Vth of the driving TFT DT can be accurately sampled during the sampling period (1) Is turned off.

도 13을 참조하면, 데이터 기입 기간(②)에서, 제n 스캔 신호(SC(n))는 온 레벨(ON)로 입력되고, 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))와 제n 에미션 신호(EM(n))는 오프 레벨(OFF)로 입력된다. 데이터 기입 기간(②)은 데이터전압(Vdata)을 노드 N1의 전위에 반영하기 위한 것이다.13, the n-th scan signal SC (n) is input to the ON level (ON) in the data write period (2) n emission signal EM (n) is input at off-level (OFF). The data writing period (2) is for reflecting the data voltage (Vdata) to the potential of the node N1.

도 14b를 참조하면, 데이터 기입 기간(②) 동안 온 레벨(ON)의 제n 스캔 신호(SC(n))에 응답하여 제2 및 제3 스위치 TFT들(ST2, ST3)이 온 상태를 유지한다. 그리고, 데이터 기입 기간(②) 동안 오프 레벨(OFF)의 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))에 응답하여 제1 스위치 TFT(ST1)가 턴 오프 되고, 오프 레벨(OFF)의 제n 에미션 신호(EM(n))에 응답하여 제4 스위치 TFT(ET)가 오프 상태를 유지한다.14B, the second and third switch TFTs ST2 and ST3 are turned on in response to the n-th scan signal SC (n) of the on level (ON) during the data writing period (2) do. The first switch TFT ST1 is turned off in response to the n-1th scan signal SC (n-1) of the off level (OFF) during the data writing period (2) The fourth switch TFT ET maintains the OFF state in response to the nth emission signal EM (n).

데이터 기입 기간(②) 내에서 데이터라인(14)에는 데이터전압(Vdata)에 앞서 일정 시간(XX) 동안 초기화 전압(Vin)이 인가되어, 데이터라인(14)과 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극 전위를 리셋시킨다. 이렇게 리셋 동작을 수행하는 이유는 문턱전압 보상 및 계조 표현의 오류를 최소화하기 위함이다. The initializing voltage Vin is applied to the data line 14 for a predetermined period of time XX before the data voltage Vdata in the data writing period ② and the initializing voltage Vin is applied to the other side of the data line 14 and the second capacitor Cb Thereby resetting the electrode potential. The reason for performing the reset operation is to minimize errors in threshold voltage compensation and gradation representation.

데이터 기입 기간(②) 동안 제2 스위치 TFT(ST2)의 턴 온에 의해 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극에 초기화 전압(Vin)과 데이터전압(Vdata)이 연속해서 인가된다. 데이터전압(Vdata)이 인가될 때 제2 커패시터(Cb)의 타측 전극 전위는 “Vdata-Vin”이 된다. 이때, 노드 N1은 제1 스위치 TFT(ST1)의 턴 오프에 의해 플로팅된 상태로 제2 커패시터(Cb)에 커플링되어 있으므로, 도 6과 같이 노드 N1의 전위가 “Vref+Vth+Vdata-Vin”으로 변하게 된다. The initialization voltage Vin and the data voltage Vdata are successively applied to the other electrode of the second capacitor Cb by the turn-on of the second switch TFT ST2 during the data writing period (2). When the data voltage Vdata is applied, the other electrode potential of the second capacitor Cb becomes " Vdata-Vin ". At this time, since the node N1 is coupled to the second capacitor Cb in a floating state by the turn-off of the first switch TFT (ST1), the potential of the node N1 becomes "Vref + Vth + Vdata-Vin &Quot;

데이터 기입 기간(②) 동안에도 제3 스위치 TFT(ST3)는 온 상태를 유지한다. 따라서, 데이터 기입 기간(②) 동안 노드 N1의 전위 변화에도 불구하고, 노드 N2의 전위는 도 6과 같이 “Vref”로 고정된다. 구동 TFT(DT)의 게이트전극에 데이터전압(Vdata)이 기입되는 동안에 구동 TFT(DT)의 소스전극 전위가 기준 전압(Vref)으로 고정되므로, 데이터 전달율이 개선될 수 있다. 데이터 기입 기간(②) 동안 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 도 6과 같이 “Vth+Vdata-Vin”으로 프로그래밍되며, 이 프로그래밍된 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 제1 커패시터(Cst)에 저장된다. The third switch TFT (ST3) remains on even during the data writing period (2). Therefore, in spite of the potential change of the node N1 during the data writing period (2), the potential of the node N2 is fixed to " Vref " The source electrode potential of the driving TFT DT is fixed to the reference voltage Vref while the data voltage Vdata is written to the gate electrode of the driving TFT DT so that the data transmission rate can be improved. During the data writing period (2), the gate-source voltage Vgs of the driving TFT DT is programmed to "Vth + Vdata-Vin" as shown in FIG. 6 and the programmed gate- 1 < / RTI > capacitor Cst.

도 13을 참조하면, 발광 기간(③)에서, 제n-1 스캔 신호(SC(n-1))와 제n 스캔 신호(SC(n))는 오프 레벨(OFF)로 입력되고, 제n 에미션 신호(EM(n))는 온 레벨(ON)로 입력된다. 발광 기간(③)은 구동 TFT(DT)에 흐르는 구동 전류에 따라 OLED를 발광시키기 위한 것이다.13, the n-1th scan signal SC (n-1) and the nth scan signal SC (n) are input at OFF level in the light emission period (3) The emission signal EM (n) is input to the ON level (ON). The light emitting period (3) is for causing the OLED to emit light in accordance with the driving current flowing in the driving TFT DT.

도 14c를 참조하면, 발광 기간(③) 동안 온 레벨(ON)의 제n 에미션 신호(EM(n))에 응답하여 제4 스위치 TFT(ET)가 턴 온 되고, 오프 레벨의 스캔신호들(SC(n-1), SC(n))에 응답하여 제1 내지 제3 스위치 TFT들(ST1~ST3)이 턴 오프 된다.Referring to FIG. 14C, the fourth switch TFT ET is turned on in response to the n-th emission signal EM (n) of the ON level ON during the light emission period (3) The first to third switch TFTs ST1 to ST3 are turned off in response to the scan signals SC (n-1) and SC (n).

발광 기간(③) 동안 제4 스위치 TFT(ET)의 턴 온에 의해 노드 N3에 고전위 전원전압(EVDD)이 인가된다. 발광 기간(③) 동안 구동 TFT(DT)의 게이트-소스 간 전압(Vgs)은 제1 커패시터(Cst)에 의해 “Vth+Vdata-Vin”을 유지한다. 따라서, 발광 기간(③) 동안 구동 TFT(DT)에는 게이트-소스 간 전압(Vgs)에서 문턱전압(Vth)을 뺀 값, 즉 “Vdata-Vin”의 제곱에 비례하는 구동전류가 흐른다. 발광 기간(③) 동안 OLED에 흐르는 구동 전류(Ioled)는 전술한 수학식 1과 같이 구동 TFT(DT)의 문턱전압(Vth)에 무관한 함수가 된다. 이를 통해, 문턱전압(Vth) 변화가 구동전류(Ioled)에 미치는 영향이 제거되는 것이다.During the light emission period (3), the high-potential power supply voltage EVDD is applied to the node N3 by the turn-on of the fourth switch TFT (ET). During the light emission period (3), the gate-source voltage Vgs of the driving TFT DT maintains "Vth + Vdata-Vin" by the first capacitor Cst. Therefore, during the light emission period (3), a driving current proportional to the square of "Vdata-Vin" flows to the driving TFT DT by subtracting the threshold voltage Vth from the gate-source voltage Vgs. The driving current Ioled flowing through the OLED during the light emission period (3) becomes a function irrespective of the threshold voltage (Vth) of the driving TFT (DT) as shown in the above-mentioned equation (1). Thus, the influence of the change in the threshold voltage Vth on the drive current Ioled is eliminated.

전술한 바와 같이, 본 명세서의 전계 발광 표시장치에 따르면, 각 화소 내에 적용된 보상 회로를 변경하여 데이터 전달율을 개선하고 문턱전압 보상의 정확도와 화질 균일성을 향상시킬 수 있다.As described above, according to the electroluminescence display device of the present invention, the compensation circuit applied to each pixel can be changed to improve the data transmission rate and improve the accuracy of the threshold voltage compensation and the image quality uniformity.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 명세서의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 명세서의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present specification should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

10 : 표시패널 11 : 타이밍 콘트롤러
12 : 소스 드라이버 13 : 게이트 드라이버
10: Display panel 11: Timing controller
12: Source driver 13: Gate driver

Claims (13)

데이터전압이 공급되는 데이터라인과 기준 전압이 공급되는 제1 전원라인과 고전위 전원전압이 공급되는 제2 전원라인에 복수의 화소들이 연결된 표시패널을 구비하고,
상기 화소들 중에서 제n 수평 화소 라인(n은 자연수)에 배치된 각 화소는,
노드 N1에 게이트전극이 접속되고, 노드 N2 및 노드 N3에 각각 제1 전극 및 제2 전극이 접속되며, 게이트-소스 간 전압에 따른 구동 전류를 생성하는 구동 소자;
상기 노드 N1에 일측 전극이 접속된 커패시터 Cb;
상기 커패시터 Cb의 타측 전극과 상기 데이터라인 사이에 접속된 스위치 소자 ST2;
상기 노드 N2와 상기 제1 전원라인 사이에 접속된 스위치 소자 ST3; 및
상기 노드 N2와 저전위 전원전압의 입력단 사이에 접속되며, 상기 구동 전류에 따라 발광하는 발광 소자를 포함하고,
상기 스위치 소자 ST2가 턴 온 되는 동안 상기 스위치 소자 ST3가 턴 온 되는 전계 발광 표시장치.
A display panel having a plurality of pixels connected to a data line to which a data voltage is supplied, a first power supply line to which a reference voltage is supplied, and a second power supply line to which a high potential supply voltage is supplied,
Each of the pixels arranged in the nth horizontal pixel line (n is a natural number)
A driving element having a gate electrode connected to the node N1, a first electrode and a second electrode respectively connected to the node N2 and the node N3, and generating a driving current according to a gate-source voltage;
A capacitor Cb having one electrode connected to the node N1;
A switch element ST2 connected between the other electrode of the capacitor Cb and the data line;
A switch element ST3 connected between the node N2 and the first power supply line; And
And a light emitting element connected between the node N2 and an input terminal of a low potential power supply voltage and emitting light according to the driving current,
And the switch element (ST3) is turned on while the switch element (ST2) is turned on.
제 1 항에 있어서,
상기 스위치 소자 ST2의 턴 온에 의해 상기 데이터전압이 상기 노드 N1의 전위에 반영되는 동안, 상기 노드 N2의 전위는 상기 스위치 소자 ST3의 턴 온에 의해 상기 기준 전압으로 고정되는 전계 발광 표시장치.
The method according to claim 1,
The potential of the node N2 is fixed to the reference voltage by the turn-on of the switch element ST3 while the data voltage is reflected to the potential of the node N1 by turning on the switch element ST2.
제 1 항에 있어서,
상기 제n 수평 화소 라인에 배치된 각 화소는,
상기 노드 N1과 상기 노드 N3 사이에 접속된 스위치 소자 ST1;
상기 노드 N1과 상기 노드 N2 사이에 접속된 커패시터 Cst; 및
상기 제2 전원라인과 상기 노드 N3 사이에 접속된 스위치 소자 ET를 더 포함하는 전계 발광 표시장치.
The method according to claim 1,
Each of the pixels arranged in the nth horizontal pixel line,
A switch element ST1 connected between the node N1 and the node N3;
A capacitor Cst connected between the node N1 and the node N2; And
And a switch element (ET) connected between the second power line and the node (N3).
제 3 항에 있어서,
1 프레임 기간은,
상기 구동 소자의 문턱전압을 샘플링하는 샘플링 기간;
상기 샘플링 기간에 이어 상기 데이터전압을 상기 노드 N1의 전위에 반영하는 데이터 기입 기간; 및
상기 데이터 기입 기간에 이어 상기 문턱전압이 보상된 상기 구동전류에 따라 상기 발광 소자를 발광시키는 발광 기간을 포함하는 전계 발광 표시장치.
The method of claim 3,
In one frame period,
A sampling period for sampling a threshold voltage of the driving device;
A data writing period in which the data voltage is reflected to the potential of the node N1 after the sampling period; And
And a light emitting period for causing the light emitting element to emit light in accordance with the driving current in which the threshold voltage is compensated after the data writing period.
제 4 항에 있어서,
상기 샘플링 기간 동안 상기 구동 소자의 문턱전압은 샘플링되어 상기 노드 N1에 저장되는 전계 발광 표시장치.
5. The method of claim 4,
And a threshold voltage of the driving device is sampled and stored in the node N1 during the sampling period.
제 4 항에 있어서,
상기 스위치 소자 ST1은 제n-1 스캔신호1에 따라 스위칭되고,
상기 스위치 소자 ST2는 상기 제n-1 스캔신호1에 비해 온 구간의 위상이 늦은 제n 스캔신호1에 따라 스위칭되고,
상기 스위치 소자 ST3은 상기 제n-1 스캔신호1 및 상기 제n 스캔신호1와 온 구간이 중첩되는 제n 스캔신호2에 따라 스위칭되고,
상기 스위치 소자 ET는 상기 제n 스캔신호2와 온 구간의 위상이 반대되는 제n 에미션신호에 따라 스위칭되는 전계 발광 표시장치.
5. The method of claim 4,
The switch element ST1 is switched according to the (n-1) th scan signal 1,
The switch element ST2 is switched according to the n-th scan signal 1 whose phase is late in the on period compared to the n-1 scan signal 1,
The switch element ST3 is switched according to the n-th scan signal 2 and the n-th scan signal 2 which are overlapped with the n-1 scan signal 1 and the n-th scan signal 1,
Wherein the switch element (ET) is switched according to an n-th emission signal whose phase is opposite to that of the n-th scan signal (2).
제 6 항에 있어서,
상기 제n-1 스캔신호1은 상기 샘플링 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 데이터 기입 기간과 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고,
상기 제n 스캔신호1은 상기 샘플링 기간 동안 오프 레벨로 입력되고 상기 데이터 기입 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고,
상기 제n 스캔신호2는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고,
상기 제n 에미션신호는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 오프 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 온 레벨로 입력되는 전계 발광 표시장치.
The method according to claim 6,
The n-1 scan signal (1) is input at an on level during the sampling period and is input at an off level during the data write period and the light emission period,
The n-th scan signal 1 is input to the off-level during the sampling period, is input to the on-level during the data writing period, is input to the off-
The nth scan signal (2) is input at the ON level during the sampling period and the data write period and is input at the OFF level during the light emission period,
Wherein the nth emission signal is input at an off level during the sampling period and the data write period and is input at an on level during the light emission period.
제 4 항에 있어서,
상기 스위치 소자 ST1은 제n-1 스캔신호에 따라 스위칭되고,
상기 스위치 소자 ST2와 상기 스위치 소자 ST3은 상기 제n-1 스캔신호에 비해 온 구간의 위상이 늦은 제n 스캔신호에 따라 스위칭되고,
상기 스위치 소자 ET는 상기 제n 스캔신호와 온 구간의 위상이 반대되는 제n 에미션신호에 따라 스위칭되는 전계 발광 표시장치.
5. The method of claim 4,
The switch element ST1 is switched according to the (n-1) th scan signal,
The switch element ST2 and the switch element ST3 are switched according to the n-th scan signal whose on-period is slower than the (n-1) th scan signal,
Wherein the switch element (ET) is switched according to an n-th emission signal whose phase is opposite to that of the n-th scan signal.
제 8 항에 있어서,
상기 제n 스캔신호의 온 구간은 상기 제n-1 스캔신호의 온 구간과 일부가 중첩되는 전계 발광 표시장치.
9. The method of claim 8,
And the on period of the n-th scan signal is partially overlapped with the on period of the (n-1) th scan signal.
제 9 항에 있어서,
상기 제n-1 스캔신호는 상기 샘플링 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 데이터 기입 기간과 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고,
상기 제n 스캔신호는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 온 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 오프 레벨로 입력되고,
상기 제n 에미션신호는 상기 샘플링 기간과 상기 데이터 기입 기간 동안 오프 레벨로 입력되고 상기 발광 기간 동안 온 레벨로 입력되는 전계 발광 표시장치.
10. The method of claim 9,
Wherein the nth scan signal is input at an on level during the sampling period and is input at an off level during the data write period and the light emission period,
Wherein the nth scan signal is input at an ON level during the sampling period and the data write period and is input at an OFF level during the light emission period,
Wherein the nth emission signal is input at an off level during the sampling period and the data write period and is input at an on level during the light emission period.
제 1 항에 있어서,
상기 커패시터 Cb의 용량은 상기 커패시터 Cst의 용량보다 큰 전계 발광 표시장치.
The method according to claim 1,
And the capacitance of the capacitor Cb is larger than the capacitance of the capacitor Cst.
제 11 항에 있어서,
상기 커패시터 Cb의 용량은 상기 커패시터 Cst의 용량보다 2배 내지 6배 큰 전계 발광 표시장치.
12. The method of claim 11,
And the capacitance of the capacitor Cb is two to six times larger than the capacitance of the capacitor Cst.
제 4 항에 있어서,
상기 데이터 기입 기간 동안, 상기 데이터전압에 앞서 초기화전압이 상기 데이터라인에 인가되는 전계 발광 표시장치.

5. The method of claim 4,
And an initializing voltage is applied to the data line before the data voltage during the data writing period.

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