KR100774914B1 - 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 - Google Patents

평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 Download PDF

Info

Publication number
KR100774914B1
KR100774914B1 KR1020070093950A KR20070093950A KR100774914B1 KR 100774914 B1 KR100774914 B1 KR 100774914B1 KR 1020070093950 A KR1020070093950 A KR 1020070093950A KR 20070093950 A KR20070093950 A KR 20070093950A KR 100774914 B1 KR100774914 B1 KR 100774914B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pressing
display module
base
block
flat panel
Prior art date
Application number
KR1020070093950A
Other languages
English (en)
Inventor
김정철
Original Assignee
주식회사 지엔티시스템즈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 지엔티시스템즈 filed Critical 주식회사 지엔티시스템즈
Priority to KR1020070093950A priority Critical patent/KR100774914B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100774914B1 publication Critical patent/KR100774914B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/133305—Flexible substrates, e.g. plastics, organic film
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것으로서 테스트시 구동신호를 전달하기 위한 배선들이 형성된 베이스와; 상기 베이스 상에 고정되게 설치되며 테스트할 FPCB로 이루어진 입력패드를 갖는 평판 디스플레이 모듈이 유동되지 않도록 실장되는 모듈 블록과; 상기 베이스 상에 고정되게 설치되며 하부에 제 1 자석이 설치된 결합설치부에 일측이 힌지축에 의해 힌지 결합되며 타측에 하부로 돌출되는 누름바가 형성되고 상기 제 1 자석과 대응하는 부분에 동일한 극성의 제 2 자석이 설치된 압착판과, 상기 모듈 블록에 상기 평판 디스플레이 모듈이 실장될 때 상기 입력 패드가 실장되며 상기 결합설치부 사이에 틈이 형성된 서브베이스와, 상기 틈을 통해 상기 결합설치부의 하부에 상기 입력 패드와 접촉되게 체결되는 FPCB로 이루어진 회로판과, 상기 누름바의 누름 압력에 의해 상기 서브베이스에 상기 회로판과 중첩되게 형성되는 관통홀을 통해 상하 이동하여 스토퍼를 포함하여 상기 압착판은 누름 압력에 의해 하측 방향으로 회전 운동하여 상기 누름바가 상기 회로판을 상기 입력 패드와 접촉시키며 누름 압력을 제거하면 상기 제 1 및 제 2 자석의 척력에 의해 상측 방향으로 회전 운동하여 상기 회로판을 상기 입력 패드와 분리시키는 결합 블록과; 상기 결합 블록의 압착판에 누름 압력을 가하는 누름 블록을 포함한다. 따라서, 테스트 완료 후 레버에 인가하는 누름 압력을 제거하는 것에 의해 결합 블록을 모듈 블록으로부터 자동적으로 분리시킬 수 있어 테스트 효율을 향상시킬 수 있다.
평판 디스플레이 모듈, 테스트, 지그, FPCB, 접촉, 구동신호

Description

평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그{Test jig of FPD modual}
본 발명은 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것으로서, 특히, 배선 패턴들이 형성된 연성회로기판(FPCB)으로 구성되어 전자기기의 배선들과 선택적으로 접촉 본딩되어 전기적으로 연결되는 입력 패드를 갖는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그에 관한 것이다.
일반적으로 엘시디(LCD : Liquid Crystal Display), 유기발광다이오드(OLED : Organic Light Emitting Diodes) 및 EL(electroluminescence) 등은 FPD(평판 디스플레이)의 한 종류로 저소비 전력, 경량화 및 평면화 특성을 가지므로 텔레비전, 컴퓨터 및 휴대전화기 등의 모니터뿐만 아니라 자동차 및 항공기 등에 다양하게 사용되고 있다.
평판 디스플레이는 제조된 모듈 상태에서 테스트용 지그를 이용하여 입력 패드를 통해 구동신호를 인가하여 디스플레이 상태를 검사한다. 상기에서 평판 디스플레이 모듈은 테스트용 지그를 이용하여 입력 패드를 통해 인가되는 구동신호에 의해 화상이 디스플레이되는데, 이러한 평판 디스플레이 모듈은 데이터라인 또는 게이트라인이 개방된 부분이 존재하는 경우에 그 위치에서는 화소 전극이 구동되지 않아 화소가 정상적으로 디스플레이되지 않으므로 불량 상태로 판정된다.
상기에서 입력패드는 일측이 평판 디스플레이 모듈과 전기적으로 연결되는 연성회로기판(FPCB)으로 구성되는데, 타측은 전자기기와 전기적으로 연결되는 것으로 배선 패턴들이 형성되거나 전자기기의 연결핀이 삽입되는 소켓이 위치된다. 상기에서 입력패드의 타측에 형성된 배선 패턴들은 전자기기의 배선들과 선택적으로 접촉 본딩되어 전기적으로 연결된다. 또한, 입력패드의 타측에 위치된 소켓은 전자기기에 형성된 연결핀이 삽입되어 전기적으로 연결된다.
상기에서 엘시디 모듈은 입력패드 타측에 테스트용 지그가 정확하게 접촉되어야만 정확한 테스트를 할 수 있으므로, 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 평판 디스플레이 모듈의 입력패드에 따라 각각 다른 형태를 갖는다. 즉, 테스트용 지그는 평판 디스플레이 모듈의 입력패드의 타측과 연결되는 부분이 각각 배선 또는 포고핀을 갖는다.
상기에서 테스트용 지그에 배선이 형성되면 테스트시 평판 디스플레이 모듈의 입력패드의 타측과 보드-투-보드(Board to Board) 접촉을 한다. 또한, 테스트용 지그에 포고핀이 형성되면 테스트시 평판 디스플레이 모듈의 입력패드의 타측에 형성된 소켓에 삽입되어 전기적으로 연결된다.
종래 기술에 따른 보드-투-보드(Board to Board) 접촉에 의해 평판 디스플레이 모듈을 테스트하는 지그는 일본 QMS(Quick Manufacturing Systems) 주식회사에 서 칩 소켓(Chip socket)라는 명칭으로 모델명 Q-LIP, Q-LIPU 및 Q-LIPR 등으로 제조되고 있다.
상기 평판 디스플레이 모듈 테스트용 지그는 모듈안착홈을 갖는 모듈 블록과 압착판을 포함하는 결합 블록이 축에 의해 힌지 결합되고, 이 축은 레버에 의해 회전되게 결합된다. 그리고, 상기에서 레버를 일측 방향으로 회전시키면 축도 회전하여 결합 블록이 상측 방향으로 이동하여 모듈 블록으로부터 분리되어 틈이 형성되며, 또한, 레버를 타측 방향으로 회전시키면 결합 블록이 하측 방향으로 이동하여 모듈 블록과 접촉된다. 상기에서 모듈 블록의 결합 블록과 접촉되는 일측 끝단에 배선 패턴이 형성된다.
상술한 구성의 평판 디스플레이 모듈 테스트용 지그는 레버를 일측 방향으로 회전시켜 결합 블록을 상측 방향으로 이동시켜 모듈 블록과 사이에 틈이 형성되도록 한 후 모듈 블록의 모듈안착홈에 평판 디스플레이 모듈을 안착시킨다. 이때, 평판 디스플레이 모듈의 입력 패드는 모듈 블록과 결합 블록 사이의 틈 사이에 위치되도록 한다. 그리고, 레버를 타측 방향으로 회전시키면 축도 회전되어 결합 블록이 하측 방향으로 이동하여 입력 패드를 누른다. 이에, 입력 패드의 배선들이 모듈 블록에 형성된 배선 패턴과 접촉되어 전기적으로 연결되어 평판 디스플레이 모듈에 구동신호를 입력하여 화면이 디스플레이되도록 하여 이 평판 디스플레이 모듈이 정상 또는 불량으로 판정된다.
그리고, 레버를 일측 방향으로 회전시켜 결합 블록을 상측 방향으로 이동시켜 모듈 블록으로부터 분리한 후 테스트를 완료한 평판 디스플레이 모듈을 분리시키고, 다시, 모듈 블록의 모듈안착홈에 테스트를 실시할 평판 디스플레이 모듈을 안착시킨다.
그러나, 종래 기술에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 테스트 완료 후 결합 블록을 모듈 블록으로부터 분리시켜 평판 디스플레이 모듈를 분리하기 위해 레버를 일측 방향으로 회전시켜야 하는 테스트 효율이 저하되는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은 테스트 완료 후 레버를 조작하지 않고 누름 압력을 제거하는 것에 의해 결합 블록을 모듈 블록으로부터 자동적으로 분리시킬 수 있어 테스트 효율을 향상시킬 수 있는 평판 디스플레이 모듈 테스트용 지그를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 테스트시 구동신호를 전달하기 위한 배선들이 형성된 베이스와; 상기 베이스 상에 고정되게 설치되며 테스트할 FPCB로 이루어진 입력패드를 갖는 평판 디스플레이 모듈이 유동되지 않도록 실장되는 모듈 블록과; 상기 베이스 상에 고정되게 설치되며 하부에 제 1 자석이 설치된 결합설치부에 일측이 힌지축에 의해 힌지 결합되며 타측에 하부로 돌출되는 누름바가 형성되고 상기 제 1 자석과 대응하는 부분에 동일한 극성의 제 2 자석이 설치된 압착판과, 상기 모듈 블록에 상기 평판 디스플레이 모듈이 실장될 때 상기 입력 패드가 실장되며 상기 결합설치부 사이에 틈이 형성된 서브베이스와, 상기 틈을 통해 상기 결합설치부의 하부에 상기 입력 패드와 접촉되게 체결되는 FPCB로 이루어진 회로판과, 상기 누름바의 누름 압력에 의해 상기 서브베이스에 상기 회로판과 중첩되게 형성되는 관통홀을 통해 상하 이동하여 스토퍼를 포함하여 상기 압착판은 누름 압력에 의해 하측 방향으로 회전 운동하여 상기 누름바가 상기 회로판을 상기 입력 패드와 접촉시키며 누름 압력을 제거하면 상기 제 1 및 제 2 자석의 척력에 의해 상측 방향으로 회전 운동하여 상기 회로판을 상기 입력 패드와 분리시키는 결합 블록과; 상기 결합 블록의 압착판에 누름 압력을 가하는 누름 블록을 포함한다.
상기에서 스토퍼는 동일한 극성을 갖는 제 3 및 제 4 자석의 척력에 의해 상기 관통홀을 통해 상부로 이동한다.
상기에서 스토퍼는 상기 베이스의 상기 관통홀과 대응하는 부분에 형성되는 제 3 자석이 설치된 요홈에 대응되며 머리 부분의 상기 제 3 자석과 대응하는 부분에 제 4 자석이 설치되는 역 'T'자형으로 이루어진다.
상기에서 누름 블록은, 상기 베이스 상에 고정되게 설치된 누름 블록 고정부와, 상기 누름 블록 고정부에 타측이 유동되게 연결되는 레버와, 상기 레버의 타측 및 상기 누름 블록 고정부에 일측이 연결되게 형성되어 상기 레버의 일측을 누르면 타측이 하측으로 이동하는 누름 몸체와, 상기 누름 몸체에 연결되어 상기 누름 몸 체의 타측이 하측으로 이동하면 상기 압착판을 회전하면서 가압하는 누름 롤러를 포함한다.
상기에서 누름 블록은 상기 누름 몸체 타측의 상기 누름 롤러 상에 상기 압착판에 가해지는 상기 누름 롤러의 누름 압력을 흡수하는 완충기를 더 포함한다.
상기에서 완충기는 가압조절볼트와, 상기 누름 롤러와 누름 압력 인가시 접촉되는 완충볼과, 상기 가압조절볼트와 완충볼 사이에 형성된 스프링으로 구성된다.
따라서, 본 발명의 목적은 테스트 완료 후 레버에 인가하는 누름 압력을 제거하는 것에 의해 결합 블록을 모듈 블록으로부터 자동적으로 분리시킬 수 있어 테스트 효율을 향상시킬 수 있는 이점이 있다.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.
도 1는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그의 사시도이고, 도 2는 모듈 블록을 베이스로 부터 분리한 것을 도시하는 분리 사시도이며, 도 3a 내지 도 3b는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그를 이용하여 평판 디스플레이 모듈을 테스트하는 것을 도시한 흐름도이다.
본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그는 베이스(11), 모듈 블록(13), 결합 블록(19) 및 누름 블록(47)으로 구성된다.
상기에서 베이스(11)는 테스트시 평판 디스플레이 모듈(15)에 구동신호를 전달하기 위한 배선들이 형성된 PCB로 구성된다.
모듈 블록(13)은 베이스(11)에 고정되며 일측이 개방되게 형성되어 FPCB로 이루어진 입력 패드(17)가 형성된 평판 디스플레이 모듈(15)이 유동되지 않게 실장되도록 한다.
결합 블록(19)은 결합설치부(21), 힌지축(23), 압착판(25), 서브베이스(33), 회로판(36), 제 1 내지 제 4 자석(29)(31)(43)(45) 및 스토퍼(41)로 구성된다.
상기에서 결합설치부(21)는 베이스(11) 상에 고정되게 실장된다. 압착판(25)은 일측이 힌지축(23)에 의해 결합설치부(21)에 힌지 결합되며 타측에 하부로 돌출되는 누름바(27)가 형성된다. 상기에서 압착판(25)에 누르는 압력를 가하면 타측이 하측으로 회전 운동을 한다. 상기에서 결합설치부(21)와 압착판(25)의 서로 대응하는 부분에 극성이 동일한, 즉, 모두 (+)극 또는 (-)극을 갖는 제 1 및 제 2 자석(29)(31)이 형성된다. 그러므로, 압착판(25)은 누르는 압력이 제거되면 제 1 및 제 2 자석(29)(31)의 척력에 의해 상측으로 회전 운동하여 결합설치부(21)로부터 분리된다.
서브베이스(33)는 관통홀(37)을 가지며 모듈 블록(13)에 평판 디스플레이 모듈(15)이 유동되지 않게 실장될 때 입력 패드(17)가 안착된다. 상기에서 결합설치부(21)와 서브베이스(33) 사이에 틈(35)이 형성되며, 회로판(36)이 틈(35)을 통해 결합설치부(21)의 하부에 체결되며 관통홀(37)과 중첩되게 설치된다. 상기에서 회 로판(36)은 FPCB로 구성되며 형성된 배선들이 입력 패드(17)의 배선들과 선택적으로 대응되게 설치된다.
또한, 베이스(11)의 관통홀(37)과 대응되는 부분에 요홈(39)이 형성되며, 이 요홈(39) 내에 제 3 자석(43)이 설치된다. 그리고, 베이스(11)와 서브베이스(33) 사이의 요홈(39)과 대응되는 부분에 역 'T'자형의 스토퍼(41)가 형성되는데, 이 스토퍼(41)는 머리 부분의 제 3 자석(43)과 대응하는 부분에 제 4 자석(45)이 설치된다. 상기에서 제 3 및 제 4 자석(43)(45)은 극성이 동일한, 즉, 모두 (+)극 또는 (-)극을 갖는다. 이에 의해, 스토퍼(41)는 척력에 의해 돌출부분이 관통홀(37)을 통해 돌출되어 입력 패드(17)의 끝단을 정확하게 한정한다. 또는, 스토퍼(41)는 돌출하여 회로판(36)을 서브베이스(33)와 이격되어 사이에 공간이 형성되도록 하여 입력 패드(17)가 서브베이스(33) 상에 용이하게 안착되도록 한다.
상기에서 모듈 블록(13)에 도 3a와 같이 평판 디스플레이 모듈(15)을 설치하면 스토퍼(41)가 서브베이스(33)와 회로판(36) 사이에 공간을 형성하여 입력 패드(17)가 용이하게 실장된다. 그리고, 압착판(25)에 누르는 압력를 가하면 이 압착판(25)의 타측에 형성된 누름바(27)가 스토퍼(41)를 베이스(11)에 형성된 요홈(39) 내에 삽입되도록 하여 회로판(36)이 도 3b와 같이 입력 패드(17)와 접촉되어 전기적으로 연결되므로 평판 디스플레이 모듈(15)에 구동신호가 인가되어 테스트를 진행한다. 이때, 회로판(36)와 입력 패드(17)는 각각 형성된 배선들이 선택적으로 대응되도록 한다.
그리고, 압착판(25)에 누르는 압력를 제거하면 제 1 및 제 2 자석(29)(31)의 척력에 의해 압착판(25)이 상측으로 회전 운동하여 누름바(27)가 회로판(36)과 자동으로 이격되므로 테스트 효율이 향상된다. 또한, 스토퍼(41)도 제 3 및 제 4 자석(43)(45)의 척력에 의해 돌출 부분이 관통홀(37)을 통과하여 서브베이스(33)와 회로판(36) 사이에 공간이 형성되도록 하므로 평판 디스플레이 모듈(15)을 용이하게 교체할 수 있으므로 테스트 효율이 향상된다.
누름 블록(47)은 누름 블록 고정부(49), 레버(51), 누름 몸체(63), 완충기(65) 및 누름 롤러(73)로 구성된다.
상기에서 누름 블록 고정부(49)는 누름 블록(47)을 베이스(11)에 고정시킨다. 그리고, 레버(51)는 타측이 링크(53)와 제 1 및 제 2 축(55)(57)에 의해 누름 블록 고정부(49)에 유동되도록 연결되고, 누름 몸체(63)는 일측이 제 3 및 제 4 축(59)(61)에 의해 각각 링크(53)의 일측과 누름 블록 고정부(49)에 유동되게 연결된다. 상기에서 레버(51)를 링크(53) 및 누름 몸체(63)와 연결되지 않는 일측을 하측으로 가압하여 누르면 누름 몸체(63)의 타측이 하측으로 회전 운동한다.
누름 몸체(63)의 타측에 완충기(65) 및 누름 롤러(73)가 형성된다. 상기에서 완충기(65)는 가압조절볼트(67), 스프링(69) 및 완충볼(71)로 구성되며, 누름롤러(73)는 완충볼(71) 하부에 장공(77)에 회전되게 끼워진 제 5 축(75)에 의해 회전되게 설치된다.
상기에서 누름 롤러(73)는 누름 몸체(63)의 타측이 하측으로 회전 운동할 때 압착판(25)에 누름 압력을 가하여 회로판(36)이 평판 디스플레이 모듈(15)의 입력패드(17)와 접촉되어 전기적으로 연결되게 한다. 이때, 누름 롤러(73)는 압착 판(25)을 가압할 때 제 5 축(75)이 장공(77)을 통해 이동하는 것에 의해 완충기(65)의 완충볼(71)과 접촉된다.
상기에서 완충기(65)는 누름 롤러(73)가 압착판(25)을 누르는 동안 완충볼(71)과 접촉될 때 누름 몸체(63)에 의해 가해지는 누름 압력을 완화시킨다. 즉, 가압조절볼트(67)와 완충볼(71) 사이의 스프링(69)은 누름 몸체(63)에 의해 누름 롤러(73)에 가해지는 누름 압력을 흡수한다. 이에 의해, 회로판(36)이 입력패드(17)와 접촉되어 전기적으로 연결될 때 충격을 완화하여 각각의 배선들이 손상되는 것을 방지한다.
상기에서 설명한 바와 같이 본 발명은 하나의 실시 예에 불과한 것으로, 본 발명은 상술한 실시 예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능하다.
도 1은 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그의 사시도.
도 2는 모듈 블록을 베이스로 부터 분리한 것을 도시하는 분리 사시도.
도 3a 내지 도 3b는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그를 이용하여 평판 디스플레이 모듈을 테스트하는 것을 도시한 흐름도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
11 : 베이스 13 : 모듈 블록
15 : 평판 디스플레이 모듈 17 : 입력 패드
19 : 결합 블록 21 : 결합설치부
23 : 힌지축 25 : 압착판
27 : 누름바 29, 31 : 제 1 및 제 2 자석
33 : 서브베이스 36 : 회로판
37 : 관통홀 39 : 요홈
41 : 스토퍼 43, 45 : 제 3 및 제 4 자석
47 : 누름 블록 49 : 누름 블록 고정부
51 : 레버 53 : 링크
63 : 누름 몸체 65 : 완충기
73 : 누름 롤러

Claims (6)

  1. 테스트시 구동신호를 전달하기 위한 배선들이 형성된 베이스와;
    상기 베이스 상에 고정되게 설치되며 테스트할 FPCB로 이루어진 입력패드를 갖는 평판 디스플레이 모듈이 유동되지 않도록 실장되는 모듈 블록과;
    상기 베이스 상에 고정되게 설치되며 하부에 제 1 자석이 설치된 결합설치부에 일측이 힌지축에 의해 힌지 결합되며 타측에 하부로 돌출되는 누름바가 형성되고 상기 제 1 자석과 대응하는 부분에 동일한 극성의 제 2 자석이 설치된 압착판과, 상기 모듈 블록에 상기 평판 디스플레이 모듈이 실장될 때 상기 입력 패드가 실장되며 상기 결합설치부 사이에 틈이 형성된 서브베이스와, 상기 틈을 통해 상기 결합설치부의 하부에 상기 입력 패드와 접촉되게 체결되는 FPCB로 이루어진 회로판과, 상기 누름바의 누름 압력에 의해 상기 서브베이스에 상기 회로판과 중첩되게 형성되는 관통홀을 통해 상하 이동하여 스토퍼를 포함하여 상기 압착판은 누름 압력에 의해 하측 방향으로 회전 운동하여 상기 누름바가 상기 회로판을 상기 입력 패드와 접촉시키며 누름 압력을 제거하면 상기 제 1 및 제 2 자석의 척력에 의해 상측 방향으로 회전 운동하여 상기 회로판을 상기 입력 패드와 분리시키는 결합 블록과;
    상기 결합 블록의 압착판에 누름 압력을 가하는 누름 블록을 포함하는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
  2. 청구항 1에 있어서 상기 스토퍼는 동일한 극성을 갖는 제 3 및 제 4 자석의 척력에 의해 상기 관통홀을 통해 상부로 이동하는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
  3. 청구항 2에 있어서 상기 스토퍼는 상기 베이스의 상기 관통홀과 대응하는 부분에 형성되는 제 3 자석이 설치된 요홈에 대응되며 머리 부분의 상기 제 3 자석과 대응하는 부분에 제 4 자석이 설치되는 역 'T'자형으로 이루어진 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
  4. 청구항 1에 있어서 상기 누름 블록은,
    상기 베이스 상에 고정되게 설치된 누름 블록 고정부와,
    상기 누름 블록 고정부에 타측이 유동되게 연결되는 레버와,
    상기 레버의 타측 및 상기 누름 블록 고정부에 일측이 연결되게 형성되어 상기 레버의 일측을 누르면 타측이 하측으로 이동하는 누름 몸체와,
    상기 누름 몸체에 연결되어 상기 누름 몸체의 타측이 하측으로 이동하면 상기 압착판을 회전하면서 가압하는 누름 롤러를 포함하는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
  5. 청구항 4에 있어서 상기 누름 블록은 상기 누름 몸체 타측의 상기 누름 롤러 상에 상기 압착판에 가해지는 상기 누름 롤러의 누름 압력을 흡수하는 완충기를 더 포함하는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
  6. 청구항 5에 있어서 상기 완충기는 가압조절볼트와, 상기 누름 롤러와 누름 압력 인가시 접촉되는 완충볼과, 상기 가압조절볼트와 완충볼 사이에 형성된 스프링으로 구성되는 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그.
KR1020070093950A 2007-09-17 2007-09-17 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그 KR100774914B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070093950A KR100774914B1 (ko) 2007-09-17 2007-09-17 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070093950A KR100774914B1 (ko) 2007-09-17 2007-09-17 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR100774914B1 true KR100774914B1 (ko) 2007-11-07

Family

ID=39061491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070093950A KR100774914B1 (ko) 2007-09-17 2007-09-17 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100774914B1 (ko)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105448218A (zh) * 2014-09-18 2016-03-30 三星显示有限公司 用于测试显示装置的测试装置及测试显示装置的方法
WO2016108465A1 (ko) * 2014-12-30 2016-07-07 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 테스트 소켓
CN108508350A (zh) * 2018-03-22 2018-09-07 苏州佳智彩光电科技有限公司 一种用于柔性电路板的密集显示接头半压合通电装置
CN109291000A (zh) * 2018-12-07 2019-02-01 江西合力泰科技有限公司 一种反折fpc背光模组组装治具
KR101947454B1 (ko) 2017-05-15 2019-02-13 주식회사 제다온 디스플레이패널 팔레트용 콘택터 클램핑장치
CN110268274A (zh) * 2017-02-07 2019-09-20 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 治具
KR102140141B1 (ko) * 2019-03-05 2020-07-31 주식회사 엔티에스 커넥터 연결 및 분리를 위한 지그유닛
KR20210011960A (ko) * 2018-06-20 2021-02-02 닛신덴키 가부시키 가이샤 기판 유지 장치

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200375619Y1 (ko) 2004-11-17 2005-03-11 (주)동아엘텍 엘씨디 모듈의 테스트용 지그

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200375619Y1 (ko) 2004-11-17 2005-03-11 (주)동아엘텍 엘씨디 모듈의 테스트용 지그

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105448218A (zh) * 2014-09-18 2016-03-30 三星显示有限公司 用于测试显示装置的测试装置及测试显示装置的方法
WO2016108465A1 (ko) * 2014-12-30 2016-07-07 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 테스트 소켓
KR101637403B1 (ko) * 2014-12-30 2016-07-07 주식회사 아이에스시 카메라 모듈 테스트 소켓
EP3581944A4 (en) * 2017-02-07 2020-12-09 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics TEMPLATE
US10962568B2 (en) 2017-02-07 2021-03-30 Kabushiki Kaisha Nihon Micronics Jig
CN110268274A (zh) * 2017-02-07 2019-09-20 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 治具
KR101947454B1 (ko) 2017-05-15 2019-02-13 주식회사 제다온 디스플레이패널 팔레트용 콘택터 클램핑장치
CN108508350A (zh) * 2018-03-22 2018-09-07 苏州佳智彩光电科技有限公司 一种用于柔性电路板的密集显示接头半压合通电装置
CN108508350B (zh) * 2018-03-22 2023-12-01 苏州佳智彩光电科技有限公司 一种用于柔性电路板的密集显示接头半压合通电装置
KR20210011960A (ko) * 2018-06-20 2021-02-02 닛신덴키 가부시키 가이샤 기판 유지 장치
KR102484870B1 (ko) 2018-06-20 2023-01-06 닛신덴키 가부시키 가이샤 기판 유지 장치
CN109291000A (zh) * 2018-12-07 2019-02-01 江西合力泰科技有限公司 一种反折fpc背光模组组装治具
CN109291000B (zh) * 2018-12-07 2024-02-20 江西合力泰科技有限公司 一种反折fpc背光模组组装治具
KR102140141B1 (ko) * 2019-03-05 2020-07-31 주식회사 엔티에스 커넥터 연결 및 분리를 위한 지그유닛

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100793699B1 (ko) 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그
KR100774914B1 (ko) 평판 디스플레이 모듈의 테스트용 지그
KR101406033B1 (ko) 핀 블록 교체가 가능한 검사용 소켓
KR101844431B1 (ko) 검사패드부를 포함하는 표시패널 및 평판표시장치
CN1818747B (zh) 显示设备
EP3016165A1 (en) Display device with power supply in cover
KR20180126824A (ko) 패널 에이징 장치용 클램핑 유닛
KR101830606B1 (ko) 쇼팅바 타입 오토 프로브 장치의 오토 프로브 블럭
EP2317330B1 (en) Pin connector and chip test fixture having the same
KR100737384B1 (ko) 모바일용 디스플레이 패널의 검사장치 및 방법
KR101242372B1 (ko) 패널 테스트용 글라스 범프 타입 프로브 블록
KR20180096429A (ko) 논-포고 타입 커넥터를 포함하는 프로브 검사 장치
CN100555048C (zh) 液晶显示装置
KR102045565B1 (ko) 표시장치
KR20110138652A (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
KR20070081468A (ko) 엘씨디 구동 기판에 테스트 신호를 공급하기 위한 패드형콘넥터
KR20080027569A (ko) 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법
KR20120067685A (ko) 디스플레이 패널 검사를 위한 프로브 유닛
KR100684046B1 (ko) 액정디스플레이 검사기용 프로브조립체
KR101289939B1 (ko) 배선 필름용 커넥터 및 이를 이용한 액정표시장치용검사장치
JP3138273B2 (ja) 表示パネル用プローブ
KR20140029699A (ko) 표시 장치용 검사 장치 및 그 제조 방법
US9826624B2 (en) Display device using alignment marks to align a flexible printed circuit board and a control printed circuit board
KR20210013822A (ko) 단자 및 회로의 파손을 방지하기 위한 프로브 및 이를 이용한 핀 블록구조
KR20190107221A (ko) 디스플레이 모듈 커넥터 가이드 플레이트 모듈

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
A302 Request for accelerated examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20101103

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee