KR20180126824A - 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛 - Google Patents

패널 에이징 장치용 클램핑 유닛 Download PDF

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KR20180126824A KR1020170061728A KR20170061728A KR20180126824A KR 20180126824 A KR20180126824 A KR 20180126824A KR 1020170061728 A KR1020170061728 A KR 1020170061728A KR 20170061728 A KR20170061728 A KR 20170061728A KR 20180126824 A KR20180126824 A KR 20180126824A
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Abstract

본 발명의 일실시예는 테스트 기판과 피검사 패널 사이의 접촉률을 향상시킬 수 있는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 제공한다. 여기서, 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛은 연결블록, 탄성부재, 클램핑 블록 그리고 테스트 기판을 포함한다. 연결블록에는 회전축이 결합된다. 탄성부재는 연결블록이 회전축을 중심으로 회전되도록 연결블록의 일단부의 하면에 구비되어 연결블록의 일단부를 상측으로 탄발 지지한다. 그리고 클램핑 블록은 연결블록의 타단부에 구비되고, 연결블록과 일체로 회전한다. 테스트 기판은 클램핑 블록의 하부에 부착된다. 여기서, 클램핑 블록은 연결블록과 일체로 회전하면서 테스트 기판이 회전축의 수평기준보다 아래에서 피검사 패널에 접촉된다.

Description

패널 에이징 장치용 클램핑 유닛{CLAMPING UNIT FOR PANEL AGING DEVICE}
본 발명은 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 테스트 기판과 피검사 패널 사이의 접촉률을 향상시킬 수 있는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛에 관한 것이다.
일반적으로 OLED 패널(Organic Light Emitting Diode Panel)은 액티브 매트릭스(Active Matrix) 형태로 배열된 화소들에 화상정보에 따른 데이터신호를 개별적으로 공급하여 화소들을 제어함으로써 원하는 화상을 표시할 수 있는 표시 장치이다. OLED 패널은 경량, 박형, 저소비 전력구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있으며, 최근에는 테블릿 PC, 휴대형 음향 장치 및 스마트폰과 같은 휴대형 단말기에 적용되는 소형 화면을 표시하기 위한 수단으로서 널리 이용되고 있다.
한편, 소형 표시 패널의 제작 공정 중에는 표시 패널에 전기적 신호를 인가하여 정상적으로 작동하는지 검사하는 공정이 수행되며 이 때 사용되는 장치가 프로브 스테이션이다. 이러한, 프로브 스테이션은 표시 패널에 형성되어 있는 전지 접점(Pad)에 전기적인 신호를 인가하기 위해 컨택터(Contactor)를 이용하여 전기적인 특성을 테스트하는 시스템을 사용하고 있다.
한편, 소형 표시 패널은 생산 특성상 다량의 표시 패널을 빠른 시간에 생산해야 하기 때문에 그에 맞는 빠른 검사가 요구되며, 특히, 적용 단말기의 종류에 따라 다양한 사이즈 및 성능의 표시 패널이 생산되므로 검사 대상표시 패널의 변경에 따른 측정 장비의 모델 교체가 용이하여야 한다.
반면, 기존의 프로브 스테이션(Probe Station)은 한번에 한 장의 표시 패널만 검사할 수 있어서 대량 생산에 적용하기에 어려운 단점이 있다. 특히, 표시 패널의 생산 업체들은 저마다 검사 대상물에 대한 에이징(Aging) 작업 조건이 다르기 때문에 그에 상응하는 컨택터(Contactor)를 사용해야 하는 반면, 기존의 프로브 스테이션은 고가의 장비가 사용됨에도 불구하고 한 종류의 컨택터(Contactor)만 사용할 수 없는 문제점이 있다.
한편, 도 1은 종래의 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 개략적으로 나타낸 예시도이다.
도 1에서 보는 바와 같이, 종래의 클램핑 유닛의 클램프(10)는 수직방향으로 상하 이동하는 방식이다. 즉, 클램프(10)가 하강하면서 테스트 기판(20)을 수직방향으로 가압하여 테스트 기판(20)의 컨텍터(21)와 피검사 패널(30)의 전극(31)이 밀착되도록 함으로써 통전이 가능하도록 하였다. 그러나, 이러한 방식에서는 수직방향으로의 가압력 만이 제공되기 때문에, 컨텍터(21) 또는 전극(31) 표면의 유막이나 이물질이 있는 경우 접촉률이 낮아져 전원 공급이 잘되지 않는 등의 문제점이 있다.
등록실용신안공보 제0420181호(2006.06.28. 공고)
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 테스트 기판과 피검사 패널 사이의 접촉률을 향상시킬 수 있는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일실시예는 회전축이 결합되는 연결블록; 상기 연결블록이 상기 회전축을 중심으로 회전되도록 상기 연결블록의 일단부의 하면에 구비되어 상기 연결블록의 일단부를 상측으로 탄발 지지하는 탄성부재; 상기 연결블록의 타단부에 구비되고, 상기 연결블록과 일체로 회전하는 클램핑 블록; 그리고 상기 클램핑 블록의 하부에 부착되는 테스트 기판을 포함하고, 상기 클램핑 블록은 상기 연결블록과 일체로 회전하면서 상기 테스트 기판이 상기 회전축의 수평기준보다 아래에서 피검사 패널에 접촉되도록 하는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 제공한다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 클램핑 블록의 하면에는 상기 클램핑 블록의 폭 방향으로 연장되고, 상기 테스트 기판의 컨텍터에 대응되도록 형성되어 상기 컨텍터를 상기 피검사 패널의 전극 방향으로 가압하는 가압돌기부가 돌출 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 컨텍터는 상기 테스트 기판에 전기적으로 결합되는 결합부와, 상기 결합부로부터 연장되고 제1경사도를 가지도록 형성되되, 과전류 입력 시 상기 제1경사도보다 작은 제2경사도를 가지도록 형상이 변형되는 경사부와, 상기 경사부에 연결되고 상기 전극 방향으로 라운드 돌출되도록 형성되되, 과전류 입력 시 형상이 펴지도록 변형되는 접촉부를 가지고, 과전류 입력 시 상기 경사부 및 상기 접촉부는 형상이 변형되어 상기 피검사 패널의 상기 전극으로부터 떨어질 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 클램핑 블록의 상부에는 수평방향으로 제1관통공이 형성되고, 상기 연결블록에는 상기 제1관통공과 연결되는 제1결합홀이 상기 연결블록의 길이방향으로 형성되며, 상기 제1관통공 및 상기 제1결합홀에는 제1체결부재가 체결될 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 연결블록에는 상기 연결블록의 폭 방향으로 상기 회전축이 결합되는 제2관통공이 형성되고, 상기 연결블록의 하면에는 상기 탄성부재가 결합되는 삽입홈이 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 클램핑 블록의 중앙에 하측이 개방되도록 형성되는 장착홀에 구비되어, 상기 클램핑 블록의 하측으로 자기력을 선택적으로 발생하는 자기력 발생부를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 자기력 발생부는 내측에 제1설치공간이 형성되는 제1금속하우징부와, 상기 제1금속하우징부의 양측에 구비되고, 내측에 제2설치공간이 형성되는 제2금속하우징부와, 상기 제1설치공간 및 상기 제2설치공간에 회전 가능하게 구비되는 자석과, 상기 자석과 결합되어 상기 자석이 회전되도록 회전력을 제공하는 레버를 가질 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 제1금속하우징부는 비철금속, 상자성체 및 반자성체 중 어느 하나로 이루어지고, 상기 제2금속하우징부는 강자성체로 이루어지며, 상기 자석의 회전방향에 따라 선택적으로 형성되는 자기력은 상기 제1금속하우징부 및 상기 제2금속하우징부의 하측으로 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 클램핑 블록에는 상기 레버가 상기 클램핑 블록의 상측으로 연장되어 노출된 상태에서 회전되도록 슬릿이 관통 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 테스트 기판의 하면에는 상기 자기력 발생부에서 발생되는 자기력에 의해 상기 자기력 발생부로 끌어당겨지면서 상기 테스트 기판을 상기 클램핑 블록의 하면으로 가압하는 지지플레이트가 구비될 수 있다.
본 발명의 실시예에 있어서, 상기 지지플레이트에는 가이드 핀이 돌출 형성되고, 상기 클램핑 블록은 상기 클램핑 블록의 하면에 돌출 형성되어 상기 지지플레이트에 의해 가압되는 상기 테스트 기판을 지지하고 상기 가이드 핀이 삽입되는 결합홀이 형성되는 지지부를 가질 수 있다.
본 발명의 실시예에 따르면, 클램핑 블록은 회전축을 중심으로 회전하고, 테스트 기판의 컨텍터가 피검사 패널의 전극에 접촉되는 시점에서, 클램핑 블록의 가압돌기부는 회전축의 수평기준보다 아래에 위치할 수 있다. 따라서, 컨텍터가 전극에 접촉되는 시점에서, 컨텍터 및 전극의 접촉면에는 회전력의 x분력이 더 작용할 수 있게 된다. 그리고, x분력에 의해 컨텍터는 전극의 상면을 긁어냄으로써 전극의 상면에 형성되는 유막이나 이물질과 같이 통전을 방해하는 요소가 밀어내지는 효과가 발생할 수 있으며, 이를 통해, 접촉률이 더욱 개선될 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예에 따르면, 자기력 발생부는 레버의 회전을 통해 간단하게 자기력이 발생되거나 발생되지 않도록 조절할 수 있기 때문에, 테스트 기판의 교체 작업 시에는 자기력이 발생되지 않도록 하여 용이하게 테스트 기판이 클램핑 블록으로부터 이탈되도록 할 수 있다.
본 발명의 효과는 상기한 효과로 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 상세한 설명 또는 청구범위에 기재된 발명의 구성으로부터 추론 가능한 모든 효과를 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 종래의 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 개략적으로 나타낸 예시도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛이 장착되는 예를 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 중심으로 나타낸 사시도이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 나타낸 분해사시도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 정면에서 나타낸 예시도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛의 작동예를 나타낸 예시도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛의 자기력 발생부의 분해사시도이다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛의 자기력 발생부의 작동예를 나타낸 예시도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛에서 테스트 기판의 컨텍터를 나타낸 예시도이다.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 설명하기로 한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며, 따라서 여기에서 설명하는 실시예로 한정되는 것은 아니다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 “연결(접속, 접촉, 결합)”되어 있다고 할 때, 이는 “직접적으로 연결”되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 부재를 사이에 두고 “간접적으로 연결”되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 “포함”한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 구비할 수 있다는 것을 의미한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, “포함하다” 또는 “가지다” 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛이 장착되는 예를 나타낸 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 중심으로 나타낸 사시도이고, 도 4 및 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 나타낸 분해사시도이고, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛을 정면에서 나타낸 예시도이다.
먼저, 도 2에서 보는 바와 같이, 클램핑 유닛(100)은 패널 에이징 장치의 베이스(900)에 복수개가 장착되어 사용될 수 있다. 그리고, 베이스(900)에는 각 클램핑 유닛(100)에 대응되도록 피검사 패널(30)이 공급될 수 있다. 클램핑 유닛(100)은 베이스(900)에 구비되는 마운트(910) 상에 고정되는 회전축(630)을 중심으로 회전하도록 구비될 수 있다. 클램핑 유닛(100)은 회전축(630)을 중심으로 탄성부재(400)에 의해 탄발지지되어 클램핑 블록(200)이 하향 이동되도록 회전될 수 있다. 클램핑 유닛(100)의 하부에는 테스트 기판(미도시)이 마련될 수 있으며, 클램핑 유닛(100)이 회전축(630)을 중심으로 하향 회전함에 따라 테스트 기판은 피검사 패널(30)과 접촉될 수 있다.
이하에서는, 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛(100)에 대해 상세히 설명한다.
도 2와 함께 도 3 내지 도 6을 더 포함하여 보는 바와 같이, 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛(100)은 클램핑 블록(200), 연결블록(300), 탄성부재(400) 그리고 테스트 기판(500)을 포함할 수 있다.
클램핑 블록(200)은 피검사 패널(30)의 폭 보다 큰 폭을 가지도록 형성될 수 있으며, 전체적으로 고 중량을 가지는 중량체로 형성될 수 있다. 클램핑 블록(200)의 상부에는 연결블록(300)의 길이방향으로 제1관통공(210)이 형성될 수 있다. 제1관통공(210)은 수평방향으로 형성될 수 있으며, 복수개가 형성될 수 있다.
또한, 클램핑 블록(200)의 하면에는 가압돌기부(220)가 돌출 형성될 수 있다. 가압돌기부(220)는 클램핑 블록(200)의 폭 방향으로 연장되도록 형성될 수 있으며, 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)에 대응되도록 형성될 수 있다. 가압돌기부(220)는 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)를 피검사 패널(30)의 전극(31) 방향으로 가압할 수 있다. 가압돌기부(220)는 클램핑 블록(200)의 하면에 돌출 형성되어 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)를 집중 가압하여 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)에 가해지는 가압력이 증가되도록 할 수 있으며, 이를 통해, 테스트 기판(500)의 컨텍터(510) 및 피검사 패널(30)의 전극(31) 간의 밀착력이 증대될 수 있다.
특히, 가압돌기부(220)는 클램핑 블록(200)의 하면의 전(前)단부에 형성될 수 있으며, 따라서, 클램핑 블록(200)이 회전 시에, 가장 큰 회전반경을 가질 수 있다. 이에 따라, 클램핑 블록(200)의 회전 시에, 가압돌기부(220)는 테스트 기판(500)의 컨텍터(510) 및 피검사 패널(30)의 전극(31)에 더욱 강한 가압력이 제공되도록 할 수 있다.
이하에서는 설명의 편의상, 회전축(630)을 중심으로 하는 클램핑 블록(200)의 회전 반경을 기준으로 회전 반경이 큰 방향을 전단부/전단 이라고 하고, 클램핑 블록(200)의 회전 반경이 작은 방향을 후단부/후단 이라고 정의한다.
클램핑 블록(200)의 중앙에는 장착홀(230)이 형성될 수 있다. 장착홀(230)은 클램핑 블록(200)의 하부 및 후단이 개방되도록 형성될 수 있다.
연결블록(300)은 클램핑 블록(200)의 후단부에 구비될 수 있다. 구체적으로 연결블록(300)은 클램핑 블록(200)의 후단부의 상부에 구비될 수 있다. 연결블록(300)에는 제1관통공(210)과 연결되도록 제1결합홀(310)이 형성될 수 있다. 제1결합홀(310)은 연결블록(300)의 길이방향으로 형성될 수 있다. 제1관통공(210) 및 제1결합홀(310)은 복수개가 형성될 수 있다. 제1관통공(210) 및 제1결합홀(310)에는 제1체결부재(110)가 체결될 수 있으며, 이를 통해, 클램핑 블록(200) 및 연결블록(300)은 일체로 결합될 수 있다.
그리고, 연결블록(300)의 중앙에는 두께 방향으로 관통홀(320)이 형성될 수 있으며, 관통홀(320)에는 고정블록(600)이 위치될 수 있다. 고정블록(600)은 마운트(910)의 상부에 구비될 수 있다. 고정블록(600)에는 수평방향으로 제3관통공(610)이 형성될 수 있으며, 제3관통공(610)에는 베어링(620)이 결합된 회전축(630)이 구비될 수 있다. 회전축(630)은 베어링(620)에 의해 회전이 지지될 수 있다. 또한, 고정블록(600)에는 수직방향으로 제2결합홀(640)이 형성될 수 있으며, 마운트(910)에는 제2결합홀(640)에 대응되는 제4관통공(911)이 형성될 수 있다. 또한, 제4관통공(911) 및 제2결합홀(640)에는 제2체결부재(920)가 결합될 수 있으며, 이를 통해, 고정블록(600)은 마운트(910)에 결합될 수 있다.
또한, 연결블록(300)에는 연결블록(300)의 폭 방향으로 제2관통공(330)이 형성될 수 있다. 제2관통공(330)은 관통홀(320)을 관통하도록 형성될 수 있으며, 제2관통공(330)에는 회전축(630)이 결합될 수 있다. 이를 통해, 클램핑 블록(200) 및 연결블록(300)은 회전축(630)을 중심으로 회전될 수 있다.
탄성부재(400)는 연결블록(300)의 일단부 하면에 구비될 수 있다. 탄성부재(400)의 하단부는 마운트(910)의 상부에 위치될 수 있으며, 상단부는 연결블록(300)의 일단부 하면에 위치될 수 있다. 마운트(910)의 상부에는 탄성부재(400)의 하단부가 안착되도록 안착홈(912)이 형성될 수 있고, 연결블록(300)의 하면에는 탄성부재(400)의 상단부가 삽입되도록 삽입홈(340)이 형성될 수 있으며, 이를 통해, 탄성부재(400)의 안정적인 고정이 가능할 수 있다.
탄성부재(400)는 연결블록(300)의 일단부를 상측으로 탄발 지지할 수 있으며, 이를 통해, 연결블록(300)은 회전축(630)을 중심으로 회전될 수 있다. 탄성부재(400)는 연결블록(300)의 일단부를 상측으로 탄발 지지하며, 따라서 클램핑 블록(200)은 하향 회전될 수 있다. 탄성부재(400)는 복수개가 마련될 수 있다.
그리고, 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛(100)은 자기력 발생부(700)를 포함할 수 있다. 자기력 발생부(700)는 클램핑 블록(200)의 중앙에 형성되는 장착홀(230)에 구비될 수 있다.
또한, 클램핑 블록(200)에는 슬릿이 관통 형성될 수 있다. 슬릿(240)은 클램핑 블록(200)의 상부를 관통하도록 형성될 수 있다. 또한, 슬릿(240)은 장착홀(230)과 연결될 수 있으며, 슬릿(240)에는 자기력 발생부(700)의 레버(740)가 위치될 수 있다. 레버(740)는 슬릿(240)을 통해 클램핑 블록(200)의 상측으로 연장되어 클램핑 블록(200)의 상부로 노출될 수 있다. 슬릿(240)은 클램핑 블록(200)의 폭 방향으로 연장되도록 형성될 수 있으며, 이에 따라, 레버(740)는 슬릿(240)의 내측에서 회전이 가능할 수 있다.
자기력 발생부(700)는 내부에 자석을 가질 수 있다. 자석은 레버(740)의 회전에 따라 방향이 조절될 수 있으며, 이를 통해, 클램핑 블록(200)의 하측으로 자기력이 선택적으로 발생되도록 할 수 있다. 자기력 발생부(700)의 자세한 내용에 대해서는 후술하기로 한다.
클램핑 블록(200)의 하면에는 지지부(250)가 돌출 형성될 수 있다. 지지부(250)는 클램핑 블록(200)의 폭방향으로 연장되도록 형성될 수 있으며, 가압돌기부(220)와 동일한 높이로 형성될 수 있다.
테스트 기판(500)은 패널 에이징 장치와 전기적으로 연결될 수 있으며, 테스트 기판(500)의 일단부에는 전류가 입력되는 컨텍터(510)가 구비될 수 있다. 테스트 기판(500)은 유연인쇄회로기판(FPCB: Flexible Printed Circuit Board)일 수 있다.
지지부(250)는 테스트 기판(500)을 지지할 수 있으며, 지지부(250)가 가압돌기부(220)와 동일한 높이를 가지도록 형성됨으로써 클램핑 블록(200)의 하부에서 테스트 기판(500)은 수평하게 안정적으로 위치될 수 있다.
또한, 테스트 기판(500)의 하면에는 지지플레이트(800)가 구비될 수 있다. 지지플레이트(800)는 철을 포함하는 강자성체(Ferromagnetic Substance)로 이루어질 수 있다. 따라서, 자기력 발생부(700)에 의해 클램핑 블록(200)의 하측으로 자기력이 발생되는 경우, 지지플레이트(800)는 자기력에 의해 자기력 발생부(700) 방향으로 끌어당겨질 수 있다. 그러면서, 지지플레이트(800)는 테스트 기판(500)을 클램핑 블록(200)의 하면 방향으로 가압할 수 있다.
지지플레이트(800)에는 복수의 가이드 핀(810)이 돌출 형성될 수 있으며, 테스트 기판(500)에는 가이드 핀(810)에 대응되도록 제5관통공(520)이 형성될 수 있다. 또한, 지지부(250)에는 가이드 핀(810)에 대응되도록 제3결합홀(251)이 형성될 수 있다. 자기력 발생부(700)에서 발생되는 자기력에 의해 지지플레이트(800)가 끌어당겨지면서 지지플레이트(800)의 가이드 핀(810)은 제5관통공(520)을 통해 제3결합홀(251)로 결합될 수 있다. 그리고 이를 통해, 테스트 기판(500)은 클램핑 블록(200)에 견고하게 고정될 수 있다.
피검사 패널(30)은 베이스(900)의 베드(930)를 통해 테스트 기판(500)의 하측으로 유입될 수 있으며, 피검사 패널(30)의 전극(31)은 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)의 하측에 위치될 수 있다.
피검사 패널(30)의 정위치 여부 확인은 베이스(900)의 하측에 구비되는 카메라(미도시)에서 촬영된 영상 분석을 통해 이루어질 수 있다. 카메라는 피검사 패널(30)의 전극(31)의 얼라인 포인트를 촬영할 수 있으며, 피검사 패널(30)의 전극(31)이 정위치에 위치되지 않은 경우, 얼라인을 맞추기 위한 작업이 진행될 수 있다. 피검사 패널(30)의 전극(31)이 정위치 되면, 탄성부재(400)의 탄발력에 의해 회전축(630)을 중심으로 회전하는 연결블록(300)과 결합된 클램핑 블록(200)이 하향 회전하면서 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)는 피검사 패널(30)의 전극(31)에 가압되고 접촉될 수 있다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛의 작동예를 나타낸 예시도이다.
도 7에서 보는 바와 같이, 탄성부재(400)의 탄발력에 의해 연결블록(300)의 일단부가 회전축(630)을 중심으로 상향 회전하게 되면, 연결블록(300)의 타단부에 결합된 클램핑 블록(200)은 연결블록(300)과 함께 하향 회전하게 된다.
클램핑 블록(200)은 회전축(630)을 기준으로 회전반경(R)을 가지는 회전경로(P)를 따라 회전하게 된다. 그런데, 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)가 피검사 패널(30)의 전극(31)에 접촉되는 시점에서, 클램핑 블록(200)의 가압돌기부(220)는 회전축(630)의 수평기준(A)보다 아래에 위치하게 된다. 따라서, 테스트 기판(500)의 컨텍터(510)가 피검사 패널(30)의 전극(31)에 접촉되는 시점에서, 컨텍터(510) 및 전극(31)의 접촉면에는 회전경로(P)의 접선방향의 힘(F), 즉 회전력의 y분력(F1) 및 x분력(F2)이 작용할 수 있게 된다. 여기서, y분력(F1)은 컨텍터(510)가 전극(31)을 수직 하방으로 가압하는 힘으로서 밀착의 정도를 높이는 작용을 할 수 있다.
한편, x분력(F2)에 의해 컨텍터(510)는 전극(31)의 상면에 밀착된 상태에서 수평방향으로 이동할 수 있으며, 이를 통해, 컨텍터(510)가 전극(31)의 상면을 긁어낼 수 있다. 그리고, x분력(F2)에 의해 컨텍터(510)가 전극(31)의 상면을 긁어냄으로써 전극(31)의 상면에 형성되는 유막이나 이물질과 같이 통전을 방해하는 요소가 밀어내지는 효과가 발생할 수 있으며, 이를 통해, 접촉률이 더욱 개선될 수 있다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛의 자기력 발생부의 분해사시도이고, 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛의 자기력 발생부의 작동예를 나타낸 예시도이다.
도 8 및 도 9에서 보는 바와 같이, 자기력 발생부(700)는 제1금속하우징부(710), 제2금속하우징부(720), 자석(730) 및 레버(740)를 가질 수 있다.
제1금속하우징부(710)의 내측에는 제1설치공간(711)이 형성될 수 있다. 제1금속하우징부(710)는 비철금속(Non-ferrous metal), 알루미늄을 포함하는 상자성체(Paramagnetic Substance) 및 구리를 포함하는 반자성체(Diamagnetic Substance) 중 어느 하나로 이루어질 수 있다. 그리고, 제1금속하우징부(710)에는 양측면을 관통하여 수평방향으로 제6관통공(712)이 형성될 수 있다.
제2금속하우징부(720)는 제1금속하우징부(710)의 양측에 구비될 수 있다. 그리고, 제2금속하우징부(720)에는 제2설치공간(721)이 형성될 수 있다. 제2설치공간(721)은 제1설치공간(711)과 함께 연속되는 설치공간을 형성할 수 있으며, 예를 들면, 원기둥 형상의 설치공간을 형성할 수 있다. 제2금속하우징부(720)는 철을 포함하는 강자성체로 이루어질 수 있다.
자석(730)은 제1설치공간(711) 및 제2설치공간(721)에 구비될 수 있다. 자석(730)은 제1설치공간(711) 및 제2설치공간(721)으로 이루어지는 설치공간에 대응되는 형상을 가질 수 있으며, 예를 들면 원기둥 형상을 이룰 수 있다. 그리고, 자석(730)에는 축(731)이 구비될 수 있으며, 축(731)은 제6관통공(712)에 결합될 수 있다. 자석(730)은 축(731)을 중심으로 회전될 수 있다.
레버(740)는 자석(730)의 축(731)에 결합될 수 있다. 레버(740)는 축(731)에 회전력을 제공할 수 있으며, 이를 통해, 레버(740)가 회전되면 축(731)이 회전되면서 자석(730)이 회전될 수 있다.
자석(730)의 N극(732) 및 S극(733)이 제1금속하우징부(710)에 위치되는 경우, 자석은 Off 위치가 되며, 따라서, 자기력은 발생하지 않을 수 있다(도 9의 (a) 참조).
반면, 레버(740)가 회전함에 따라 연동하여 자석(730)이 회전되어 N극(732) 및 S극(733)이 제2금속하우징부(720)에 위치되는 경우, 자석은 On 위치가 된다. 이 경우, 제2금속하우징부(720)는 확장된 자석으로 기능될 수 있으며, 자기력은 제1금속하우징부(710) 및 제2금속하우징부(720)의 상측 및 하측으로 형성될 수 있다. 이 중, 제1금속하우징부(710) 및 제2금속하우징부(720)의 하측으로 형성되는 자기력(M)은 지지플레이트(800)를 통해 자기장을 형성할 수 있으며, 이를 통해, 지지플레이트(800)는 자기력 발생부(700) 방향으로 끌어당겨질 수 있다(도 9의 (b) 참조).
일반적으로 피검사 패널의 사양에 따라 전극의 위치, 피검사 패널의 크기 등이 다르기 때문에, 패널 에이징 장치의 테스트 기판은 피검사 패널의 사양에 따라 교체될 필요가 있다. 또한, 테스트 기판의 불량 등의 경우에도 테스트 기판이 교체될 필요성은 존재한다. 본 발명에 따르면, 레버(740)의 회전을 통해 간단하게 자기력 발생부(700)에서 자기력이 발생되거나 발생되지 않도록 조절할 수 있기 때문에, 테스트 기판(500)의 교체 작업 시에는 자기력이 발생되지 않도록 하여 용이하게 테스트 기판(500)이 클램핑 블록(200)으로부터 이탈되도록 할 수 있다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛에서 테스트 기판의 컨텍터를 나타낸 예시도이다.
도 10에서 보는 바와 같이, 컨텍터(510)는 결합부(511), 경사부(512) 및 접촉부(513)를 가질 수 있다. 결합부(511)는 테스트 기판(500)에 전기적으로 결합될 수 있다.
경사부(512)는 결합부(511)로부터 연장되도록 형성될 수 있으며, 제1경사도(S1)를 가지도록 형성될 수 있다. 그리고, 경사부(512)는 과전류 입력 시 제1경사도(S1)보다 작은 제2경사도(S2)를 가지도록 형상이 변형될 수 있다.
접촉부(513)는 경사부(512)에 연결되어 형성될 수 있으며, 피검사 패널(30)의 전극(31) 방향으로 라운드 돌출되도록 형성될 수 있다. 또한, 접촉부(513)는 과전류 입력 시 형상이 펴지도록 변형될 수 있다. 이를 통해, 과전류 입력 시 경사부(512) 및 접촉부(513)는 형상이 변형되어 피검사 패널의 전극(31)으로부터 떨어질 수 있다.
컨텍터(510)는 테스트 기판(500)의 폭 방향으로 복수개가 마련될 수 있으며, 클램핑 블록(200, 도 7 참조)에 의해 컨텍터(510)가 피검사 패널(30)의 전극(31)에 밀착된 상태에서 과전류가 입력되어 쇼트가 발생하게 되면, 복수개의 컨텍터(510) 중 과전류가 입력된 컨텍터(510)의 형상이 변형되면서 해당 전극(31)에서 떨어질 수 있으며, 이를 통해, 전기가 차단될 수 있다.
전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.
본 발명의 범위는 후술하는 청구범위에 의하여 나타내어지며, 청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
30: 피검사 패널 31: 전극
100: 클램핑 유닛 200: 클램핑 블록
220: 가압돌기부 230: 장착홀
240: 슬릿 250: 지지부
300: 연결블록 320: 관통홀
400: 탄성부재 500: 테스트 기판
510: 컨텍터 600: 고정블록
630: 회전축 700: 자기력 발생부
710: 제1금속하우징부 720: 제2금속하우징부
730: 자석 740: 레버
800: 지지플레이트 900: 베이스
910: 마운트

Claims (11)

  1. 회전축이 결합되는 연결블록;
    상기 연결블록이 상기 회전축을 중심으로 회전되도록 상기 연결블록의 일단부의 하면에 구비되어 상기 연결블록의 일단부를 상측으로 탄발 지지하는 탄성부재;
    상기 연결블록의 타단부에 구비되고, 상기 연결블록과 일체로 회전하는 클램핑 블록; 그리고
    상기 클램핑 블록의 하부에 부착되는 테스트 기판을 포함하고,
    상기 클램핑 블록은 상기 연결블록과 일체로 회전하면서 상기 테스트 기판이 상기 회전축의 수평기준보다 아래에서 피검사 패널에 접촉되도록 하는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 클램핑 블록의 하면에는 상기 클램핑 블록의 폭 방향으로 연장되고, 상기 테스트 기판의 컨텍터에 대응되도록 형성되어 상기 컨텍터를 상기 피검사 패널의 전극 방향으로 가압하는 가압돌기부가 돌출 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 컨텍터는
    상기 테스트 기판에 전기적으로 결합되는 결합부와,
    상기 결합부로부터 연장되고 제1경사도를 가지도록 형성되되, 과전류 입력 시 상기 제1경사도보다 작은 제2경사도를 가지도록 형상이 변형되는 경사부와,
    상기 경사부에 연결되고 상기 전극 방향으로 라운드 돌출되도록 형성되되, 과전류 입력 시 형상이 펴지도록 변형되는 접촉부를 가지고,
    과전류 입력 시 상기 경사부 및 상기 접촉부는 형상이 변형되어 상기 피검사 패널의 상기 전극으로부터 떨어지는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 클램핑 블록의 상부에는 수평방향으로 제1관통공이 형성되고, 상기 연결블록에는 상기 제1관통공과 연결되는 제1결합홀이 상기 연결블록의 길이방향으로 형성되며, 상기 제1관통공 및 상기 제1결합홀에는 제1체결부재가 체결되는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 연결블록에는 상기 연결블록의 폭 방향으로 상기 회전축이 결합되는 제2관통공이 형성되고, 상기 연결블록의 하면에는 상기 탄성부재가 결합되는 삽입홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 클램핑 블록의 중앙에 하측이 개방되도록 형성되는 장착홀에 구비되어, 상기 클램핑 블록의 하측으로 자기력을 선택적으로 발생하는 자기력 발생부를 포함하는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 자기력 발생부는
    내측에 제1설치공간이 형성되는 제1금속하우징부와,
    상기 제1금속하우징부의 양측에 구비되고, 내측에 제2설치공간이 형성되는 제2금속하우징부와,
    상기 제1설치공간 및 상기 제2설치공간에 회전 가능하게 구비되는 자석과,
    상기 자석과 결합되어 상기 자석이 회전되도록 회전력을 제공하는 레버를 가지는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 제1금속하우징부는 비철금속, 상자성체 및 반자성체 중 어느 하나로 이루어지고, 상기 제2금속하우징부는 강자성체로 이루어지며, 상기 자석의 회전방향에 따라 선택적으로 형성되는 자기력은 상기 제1금속하우징부 및 상기 제2금속하우징부의 하측으로 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 클램핑 블록에는 상기 레버가 상기 클램핑 블록의 상측으로 연장되어 노출된 상태에서 회전되도록 슬릿이 관통 형성되는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  10. 제6항에 있어서,
    상기 테스트 기판의 하면에는 상기 자기력 발생부에서 발생되는 자기력에 의해 상기 자기력 발생부로 끌어당겨지면서 상기 테스트 기판을 상기 클램핑 블록의 하면으로 가압하는 지지플레이트가 구비되는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 지지플레이트에는 가이드 핀이 돌출 형성되고, 상기 클램핑 블록은 상기 클램핑 블록의 하면에 돌출 형성되어 상기 지지플레이트에 의해 가압되는 상기 테스트 기판을 지지하고 상기 가이드 핀이 삽입되는 결합홀이 형성되는 지지부를 가지는 것을 특징으로 하는 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛.
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